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公开(公告)号:CN102792150A
公开(公告)日:2012-11-21
申请号:CN201180013689.6
申请日:2011-04-08
CPC classification number: G01J3/457 , G01J1/4204 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/2823 , G06K9/00369 , G06K9/00791 , G06K9/00805 , G06K2009/00644 , G08G1/166
Abstract: 光谱测定装置(11)基于由能够测定波长信息和光强度信息的光谱传感器(14)检测出的观测光的光谱数据来识别测定对象。该光谱测定装置具备光谱数据处理装置(16),该处理装置通过从由所述光谱传感器检测出的不同的两个位置处的光谱数据中的一方光谱数据减去另一方光谱数据或者将另一方光谱数据除以一方光谱数据,来计算出与所述不同的两个位置处的光谱数据相关的一个相关光谱数据。然后,处理装置基于该相关光谱数据来同时确定与所述不同的两个位置对应的测定对象。
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公开(公告)号:CN102565013A
公开(公告)日:2012-07-11
申请号:CN201110319974.2
申请日:2011-10-20
Applicant: 鲁道夫.格罗斯科夫
Inventor: 鲁道夫.格罗斯科夫
CPC classification number: G01N21/6456 , G01J3/0229 , G01J3/36 , G01J3/4406 , G01J3/457 , G01N21/6408
Abstract: 本发明涉及一种用于在研究物体的多个位置上同时进行荧光相关光谱术的方法和装置,该方法和装置使得能成本低廉地制造为此所需的仪器,该装置带有一个照亮物体(14)且具有发光区域(121)的照明光栅(120b)、一个将所述照明光栅(120b)投影在所述物体(14)处的聚焦平面(14s)内的物镜装置(13u)以及一个位于接收器侧的孔板(121),按照本发明,根据所述聚焦平面为观测光路的孔板的每个孔(121)配设一个用于光谱分离从物体返回的光线的装置(302a),并且每个用于光谱分离的装置(302a)配设有至少两个光线接收器(305a)。
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公开(公告)号:CN101815931B
公开(公告)日:2011-12-21
申请号:CN200880101117.1
申请日:2008-05-26
Applicant: 克洛德·贝纳尔-里昂第一大学 , 国家科学研究中心
IPC: G01J3/457
CPC classification number: G01J3/42 , F21S41/675 , G01J3/457 , G01N21/31 , G01N21/538 , G01N2021/1795 , G01N2021/4709 , G01S7/4802 , G01S17/95 , Y02A90/19
Abstract: 本发明涉及一种对介质中的混合物进行远程光学检测的方法,以及一种适于实现该方法的设备,在该方法中:检测测量通过如下步骤实现:向介质发射宽度至少为3nm的短脉冲,并且借助具有瞬时分辨率的检测单元检测被所述介质反向散射的一部分光;基准测量,其中发射的光或反向散射的光依靠可寻址过滤装置被过滤,可寻址过滤装置仿真待寻找的至少一种给定混合物处于工作波长的光的光学光谱;检测测量与基准测量的比较,以便据此推断在介质中存在被寻找的混合物的可能性,动态地改变可寻址过滤装置,对容易存在于介质中的一系列多种混合物进行一系列基准测量与一系列对应的比较。
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公开(公告)号:CN101815931A
公开(公告)日:2010-08-25
申请号:CN200880101117.1
申请日:2008-05-26
Applicant: 克洛德·贝纳尔-里昂第一大学 , 国家科学研究中心
IPC: G01J3/457
CPC classification number: G01J3/42 , F21S41/675 , G01J3/457 , G01N21/31 , G01N21/538 , G01N2021/1795 , G01N2021/4709 , G01S7/4802 , G01S17/95 , Y02A90/19
Abstract: 本发明涉及一种对介质中的混合物进行远程光学检测的方法,以及一种适于实现该方法的设备,在该方法中:检测测量通过如下步骤实现:向介质发射宽度至少为3nm的短脉冲,并且借助具有瞬时分辨率的检测单元检测被所述介质反向散射的一部分光;基准测量,其中发射的光或反向散射的光依靠可寻址过滤装置被过滤,可寻址过滤装置仿真待寻找的至少一种给定混合物处于工作波长的光的光学光谱;检测测量与基准测量的比较,以便据此推断在介质中存在被寻找的混合物的可能性,动态地改变可寻址过滤装置,对容易存在于介质中的一系列多种混合物进行一系列基准测量与一系列对应的比较。
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公开(公告)号:CN101351688A
公开(公告)日:2009-01-21
申请号:CN200680050005.9
申请日:2006-12-27
Applicant: 巴斯夫欧洲公司
CPC classification number: G01J3/4406 , G01J3/02 , G01J3/0232 , G01J3/457 , G01J2001/4242 , G01N21/31 , G01N21/643 , G01N21/645 , G01N2021/6491 , G01N2201/129
Abstract: 本发明涉及一种检测至少一种含在介质(312)中的化合物V的方法。所述方法包括用于测定V是否含在介质(312)中的检验步骤(420)。所述方法另外包括测定至少一种化合物V的浓度c的分析步骤(424)。检验步骤包括如下子步骤:(a1)介质(312)曝露于可变波长λ的第一种分析辐射(316)下,其中波长λ假定为至少两个不同值;(a2)相应于第一种分析辐射(316),借助由介质(312)吸收和/或发射和/或反射和/或散射的辐射(324、326)产生至少一种谱响应函数A(λ);(a3)通过至少一种谱响应函数A(λ)与至少一种模式函数R(λ+δλ)比较形成至少一种谱关联函数K(δλ),其中至少一种模式函数R(λ)表示含化合物V的介质(312)的谱测量函数,δλ表示坐标位移;(a4)在模式识别步骤(418)中检查至少一种谱关联函数K(δλ),并且做出关于至少一种化合物V是否含在介质(312)中的结论;分析步骤(424)包括如下子步骤:(b1)介质(312)曝露于具有至少一种激发波长λEX的至少一种第二种分析辐射(318)下;(b2)与波长λEX的第二种分析辐射(318)响应,借助介质(312)吸收和/或发射和/或反射和/或散射的响应波长λEX的辐射(326)产生至少一种谱分析函数B(λEX,λRES)并由此导出浓度c。
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公开(公告)号:JP5204655B2
公开(公告)日:2013-06-05
申请号:JP2008535070
申请日:2006-10-05
Applicant: コミスィアラ ア レナジィ アトミ−ク
Inventor: フィシェ パスカル
IPC: G01N21/63
CPC classification number: G01J3/443 , G01J3/457 , G01N21/718
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公开(公告)号:JP2011257306A
公开(公告)日:2011-12-22
申请号:JP2010133211
申请日:2010-06-10
Applicant: Kwansei Gakuin Univ , Yokogawa Electric Corp , 学校法人関西学院 , 横河電機株式会社
Inventor: WATARI MASAHIRO , OZAKI YUKIHIRO
IPC: G01N21/35 , G01N21/3577 , G01N21/359
CPC classification number: G01J3/457 , G01N21/359 , G01N21/552 , G01N21/8507 , G01N2021/3155 , G01N2021/3595
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectroscopy device and method that easily analyzes characteristics of a sample in a short time without sufficient knowledge of spectra of near-infrared light and infrared light.SOLUTION: A spectroscopy device 1 includes a PC 70 which obtains a composite spectrum by putting together the spectrum of near-infrared light measured by a near-infrared light spectrum measurement part 40 and the spectrum of infrared light measured by an infrared light spectrum measurement part 30, then finds a difference spectrum between a previously measured reference spectrum and the composite spectrum, and performs two-dimensional correlation operation using the difference spectrum to find the correlation between the spectrum of the near-infrared light and the spectrum of the infrared light.
Abstract translation: 要解决的问题:提供一种在短时间内容易地分析样品的特性而没有对近红外光和红外光的光谱的充分了解的光谱装置和方法。 光谱装置1包括PC 70,其通过将由近红外光谱测量部分40测量的近红外光的光谱和通过红外光测量的红外光的光谱相组合而获得复合光谱 光谱测量部分30,然后找到先前测量的参考光谱和合成光谱之间的差光谱,并且使用差分光谱进行二维相关运算,以找到近红外光的光谱与光谱的相关性 红外灯。 版权所有(C)2012,JPO&INPIT
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公开(公告)号:JP4656715B2
公开(公告)日:2011-03-23
申请号:JP2000322359
申请日:2000-10-23
Applicant: カール・ツアイス・スティフツングCarl Zeiss
Inventor: アルブレヒト・ガイスト , フランク・クレム , マンフレート・ロート
CPC classification number: G01J3/457 , G01D9/005 , G01J3/4406 , G01J2003/2866
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公开(公告)号:JP2013518284A
公开(公告)日:2013-05-20
申请号:JP2012551169
申请日:2010-12-30
Applicant: アイ.エス.エス (ユーエスエー)、インコーポレイテッド
Inventor: グラットン、エンリコ , ダミーコ、エンリコ
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6408 , G01J3/4406 , G01J3/457 , G01N21/6458 , G01N2021/6423 , G01N2021/6441
Abstract: 改良された蛍光減衰時間測定用のシステムおよび方法を提供する。 光子検出器がデジタル的にパルス化された励起信号よりわずかに高速でサンプリングされるデジタルヘテロダイン技術を開示する。 結果として生じる相互相関周波数は、例えばフィールドプログラマブルゲートアレイなど、安価な電子回路によって読み取るのに十分低い。 信号の位相情報は、対応する光子検出との相関関係を提供する。
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公开(公告)号:JP4712923B2
公开(公告)日:2011-06-29
申请号:JP32719098
申请日:1998-11-17
Inventor: クアンティン・ハンレー , トーマス・エム・ヨフィン , ペーター・フェアフィール
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/021 , G01J3/10 , G01J3/457 , G01J2003/2866 , G02B21/004 , G02B21/0076
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