公开(公告)号：CN101627288B

公开(公告)日：2012-06-06

申请号：CN200780051940.1

申请日：2007-03-01

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 井口和也 ,  铃木健吾

IPC: G01J1/02 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01N21/64 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0223 ,  G01J3/0254 ,  G01N21/4738 ,  G01N2021/4735 ,  G01N2201/0632 ,  G01N2201/065

Abstract: 本发明涉及一种光检测装置(1)，其具备观测通过向样品照射激励光而产生的被检测光的积分球(20)、以及可装卸地安装于该积分球(20)的样品架(60)；积分球(20)具有用于导入激励光的激励光导入孔(201)、以及用于导入样品架(60)所保持的单元(C)的样品导入孔(205)；样品架(60)被卡止于样品导入孔(205)中并保持用于容纳样品的单元(C)，并将单元配置为：激励光入射于单元(C)时的入射面相对于与激励光的光轴(L)垂直的面倾斜。

公开(公告)号：CN101490518A

公开(公告)日：2009-07-22

申请号：CN200780025828.0

申请日：2007-07-06

Applicant: TIR科技公司

Inventor： I·阿什当 ,  M·萨尔伯里

IPC: G01J3/50 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/50 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0223 ,  G01J1/42 ,  G01J3/504 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本发明提供了用于表征光源的光度学和/或色度学属性的设备和方法。该设备包括检测器系统，所述检测器系统产生表示用于光源所发出光的至少一部分的至少分光辐射度学数据的数据。该设备还包括操纵台，所述操纵台被配置成控制检测器系统和光源之间的相对位置。此外，该设备包括控制和处理系统，所述控制和处理系统被配置成控制检测器系统的操作、操纵台的操作，并且记录与其关联的检测器系统的数据和相对位置。该控制和处理系统还被配置成处理所收集的数据以便确定光源所发出光的光度学和/或色度学属性。

公开(公告)号：CN101221087A

公开(公告)日：2008-07-16

申请号：CN200710200024.1

申请日：2007-01-09

Applicant: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 ,  鸿海精密工业股份有限公司

Inventor： 黄宽德 ,  赵大翔

IPC: G01M11/00 ,  G01M11/02 ,  G02B7/00

CPC classification number: G01N21/55 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0223 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0403 ,  G01J2001/0481 ,  G01M11/005 ,  G01M11/02 ,  G01N2021/555 ,  G01N2201/065

Abstract: 一种镜片光反射率检测装置，其包括：一具有一样品口及一出光口的积分球，该样品口及出光口分别用于放置待测镜片及出射所述待测镜片反射的光线；一用于发出一定波长范围光束的光源装置，该光束通过所述积分球投射至所述待测镜片表面；一用于使所述待测镜片与所述积分球相对移动的移动平台；一包括一感光元件以用于侦检自所述积分球出射的光线并转换为一待比较信号的侦检器，该感光元件选自电荷偶合装置及互补金属氧化物半导体之一；一用于比较投射至所述待测镜片的光束的信号强度与所述侦检器侦检到的待比较信号强度的处理器，以得出所述待测镜片的光反射率。本发明还提供一集成有上述的镜片光反射率检测装置的镜片组装设备。

公开(公告)号：CN104246456B

公开(公告)日：2016-08-17

申请号：CN201280072460.4

申请日：2012-07-30

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 大久保和明 ,  白岩久志

IPC: G01J1/00

CPC classification number: G01J1/06 ,  G01J1/0223 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0488 ,  G01J1/4257 ,  G01J2001/4247

Abstract: 本发明提供一种光学测量装置(1)，包括：中空的圆筒状构件(2)，其在一个平面上具有第一开口(10)，并且在另一平面上具有第二开口(18)；旋转机构(52、54)，其用于使圆筒状构件绕圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转；支承部(20、22)，其用于将光源(30)配置于测量位置，该测量位置在第一轴线上，且该测量位置为所照射的光穿过第一开口而入射到圆筒状构件的内部的位置；第一反射部(12)，其配置在圆筒状构件的内部，用于反射从光源穿过第一开口而入射的光；第二反射部(14)，其用于反射圆筒状构件的内部的光，使该光穿过第二开口而沿第一轴线向圆筒状构件的外部传播；以及至少一个的第三反射部(16)，其用于使第一反射部的反射光入射到第二反射部。

公开(公告)号：CN103674496A

公开(公告)日：2014-03-26

申请号：CN201310718047.7

申请日：2013-12-23

Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 ,  北京京东方显示技术有限公司

Inventor： 吕金库 ,  唐蓉 ,  郭俊杰 ,  王丹 ,  邹斌 ,  浩育涛 ,  赵洪宇 ,  张乾

IPC: G01M11/02

CPC classification number: G02F1/1309 ,  G01J1/0223 ,  G01J1/42 ,  G01J3/505 ,  G01J2001/4247 ,  G01J2001/4252 ,  G09G2320/0693

Abstract: 本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种光源发光特性检测装置。该光源发光特性检测装置包括：用于固定光源的定位机构；以及，用于采集所述光源出射光参数的检测设备。本发明所提供的光源发光特性检测装置，通过设置用于固定光源定位机构以及用于采集所述光源出射光参数的检测设备，从而能够针对光源进行发光特性检测，进而帮助选择出显示模组所需光源的色度以及亮度等级，实现了缩短液晶显示器研发制作周期的目的。

公开(公告)号：CN101627288A

公开(公告)日：2010-01-13

申请号：CN200780051940.1

申请日：2007-03-01

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 井口和也 ,  铃木健吾

IPC: G01J1/02 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01N21/64 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0223 ,  G01J3/0254 ,  G01N21/4738 ,  G01N2021/4735 ,  G01N2201/0632 ,  G01N2201/065

Abstract: 本发明涉及一种光检测装置(1)，其具备观测通过向样品照射激励光而产生的被检测光的积分球(20)、以及可装卸地安装于该积分球(20)的样品架(60)；积分球(20)具有用于导入激励光的激励光导入孔(201)、以及用于导入样品架(60)所保持的单元(C)的样品导入孔(205)；样品架(60)被卡止于样品导入孔(205)中并保持用于容纳样品的单元(C)，并将单元配置为：激励光入射于单元(C)时的入射面相对于与激励光的光轴(L)垂直的面倾斜。

公开(公告)号：CN101076712A

公开(公告)日：2007-11-21

申请号：CN200580042757.6

申请日：2005-12-13

Applicant: 阿克佐诺贝尔国际涂料股份有限公司

Inventor： S·L·恩乔 ,  I·B·N·范德兰斯

IPC: G01J1/04 ,  G01J1/08 ,  G01N21/47

CPC classification number: G01J1/04 ,  G01J1/0214 ,  G01J1/0223 ,  G01J1/08 ,  G01N21/8806

Abstract: 一种通过如下装置对样品成像的方法，所述装置包括具有黑色内壁和样品开口的腔，所述装置还包括用于所述腔的照明的照明装置和从所述腔朝向所述样品开口的数字成像装置，所述方法包括如下步骤：通过样品开口将样品提供在所述腔内；照亮所述腔；启动所述成像装置以记录所述样品的像；将记录的图像数据传输到编程有图像分析软件的计算机，以分析所述记录的图像，其特征在于所述腔的内壁是光吸收的，并且被提供均匀分布在所述腔的至少一部分所述内壁上的点光源，并且根据所需要的光条件，所述光源中的选择光源被启动。

公开(公告)号：EP2124028A4

公开(公告)日：2012-12-12

申请号：EP07737627

申请日：2007-03-01

Applicant: HAMAMATSU PHOTONICS KK

Inventor： IGUCHI KAZUYA ,  SUZUKI KENGO

IPC: G01J1/02 ,  G01N21/47 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01N21/64 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0223 ,  G01J3/0254 ,  G01N21/4738 ,  G01N2021/4735 ,  G01N2201/0632 ,  G01N2201/065

公开(公告)号：EP2825862A4

公开(公告)日：2015-12-02

申请号：EP12871392

申请日：2012-03-16

Applicant: CANADA MINISTER NAT DEFENCE

Inventor： FORTIN JEAN ,  TREMBLAY GRÉGOIRE

IPC: G01M11/02 ,  F41H13/00 ,  G01J1/02 ,  G01J1/04 ,  G01J1/42 ,  G01S7/48 ,  G01S7/481 ,  G01S7/499 ,  G02B27/10

CPC classification number: G01M11/0207 ,  F41A31/00 ,  F41H13/005 ,  F41H13/0056 ,  G01J1/0223 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/044 ,  G01J1/0448 ,  G01J1/0477 ,  G01J1/4257 ,  G01J3/28 ,  G01J9/02 ,  G01J2001/4247 ,  G01S3/789 ,  G02B27/106 ,  G02B27/126

公开(公告)号：EP1711837A1

公开(公告)日：2006-10-18

申请号：EP05712903.3

申请日：2005-02-04

Applicant: Honeywell International Inc.

Inventor： BUTSCH, Steve, M. ,  MACHI, Nicolo, F. ,  SINGER, Jeffrey, M.

IPC: G01R1/04 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01R1/0416 ,  G01J1/0223 ,  G01J1/0271 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/4247 ,  G01R31/2635 ,  G01R31/44

Abstract: A quick attachment device for use in the repeated testing of diode light sources (30) includes a quick attachment module (10) having a fixed location with respect to a testing position (150) for the diodes (30), and a mounting assembly (20) on which each diode (30) is mounted during testing. The quick attachment module (10) includes a quick disconnect fastener and two locating pin (120a and 120b) for securing the mounting assembly (20) for testing, where the two locating pins (120a and 120b) have a locational transition fit connection with the mounting assembly (20). The mounting assembly (20) may further include a thermal-electric cooling device (260) for cooling the diode light sources (30) during testing.