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    12.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE69402281T2

    公开(公告)日：1997-09-04

    申请号：DE69402281

    申请日：1994-09-02

    Applicant: ESSILOR INT

    Inventor： LE SAUX GILLES ,  BERTRAND PATRICK ,  LIPPENS XAVIER ,  LAFAY CHRISTOPHE

    IPC: G01B11/255 ,  G01B11/24 ,  G01M11/00 ,  G01M11/02

    Abstract: The invention relates to a method for absolute measurement of the geometrical or optical structure of an optical component (4), comprising steps consisting in: - illuminating the said optical component with incident light, the wavefront of which is known, - measuring, in a given plane, the maps of the slopes of the wavefront of the said light after reflection from the said optical component or transmission by the said optical component, which furthermore comprises at least one calculation procedure consisting in deducing the geometrical or optical structure of the optical component from the said measurement of the slope maps. A further subject of the invention is a device for implementing this method. The invention is applied in particular in the field of ophthalmology for checking or measuring ophthalmic lenses or moulds for fabricating ophthalmic lenses.

    13.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：ES2101465T3

    公开(公告)日：1997-07-01

    申请号：ES94401959

    申请日：1994-09-02

    Applicant: ESSILOR INT

    Inventor： LE SAUX GILLES ,  BERTRAND PATRICK ,  LIPPENS XAVIER ,  LAFAY CHRISTOPHE

    IPC: G01B11/255 ,  G01M11/00 ,  G01B11/24 ,  G01M11/02

    Abstract: The invention relates to a method for absolute measurement of the geometrical or optical structure of an optical component (4), comprising steps consisting in: - illuminating the said optical component with incident light, the wavefront of which is known, - measuring, in a given plane, the maps of the slopes of the wavefront of the said light after reflection from the said optical component or transmission by the said optical component, which furthermore comprises at least one calculation procedure consisting in deducing the geometrical or optical structure of the optical component from the said measurement of the slope maps. A further subject of the invention is a device for implementing this method. The invention is applied in particular in the field of ophthalmology for checking or measuring ophthalmic lenses or moulds for fabricating ophthalmic lenses.

    METHODE DE VERIFICATION D'UNE CARACTERISTIQUE GEOMETRIQUE ET D'UNE CARACTERISTIQUE OPTIQUE D'UNE LENTILLE OPHTALMIQUE DETOUREE ET DISPOSITIF ASSOCIE
    15.
    发明专利
    METHODE DE VERIFICATION D'UNE CARACTERISTIQUE GEOMETRIQUE ET D'UNE CARACTERISTIQUE OPTIQUE D'UNE LENTILLE OPHTALMIQUE DETOUREE ET DISPOSITIF ASSOCIE 未知

    公开(公告)号：FR3039660A1

    公开(公告)日：2017-02-03

    申请号：FR1557327

    申请日：2015-07-30

    Applicant: ESSILOR INT (COMPAGNIE GENERALE D'OPTIQUE)

    Inventor： LEMAIRE CEDRIC ,  LIPPENS XAVIER

    IPC: G02C13/00 ,  G01M11/02

    Abstract: L'invention concerne une méthode de vérification d'au moins une caractéristique géométrique et d'une caractéristique optique d'une lentille ophtalmique détourée (10) comprenant les étapes suivantes : a) on dispose la lentille ophtalmique détourée sur un support (110), b) on capture au moins une image de cette lentille ophtalmique détourée, c) on détermine, à partir de cette image, une caractéristique géométrique mesurée de ladite lentille ophtalmique détourée, d) on détermine au moins une caractéristique optique mesurée de cette lentille ophtalmique détourée dans un repère de l'image capturée à l'étape b), e) on compare ladite caractéristique géométrique mesurée associée à la caractéristique optique mesurée à un modèle de lentille ophtalmique souhaité prédéterminé, comprenant au moins une caractéristique géométrique souhaitée et une caractéristique optique souhaitée associée. Elle concerne également un dispositif de vérification associé.

    17.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：AT502728T

    公开(公告)日：2011-04-15

    申请号：AT08853275

    申请日：2008-11-27

    Applicant: ESSILOR INT

    Inventor： LAVRADOR ISABELLE ,  LIPPENS XAVIER ,  CHANSAVOIR ALAIN ,  LARUE PHILIPPE ,  STEIGELMAN DANIEL ,  KABELAAN LOIC ,  CAILLOUX JEAN-FRANCOIS

    IPC: B24B51/00 ,  B24B13/06

    Abstract: A process for controlling a lens manufacturing process comprising the steps of: a) manufacturing a master lens according to a manufacturing process using a manufacturing device, b) measuring by using at least a measuring device at least one parameter of the master lens of step a), c) recording the value of the parameter, d) repeating regularly step a) to c) and checking the evolution of the parameter over time, wherein the evolution of at least one parameter of the manufacturing device used during the lens manufacturing process is checked over time and the evolution over time of at least one parameter of the master lens is related with the evolution over time of the at least one parameter of the manufacturing device.

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