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    Optische Anordnung und Verfahren zur Beeinflussung einer Dispersion von Wellenlängen mindestens eines Lichtpulses oder Lichtstrahls
    12.
    发明专利
    Optische Anordnung und Verfahren zur Beeinflussung einer Dispersion von Wellenlängen mindestens eines Lichtpulses oder Lichtstrahls 未知

    公开(公告)号：DE102017120317A1

    公开(公告)日：2019-03-07

    申请号：DE102017120317

    申请日：2017-09-04

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： LEIMBACH VOLKER ,  KREMER MANUEL

    IPC: H01S3/10 ,  G02B5/08 ,  G02B21/00 ,  G02B26/10 ,  G02B27/00 ,  G02F1/01

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine optische Anordnung, insbesondere Mikroskop, mit einer Lichtquelle zur Erzeugung eines mindestens einen Lichtpuls aufweisenden Lichtstrahls (1, 12) und mehreren in einem Strahlengang des Lichtstrahls angeordneten gechirpten Spiegeln (3-6, 18, 19) zur Beeinflussung einer Dispersion von Wellenlängen des mindestens einen Lichtpulses oder des Lichtstrahls (1, 12),wobei die mehreren gechirpten Spiegel (3-6, 18, 19) derart relativ zueinander im Strahlengang des Lichtstrahls (1, 12) angeordnet sind und mindestens einer der gechirpten Spiegel (3-6, 18, 19) derart relativ zu dem Lichtstrahl (1, 12) kontinuierlich bewegbar ist, dass durch ein Bewegen des mindestens einen gechirpten Spiegels (3-6, 18, 19) der Einfallswinkel des Lichtstrahls (1, 12) auf den jeweiligen gechirpten Spiegel (3-6, 18, 19) zur Veränderung der Dispersion einstellbar ist und dass eine Position und eine Strahlrichtung des Lichtstrahls (1,12)- nach einem Durchlaufen der Anordnung der gechirpten Spiegel (3-6, 18, 19) - durch ein Bewegen des mindestens einen gechirpten Spiegels (3-6, 18, 19) nicht verändert wird. Des Weiteren betrifft die Erfindung ein entsprechendes Verfahren zur Beeinflussung einer Dispersion von Wellenlängen mindestens eines Lichtpulses oder Lichtstrahls (1, 12), insbesondere unter Verwendung einer wie oben beschriebenen optischen Anordnung.

    Vorrichtung mit einer breitbandigen Lichtquelle
    14.
    发明专利
    Vorrichtung mit einer breitbandigen Lichtquelle 未知

    公开(公告)号：DE102009016631B4

    公开(公告)日：2011-02-03

    申请号：DE102009016631

    申请日：2009-04-07

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： WARKEN FLORIAN ,  LEIMBACH VOLKER

    IPC: G02B21/06

    Abstract: Eine Vorrichtung hat eine breitbandige Lichtquelle (28), die einen ersten Lichtstrahl erzeugt. Ein lichtdurchlässiger Festkörperfilter (44) der Vorrichtung hat eine Eintrittsgrenzfläche, zumindest eine erste Reflexionsgrenzfläche und eine Austrittsgrenzfläche. Der erste Lichtstrahl fällt an der Eintrittsgrenzfläche (51) des Festkörperfilters (44) in den Festkörperfilter (44) ein. Ein erster Anteil (52) des eingefallenen ersten Lichtstrahls wird beim Auftreffen auf die erste Reflexionsgrenzfläche (53) an der ersten Reflexionsgrenzfläche (53) total reflektiert und tritt an der Austrittsgrenzfläche (55) aus dem Festkörperfilter (44) aus. Ein zweiter Anteil (54) des eingefallenen ersten Lichtstrahls tritt an der ersten Reflexionsgrenzfläche (53) aus dem Festkörperfilter (44) aus.

    16.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：DE10344965A1

    公开(公告)日：2005-04-21

    申请号：DE10344965

    申请日：2003-09-27

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： LEIMBACH VOLKER ,  RYGIEL REINER

    IPC: G02B21/00 ,  G02B26/00

    Abstract: A 4Pi microscope provided with an interferometer wherein two lenses ( 31, 33 ) are arranged in such a way that they are opposite to each other on different sides of a sample plane ( 35 ); also comprising an optical element ( 19 ) which is used to inject illuminating light ( 3 ) into the interferometer and/or used to discharge detection light ( 41 ) from the interferometer and to deflect a detection beam path, containing a reflecting means ( 51 ) which reflects illuminating light discharged by the optical element back into the interferometer and/or which allows detection light which is deflected onto the deflection beam to pass, also reflecting other discharged detection light which is not deflected onto the detection beam path into the interferometer.

    Vorrichtung und Verfahren zur Vereinigung von Lichstrahlen
    17.
    发明专利
    Vorrichtung und Verfahren zur Vereinigung von Lichstrahlen 未知

    公开(公告)号：LU93062B1

    公开(公告)日：2017-11-29

    申请号：LU93062

    申请日：2016-05-09

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： GUGEL DR ,  LEIMBACH VOLKER

    IPC: G02B27/28

    Abstract: Im Hinblick auf eine sichere Vereinigung von Lichtstrahlen (1, 2) auch bei Licht- 5 strahlen (1,2) aus großen und überlappenden Wellenlängenbereichen mit konstruktiv einfachen Mitteln ist eine Vorrichtung zur Vereinigung von Lichtstrahlen (1, 2) bereitgestellt, wobei ein erster Lichtstrahl (1) mit Licht einer ersten Wellenlänge und ein zweiter Lichtstrahl (2) mit Licht einer zweiten Wellenlänge mittels eines optischen Bauteils zu einem vereinigten Lichtstrahl (3) zusammengeführt werden. Die 10 Vorrichtung ist dadurch gekennzeichnet, dass das optische Bauteil ein doppelbre- chendes Polarisationsprisma (4) ist. Des Weiteren ist ein entsprechendes Verfahren zur Vereinigung von Lichtstrahlen (1, 2) angegeben.

    Optische Anordnung
    19.
    发明专利
    Optische Anordnung 未知

    公开(公告)号：DE102004052955B4

    公开(公告)日：2014-02-13

    申请号：DE102004052955

    申请日：2004-10-29

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： RIEDMANN JUERGEN ,  LEIMBACH VOLKER

    IPC: G02B21/06

    Abstract: Optische Anordnung, insbesondere Scanmikroskop, mit einem Laser (1), vorzugsweise Kurzpulslaser, und einer in dem vom Laser (1) ausgehenden Strahlengang angeordneten Einrichtung (2) zur Korrektur von chromatischen Fehlern, wobei die Einrichtung (2) zur Korrektur von chromatischen Fehlern einen Pulsestretcher (3) aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass der Pulsestretcher (3) in ein Strahlaufweitungssystem (4) der optischen Anordnung integriert ist.

    Scanmikroskopisches Verfahren und Scanmikroskop
    20.
    发明专利
    Scanmikroskopisches Verfahren und Scanmikroskop 未知

    公开(公告)号：DE102012101778A1

    公开(公告)日：2013-09-05

    申请号：DE102012101778

    申请日：2012-03-02

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： LEIMBACH VOLKER ,  GUGEL HILMAR

    IPC: G02B21/00

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Scanmikroskopisches Verfahren, bei dem eine Probe mit dem Fokus eines Beleuchtungslichtbündels durch Überlagerung wenigstens einer schnelleren Scanbewegung und einer langsameren Scanbewegung gescannt wird, und bei dem eine ortsabhängige Aberration korrigiert wird. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass die Scanbewegungen derart festgelegt werden, dass die ortsabhängige zu korrigierende Aberration überwiegend in Abhängigkeit von der langsameren Scanbewegung variiert und die Aberration in Abhängigkeit von der langsameren Scanbewegung korrigiert wird. Die Erfindung betrifft außerdem ein Scanmikroskop.

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