物体观测装置、物体观测方法以及记录介质

    公开(公告)号:CN104220007A

    公开(公告)日:2014-12-17

    申请号:CN201380019342.1

    申请日:2013-04-04

    Abstract: 原本无法高精度地估计物体内部的局部性的光学特性变化部位。通过如下的物体观测装置能够将物体内部的局部性的光学特性变化部位高精度地估计为三维信息,该物体观测装置具备:光强度信息获取部,其获取在从近红外光测量装置的各送光探针对物体发出一个光强度的光的情况下各受光探针所接收的光强度信息;光强度变化信息获取部,其根据基准光强度信息和光强度信息,来按每个探针组获取与光强度的变化有关的光强度变化信息;估计部,其使用光强度变化信息来获取与物体的内部的吸光度变化的位置有关的三维的光学特性变化部位信息;以及输出部,其输出光学特性变化部位信息,其中,估计部具备:校正单元,其使用灵敏度信息来进行与由于深度引起的灵敏度的衰减相应的校正;以及稀疏性应用单元,其引入提高空间分辨率的稀疏性来获取光学特性变化部位信息。

    基板检查时的补偿矩阵生成方法

    公开(公告)号:CN105557082B

    公开(公告)日:2018-09-11

    申请号:CN201480050260.8

    申请日:2014-09-11

    Abstract: 本发明涉及基板检查时的补偿矩阵生成方法。所述方法包括:在基板上的测量区域(FOV)内,任意选择预先设置的N1(N1≥2)个特征客体的信息的步骤;以所述基板上的提取的特征客体的信息为基础,生成第一补偿矩阵的步骤;把所述测量区域内的所有特征客体应用于所述补偿矩阵,并比较所述所有特征客体的各个偏移值与预先设置的基准值,从而对所述所有特征客体的各个偏移值不足于所述预先设置的基准值的特征客体的数量进行计数的步骤;把所述步骤反复执行N2次(N2≥1),在所述计数的特征客体的数量为最大的情况下,利用具有不足于所述预先设置的基准值的偏移值的特征客体的信息,生成第二补偿矩阵的步骤。

    一种光学仪器光谱响应的订正方法及装置

    公开(公告)号:CN106950185A

    公开(公告)日:2017-07-14

    申请号:CN201710121562.5

    申请日:2017-03-02

    Inventor: 徐娜 胡秀清

    CPC classification number: G01N21/31 G01N2021/1795 G01N2201/121

    Abstract: 本发明提供了一种光学仪器光谱响应的订正方法及装置,包括:获取进行光谱响应测量时的环境参数和光谱测量参数的步骤或模块;根据所述环境参数和所述光谱测量参数计算目标大气路径透过率的步骤或模块;采用光谱响应与所述目标大气路径透过率的比值的方式来对光谱响应进行订正的步骤或模块。本发明实现了对吸收通道光谱响应测量的大气污染进行订正,降低吸收气体的吸收作用会对光谱测量产生影响,提高光学遥感器的测量精度。

    一种基于激发光谱和发射光谱同时分离的FRET定量检测修正方法

    公开(公告)号:CN106706587A

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201710020313.7

    申请日:2017-01-11

    Inventor: 陈同生 杜孟艳

    CPC classification number: G01N21/6486 G01N2201/121

    Abstract: 本发明公开一种基于激发光谱和发射光谱同时分离的FRET定量检测修正方法,属于FRET定量检测技术领域。该方法包括以下步骤:测量参照样本的激发发射光谱;将参照样本的激发发射光谱按照SD和SA,以及SS进行线性分离得到三个权重因子;利用三个权重因子计算ExEm‑spFRET定量检测的系统修正因子,然后用于待测样本的表观FRET效率的测量。利用本发明获得的系统修正因子修正后的ExEm‑spFRET方法即m‑ExEm‑spFRET方法测量结果更加准确,而且适用于不同的检测系统。因此本发明必将极大地推动ExEm‑spFRET方法的应用范围,进而提高FRET检测技术在细胞生物学中的应用范围。

    光偏折检测模块及使用其检测及误差校正的方法

    公开(公告)号:CN105373788A

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201510446795.3

    申请日:2015-07-27

    Inventor: 蔡政道

    Abstract: 本发明关于一种光偏折检测模块,包含一检测载台、一面光源、至少两个扫描摄影机及一矫正标准面。检测载台用以承载待测物,面光源设置于检测载台上方,提供一平面光朝检测载台照射。至少两个扫描摄影机设置于面光源的相对侧。矫正标准面邻设于检测载台。其中,当面光源朝检测载台照射平面光后,平面光将会被待测物的表面及矫正标准面反射,至少两个扫描摄影机在接收被待测物的表面及矫正标准面所反射的平面光后,适于由一处理器进行一数值分析,以获得相关检测数据并进行误差校正作业。

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