Abstract:
The present invention provides an evaporation and deposition apparatus. The apparatus includes: an integrating sphere which includes an inlet which receives steam, a baffle which is arranged around the inlet and changes the direction of the steam, a spherical or an elliptical cavity which reflects the steam, and an outlet which radially discharges the steam which is reflected or scattered in the cavity several times by a point source; a crucible which stores evaporation materials inside and supplies steam which is evaporated through a first opening part to the inlet of the integrating sphere; and a heating unit which surrounds the integrating sphere and the crucible and heats the crucible and the integrating sphere. The integrating sphere is made of conductive materials. The evaporation materials are scattered because the inner surface of the crucible is rough.
Abstract:
PURPOSE: A temperature measuring device using a thermoelement and a temperature measuring method are provided to enable to remove changes in the temperature of a surface of the thermoelement caused by an air current with an infrared ray absorption window so that the thermoelement enables to output stable signals and the infrared ray absorption window enables to prevent the thermoelement from being polluted. CONSTITUTION: A temperature measuring device(100) using a thermoelement(140) comprises a body part(122) and a temperature measuring part(110). The body part includes an opening(126) facing a target(172) and a cavity(124) connected to the opening. The thermoelement is arranged at a position facing the opening inside the cavity and absorbs infrared rays radiated by the target. The temperature measuring part measures output signals of the thermoelement, thereby measuring the temperature of the target. The thermoelement includes a hot junction plate, a cold junction plate, and a thermoelectric structure. The cold junction plate is arranged separately from the hot junction plate. The thermoelectric structure is interposed between the hot and cold junction plates. [Reference numerals] (AA,BB) Hot blast;
Abstract:
본 발명은 시료의 적외선 광학 특성 동시 측정방법에 관한 것으로, ⅰ) 흑체의 복사량(L b )을 측정하여 장치의 민감도(R(λ))를 산출하는 단계, ⅱ) 제1기판의 제1복사율(ε sub1 ) 및 제2기판의 제2복사율(ε sub2 )을 산출하는 단계, ⅲ) 상기 제1복사율을 갖는 상기 제1기판을 히터 및 측정 대상 시료 사이에 위치시켜 소정 온도에서 상기 시료의 제1복사량을 산출하는 단계, ⅳ) 상기 제2복사율을 갖는 상기 제2기판을 상기 히터 및 상기 측정 대상 시료 사이에 위치시켜 상기 소정 온도에서 상기 시료의 제2복사량을 산출하는 단계, ⅴ) 상기 제1기판의 제1 겉보기 복사율(ε * 1 ) 및 상기 제2기판의 제2 겉보기 복사율(ε * 2 )을 산출하는 단계 및 ⅶ) 상기 제1복사율(ε sub1 ), 상기 제2복사율(ε sub2 ), 상기 제1 겉보기 복사(ε * 1 )율 및 상기 제2 겉보기 복사율(ε * 2 )을 이� �하여 상기 시료의 복사율(ε s ), 투과율(T s ) 및 반사율(r s )을 산출하는 단계를 포함한다.
Abstract:
PURPOSE: A thermoelectric element property measuring apparatus and method are provided to accurately calculate generation efficiency and thermal conductivity using an absorbed radiant flux output and a current voltage property. CONSTITUTION: A heating construction body(130) is arranged with a cooling structure body. An under test thermoelectric element(140) is located between the heating construction body and the cooling structure body. A current and voltage measuring part(150) measures a current and voltage of the under test thermoelectric element. The cooling structure body cools one side of the under test thermoelectric element. The heating construction body heat the other side of the under test thermoelectric element.
Abstract:
PURPOSE: A method of simultaneously measuring the emissivity, transmittance and reflectivity of high-temperature semi-transparent or transparent sample is provided to calculate the emmisivity, transmittance and reflectivity of high-temperature semi-transparent or transparent sample using a high-emissitvity substrate material and a low-emissivity substrate material. CONSTITUTION: A method of simultaneously measuring the emissivity, transmittance and reflectivity of high-temperature semi-transparent or transparent sample is as follows. The sensitivity of an experiment device is calculated(110). The emissivity of a high-emissivity substrate material and the emissivity of a low-emissivity substrate material are calculated(120). The radiation of sample to the high-emissivity substrate material is calculated at a given temperature(130). The radiation of sample to the low-emissivity substrate material is calculated at a given temperature(140). The transmittance of the sample is calculated(150). The emissivity of the sample is calculated(160). The reflectivity of the sample is calculated(170).
Abstract:
단면만을 코팅한 광 분할기를 사용함으로써 보다 제작이 간단해지고 정렬이 용이하도록 구성한 퓨리에 변환 적외선 분광기에 관한 것이다. 단면 코팅된 빔분리기를 사용한 퓨리에 변환 적외선 분광기는 적외선을 발생하기 위한 광원과, 적외선의 일부를 투과하고 나머지를 반사하기 위한 빔분리기와, 광검출기와, 빔분리기에 의하여 투과된 상기 투과된 적외선을 상기 광검출기로 전달하기 위한 제 1 광학소자 및 빔분리기에 의하여 반사된 상기 반사된 적외선을 상기 광검출기로 전달하기 위한 제 2 광학소자를 포함한다. 디바이스, 빔 분리기, 광학소자, 분광기, 검출기
Abstract:
본 발명은 회절발이나 흡수휠터 유리를 사용하여 사중경로 레이저 증폭기에서 발생되는 증폭된 자발 방출광 감소 방법과 장치(uppressing of the amplified spontaneouse emission form a four-pass laser amplifier using a diffraction grating or a absorption filter glass)에 관한 것이다. 사중 경로 증폭기 경로 내에 휠터 유리나 회절발을 삽입하여 증폭기에서 발생되는 증폭된 자발 방출을 줄이는 것을 특징으로 하는 회절발이나 흡수필터 유리를 사용하여 사중경로 레이저 증폭기에서 발생되는 자발 방출광 감소방법과 결정편광기(P1)(P2)(P3)와 패러데이 회전기(FR) 색소 이득 매질(DGM) 및 미러(M)으로 구성된 사중경로 증폭기 경로에 있어서, 색소 이득 매질과 세 번째 결정 편광기(P3) 사이에 휠터 유리를 삽입하고 거울(M4) 대신에 회절발(G)를 설치한 것을 특징으로 하는 회절발이나 흡수필터 유리를 사용하여 사중경로 레이저 증폭기에서 발생되는 자발 방출광 감소장치이다.
Abstract:
본 발명은 이종 접합 양자점과 쇼트키 접합 태양 전지를 이용한 태양 전지를 제공한다. 이 태양 전지는 제1 도전형의 반도체층 및 제1 도전형의 반도체층 상에 형성된 금속층을 포함하는 쇼트키(Schottky) 접합 태양전지, 및 반도체층 상에 배치되고, 코어(core) 및 코어를 감싸는 셀(shell)을 가지는 이종 접합 양자점을 포함한다. 상기 이종 접합 양자점은 태양광을 흡수하여 형성된 전자-전공 쌍을 포스터 공명 에너지 전달(Forster resonance energy transfer;FRET)을 통하여 쇼트키(Schottky) 접합 태양전지에 전달한다.
Abstract:
본 발명은 접촉식 복사온도계와 접촉식 복사온도 측정 방법을 제공한다. 이 접촉식 복사온도계는 복사율이 0.2 이상이고 녹는점은 측정범위 그 이상인 재질로 형성되고, 내부에 케비티를 포함하고 피측정물체에 접촉하는 접촉부, 상기 케비티에 방출된 복사광을 수광하는 광섬유, 상기 접촉부를 지지하는 일단, 상기 광섬유에 연결되는 타단, 및 상기 일단과 상기 타단을 연결하는 관통홀을 포함하는 절연 지지부, 상기 광섬유를 통하여 전달된 복사광 중에서 특정한 파장을 선택적으로 투과시키는 광섬유 밴드패스필터; 상기 광섬유 밴드패스필터를 통과한 광을 감지하는 광센서, 및 상기 광센서의 출력신호를 처리하여 상기 피측정물체의 온도를 추출하는 처리부를 포함한다.