公开(公告)号：CN104969059A

公开(公告)日：2015-10-07

申请号：CN201380072190.1

申请日：2013-12-04

Applicant: SP3H公司

Inventor： S·欧博尔蒂 ,  J·富尔内尔

IPC: G01N21/3577 ,  G01N21/359 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01N21/3577 ,  G01N21/274 ,  G01N21/3504 ,  G01N2021/3181 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/0624 ,  G01N2201/121 ,  G01N2201/1211 ,  G01N2201/124 ,  G01N2201/1242 ,  G01N2201/1247 ,  G01N2201/127 ,  G01N2201/12723

Abstract: 本发明涉及一种控制产品分析光谱仪的方法，所述方法包括以下步骤：获得表示光源(LS)的操作的测量(LFL、TPL)，根据所述测量，确定所述光源的供电电流值(LCx)，和/或传感器(OPS)的光敏单元(y)的积分持续时间值(ITy)，所述光敏单元(y)布置在由所述光源发出的光束(LB)的路径上并且所述光束与待分析产品相互作用，并且如果所述积分持续时间值和/或供电电流值在阈值之间，则向所述光源提供与所确定的供电电流值对应的供电电流，将光敏单元的所述积分持续时间调整到所确定的积分持续时间值，以及获得由所述传感器提供的发光强度测量(MSy)，从而使能形成光谱。

公开(公告)号：CN101566560B

公开(公告)日：2013-10-02

申请号：CN200910136905.0

申请日：2009-04-24

Applicant: 罗姆株式会社

Inventor： 富田守

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/31

CPC classification number: G01N21/07 ,  G01N21/59 ,  G01N35/00584 ,  G01N35/025 ,  G01N2035/00148 ,  G01N2201/0415 ,  G01N2201/0446 ,  G01N2201/1247

Abstract: 本发明的血液分析装置及血液分析装置的测定位置的设定方法即使由于环境温度的变化等使得旋转体等发生变形，也可得到测定中所必需的光量，从而可以进行高精度的测定。在设置保持试样即血液的μTAS芯片之前，作为初始处理，通过加热手段加热至指定温度。然后，一边使旋转体旋转微小量，一边找出通过孔部而被受光部接受的光量值成为规定值以上的旋转位置，并将该旋转位置记忆作为测定位置。之后，将μTAS芯片设置于芯片保持部，进行μTAS芯片内的试样液的称量、与试剂的混合、向测定区的输送等的测定前处理之后，使旋转体旋转至上述测定位置，将来自光源的光经由孔部入射到μTAS芯片的测定区，由受光部接受从测定区射出的光来测定测定液的光吸收量。

公开(公告)号：CN101432626B

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：CN200780015772.0

申请日：2007-04-04

Applicant: 神谷来克斯公司 ,  加利福尼亚大学董事会

Inventor： P·戈伊克斯 ,  R·普斯卡斯 ,  J·托德 ,  R·利文格斯顿 ,  D·赫尔德 ,  A·吴

IPC: G01N33/53

CPC classification number: G01N33/6887 ,  G01N15/06 ,  G01N15/1459 ,  G01N21/6428 ,  G01N33/577 ,  G01N33/582 ,  G01N2015/0693 ,  G01N2015/1006 ,  G01N2015/1486 ,  G01N2201/1247 ,  G01N2201/12761 ,  G01N2800/32 ,  G01N2800/324 ,  G01N2800/52 ,  Y10T436/105831

Abstract: 本发明提供了灵敏检测心肌肌钙蛋白的方法、组合物、试剂盒和系统，这样的方法、组合物、试剂盒和系统可用于对涉及心肌肌钙蛋白释放的状态进行诊断、预后和治疗方法的确定。

公开(公告)号：WO2014087102A1

公开(公告)日：2014-06-12

申请号：PCT/FR2013/052940

申请日：2013-12-04

Applicant: SP3H

Inventor： OBERTI, Sylvain ,  FOURNEL, Johan

IPC: G01N21/35 ,  G01N21/27 ,  G01N21/31

CPC classification number: G01N21/3577 ,  G01N21/274 ,  G01N21/3504 ,  G01N2021/3181 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/0624 ,  G01N2201/121 ,  G01N2201/1211 ,  G01N2201/124 ,  G01N2201/1242 ,  G01N2201/1247 ,  G01N2201/127 ,  G01N2201/12723

Abstract: L'invention concerne un procédé de commande d'un spectromètre d'analyse d'un produit,le procédé comprenant des étapes consistant à: acquérir une mesure (LFL, TPL) représentative du fonctionnement d'une source de lumière (LS),déterminer en fonction de la mesure, une valeur de courant d'alimentation (LCx) de la source de lumière, et/ou une valeur de durée d'intégration (ITy) de cellules photosensibles (y) d'un capteur (OPS), disposées sur un trajet d'un faisceau lumineux (LB) émis par la source de lumière et ayant interagi avec un produit à analyser, et si la valeur de durée d'intégration et/ou de courant d'alimentation est comprise entre des valeurs de seuil, fournir à la source de lumière un courant d'alimentation correspondant à la valeur déterminée de courant d'alimentation, ajuster la durée d'intégration d'une cellule photosensible à la valeur déterminée de durée d'intégration, et acquérir des mesures d'intensité lumineuse (MSy) fournies par le capteur, permettant de former un spectre.

Abstract translation: 本发明涉及一种控制产品分析光谱仪的方法，该方法包括以下步骤：获取代表光源（LS）的操作的测量（LFL，TPL），确定测量的函数值 光源的电源电流（LCx）和/或传感器（OPS）的感光单元（y）的整合持续时间（ITy）值，其设置在由 光源并与要分析的产品相互作用，并且如果积分持续时间和/或电源电流的值在阈值之间，则向光源提供与所确定的电源电流值相对应的电源电流，调整 感光单元的积分持续时间与确定的积分持续时间的值，以及获取由传感器提供的发光强度（MSy）的测量值，使得可以形成光谱。

公开(公告)号：WO2014087103A1

公开(公告)日：2014-06-12

申请号：PCT/FR2013/052941

申请日：2013-12-04

Applicant: SP3H

Inventor： OBERTI, Sylvain ,  FOURNEL, Johan

IPC: G01N21/35 ,  G01N21/27 ,  G01N21/31

CPC classification number: G01N21/3577 ,  G01N21/274 ,  G01N21/3504 ,  G01N2021/3181 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/0624 ,  G01N2201/121 ,  G01N2201/1211 ,  G01N2201/124 ,  G01N2201/1242 ,  G01N2201/1247 ,  G01N2201/127 ,  G01N2201/12723

Abstract: L'invention concerne un procédé de commande d'un spectromètre d'analyse d'un produit, le spectromètre comprenant une source de lumière (LS) comportant plusieurs diodes électroluminescentes (LD1-LD4) ayant des spectres d'émission respectifs couvrant en combinaison une bande de longueurs d'onde d'analyse, le procédé comprenant des étapes consistant à: fournir un courant d'alimentation (I1-I4) à au moins une des diodes électroluminescentes pour l'allumer, mesurer une intensité lumineuse (LFL1- LFL4) émise par la source de lumière en mesurant un courant à une borne d'au moins une autre des diodes électroluminescentes maintenue éteinte, déterminer en fonction de chaque mesure d'intensité lumineuse, une valeur de consigne (LC1-LC4) du courant d'alimentation de chaque diode allumée, et réguler le courant d'alimentation de chaque diode allumée pour qu'il corresponde à la valeur de consigne.

Abstract translation: 本发明涉及一种控制产品分析光谱仪的方法，该光谱仪包括一个光源（LS），该光源包括若干发光二极管（LD1-LD4），该发光二极管具有各自的分析波长带组合的发射光谱，该方法包括步骤 包括：向至少一个所述发光二极管提供电源电流（I1-I4）以便照亮所述发光二极管，通过测量所述光源的端子处的电流来测量由所述光源发射的发光强度（LFL1-LFL4） 至少另外一个保持不发光的发光二极管，确定作为每个点亮二极管的供电电流的设定值（LC1-LC4）的发光强度的每次测量的函数，并且调节每个点亮的电源电流的函数 二极管，使其对应于设定值。

公开(公告)号：US20170336330A1

公开(公告)日：2017-11-23

申请号：US15159266

申请日：2016-05-19

Applicant: Zeta Instruments, Inc.

Inventor： Steven W. Meeks ,  Rusmin Kudinar ,  Ronny Soetarman ,  Hung P. Nguyen

IPC: G01N21/958 ,  G01N21/55 ,  G01N21/94

CPC classification number: G01N21/958 ,  G01L1/00 ,  G01N21/21 ,  G01N21/55 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/94 ,  G01N2021/8854 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/0683 ,  G01N2201/105 ,  G01N2201/1247

Abstract: A method for detecting defects includes directing a scanning beam to a location on a surface of a transparent sample, measuring top and bottom surface specular reflection intensity, and storing coordinate values of the first location and the top and bottom surface specular reflection intensity in a memory. The method may further include comparing the top surface specular reflection intensity measured at each location with a first threshold value, comparing the bottom surface specular reflection intensity measured at each location with a second threshold value, and determining if a defect is present at each location and on which surface the defect is present. The method may further include comparing the top surface specular reflection intensity measured at each location with a first intensity range, comparing the bottom surface specular reflection intensity measured at each location with a second intensity range, and determining on which surface the defect is present.

公开(公告)号：US20170287794A1

公开(公告)日：2017-10-05

申请号：US15630385

申请日：2017-06-22

Applicant: Renesas Electronics Corporation

Inventor： Toshikazu HANAWA ,  Kazuhide FUKAYA ,  Kentaro YAMADA

IPC: H01L21/66 ,  H01L21/768 ,  H01L23/522 ,  H01L21/311

CPC classification number: H01L22/26 ,  G01N21/68 ,  G01N21/73 ,  G01N21/84 ,  G01N2021/8411 ,  G01N2021/8427 ,  G01N2201/1247 ,  H01J37/32963 ,  H01J2237/334 ,  H01L21/31116 ,  H01L21/76802 ,  H01L21/76846 ,  H01L21/76877 ,  H01L23/5226 ,  H01L23/53223 ,  H01L23/53266 ,  H01L23/5329

Abstract: A via hole is accurately formed in an interlayer insulating film over a metal wiring. Of emission spectra of plasma to be used for dry etching of the interlayer insulating film, the emission intensities of at least CO, CN, and AlF are monitored such that an end point of the dry etching of the interlayer insulating film is detected based on the emission intensities thereof.

公开(公告)号：US20150346085A1

公开(公告)日：2015-12-03

申请号：US14648855

申请日：2013-12-04

Applicant: SP3H

Inventor： Sylvain OBERTI ,  Johan FOURNEL

IPC: G01N21/27 ,  G01N21/3504

CPC classification number: G01N21/3577 ,  G01N21/274 ,  G01N21/3504 ,  G01N2021/3181 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/0624 ,  G01N2201/121 ,  G01N2201/1211 ,  G01N2201/124 ,  G01N2201/1242 ,  G01N2201/1247 ,  G01N2201/127 ,  G01N2201/12723

Abstract: A method for controlling a spectrometer for analyzing a product includes steps of: acquiring a measurement representative of the operation of a light source, determining, depending on the measurement, a value of supply current of the light source, and/or a value of integration time of light-sensitive cells of a sensor, disposed on a route of a light beam emitted by the light source and having interacted with a product to be analyzed, and if the integration time and/or supply current value is between threshold values, supplying the light source with a supply current corresponding to the determined supply current value, adjusting the integration time of a light-sensitive cell to the determined integration time value, and acquiring light intensity measurements supplied by the sensor, enabling a spectrum to be formed.

Abstract translation: 一种用于控制用于分析产品的光谱仪的方法包括以下步骤：获取代表光源的操作的测量，根据测量确定光源的电源电流的值和/或积分值 传感器的感光单元的时间设置在由光源发射的光束的路径上并且与待分析的产品相互作用，并且如果积分时间和/或电源电流值在阈值之间，则提供 所述光源具有与所确定的电源电流值相对应的电源电流，将感光单元的积分时间调整到所确定的积分时间值，以及获取由所述传感器提供的光强度测量值，从而能够形成光谱。

公开(公告)号：US08451460B2

公开(公告)日：2013-05-28

申请号：US12735063

申请日：2008-12-18

Applicant: Nigel Jones ,  Ron Ashby

Inventor： Nigel Jones ,  Ron Ashby

IPC: G01B11/06

CPC classification number: G01V8/12 ,  G01B11/0683 ,  G01B11/2433 ,  G01N21/94 ,  G01N2021/5957 ,  G01N2021/5961 ,  G01N2021/945 ,  G01N2201/0696 ,  G01N2201/1247

Abstract: A monitoring system is disclosed, designed to detect the depth of deposition of a substance on a′ surface (12), such as the depth of dust in a ventilation shaft. The monitoring system includes a light source (14) and a sensor (16, 30). The light source is arranged to transmit light across a detection surface and the sensor is on the other side of the detection surface. When a substance, such as dirt or grease, is deposited on the surface it obstructs the light and the amount of light reaching the sensor decreases. A processing means (26) detects the decrease in light and from this the depth of the deposition on the surface can be calculated. Preferably the sensor comprises a CCD array (32), and the substance throws a shadow on the array. The processing means can then determine the depth of the substance from the position on the array of the edge of the shadow. Preferably the monitoring system is placed in a low power ‘sleep’ mode in between intermittent operations for detecting the depth of the substance. In this, way, it can be battery operated and the battery life is preserved.

Abstract translation: 公开了一种监测系统，其设计用于检测物质在“表面（12）上的沉积深度，例如通风轴中灰尘的深度。 监测系统包括光源（14）和传感器（16,30）。 光源被布置成将光透过检测表面，并且传感器位于检测表面的另一侧。 当物质如污垢或油脂沉积在表面上时，它会阻挡光线，并且到达传感器的光量减少。 处理装置（26）检测光的减少，从而可以计算出表面上沉积的深度。 优选地，传感器包括CCD阵列（32），并且该物质在阵列上投射阴影。 处理装置然后可以从阴影边缘的阵列上的位置确定物质的深度。 优选地，监测系统在用于检测物质深度的间歇操作之间被置于低功率“睡眠”模式。 在这种方式下，可以进行电池操作，并保持电池寿命。

公开(公告)号：US20110122423A1

公开(公告)日：2011-05-26

申请号：US12735063

申请日：2008-12-18

Applicant: Nigel Jones ,  Ron Ashby

Inventor： Nigel Jones ,  Ron Ashby

IPC: G01B11/28

CPC classification number: G01V8/12 ,  G01B11/0683 ,  G01B11/2433 ,  G01N21/94 ,  G01N2021/5957 ,  G01N2021/5961 ,  G01N2021/945 ,  G01N2201/0696 ,  G01N2201/1247

Abstract: A monitoring system is disclosed, designed to detect the depth of deposition of a substance on a′ surface (12), such as the depth of dust in a ventilation shaft. The monitoring system includes a light source (14) and a sensor (16, 30). The light source is arranged to transmit light across a detection surface and the sensor is on the other side of the detection surface. When a substance, such as dirt or grease, is deposited on the surface it obstructs the light and the amount of light reaching the sensor decreases. A processing means (26) detects the decrease in light and from this the depth of the deposition on the surface can be calculated. Preferably the sensor comprises a CCD array (32), and the substance throws a shadow on the array. The processing means can then determine the depth of the substance from the position on the array of the edge of the shadow. Preferably the monitoring system is placed in a low power ‘sleep’ mode in between intermittent operations for detecting the depth of the substance. In this, way, it can be battery operated and the battery life is preserved.

Abstract translation: 公开了一种监测系统，其设计用于检测物质在“表面（12）上的沉积深度，例如通风轴中灰尘的深度。 监测系统包括光源（14）和传感器（16,30）。 光源被布置成将光透过检测表面，并且传感器位于检测表面的另一侧。 当物质如污垢或油脂沉积在表面上时，它会阻挡光线，并且到达传感器的光量减少。 处理装置（26）检测光的减少，从而可以计算出表面上沉积的深度。 优选地，传感器包括CCD阵列（32），并且该物质在阵列上投射阴影。 处理装置然后可以从阴影边缘的阵列上的位置确定物质的深度。 优选地，监测系统在用于检测物质深度的间歇操作之间被置于低功率“睡眠”模式。 在这种方式下，可以进行电池操作，并保持电池寿命。