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公开(公告)号:FR2977978A1
公开(公告)日:2013-01-18
申请号:FR1156322
申请日:2011-07-12
Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2 , ST MICROELECTRONICS SA
Inventor: TUBERT CEDRIC , ROY FRANCOIS , MELLOT PASCAL
IPC: H01L31/0352 , H01L27/146 , H04N5/335
Abstract: L'invention concerne un procédé de transfert de charges photogénérées dans une portion (Ch1, Ch2, Ch3, Ch4) d'une couche semiconductrice délimitée par au moins deux tranchées parallèles (32A, 32B, 32C, 32D, 32E), chaque tranchée comprenant, dans sa longueur, au moins une première et une deuxième régions conductrices isolées entre elles et de la couche semiconductrice, comprenant la répétition d'une première étape de polarisation des premières régions conductrices à une première tension de façon à former une accumulation volumique de trous dans la partie de la portion située entre les premières régions, tandis que les deuxièmes régions conductrices sont polarisées à une deuxième tension supérieure à la première tension, et d'une deuxième étape de polarisation des premières régions à la deuxième tension et des deuxièmes régions à la première tension.
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12.
公开(公告)号:FR3076426A1
公开(公告)日:2019-07-05
申请号:FR1850012
申请日:2018-01-02
Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2
Inventor: MELLOT PASCAL
IPC: H04N5/355
Abstract: Le procédé de gestion de la plage dynamique d'un dispositif de détection optique (DIS) illuminé par au moins un rayonnement optique modulé (ROIP) comprend une génération d'un signal de détection (SD) à partir dudit au moins un rayonnement optique modulé (ROIP), une élaboration à partir du signal de détection (SD) d'un histogramme comportant des classes d'histogramme (C0, C1, C2, C3), une comparaison entre une valeur maximale (Vmax) choisie et la valeur de chaque classe d'histogramme (VC0, VC1, VC2, VC3), et un arrêt de ladite élaboration si la valeur de l'une quelconque des classes d'histogramme (VC0, VC1, VC2, VC3) atteint ladite valeur maximale (Vmax).
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公开(公告)号:FR2980586A1
公开(公告)日:2013-03-29
申请号:FR1158423
申请日:2011-09-22
Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2
Inventor: MELLOT PASCAL
IPC: G01S17/36
Abstract: L'invention concerne un procédé de définition, à partir d'un premier signal périodique (PULSE), d'un deuxième signal de même période (ADAPT-1, ADAPT-2), comprenant les étapes suivantes : générer un troisième signal (SPAD1, SPAD2) présentant des événements détectables ; et synchroniser le deuxième signal à chaque événement.
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公开(公告)号:FR3079041A1
公开(公告)日:2019-09-20
申请号:FR1852193
申请日:2018-03-14
Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2
Inventor: MELLOT PASCAL
Abstract: Le procédé de détermination de la distance réelle (DRE) séparant un objet (OBJ) et un système de détection optique (2), comprenant, à partir de plusieurs distances dites rapportées (DR1, DR2, DR3) respectivement inférieures ou égales à des distances de référence individuelles (DRI1, DRI2, DRI3) dépendant respectivement desdites fréquences de modulation, comporte a) une détermination d'un coefficient d'écart initial (CEI) entre les distances rapportées et une incrémentation de la plus petite des distances rapportées avec la distance de référence individuelle correspondante, puis b) une détermination d'un coefficient d'écart courant (CEC) entre des distances courantes (DC1, DC2, DC3) obtenues à l'étape précédente et une incrémentation de la plus petite desdites distances courantes avec la distance de référence individuelle correspondante, et c) une répétition de l'étape b) jusqu'à ce que toutes les distances courantes dépassent une distance de référence commune (DRC) supérieure aux distances de référence individuelles, et une détermination de ladite distance réelle à partir des distances courantes (DC1m, DC2m, DC3m) associées au coefficient d'écart (CECm) ayant la plus petite valeur.
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公开(公告)号:FR3024908A1
公开(公告)日:2016-02-19
申请号:FR1552319
申请日:2015-03-20
Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2
Inventor: MELLOT PASCAL
IPC: G01S17/36
Abstract: L'invention est relative à un procédé comprenant les étapes consistant à générer un signal de référence (LPin) comprenant des impulsions périodiques ; synchroniser les fronts montants et descendants des impulsions du signal de référence sur une horloge (CK) ; retarder chaque impulsion du signal de référence d'une valeur différente d'une impulsion à l'autre ; et produire le signal d'excitation (LPout) à partir des impulsions retardées.
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公开(公告)号:FR3024907A1
公开(公告)日:2016-02-19
申请号:FR1457858
申请日:2014-08-18
Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2
Inventor: MELLOT PASCAL
Abstract: L'invention est relative à procédé de mesure de la phase d'une série de salves d'impulsions (SPAD) par rapport à un signal générateur périodique (LP), comprenant les étapes consistant à produire deux signaux rectangulaires (Hhi, Hlo ; Hph2, Hph3) de même période que le signal générateur, déphasés de manière à présenter des transitions respectives avant et après le centre d'une salve courante ; permuter les deux signaux rectangulaires pour les confronter à tour de rôle aux salves ; déterminer la différence (10') des nombres d'impulsions de la salve courante survenant avant et après la transition du signal rectangulaire confronté (H) ; effectuer une modulation delta-sigma de la permutation des deux signaux rectangulaires en fonction des différences successives ; et produire une mesure de la phase (36) en fonction du rapport cyclique des permutations.
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公开(公告)号:FR2999771A1
公开(公告)日:2014-06-20
申请号:FR1262198
申请日:2012-12-18
Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2
Inventor: MELLOT PASCAL
IPC: G09G3/34
Abstract: L'invention concerne un dispositif (100) comprenant un capteur d'images (101), et un circuit de commande du capteur configuré pour, dans un premier mode de fonctionnement, fournir des images acquises par le capteur, et, dans un deuxième mode de fonctionnement dans lequel le capteur ne fournit pas d'image : sélectionner un sous-ensemble de pixels du capteur (101) ; pour chaque pixel du sous-ensemble, lire une valeur de sortie du pixel indépendante des valeurs de sortie des autres pixels ; et fournir une valeur de luminosité ambiante basée sur les valeurs de sortie des seuls pixels du sous-ensemble.
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18.
公开(公告)号:FR2978558A1
公开(公告)日:2013-02-01
申请号:FR1156963
申请日:2011-07-29
Applicant: ST MICROELECTRONICS GRENOBLE 2
Inventor: MELLOT PASCAL
IPC: G01R31/26 , H01L27/146
Abstract: Procédé de surveillance de l'intégrité électrique de la commande de lignes (L1 à Ln) de photosites (Pi) d'un dispositif d'imagerie à réseau matriciel (1) de photosites (Pi), la commande de lignes (L1 à Ln) de photosites (Pi) comprenant pour chaque ligne (Li) de photosites (Pi) une émission de signaux électriques de commande élémentaires (SCE1i à SCE3i) des photosites (Pi) de ladite ligne. Le procédé comprend un diagnostic des signaux électriques de commande élémentaires (SCE1i à SCE3i) émis.
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