公开(公告)号：CN106482831A

公开(公告)日：2017-03-08

申请号：CN201510591784.4

申请日：2015-09-17

Applicant: 财团法人交大思源基金会

Inventor： 黄正昇 ,  林信安

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/0205 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/1804 ,  G01J3/26

Abstract: 一种分光器，其用以与一光传感器组成一光谱仪。分光器包含一导模共振滤波器，其具有多个共振区。每一共振区具有彼此相异的一滤波特性，以反射一待测光源中的一第一光线或透射待测光源中的一第二光线至光传感器，其中第一光线与第二光线的波长相异。本发明一实施例的分光器与光传感器组成一套微型、高解析以及低成本的光谱仪，其是利用导模共振滤波器的多个共振区与光传感器的多个感光区的透射效率对应关系，以得知待测光源的光谱数据。

公开(公告)号：CN106415222A

公开(公告)日：2017-02-15

申请号：CN201480077461.7

申请日：2014-04-03

Applicant: 台湾超微光学股份有限公司

Inventor： 洪健翔 ,  叶展良

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/0256 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/18

Abstract: 公开了一种光谱仪、光谱仪的波导片的制造方法及其结构。在制造方法中，利用微机电制造程序使硅晶圆形成至少一个波导片(1)，波导片逸侧边(13)。光谱仪组件(31)可精确定位于定位侧边(12)，减少光谱仪组件间于抵靠波导片时存在的错位现象，且杂光经由杂光散逸侧边(13)而离开，减少噪音误差，可提升光谱仪的感度和解析度。(1)具有至少一定位侧边(12)以及至少一杂光散

公开(公告)号：CN105946361A

公开(公告)日：2016-09-21

申请号：CN201610130323.1

申请日：2016-03-08

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 久利龙平

IPC: B41J2/01 ,  B41J29/17 ,  G01N21/25

CPC classification number: B41J2/165 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/524 ,  B41J2/01 ,  B41J29/17 ,  G01N21/25

Abstract: 本发明提供了能够检测由污渍造成的测色精度的降低的图像形成装置以及污渍检测方法。打印机包括喷出油墨的印刷部以及分光入射光的分光器(17)，分光器(17)包括：光通过的窗部(176)；光学滤波器设备(172)，包括作为将通过了窗部(176)的光进行分光的分光元件的波长可变干涉滤波器；以及受光部(173)，接收由波长可变干涉滤波器分光的光，根据对来自基准物的光进行分光测定而得的多个波长中的每个波长相对应的测定值和与多个波长中的每个波长相对应的基准值，检测窗部(176)的污渍。

公开(公告)号：CN105652368A

公开(公告)日：2016-06-08

申请号：CN201610201637.6

申请日：2016-04-01

Applicant: 深圳市创鑫激光股份有限公司

Inventor： 袁强 ,  马立霜 ,  蒋峰

IPC: G02B6/02 ,  G01J3/42 ,  G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G02B6/02114 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/425 ,  G02B6/02128 ,  G02B2006/02157

Abstract: 本发明公开了一种光纤刻写监测光路及光纤刻写系统，包括：光源，用于发射检测光；光环形器，设置有第一环形端口、第二环形端口和第三环形端口，第一环形端口与光源连接，第二环形端口用于连接第一待刻写光纤的一端；第一光开关，设置有第一开关端口、第二开关端口和第三开关端口，第一开关端口与第三环形端口连接，第二开关端口用于与第一待刻写光纤的另一端连接；光谱仪，与第三开关端口连接；当第三开关端口与第一开关端口连通时，光谱仪检测待刻写光纤的反射谱，当第三开关端口与第二开关端口连通时，光谱仪检测待刻写光纤的透射谱。通过上述方式，本发明能够实现监测第一待刻写光纤的透射谱和反射谱的光路共用光源和光谱仪，节省成本。

公开(公告)号：CN105606217A

公开(公告)日：2016-05-25

申请号：CN201610012672.3

申请日：2016-01-08

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 张淳民 ,  权乃承 ,  穆廷魁

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0294

Abstract: 本发明公开了一种图像、光谱、偏振态一体化获取装置及方法，沿入射光的传播方向，以主光轴从左到右设有前置望远系统，消色差的波片、相位延迟器、偏振片阵列、消色差的半波片、Wollaston棱镜、Savart偏光镜、相位延迟器、分析器LA、成像镜组和面阵列CCD。本发明通过在CCD上下两个分区分别获取两对双通道互补的干涉图，四幅干涉图相加获取目标图像；通过干涉图相减获取纯干涉条纹；纯干涉条纹相加减保留单通道的干涉条纹，通过傅里叶变换便可获取目标的传统强度光谱与线偏振光谱信息。在复原光谱的过程了避免了光程差维的通道滤波，并且同时从硬件上抑制了背景噪声。

公开(公告)号：CN103728015B

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201310432079.0

申请日：2013-09-22

Applicant: 台湾超微光学股份有限公司

Inventor： 洪健翔

IPC: G01J1/04 ,  G01J3/02

CPC classification number: G02B5/0273 ,  G01J1/0295 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/0422 ,  G01J1/0425 ,  G01J1/044 ,  G01J1/0474 ,  G01J1/42 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/18 ,  G02B19/0076

Abstract: 本发明公开了一种接收入射光的光学头及使用其的光学系统，其中一实施例的光学头包含穿透式余弦校正元件以及朝向穿透式余弦校正元件配置的反射元件。穿透式余弦校正元件配置于入射光的一光径上，并对反射元件遮蔽入射光。入射光在射入穿透式余弦校正元件后被转换为朗伯光形的一散射光。反射元件具有光学输出区与反光区，其中光学输出区使散射光通过，而反光区反射散射光至穿透式余弦校正元件及/或反光区的其他部分。本发明提高了散射光进入光学输出区的比例从而增加光学头可收集的入射光。

公开(公告)号：CN105424187A

公开(公告)日：2016-03-23

申请号：CN201510967400.4

申请日：2015-12-22

Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

Inventor： 刘英 ,  孙佳音 ,  王健 ,  孙强 ,  姜洋

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/0205

Abstract: 基于Dyson结构的制冷型长波红外成像光谱仪属于光学技术领域，目的在于解决现有技术存在的要求制冷设备体积大和维持低温所需能源多的问题。本发明包括离轴三反前置望远物镜、Dyson光栅光谱仪和二次成像镜组；离轴三反前置望远物镜包括三片反射镜和狭缝，三片反射镜将目标景物辐射信息成像在狭缝处；Dyson光栅光谱仪将所述狭缝处所成的像按不同波长色散并将包含有多光谱信息的像成像于一次像面处，所述二次成像镜组将距离一次像面较远位置且不同波长处相距较远的出瞳，二次成像于探测器冷光阑处。本发明采用二次成像的方法，将不同波长下相距较远的系统出瞳，二次成像于探测器冷光阑位置，满足单独对探测器进行制冷的技术要求。

公开(公告)号：CN104160252B

公开(公告)日：2016-03-16

申请号：CN201280071087.0

申请日：2012-03-14

Applicant: 福斯分析有限公司

Inventor： 尼尔斯·韦尔保

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/0205 ,  G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803

Abstract: 一种色散光谱仪(2)包括一个波长色散元件(12)，位于一条入射辐射能路径(14)内；以及一个第一检测器(16)，被安置成用于检测由该色散元件(12)色散的入射辐射能。该光谱仪(2)进一步包括一个第二检测器(18)，该检测器被安置成用于记录未被色散的入射辐射的至少一部分的强度并且被配置成用于生成一个代表所记录的强度的信号，该第一检测器(16)被适配成使以积分时间和/或灵敏度增益为形式的操作参数响应于该信号而变化。

公开(公告)号：CN105277490A

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201510340652.4

申请日：2015-06-18

Applicant: 大塚电子株式会社 ,  国立大学法人东京农工大学

Inventor： 泉谷悠介 ,  岩井俊昭

IPC: G01N21/25

CPC classification number: G01N21/51 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/18 ,  G01J3/4412 ,  G01J9/02 ,  G01J2009/0223 ,  G01N15/0211 ,  G01N21/0303 ,  G01N21/45 ,  G01N2015/0222 ,  G01N2021/0389 ,  G01N2021/4709 ,  G01N2201/062

Abstract: 提供一种不易受到振动等外来干扰的影响、不需要进行参照光和试样光的光路差调整的动态光散射测定装置等。动态光散射测定装置(1)包含：照射部：其将来自低相干光源(10)的光照射到包含颗粒(42)的试样(40)；光谱强度取得部，其使来自参照面的反射光和透射过参照面的来自试样(40)的散射光分光，取得反射光和散射光的干涉光的光谱强度，所述参照面配置于照射到试样(40)的光的光路上；以及测定部，其基于取得的光谱强度测定试样(40)的动态光散射。

公开(公告)号：CN102628711B

公开(公告)日：2016-01-20

申请号：CN201210091508.8

申请日：2008-06-10

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  能野隆文 ,  铃木智史 ,  H·泰希曼 ,  D·希勒 ,  U·施塔克

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291

Abstract: 在与衍射层(8)一体地形成的周缘部(11)的平面(11a)形成有对准标记(12a、12b、12c、12d)，在将透镜部(7)安装于基板(2)时，通过相对于基板(2)对这些对准标记(12a、12b、12c、12d)进行对位，从而能够相对于光检测元件(4)的光检出部(4a)正确地对准衍射层(8)，不受例如透镜部(7)的曲率半径的误差等的影响。尤其是，通过在平面(11a)形成对准标记(12a、12b、12c、12d)，从而能够通过图像识别来正确地检测该对准标记(12a、12b、12c、12d)的位置，于是能够进行正确的对准。