公开(公告)号：CN108803731A

公开(公告)日：2018-11-13

申请号：CN201810343638.3

申请日：2018-04-17

Applicant: 松下知识产权经营株式会社

Inventor： 藤原由利 ,  八田和洋

IPC: G05D25/02 ,  G01J1/42

CPC classification number: G01J1/4204 ,  G01J1/0204 ,  G01J1/0219 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/0257 ,  G01J2001/444 ,  G01J2001/446 ,  G05D25/02

Abstract: 本发明提供一种受光量测量系统。受光量测量系统(1)具备：第一受光传感器(110)，其能够安装于身体，用于获取第一受光量；以及控制部(121)，其从第一受光传感器(110)获取与第一受光量有关的信息。而且，在第一受光量为第一规定值以下的情况下，控制部(121)计算对该第一受光量为第一规定值以下的期间的第一受光量进行补充的补充信息，计算补充信息来作为由第一受光传感器(110)获取到的受光量。

公开(公告)号：CN106164631A

公开(公告)日：2016-11-23

申请号：CN201580011014.6

申请日：2015-02-16

Applicant: 飞利浦灯具控股公司

Inventor： T.J.J.登特尼尔

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/02

CPC classification number: G01J1/0228 ,  G01J1/4204

Abstract: 一种检测缺陷光传感器的方法包括以下操作：‑收集数据，包括收集光传感器数据；‑在所收集的数据上执行准备过程以便确定模板；以及‑执行检测过程以用于确定光传感器状态。执行准备过程的操作包括在定义明确的条件下确定在构成一日的部分的时间段期间收集的光传感器数据的行为的模板。执行检测过程的操作包括以下操作：‑针对另外的若干日在对应的时间段期间收集光传感器数据；‑选择其代表性日；‑针对每一个所选日确定对应的行为；以及‑将对应的行为与模板进行比较以检测光传感器的任何缺陷。

公开(公告)号：CN105841807A

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201610295687.5

申请日：2016-05-06

Applicant: TCL移动通信科技(宁波)有限公司

Inventor： 黄树伟 ,  章金玉

IPC: G01J1/02

CPC classification number: G01J1/0228 ,  G01J1/0271

Abstract: 本发明提供了一种提高光传感器检测稳定性的方法、系统及智能终端，通过利用智能终端的光传感器获取一段时间前后的环境光强度信号和智能终端显示屏的背光亮度信号，若该时间段前后检测到环境光强度信号值均大于背光亮度信号值，则触发中央处理器控制光传感器输出的电压信号进行稳压处理后，输出光传感器检测到的光强度检测值，从而实现稳定光强度检测值的输出，为用户获取准确的光强度检测值提供了便利。

公开(公告)号：CN105628195A

公开(公告)日：2016-06-01

申请号：CN201410606857.8

申请日：2014-10-31

Applicant: 富泰华工业(深圳)有限公司 ,  鸿海精密工业股份有限公司

Inventor： 张旨光 ,  吴新元 ,  杨路

IPC: G01J1/42

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/4228 ,  G01J2001/4252

Abstract: 一种光源亮度检测方法，该方法包括步骤：设置检测参数；拍摄一张发光装置的图片，对所拍摄的发光装置的图片进行解析，以获得发光装置中每个光点的像素亮度值；根据所述检测参数及每个光点的像素亮度值检测发光装置中的每个光点，以得到发光装置的发光信息。本发明还提供一种光源亮度检测系统。利用本发明可以在测量发光装置的亮度。

公开(公告)号：CN103443600B

公开(公告)日：2016-05-04

申请号：CN201280005343.6

申请日：2012-01-10

Applicant: UL有限责任公司

Inventor： 伊恩·列文 ,  约翰·奥法雷尔

IPC: G01J1/02 ,  G01J1/04

CPC classification number: G01J1/02 ,  G01C3/085 ,  G01J1/0219 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/0242 ,  G01J1/0266 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0437 ,  G01J1/0448 ,  G01J1/0466 ,  G02B7/32

Abstract: 本发明涉及光测量装置及其使用方法。该装置用于测量从远处光源散发出来的光的光度量。与发明人所知的其他装置相比，此装置能更精确地测量选定光的光场。

公开(公告)号：CN103091071B

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201110352669.3

申请日：2011-11-01

Applicant: 微软技术许可有限责任公司

Inventor： S·麦克尔道尼 ,  D·易

IPC: G01M11/00

CPC classification number: G01B11/14 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/32

Abstract: 描述了一种用于检测照明系统中的一个或多个元件的配置位置的改变的技术。光源生成照明信号，并且系统的元件将信号的一部分光定向回光检测器。在一个示例中，这部分光被反射回光检测器。通过基于定向光监控光检测器的输出信号，控制电路可检测到系统的元件的位置已经改变。在一个示例中，包括监控光电二极管的现成集成电路激光二极管封装可与反射元件一起使用。在一个示例中，反射元件是倾斜光学元件。可检测照明系统的位于激光二极管封装外部的一个或多个光学元件的配置的改变。

公开(公告)号：CN104838262A

公开(公告)日：2015-08-12

申请号：CN201380064345.7

申请日：2013-11-19

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 横井祐介

IPC: G01N30/86 ,  G01N21/27 ,  G01N30/74

CPC classification number: G01N21/274 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/4257 ,  G01J2001/086 ,  G01J2001/444 ,  G01N30/8641

Abstract: 本发明提供能够使用更小容量的缓存来高精度地计算出漂移的漂移计算装置以及具有该漂移计算装置的光检测装置。每当测定强度以规定周期被输入时，就基于当时的测定强度以及测定时间中的至少一方更新多个总和用缓存(321～324)的数据。各总和用缓存(321～324)被分配给构成用于使用最小二乘法来计算漂移的计算式所包含的系数的多个总和函数。通过将被更新后的多个总和用缓存(321～324)的数据代入到上述计算式中计算出漂移。由此，由于不需要对以规定周期输入的测定强度全部进行存储，因此能够使用更小容量的缓存来高精度地计算出漂移。

公开(公告)号：CN103620716A

公开(公告)日：2014-03-05

申请号：CN201280030225.0

申请日：2012-10-30

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 松原纯一 ,  权藤清彦 ,  糟谷诚 ,  一柳星文 ,  驹井和齐 ,  村上翼

IPC: H01H9/18 ,  H01H13/02 ,  H01H23/02 ,  H01H35/00

CPC classification number: G01J1/0228 ,  H01H9/18 ,  H01H2009/189

Abstract: 一种传感器装置1，在组装有信号处理电路的壳体10上设置有能够显示数值以及文字的显示部100和分别设定有不同种类的功能的多个开关SW1～SW5，在该传感器装置1的各开关SW1～SW5的上表面上分别标记有不同形态的符号。尤其，在使显示部100所显示的数值向变大的方向变化的上升开关SW2和使显示的数值向变小的方向变化的下降开关SW3上分别标记有能够联想到开关的功能的符号。另一方面，在其它开关SW1、SW4、SW5上标记有不能联想到更新数值的功能的符号。

公开(公告)号：CN102132374A

公开(公告)日：2011-07-20

申请号：CN200880130870.3

申请日：2008-08-27

Applicant: 惠普开发有限公司

Inventor： D·A·法塔尔 ,  Q·徐 ,  M·菲奥伦蒂诺 ,  R·G·博索莱尔

IPC: H01J40/14

CPC classification number: H04B10/691 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/44 ,  H01L31/101

Abstract: 一种光电探测器接收器电路，包括：用于接收光信号并把该光信号转换成电流的光电探测器；和连接到该光电探测器的动态阻抗电路；其中所述动态阻抗电路被配置成在充电阶段期间具有第一阻抗且在放电阶段期间具有第二阻抗，所述第一阻抗与第二阻抗相比具有更慢的衰减时间。

公开(公告)号：CN101910808A

公开(公告)日：2010-12-08

申请号：CN200880123589.7

申请日：2008-12-26

Applicant: NXP股份有限公司

Inventor： 维塔利·苏什科夫 ,  罗伯特·范达伦 ,  帕德雷格·欧马休娜

IPC: G01J1/02 ,  G01J1/04 ,  G01J1/06 ,  G01J1/16

CPC classification number: G01J1/1626 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0209 ,  G01J1/0219 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/0266 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/0437 ,  G01J1/06 ,  G01J1/4228 ,  G01J1/4257 ,  G01S3/784 ,  G02F1/13318 ,  H01L27/14623 ,  H01L31/02024 ,  H01L31/02164

Abstract: 本发明提供了一种用于检测入射光强度和入射光的入射角的光传感器和光感测系统。所述光传感器包括：介电层；相对于介电层而耦合的多个光检测器；以及嵌入介电层内的多个不透明板条堆叠。介电层对入射光实质上透明。光检测器检测通过介电层的入射光。不透明板条堆叠近似与介电层和光检测器之间的界面平行。不透明板条堆叠在相邻的不透明板条堆叠之间限定了光孔径。至少一些不透明板条堆叠被布置为与其他不透明板条堆叠成非零角。