公开(公告)号：CN106164618A

公开(公告)日：2016-11-23

申请号：CN201580015724.6

申请日：2015-01-16

Applicant: 瑞沃拉公司

Inventor： 希瑟·A·波伊斯 ,  戴维·A·雷德 ,  布鲁诺·W·许勒尔 ,  罗德尼·斯梅德特 ,  杰弗里·T·范东

IPC: G01B15/00 ,  G01N23/223 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N2223/054 ,  H01L22/12

Abstract: 公开了使用多角度X射线反射散射测量(XRS)用于测量周期结构的方法和系统。例如，通过X射线反射散射测量以测量样本的方法包括，使入射X射线束撞击具有周期结构的样本以生成散射X射线束，入射X射线束同时提供多个入射角和多个方位角。该方法还包括收集散射X射线束中的至少部分。

公开(公告)号：CN106062542A

公开(公告)日：2016-10-26

申请号：CN201580011600.0

申请日：2015-02-02

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 表和彦 ,  伊藤和辉

IPC: G01N23/201 ,  G21K1/06

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N2223/054 ,  G01N2223/056 ,  G01N2223/315 ,  G21K1/06 ,  G21K1/10

Abstract: 本发明提供以紧凑的结构及高信号背景比同时获得各向异性的像的微小射束生成单元以及小角度X射线散射装置。微小射束生成单元(110)生成向试样照射的束斑尺寸微小的X射线，以便利用一维检测器或者二维检测器检测衍射X射线，所述微小射束生成单元具备：狭缝(115)，其设置在X射线光路上，将X射线修整为平行射束；以及两个切槽晶体单色器(117、118)，它们配置为(+，‑，‑，+)，除去利用狭缝修整后的平行射束的寄生散射。由此，能够以紧凑的结构及高信号背景比同时获得各向异性的像。

公开(公告)号：CN105717150A

公开(公告)日：2016-06-29

申请号：CN201610056321.2

申请日：2012-09-11

Applicant: 住友橡胶工业株式会社

Inventor： 间下亮 ,  岸本浩通

IPC: G01N23/201 ,  G01N23/202

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N23/202 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/106 ,  G01N2223/623 ,  G01N2223/627

Abstract: 本申请提供测定精度优良、且对各试样的性能差也能充分评价的评价高分子材料的回弹弹性模量、硬度或能量损失的方法。本发明涉及通过向高分子材料照射X射线或中子束，实施X射线散射测定或中子束散射测定，从而评价高分子材料的回弹弹性模量、硬度或能量损失的方法。

公开(公告)号：CN105008904A

公开(公告)日：2015-10-28

申请号：CN201480012351.2

申请日：2014-01-07

Applicant: 布鲁克AXS公司

Inventor： J·金克

IPC: G01N23/201

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N23/201 ,  G01N2223/501 ,  G01N2223/61 ,  G01N2223/6116

Abstract: 一种通过位置敏感检测器使用平面内掠入射衍射检查晶体样本的表面的装置。x射线源照射样本的一个延伸区域，并且对于晶体的具有适当晶格取向的区段，产生一个细长的衍射信号。然后可以改变样本和x射线束的相对位置以照射样本的不同区域，使得衍射信号对应于这些其他区域。通过扫描整个样本，可以生成样本表面的空间走向。所述系统可以用来定位样本表面上的晶体边界、缺陷或者衰减材料的存在。

公开(公告)号：CN102084270B

公开(公告)日：2015-08-26

申请号：CN200980115100.6

申请日：2009-02-25

Applicant: 拉派斯坎安全产品股份有限公司

Inventor： 爱德华·J·莫顿

IPC: G01V5/00

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01V5/0041

Abstract: 本发明提供一种用于扫描物体的方法和系统，包括：提供具有至少2mm的厚度的第一检测器区域，和具有至少5mm的厚度的第二检测器区域，其中第二检测器区域被安排来接收已经通过第一检测器区域的放射线。该方法包括：以具有至少1MeV的峰值能量的放射线照射物体，在第一轮廓放射线已经与物体相互作用或通过物体之后检测第一轮廓放射线以便提供与物体有关的信息。检测第一轮廓放射线包括：在第一检测器区域检测第一轮廓放射线，在第二检测器区域中接收已经通过第一检测器区域的第一轮廓放射线，在第二检测器区域检测第一轮廓放射线。该扫描方法还包括：以具有比第一能量轮廓相对要低的、且具有至少0.5MeV的峰值能量的第二能量轮廓的放射线照射物体，在第二轮廓放射线已经与物体相互作用或通过物体之后检测第二轮廓放射线以便提供与物体有关的信息。检测第二轮廓放射线包括：在第一检测器区域检测第二轮廓放射线，在第二检测器区域中接收已经通过第一检测器区域的第二轮廓放射线，并且在第二检测器区域检测第二轮廓放射线。

公开(公告)号：CN104777179A

公开(公告)日：2015-07-15

申请号：CN201410833194.3

申请日：2014-12-29

Applicant: 帕纳科有限公司

Inventor： D·贝克尔斯 ,  S·普鲁戈维奇

IPC: G01N23/20

CPC classification number: G21K1/046 ,  G01N23/201 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明涉及X射线装置。一种X射线衍射装置包括平坦分级多层结构8，该平坦分级多层结构8可用在用于样本6的SAXS配置中。该装置可以通过准直器16调整以适用于Bragg-Brentano测量，而不需要多个替换的束路径或复杂的结构。

公开(公告)号：CN1181133A

公开(公告)日：1998-05-06

申请号：CN96193114.0

申请日：1996-01-30

Applicant: 大不列颠及北爱尔兰联合王国国防大臣

Inventor： S·P·比瓦尔

IPC: G01N5/00

CPC classification number: G01V5/0025 ,  G01N23/201

Abstract: 一种X射线检查系统包括:X射线源(1),该射线源设置成能用从光源(1)射出并穿过物体(4)的扇形X射线束照射待检物体(4);检测装置(6),它能够对穿过物体(4)以不同角度产生相干散射的X射线的强度进行判断以便根据以每个角度散射的X射线的强度产生输出信号;以及,分析装置(未示出),它可控制地连接到检测装置(6)上以便处理输出信号,进而确定是否在存以一个或多个预定角度产生相干散射的X射线的输出信号。准直装置(23)设置在检测装置(6)和物体(4)之间且只允许以不同角度从中心位于P点的有限体元素厚度上产生相干散射的X射线通过,准直器(23)沿光束方向的运动以及物体借助例如传送带在一个方向(22)上的平移可以使物体(例如行李等物品)的整个体积受到扫描。

公开(公告)号：CN104132954B

公开(公告)日：2019-06-04

申请号：CN201410167870.8

申请日：2014-03-14

Applicant: 布鲁克AXS有限公司

Inventor： J·S·皮德森

IPC: G01N23/201 ,  G01N23/207

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N2223/314 ,  G21K1/04 ,  G21K1/046 ,  G21K2201/062

Abstract: 本发明涉及用于X射线散射分析的X射线分析系统。该X射线分析系统包括：X射线源，用于产生沿透射轴(3)传播的X射线的射束；至少一个具有孔隙的混合狭缝(5b)，该孔隙限定射束的横截面的形状；样品，由混合狭缝(5b)成形的射束照射到该样品上；X射线检测器，用于检测来自于该样品的X射线，其中混合狭缝(5b)包括至少三个混合狭缝元件(7)，每个混合狭缝元件(7)包括以锥角α≠0与基底(9)结合的单晶基板(8)，混合狭缝元件(7)的单晶基板(8)限制该孔隙，该X射线分析系统的特征在于，混合狭缝元件(7)沿透射轴(3)以一定偏移量交错布置。本发明的X射线分析系统表现出改进的分辨率和信噪比。

公开(公告)号：CN107643308A

公开(公告)日：2018-01-30

申请号：CN201710593858.7

申请日：2017-07-20

Applicant: 帕纳科有限公司

Inventor： V·科根 ,  D·贝克尔斯

IPC: G01N23/201

CPC classification number: G01N23/20033 ,  G01N23/201 ,  G01N2223/054

Abstract: 提供了用于X射线分析的样品保持器。用于保持用于X射线分析的毛细管(40)的样品保持器(2)具有位于纵向狭缝(12)一侧的基座部分(14)上的第一热传递构件(36)和位于另一侧的基座部分(16)上的第二热传递构件(38)。在框架(30)与基座部分(14、16)之间在横向方向上压紧热传递构件(36、38)，以促使第一热传递构件和第二热传递构件的边缘在一起，从而保持毛细管(40)与纵向狭缝(12)纵向地对齐。

公开(公告)号：CN106198586A

公开(公告)日：2016-12-07

申请号：CN201610590049.6

申请日：2016-07-25

Applicant: 中国矿业大学(北京)

Inventor： 赵毅鑫 ,  彭磊 ,  张通

IPC: G01N23/201

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N2223/054 ,  G01N2223/1016

Abstract: 一种吸附下小角散射研究煤岩热破裂装置及方法，属于小角散射技术领域。金刚石薄片与样品仓耦合固连，样品仓位于加热盘中央耦合固定于绝热筒中央部位，并与加热盘表面接触滑动；进光窗口与出光窗口、样品仓光路准直良好，位于同一水平线上，射线通过进光窗口，经射线通道，样品仓抵达出光窗口，且进光窗口和出光窗口用Kapton膜进行封堵，金刚石薄片与Kapton膜采用专用胶水进行无缝隙粘结，固于样品仓两侧；加热盘通过线圈经顺时针缠绕式连接，温度传感器置于加热盘表面进行接触，吸附气体通过进气口进入抵达气孔扩散至样品仓。本发明填补了小角散射研究煤、页岩等多孔介质在高温高压多场耦合叠加条件下的实验设备的短缺。