一种电子设备屏幕检测方法及装置

    公开(公告)号:CN105424710A

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201510809029.9

    申请日:2015-11-20

    Inventor: 陈珂

    CPC classification number: G01N21/8806 G01N2021/8893 G01N2201/06

    Abstract: 本发明提供了一种电子设备屏幕检测方法,其包括如下步骤:向电子设备屏幕投射光照;电子设备屏幕显示测试图像;对电子设备屏幕播放的测试图像进行录制,得到录制图像;从录制图像中提取多个图像帧,并采用多图像帧加权平均的方法得到检测屏幕显示图像效果;将检测屏幕显示图像效果与标准屏幕显示图像效果进行对比,当相似度达到预设值及以上时,判断电子设备屏幕检测合格;否则判断电子设备屏幕检测不合格。本发明还提供了一种电子设备屏幕检测装置,其包括包含计算机可执行指令的模块和结构,以执行上述方法。通过本发明能够有效解决现有技术中存在的由于光照不均影响拍照效果的问题,并进一步解决引起的影响屏幕图像显示效果判断的问题。

    工业用布的检验装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109374639A

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201810993417.0

    申请日:2018-08-29

    Abstract: 本发明的目的是提供一种工业用布的检验装置,布在放料棍上,依次通过左侧的侧辊右侧、顶辊顶部、右侧的侧辊左侧,最后通过收料辊收卷,顶辊可通过升降电机升降位置,侧辊可通过旋转电机调整角度,这样便可调整布的张力,设置照明灯在布下方照明,从而观察检验,照明灯在横轨上可调整位置,横轨设置在活动轴上可调整角度,从而照明灯的位置角度可调节,适应不同的情况,并且设置有辅助照明灯在布上方照明,辅助观察检验,操作方便,检测效果好,适用于生产中。

    一种新型平铺光片选择性平面照明显微镜

    公开(公告)号:CN109682819A

    公开(公告)日:2019-04-26

    申请号:CN201910168321.5

    申请日:2019-03-06

    Inventor: 殷明

    Abstract: 本发明提供了一种新型平铺光片选择性平面照明显微镜,包括激光光源系统、扩束准直系统、空间光调制系统、第一4f系统、扫描振镜、反射镜组、左4f系统、右4f系统、左激发物镜、右激发物镜、检测物镜、筒镜、探测器、置于样品室内的3D平移台及控制单元,控制单元分别与激光光源系统、空间光调制系统、扫描振镜、探测器和3D平移台控制连接,控制单元向空间光调制系统传递不同相位图,改变激发光束焦线尺寸及位置,在探测器视场内平铺光片,通过改变扫描振镜角度位置,对样品左右两侧分别3D图像采集,左右拼接方法完成3D成像,本发明克服了空间分辨率、光学层析能力和视场之间矛盾,提高了空间分辨率和光学层析能力,优化实时成像性能。

    一种基于激光诱导击穿光谱的收光系统优化方法

    公开(公告)号:CN106770073A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201710013405.2

    申请日:2017-01-09

    Applicant: 清华大学

    CPC classification number: G01N21/63 G01N2201/06

    Abstract: 一种基于激光诱导击穿光谱的收光系统优化方法,主要用于优化收光系统中的收光透镜的位置参数。该方法首先确定实验所用的光纤探测器的半径R1和收光透镜的半径R;然后,通过拍摄等离子体图像的方式确定等离子体波动最大方向和等离子体在这个方向上的长度L,调整收光透镜的放置方向,使得收光透镜的光轴方向与等离子体波动最大方向平行,并使等离子体中心和光纤探测器与收光透镜的光轴在一条直线上;之后通过公式计算收光透镜到等离子体中心的最佳距离u0,并据此确定收光透镜的位置。本发明在兼顾了光谱信号强度的基础上,进一步增加了激光诱导击穿光谱信号的稳定性,从而提高了激光诱导击穿光谱测量系统的测量精度。

    一种印刷网点实地密度检测用灯架

    公开(公告)号:CN106370597A

    公开(公告)日:2017-02-01

    申请号:CN201610718971.9

    申请日:2016-08-25

    Applicant: 周玉梅

    Inventor: 周玉梅

    CPC classification number: G01N21/01 G01N2201/06

    Abstract: 本发明公开了一种印刷网点实地密度检测用灯架,包括底座,底座上设有支撑管,支撑管的中部外侧壁上设有扣座,扣座的外侧壁上设有安装壳,安装壳的一侧设有第一握管,安装壳的另一侧设有第二握管;支撑管的端部上设有档位管,档位管的下端设有安装架,安装架设置在支撑管的端部上,安装架与支撑管的端部之间设有锁销;档位管的端部内套装有调节管,调节管与档位管之间设有锁杆;调节管的端部两侧设有安装管,安装管的外端设有套筒,套筒呈竖直布置。本发明可以将标准光源安装在套筒位置,从而方便使用者对印刷样品的印刷网点实地密度检测照明使用。

    一种具有轴向高分辨率的反射式共聚焦系统

    公开(公告)号:CN105675541A

    公开(公告)日:2016-06-15

    申请号:CN201610020495.3

    申请日:2016-01-13

    Inventor: 缪新 张运海

    CPC classification number: G01N21/39 G01N2201/06

    Abstract: 本发明公开了一种具有轴向高分辨率的反射式共聚焦系统,其具有照明光路和成像光路,在照明光路上设有激光器和用于将所述光源发射的光聚焦到待测对象上的成像光学系统,在成像光路上设有接收自待测对象上射回并穿过同样成像光学系统的图像检测器;所述成像光学系统沿激光路径依次设有半反半透镜、检流计振镜组、二分之一波片和四分之一波片,其中,所述二分之一波片仅遮挡激光的一半光路;其中,所述激光器和成像光学系统之间设有第一偏振片,所述成像光学系统和图像检测器设有与第一偏振片偏振方向相同的第二偏振片。本发明能够去除杂散光对成像质量的影响,从而显著提高共焦成像的轴向分辨率和层析能力。

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