公开(公告)号：CN105424325A

公开(公告)日：2016-03-23

申请号：CN201510982270.1

申请日：2015-12-24

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 王向朝 ,  唐锋 ,  张国先 ,  徐世福

IPC: G01M11/02

CPC classification number: G01M11/0271 ,  G01J9/0215 ,  G01J2009/0223 ,  G01J2009/0226 ,  G01J2009/0265 ,  G03F7/706

Abstract: 一种点衍射干涉波像差测量仪及光学系统波像差的检测方法,所述的点衍射干涉波像差测量仪由光源、分光器、第一光强与偏振态调节器、相移器、第二光强与偏振态调节器、理想波前发生单元、物方精密调节台、被测光学系统、像方波前检测单元、像方精密调节台和数据处理单元组成，特点在于理想波前发生单元的第一输出端和第二输出端之间的中心距离小于被测光学系统的等晕区的直径，大于被测光学系统像点弥散斑的直径除以被测光学系统的放大倍数。本发明测量仪具有检测步骤简单、测量过程具有平均效果、可实现完整数值孔径的系统误差标定和消除等优点。

公开(公告)号：CN105424325B

公开(公告)日：2018-03-20

申请号：CN201510982270.1

申请日：2015-12-24

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 王向朝 ,  唐锋 ,  张国先 ,  徐世福

IPC: G01M11/02

CPC classification number: G01M11/0271 ,  G01J9/0215 ,  G01J2009/0223 ,  G01J2009/0226 ,  G01J2009/0265 ,  G03F7/706

Abstract: 一种点衍射干涉波像差测量仪及光学系统波像差的检测方法,所述的点衍射干涉波像差测量仪由光源、分光器、第一光强与偏振态调节器、相移器、第二光强与偏振态调节器、理想波前发生单元、物方精密调节台、被测光学系统、像方波前检测单元、像方精密调节台和数据处理单元组成，特点在于理想波前发生单元的第一输出端和第二输出端之间的中心距离小于被测光学系统的等晕区的直径，大于被测光学系统像点弥散斑的直径除以被测光学系统的放大倍数。本发明测量仪具有检测步骤简单、测量过程具有平均效果、可实现完整数值孔径的系统误差标定和消除等优点。

公开(公告)号：CN107830937A

公开(公告)日：2018-03-23

申请号：CN201711287015.0

申请日：2017-12-07

Applicant: 中科院南京天文仪器有限公司

Inventor： 林冬冬 ,  李金鹏 ,  胡明勇 ,  毛羽西 ,  朱庆生 ,  毕勇 ,  郑锋华 ,  李季

IPC: G01J9/02

CPC classification number: G01J9/02 ,  G01J2009/0223 ,  G01J2009/0265

Abstract: 本发明公开了一种双光栅偏振点衍射干涉装置以及波前测试方法，包括分束光栅、第一偏振片、点衍射板PDP、第二偏振片、平面镜、合束光栅、空间移相组件、CCD图像传感器；双光栅偏振点衍射装置采用分束光栅进行分光，以实现后续光路的相干光调制；采用合束光栅形成共光路结构，以实现检测装置的光干涉，相干光经准直物镜入射到空间移相组件中，最后在CCD图像传感器上采集到移相量相差90°的空间移相干涉图，采用移相算法解算待测波前。

公开(公告)号：CN105466668B

公开(公告)日：2018-01-12

申请号：CN201510982725.X

申请日：2015-12-24

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 唐锋 ,  王向朝 ,  冯鹏 ,  郭福东 ,  卢云君

IPC: G01M11/02

CPC classification number: G01J9/02 ,  G01J1/0437 ,  G01J2009/0223 ,  G01J2009/0226 ,  G01J2009/0261

Abstract: 一种点衍射干涉波像差测量仪及光学系统波像差的检测方法之二,该测量仪由光源、分光器、第一光强与偏振态调节器、相移器、第二光强与偏振态调节器、理想波前与点光源发生单元、物方精密调节台、被测光学系统、像方波前检测单元、像方精密调节台和数据处理单元组成。本发明测量仪在被测光学系统物面仅需要产生一路标准球面波输出，降低了系统复杂性，提高了光能利用率；该测量仪也降低了系统精密度要求及操作复杂性。

公开(公告)号：CN106770288A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201611129999.5

申请日：2016-12-09

Applicant: 江苏大学

Inventor： 季颖 ,  张明明 ,  王亚伟

IPC: G01N21/84 ,  G01J9/02

CPC classification number: G01N21/84 ,  G01J9/02 ,  G01J2009/0223 ,  G01J2009/0234 ,  G01J2009/0269 ,  G01N2201/06113

Abstract: 本发明提供一种共光路干涉相位显微一次成像系统及方法，包括激光器、中性可调衰减器、扩束准直器、半透半反镜、视场光阑、非偏振分光棱镜、反射载物台、样品、显微物镜、第三透镜、CCD和计算机；本发明基于差分干涉光路，采用非偏振分光镜把激光分为物光与参考光两束平行光，再利用反射载物台全反射物光与参考光，物光和参考光经非偏振分光棱镜合束后以共光路的方式传播，后经显微物镜放大，最终被CCD相机采集并传输到计算机里并显示；本发明可通过调整反射载物台的角度实现现有的光路干涉成像系统，其中包括离轴干涉、同轴干涉和轻微离轴干涉。本发明在相位显微方面具有广泛的实用价值与应用前景，特别是在生物细胞形态识别应用领域。

公开(公告)号：CN105466668A

公开(公告)日：2016-04-06

申请号：CN201510982725.X

申请日：2015-12-24

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 唐锋 ,  王向朝 ,  冯鹏 ,  郭福东 ,  卢云君

IPC: G01M11/02

CPC classification number: G01J9/02 ,  G01J1/0437 ,  G01J2009/0223 ,  G01J2009/0226 ,  G01J2009/0261 ,  G01M11/0271

Abstract: 一种点衍射干涉波像差测量仪及光学系统波像差的检测方法之二,该测量仪由光源、分光器、第一光强与偏振态调节器、相移器、第二光强与偏振态调节器、理想波前与点光源发生单元、物方精密调节台、被测光学系统、像方波前检测单元、像方精密调节台和数据处理单元组成。本发明测量仪在被测光学系统物面仅需要产生一路标准球面波输出，降低了系统复杂性，提高了光能利用率；该测量仪也降低了系统精密度要求及操作复杂性。

公开(公告)号：CN105527027A

公开(公告)日：2016-04-27

申请号：CN201610008014.7

申请日：2016-01-05

Applicant: 中国计量学院

Inventor： 王道档 ,  王志超 ,  徐杨波 ,  刘维 ,  孔明 ,  郭天太 ,  赵军

IPC: G01J9/02

CPC classification number: G01J9/0215 ,  G01J2009/0223 ,  G01J2009/0242

Abstract: 本发明涉及一种亚微米孔径光纤点衍射波前测量的结构误差校正方法，通过无成像镜头的CCD探测器获取原始剪切波前数据，利用三维坐标重构对剪切波面数据进行预校正，再获取180度旋转测量探头后的预校正数据，将二者叠加，消除两点衍射源偏移引入的结构误差，得到真实剪切波面数据，再根据差分泽尼克多项式拟合方法拟合得到待测的亚微米孔径光纤点衍射波前，实现亚微米孔径光纤点衍射波前的高精度测量。

公开(公告)号：CN105277490A

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201510340652.4

申请日：2015-06-18

Applicant: 大塚电子株式会社 ,  国立大学法人东京农工大学

Inventor： 泉谷悠介 ,  岩井俊昭

IPC: G01N21/25

CPC classification number: G01N21/51 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/18 ,  G01J3/4412 ,  G01J9/02 ,  G01J2009/0223 ,  G01N15/0211 ,  G01N21/0303 ,  G01N21/45 ,  G01N2015/0222 ,  G01N2021/0389 ,  G01N2021/4709 ,  G01N2201/062

Abstract: 提供一种不易受到振动等外来干扰的影响、不需要进行参照光和试样光的光路差调整的动态光散射测定装置等。动态光散射测定装置(1)包含：照射部：其将来自低相干光源(10)的光照射到包含颗粒(42)的试样(40)；光谱强度取得部，其使来自参照面的反射光和透射过参照面的来自试样(40)的散射光分光，取得反射光和散射光的干涉光的光谱强度，所述参照面配置于照射到试样(40)的光的光路上；以及测定部，其基于取得的光谱强度测定试样(40)的动态光散射。

公开(公告)号：EP1869399A2

公开(公告)日：2007-12-26

申请号：EP06799903.7

申请日：2006-04-10

Applicant: Zetetic Institute

Inventor： HILL, Henry, A.

IPC: G01B9/02

CPC classification number: G01J9/02 ,  G01B9/02022 ,  G01B9/02024 ,  G01B9/02056 ,  G01B9/02057 ,  G01J2009/0223 ,  G03F7/706

Abstract: A point diffraction interferometer for measuring properties of a spatial impulse response function, the interferometer including: a source for generating a source beam; an optical system; an optical element including a test object located in an object plane of the optical system, the test object including a diffraction point for generating from the source beam a measurement beam that passes through the optical system, wherein the optical element also generates from the source beam a reference beam that is combined with the measurement beam to generate an interference pattern in an image plane of the optical system, the interference pattern representing the spatial impulse response function of the optical system.

公开(公告)号：WO2006124707A2

公开(公告)日：2006-11-23

申请号：PCT/US2006/018606

申请日：2006-05-15

Applicant: ZETETIC INSTITUTE ,  HILL, Henry, A.

Inventor： HILL, Henry, A.

IPC: G01B11/02 ,  G01B9/02

CPC classification number: G03F7/706 ,  G01J2009/0223 ,  G03F7/70591 ,  G03F7/7085 ,  G03F7/70941

Abstract: Apparatus and methods for in situ and ex situ measurements of spatial profiles of the modulus of the complex amplitude and intensity of flare generated by an optical system. The in situ and ex situ measurements comprise interferometric and non-interferometric measurements that use an array of diffraction sites simultaneously located in an object plane of the optical system to increase signals related to measured properties of flare in a conjugate image plane. The diffraction sites generate diffracted beams with randomized relative phases. In general, the interferometric profile measurements employ phase-shifting point-diffraction interferometry to generate a topographical interference signal and the non-interferometric measurements are based on flare related signals other than topographic interference signals. The topographical interference signal and flare related signals are generated by a detector either as an electrical interference signal or electrical flare related signals or as corresponding exposure induced changes in a recording medium.

Abstract translation: 用于原位和非原位测量由光学系统产生的光斑的复振幅和强度的模量的空间分布的装置和方法。 原位和非原位测量包括使用同时位于光学系统的物平面中的衍射位置阵列的干涉测量和非干涉测量，以增加与共轭图像平面中的测光特性相关的信号。 衍射点产生具有随机相对相位的衍射光束。 通常，干涉测量轮廓测量采用相移点衍射干涉测量法来产生地形干涉信号，并且非干涉测量基于与地形干扰信号不同的闪光相关信号。 地形干扰信号和火炬相关信号由检测器产生，作为电干扰信号或电眩光相关信号，或作为记录介质中相应的曝光引起的变化。