-
公开(公告)号：CN1841030B
公开(公告)日：2011-01-12
申请号：CN200610068280.5
申请日：2006-03-27
Applicant: 欧姆龙株式会社 , 国立大学法人北海道大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 本发明提供一种分光偏振测定法。在该沟槽分光偏振测定法中，有效消除了表示试样分光偏振特性的参数的测量误差，该误差是由于延迟器基于试样状态的各种延迟变化而引起的。关注的焦点是通过稳定透射过延迟器的光的入射方向可保持延迟器的延迟恒定；相对于该试样，该延迟器设置在光源这一侧，从而可有效消除与测量误差相关的影响，例如由于试样引起的光线方向变化。
-
公开(公告)号：CN1811357B
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200610005149.4
申请日：2006-01-13
Applicant: 国立大学法人北海道大学 , 欧姆龙株式会社
IPC: G01J3/447
CPC classification number: G01J4/04
Abstract: 本发明涉及一种分光偏振测定法和分光偏振器；温度改变或其他的因素会导致延迟器的延迟发生变化，并且这种变化致使表示光偏振态的参数产生测量误差，本发明是为了有效地减小这种测量误差，同时保持沟槽分光偏振器的多种特性。通过求解方程，由沟槽光谱P(σ)中包含的每个振动分量，得到参考相位函数φ1(σ)和φ2(σ)，在测量光谱测定的斯托克斯参数S0(σ)、S1(σ)、S2(σ)和S3(σ)的同时，校准参考相位函数φ1(σ)和φ2(σ)。
-
-
公开(公告)号：CN1349086A
公开(公告)日：2002-05-15
申请号：CN01125718.0
申请日：2001-08-23
Applicant: 朗迅科技公司
Inventor： 罗沙·贝内迪科特·尔哈德·约瑟夫·摩勒 , 保罗·斯帝芬·伟斯特布鲁克
IPC: G01J4/00
CPC classification number: H04B10/2569 , G01J3/447 , G01J4/04
Abstract: 用于偏测量的一种方法和设备。使用一个检偏振镜能确定光学信号的偏振状态,该检偏振镜包括一个偏振控制器、一个偏振镜、一个波长分散元件及一个光电探测器。该方法和设备能应用于在波长分隔多路复用通信系统中的偏振和偏振模式分散测量。
-
公开(公告)号：CN109073815A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201780024993.8
申请日：2017-02-28
CPC classification number: G02B5/3083 , G01J4/04 , G01N21/21 , G02B1/002 , G02B1/005 , G02B1/02 , G02B5/1833
Abstract: 本发明的课题是提供使用自我复制形光子晶体的立体型光学元件。本发明提供一种光学元件，其具备在3维空间x、y、z中形成于xy面并在z轴方向层积的光子晶体半波片。光子晶体的沟槽方向为曲线且在相对于y轴方向角度为0°到180°的范围内连续性变化。光学元件是将轴方向入射光分离及转换为由z轴以一角度朝x轴的方向的顺时针圆偏振光、及由z轴以一角度朝负x轴的方向的逆时针圆偏振光而射出。又，在单面或两面层积或配置光子晶体所构成的1/4波片，由此可将光学元件的z轴方向入射光分离为正交的2个线性偏振光。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105659083B
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201580002314.8
申请日：2015-09-11
Applicant: 罗斯蒙特分析公司
CPC classification number: G01N33/18 , G01J4/04 , G01N1/4077 , G01N21/01 , G01N21/11 , G01N21/21 , G01N21/3103 , G01N21/78 , G01N31/02 , G01N31/22 , G01N2201/0612 , G01N2201/062 , G01N2201/127
Abstract: 提供了一种湿法化学分析仪(100)。湿法化学分析仪(100)包括反应室(102)，所述反应室配置为接收来自的样品入口(112)的反应物溶液并促进过程反应。湿法化学分析仪(100)还包括检测室(118)，所述检测室配置为接收来自反应室(102)的一部分反应混合物并测量反应混合物内化学品的浓度。反应室(102)和检测室(118)是可流体连接的，以使一部分反应混合物可以被引导流入检测室(118)以预处理检测室(118)内部的表面。
-
公开(公告)号：CN107255517A
公开(公告)日：2017-10-17
申请号：CN201710406417.1
申请日：2017-06-02
Applicant: 中国科学院合肥物质科学研究院
CPC classification number: G01J4/00 , G01J4/04 , G01J2004/001
Abstract: 本发明公开了一种偏振片装配角高精度标定装置，包括有激光器、立方体分束棱镜、格兰泰勒棱镜、待检测偏振片、精密电控转台、光电探测器、准直板一、准直板二。本发明基于马吕斯检偏原理，通过立方体分束棱镜与格兰泰勒棱镜的搭配使用产生平行于重力方向的基准偏振方向，使用激光器准直各个光学元件，同时作为检偏光源，由高精度转台驱动待检测偏振片做360旋转，当光电探测器测得最大或最小信号时，即可获得待检测偏振片的偏振方向与重力方向的关系。
-
公开(公告)号：CN105737988A
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201610072180.3
申请日：2016-02-02
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01J4/04
CPC classification number: G01J4/04 , G01J2004/001
Abstract: 本发明公开了一种偏振分析仪，包括径向偏振转换器、线性偏振器、激光器、空间相位板、分束器、旋转多普勒效应发生器、模式滤波器和光强探测装置。径向偏振转换器和线性偏振器用来将输入光中的左旋和右旋圆偏分量分别转换成不同的轨道角动量OAM模式，并且保持相同的偏振态；激光器和空间相位板用来产生参考光；旋转多普勒效应发生器将分束器输出的单束光中不同的OAM模式转换成基模，并且产生不同的多普勒频移，输出包含基模的散射光；模式滤波器用于从散射光中滤出基模，送光强探测装置检测基模光强。本发明通过将两个圆偏光分量转换成两个OAM模式，再通过测量OAM模式的复振幅分布，来检测输入光的偏振态，只需一次或两次测量，方法简单，易于实现。
-
公开(公告)号：CN105209943A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201480025807.9
申请日：2014-03-17
Applicant: 波拉里斯传感器技术股份有限公司
Inventor： 约瑟夫·拉里·佩扎尼提 , 贾斯汀·帕克·瓦登 , 迈克尔·欧内斯特·罗什
CPC classification number: G01J5/58 , G01J4/04 , G01J5/10 , G01J2004/001 , G01J2005/0077 , G01J2005/586 , G02B5/3058 , H04N5/33
Abstract: 公开了长波红外成像偏振计(LWIP)，其包括像素化的偏振阵列(PPA)，该像素化的偏振阵列紧密靠近微测热辐射计的焦平面阵列(MFPA)，以及用于将PPA和MFPA对齐和粘合的对齐发动机，以及组装方法。
-
公开(公告)号：CN103698015B
公开(公告)日：2015-10-14
申请号：CN201410005298.5
申请日：2014-01-06
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01J4/04
Abstract: 本发明涉及一种偏振检测仪及检测方法，该偏振检测仪包括一具有变双折射率特性的自聚焦透镜，作为光学相位延迟调制器；一偏振片，作为偏振态分析器；若干普通透镜和一CCD，作为成像器件；一数据处理和显示单元。该偏振检测仪利用自聚焦透镜等变双折射率光学元件广泛具有的特殊双折射分布，通过CCD单帧成像即可得到待测光的斯托克斯向量，能够快速准确地确定光的偏振态。它构造简单，成本较低，它不含有任何运动部件和电调制设备，是完全静态的全斯托克斯向量偏振检测仪。该偏振检测仪可广泛用于椭偏仪，偏振遥感设备和穆勒矩阵测量装置中，可极大地降低成本，提高检测速度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
1611
records
(took 0.031 seconds)
