부품 장착 검사 방법 및 장치
    11.
    发明公开
    부품 장착 검사 방법 및 장치 有权
    检查芯片容纳的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020120057314A

    公开(公告)日:2012-06-05

    申请号:KR1020100118989

    申请日:2010-11-26

    Inventor: 강민수

    Abstract: PURPOSE: A component mounting inspecting method and apparatus are provided to accurately determine whether a component is mounted or not by using external information of the component and location information of a ball included in the component. CONSTITUTION: A vision of a component picked up is recognized(S201). Location information of a ball included in the component is obtained(S203). External information of the component and the location information of the ball included in the component are saved(S205). The component picked up is transferred on a substrate and is mounted on the substrate(S207). A vision of the mounted component is recognized(S209). External information of the mounted component is obtained(S211). Mount information of the ball included in the component is obtained based on the external information of the mounted component(S213).

    Abstract translation: 目的:提供组件安装检查方法和装置,以通过使用组件的外部信息和包括在组件中的球的位置信息来精确地确定组件是否被安装。 构成:识别组件拾起的视觉(S201)。 获得包括在组件中的球的位置信息(S203)。 组件中包含的球的外部信息和位置信息被保存(S205)。 所拾取的组分被转移到衬底上并安装在衬底上(S207)。 识别安装部件的视觉(S209)。 获得安装部件的外部信息(S211)。 基于安装部件的外部信息获得组件中包含的球的安装信息(S213)。

    장갑차 지휘용 통신 장치
    12.
    实用新型
    장갑차 지휘용 통신 장치 失效
    用于装甲车命令的通信装置

    公开(公告)号:KR2019980063768U

    公开(公告)日:1998-11-25

    申请号:KR2019970008321

    申请日:1997-04-21

    Inventor: 강민수 이강일

    Abstract: 본 고안의 장갑차 지휘용 통신 장치는 복수의 무전기들, 송수신용 안테나들 및 수신용 안테나를 포함한다. 상기 무전기들은 각각 송수신기 및 수신기를 갖춘다. 상기 송수신용 안테나들은 상기 무전기들의 각 송수신기마다 하나씩 연결된다. 상기 수신용 안테나는 상기 무전기들의 각 수신기에 공통으로 연결된다.

    결함 검출 장치 및 그 방법
    13.
    发明公开
    결함 검출 장치 및 그 방법 审中-实审
    缺陷检测装置及其方法

    公开(公告)号:KR1020160087197A

    公开(公告)日:2016-07-21

    申请号:KR1020150006045

    申请日:2015-01-13

    Inventor: 강민수 이성헌

    CPC classification number: G01N21/9505 H01L22/12

    Abstract: 결함검출장치가개시된다. 본발명의일 실시예에따른결함검출장치는, 기판에광을조사하는조명부; 기판의에지영역을촬영하여기판의에지영역에대한이미지를획득하는촬상부; 에지영역에서결함이존재할것으로예상되는후보영역을지정하는후보영역지정부; 후보영역에서각 픽셀의밝기값및 밝기값의변화량을측정하는측정부; 및밝기값의변화량이기 설정된임계값을초과하면후보영역에결함이있는것으로판단하는결함검출부를포함한다.

    Abstract translation: 提供了能够区分存在于基板上的缺陷和简单污渍的缺陷检测装置。 根据本发明的实施例,缺陷检测装置包括:照明单元,用于照射基板; 摄影单元,通过拍摄基板的边缘区域来获得相对于基板的边缘区域的图像; 候选区域指定单元,用于指定边缘区域可能存在缺陷的候选区域; 测量单元,用于测量候选区域的每个像素的亮度值和亮度值的变化; 以及缺陷检测单元,如果亮度值的变化超过预定阈值,则确定候选区域中存在缺陷。

    불량 검출 장치
    14.
    发明公开
    불량 검출 장치 审中-实审
    检查缺陷的装置

    公开(公告)号:KR1020160084726A

    公开(公告)日:2016-07-14

    申请号:KR1020150001334

    申请日:2015-01-06

    Inventor: 강민수

    Abstract: 불량검출장치가제공된다. 본발명의일 실시예에따른불량검출장치는, 제1 파장의광을시료의상면에제공하고제2 파장의광을상기시료의하면에제공하는조명부; 상기제1 및제2 파장의광을상기시료로반사시키고, 상기시료에서재반사된제1 및제2 파장의광을투과시키는스플리터; 상기스플리터를투과한제1 파장의광과제2 파장의광을결상위치로결상시키는결상렌즈; 및상기결상된제1 및제2 파장의광을인가받아상기시료의영상을획득하는카메라를포함한다.

    Abstract translation: 提供了能够使用一个照相机获得样品的上表面和底面的缺陷检查装置。 根据本发明的实施例,缺陷检查装置包括:照明单元,用于向样品的顶表面提供具有第一波长的光,并将具有第二波长的光提供到样品的底表面; 用于以第一波长反射光的分光器和具有第二波长的光,透射具有第一波长的光和再次由样品反射的具有第二波长的光; 成像透镜,用于将具有第一波长的光成像,并且将具有第二波长的光透射通过分离器到成像位置; 以及照相机,通过接收具有第一波长的成像光和具有第二波长的成像光来获得样品的图像。

    불량 검사 장치 및 방법
    15.
    发明公开
    불량 검사 장치 및 방법 审中-实审
    检查缺陷的方法及其方法

    公开(公告)号:KR1020160084212A

    公开(公告)日:2016-07-13

    申请号:KR1020150000824

    申请日:2015-01-05

    Inventor: 강민수

    CPC classification number: G01N21/8806 G01N21/94 G01N21/958 G01N2021/8854

    Abstract: 불량검사장치및 방법이제공된다. 본발명의일 실시예에따른불량검사장치는, 검사대상물체를촬영하여제1 영상을획득하는제1 카메라; 상기검사대상물체를기준으로상기제1 카메라와소정각도만큼기울어진위치에서상기검사대상물체를촬영하여제2 영상을획득하는제2 카메라; 및상기제1 영상내부의제1 기준점과상기검사대상물체에포함된결함의위치간에제1 벡터를산출하고, 상기제2 영상내부의제2 기준점과상기검사대상물체에포함된결함의위치간에제2 벡터를산출하며, 상기산출된제1 벡터와제2 벡터를비교하여상기검사대상물체에포함된결함이상기검사대상물체에포함된불량인지를판단하는제어부를포함한다.

    Abstract translation: 提供了能够获得检查对象的图像的缺陷检查装置及其方法,并且通过预处理所获得的图像来区分检查对象对象中包括的故障的类型。 根据本发明的实施例,缺陷检查装置包括:第一相机,用于通过拍摄检查对象物体来获得第一图像; 第二相机,用于基于所述检查对象物体在相对于所述第一照相机倾斜成特定角度的位置获得所述检查对象物体的第二图像; 以及控制单元,用于计算第一图像中的第一参考点和检查对象物体中包含的缺陷的位置之间的第一矢量,计算第二图像内的第二参考点和缺陷位置之间的第二向量 包括在检查目标对象中,并且通过比较计算的第一向量和第二向量来确定检查目标对象中包括的缺陷是否有故障。

    결함 검사 장치
    16.
    发明公开
    결함 검사 장치 审中-实审
    缺陷检查装置

    公开(公告)号:KR1020160004099A

    公开(公告)日:2016-01-12

    申请号:KR1020140082532

    申请日:2014-07-02

    Inventor: 강민수

    Abstract: 본발명의일 실시예에따르면, 피검사체가배치되는스테이지; 상기피검사체에광을조사하는제1 조명부; 상기제1 조명부로부터조사되어상기피검사체에서반사된광을반사시켜다시상기피검사체에입사시키는반사부재; 상기스테이지에대하여, 상기제1 조명부가배치된방향의반대방향에배치되며상기피검사체에광을조사하는제2 조명부; 상기반사부재에의해반사되어상기피검사체에입사된후, 상기피검사체에의해반사된광 및상기제2 조명부에의해상기피검사체에입사된후, 상기피검사체를투과한광을수광하는촬상소자; 및상기반사부재에인접하게배치되며, 상기피검사체에광을조사하는제3 조명부;를포함하며, 상기제3 조명부에의해조사된광은, 상기반사부재에의해반사된광과다른각도로상기피검사체에입사되고, 상기제3 조명부에의해조사되어상기피검사체에입사된광 중상기피검사체에의해산란된광이상기촬상소자에의해수광되는결함검사장치를개시한다.

    Abstract translation: 公开了一种缺陷检查装置。 根据本发明的一个实施例,缺陷检查装置包括:其中设置被测试对象的阶段; 第一照明单元向待测对象辐射光; 反射构件,其通过从第一照明单元辐射来反射从被测试对象反射的光,并将光再次照射到要被测试的对象; 第二照明单元,其布置在与所述第一照明单元的布置方向相反的方向上的所述台上,并且将所述光辐射到待测试的对象; 成像元件,在从反射构件反射并接收待测试对象反射的光并被照射到待测试对象之后,接收被测试对象的光线,从被测试对象被辐射后,通过 第二个照明单元; 以及第三照明单元,其布置成与所述反射构件相邻,将光辐射到待测试的对象。 由第三照明单元照射的光以与被反射构件反射的光不同的角度照射到要被测试的被检体; 并且由被检测对象散射的光在被第三照明单元照射到被测试对象的光中被成像元件收集。

    부품 실장기의 부품 인식 장치
    17.
    发明授权
    부품 실장기의 부품 인식 장치 有权
    用于识别贴片机的电子部件的装置

    公开(公告)号:KR101352577B1

    公开(公告)日:2014-01-17

    申请号:KR1020080090047

    申请日:2008-09-11

    Inventor: 강민수

    Abstract: 본 발명은 부품 실장기의 부품 인식 장치를 공개한다. 이 장치는 부품들을 흡착하여 전자 회로 기판위에 실장하는 복수개의 노즐들, 전자 회로 기판위에 실장된 부품들의 비전을 인식하여 출력하는 티칭 카메라, 복수개의 노즐들에 흡착된 부품들의 영상을 촬상하여 출력하는 영상 처리부, 실장될 부품들의 정상 상태에서의 기준 패턴 영상 및 흡착된 부품들의 영상을 인가받아 복수개의 노즐들이 실제 위치한 일정 영역에서의 영상을 추출하여 부품 형상 정보의 렌즈에 의해 왜곡된 에러량을 산출하고 기준 패턴 영상으로 보정하는 에러량 산출 및 보정부, 에러량이 보정된 값에 응답하여 복수개의 노즐들의 위치를 변경하여 부품들의 위치를 조절하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의할 경우 검사 대상 부품들의 필요한 일정 영역에서의 렌즈에 의한 상의 왜곡에 의해 변형된 패턴의 에러량만을 산출하여 비전 처리에 반영시킴으로써 보다 효율적으로 왜곡 수차를 보정하고 정확한 반도체 실장을 수행하게 한다.
    부품 실장기, 부품 인식 장치, 렌즈, 상의 왜곡, 보정

    부품실장기의 Z축 초점 면 보정장치 및 이를 사용하는 Z축 초점 면 보정방법
    18.
    发明公开
    부품실장기의 Z축 초점 면 보정장치 및 이를 사용하는 Z축 초점 면 보정방법 有权
    用于校准芯片安装器的Z轴聚焦位置的装置和使用其来校准Z轴安装的Z轴聚焦位置的方法

    公开(公告)号:KR1020110043174A

    公开(公告)日:2011-04-27

    申请号:KR1020090100178

    申请日:2009-10-21

    Inventor: 강민수

    Abstract: PURPOSE: An apparatus for calibrating z-axis focus position of a chip mounting unit and a method for automatically calibrating z-axis focus position of the chip mounting unit using the same are provided to increase the accuracy of recognizing components by compensating the difference of the Z-axis recognition point of a moire and the z-axis focus plane which is predetermined. CONSTITUTION: A sensor unit(200) controls the height of an Z-axis and forms a first pattern periodically. A component sensor(300) scans a second pattern and moire interference patterns to obtain a Z-axis recognition point. A controller(400) compensates the difference between the obtained Z-axis recognition point and a predetermined Z-axis recognition point. The controller sets the obtained Z-axis recognition point as a Z-axis focus side.

    Abstract translation: 目的:提供用于校准芯片安装单元的z轴聚焦位置的装置以及使用其来自动校准芯片安装单元的z轴聚焦位置的方法,以通过补偿芯片安装单元的差异来增加识别部件的精度 莫尔的Z轴识别点和预定的z轴聚焦平面。 构成:传感器单元(200)控制Z轴的高度并且周期性地形成第一图案。 部件传感器(300)扫描第二图案并且将莫尔条纹干涉图案扫描以获得Z轴识别点。 控制器(400)补偿所获得的Z轴识别点与预定的Z轴识别点之间的差异。 控制器将获得的Z轴识别点设置为Z轴聚焦侧。

    장갑차 지휘용 통신 장치
    19.
    实用新型
    장갑차 지휘용 통신 장치 失效
    用于指挥装甲车的通讯装置

    公开(公告)号:KR200161518Y1

    公开(公告)日:1999-12-01

    申请号:KR2019970008321

    申请日:1997-04-21

    Inventor: 강민수 이강일

    Abstract: 본 고안의 장갑차 지휘용 통신 장치는 복수의 무전기들, 송수신용 안테나들 및 수신용 안테나를 포함한다. 상기 무전기들은 각각 송수신기 및 수신기를 갖춘다. 상기 송수신용 안테나들은 상기 무전기들의 각 송수신기마다 하나씩 연결된다. 상기 수신용 안테나는 상기 무전기들의 각 수신기에 공통으로 연결된다.

    위치제어계의 기능 검사장치
    20.
    实用新型
    위치제어계의 기능 검사장치 失效
    位置控制系统中的功能检查装置

    公开(公告)号:KR200161510Y1

    公开(公告)日:1999-12-01

    申请号:KR2019950005032

    申请日:1995-03-21

    Inventor: 정인식 강민수

    Abstract: 본 고안은 위치제어계의 기능 검사장치에 관한 것으로서,
    방향밸브의 동작 상태를 표시하는 표시등 ;
    서어보밸브의 동작 전압을 측정하는 전압계 ;
    그리고 위치센서의 출력전압을 별도로 공급하는 전원공급수단; 을 포함하는 위치제어계의 기능 검사장치에 있어서,
    상기 전원공급수단이, 다단계적 전압 분기용 가변저항기를 구비하는 것을 그 특징으로 하여,
    위치센서의 출력전압 변화에 따른 기능 검사를 다단계적으로 수행할 수 있게 됨에 따라, 제어계의 정도(楕度)높은 관리(maintenance)에 일조할 수 있다.

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