公开(公告)号：CN209570528U

公开(公告)日：2019-11-01

申请号：CN201822128961.7

申请日：2018-12-18

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 井上稔

IPC: G01N23/223

Abstract: 本实用新型提供一种无需在试料架与用于荧光X射线分析装置的夹具之间转移试料的用于荧光X射线分析装置的夹具。用于荧光X射线分析装置的夹具，为与荧光X射线分析装置共用在中央处具有供试料配置的凹部或者孔的X射线衍射装置的试料架的夹具，具备：基座部件，其具有与所述试料架的下表面抵接的第一上表面、和以在与所述第一上表面之间具有高低差的方式而形成的第二上表面；以及环，其具有所述试料架的外侧侧面以及设置有所述高低差的区域的外侧侧面与内侧侧面抵接的圆筒部、和被设置在所述圆筒部的下端部并与所述第二上表面抵接的法兰，并且在与所述试料架以及所述基座部件之间夹入对所述试料的表面进行覆盖的薄膜。

公开(公告)号：CN221899091U

公开(公告)日：2024-10-25

申请号：CN202420132578.1

申请日：2024-01-19

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 冈要平 ,  青柳光一 ,  山田康治郎

IPC: G01N23/2204 ,  G01N23/223

Abstract: 本实用新型提供一种样品支架，其使样品的更换作业简便，并且不会在X射线荧光分析装置的内部散开。一种X射线荧光分析用的样品支架，具有：筒状体，其具有设置在上端面一部分上的孔，并且下端开口；接盘，其配置在所述筒状体的内侧，用于载置样品；弹性体，其向上方对所述接盘施力；以及支撑部件，其由树脂形成，具有在端部设有爪部且通过按压向内侧弹性变形的弓部，并且与所述弹性体的下端接触，其中，所述筒状体形成有用于所述爪部嵌合的嵌合部和所述弓部的一部分向外侧露出的露出部。

公开(公告)号：CN222838021U

公开(公告)日：2025-05-06

申请号：CN202420604984.3

申请日：2024-03-27

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 高原晃里 ,  青柳光一 ,  池坂健词 ,  冈要平

IPC: G01N23/2204 ,  G01N23/223

Abstract: 本实用新型提供一种样品架以及侧照式X射线荧光分析装置，该样品架的样品更换作业简便且可防止装置内部的污染，并且能够进行高精度的分析。该样品架是被用于侧照式X射线荧光分析装置的样品架，具有：被测物按压件，其一部分与包含样品并具有平行平板的表面和背面的被测物的表面的1次X射线照射部分的周围抵接；以及弹簧，其从背面侧对所述被测物施力而将所述被测物按压在所述被测物按压件上。

公开(公告)号：CN119768682A

公开(公告)日：2025-04-04

申请号：CN202480003781.1

申请日：2024-05-15

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 川上裕幸

IPC: G01N23/223 ,  H05G1/26

Abstract: 本发明通过高精度且迅速地检测分光室内部的漏水，在发生漏水的情况下减轻荧光X射线分析装置的故障程度。一种荧光X射线分析装置，具有：高压电源，其向电子束源施加电压；X射线管，其用由所述电子束源产生的电子束照射靶而产生的1次X射线照射配置于分光室中的样品；循环水泵，其输送冷却所述靶的冷却水；真空泵，其排出所述分光室的空气；真空计，其测定所述分光室的压力；以及控制部，其根据所述真空计测定的压力和施加于所述电子束源的所述高压电源的电压这两者，判定所述冷却水泄漏到所述分光室的内部，并停止所述循环水泵的动作。

公开(公告)号：CN119557532A

公开(公告)日：2025-03-04

申请号：CN202411236117.X

申请日：2024-09-04

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 吉元政嗣 ,  表和彦

IPC: G06F17/10 ,  G06F30/20 ,  G06F18/23 ,  G16C60/00

Abstract: 提供算出结构模型的特征量的计算装置、方法以及程序。一种算出结构模型的特征量的计算装置(100)，具备：计算前结构模型取得部(110)，其取得周期性地排列有原子的计算前结构模型；计算前信息取得部(120)，其取得确定计算前结构模型中的周期性地排列的原子的计算前信息；计算后结构模型取得部(130)，其取得以计算前结构模型为原始数据计算出的计算后结构模型；计算后信息取得部(140)，其取得通过基于计算前信息将计算后结构模型中的原子聚类化而得到的聚类信息和作为计算后结构模型中的原子的位置信息的原子位置信息；以及特征量算出部(150)，其基于聚类信息和原子位置信息算出具有相同的聚类信息的原子的重心位置。

公开(公告)号：CN113167748B

公开(公告)日：2025-03-04

申请号：CN201980076995.0

申请日：2019-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝

IPC: G01N23/20025 ,  G01N23/205 ,  G01N23/207 ,  G01N1/28

Abstract: 提供能够可靠且容易地进行利用晶体海绵的单晶X射线结构解析的单晶X射线结构解析装置、用于此的方法、试样固定器组件。具备：保持试样的试样固定器；安装试样固定器并来回转动的测角仪；对安装于测角仪的试样固定器250中所保持的试样照射来自X射线源的X射线的X射线照射部；将试样固定器(250)装备于能拆装的敷料器而提供，试样固定器(250)包含能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体，敷料器具备：用于使试样吸藏在试样固定器(250)的细孔性络合物晶体的空间。

公开(公告)号：CN119404098A

公开(公告)日：2025-02-07

申请号：CN202380048054.2

申请日：2023-11-13

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 冈要平 ,  青柳光一 ,  山田康治郎

IPC: G01N23/2204 ,  G01N1/28 ,  G01N23/223

Abstract: 本发明提供一种样品架，其通过使用树脂构件而简化样品的更换作业，并且能够抑制由X射线引起的该树脂构件的劣化。一种用于荧光X射线分析的样品架，具有：筒状体，其具有设置于上端面的一部分上的孔，并且下端开口；接盘，其被配置于筒状体的内侧，并载置样品；弹性体，其向上方对接盘施力；树脂构件，其具有弓部，并与弹性体的下端接触；以及底板，其被配置于树脂构件的下侧，筒状体、接盘以及底板由金属形成，弓部具有设置于端部的爪部和朝内侧被按压的按压部，并且通过对按压部的按压而朝内侧弹性变形，在筒状体中形成有用于爪部嵌合的嵌合部和用于按压部朝外侧露出的露出部，树脂构件被配置于接盘与底板之间，按压部以外的部分被筒状体、接盘以及底板包围。

公开(公告)号：CN119301440A

公开(公告)日：2025-01-10

申请号：CN202380043126.4

申请日：2023-06-19

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐藤孝 ,  松本崇 ,  长谷川智一

IPC: G01N23/201

Abstract: 提供能识别分子的构成要素的形态的形态解析装置、形态解析方法以及形态解析程序。一种对溶液中的分子的形态进行解析的形态解析装置(200)，具备：参照数据存储部(234)，其存储参照数据，所述参照数据是事先确定出的被检分子的分子形状数据；对象数据存储部(235)，其存储对象数据，所述对象数据是成为解析对象的所述被检分子的分子形状数据；以及形态推定部(237)，其通过确定所述对象数据相对于所述参照数据的构成分子形状的物理量的状态来推定所述对象数据中的分子的构成要素的形态，所述参照数据和所述对象数据均具有分子水平的分辨率。

公开(公告)号：CN119278377A

公开(公告)日：2025-01-07

申请号：CN202380025862.7

申请日：2023-03-06

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 小城彩 ,  小林信太郎 ,  尾芳功系兆

IPC: G01N23/207 ,  G01N23/2055

Abstract: 峰二维检测数据提取部(211)从在多个扫描角度2θ/θ得到的衍射X射线(Xb)的二维检测数据中提取X射线强度最大的衍射X射线(Xb)的二维检测数据(峰二维检测数据)。接下来，峰位置确定部(212)根据峰二维检测数据确定X射线强度最大的位置(峰位置)。然后，利用关于峰二维检测数据确定的峰位置的位置信息执行数据处理。

公开(公告)号：CN112824882B

公开(公告)日：2024-12-06

申请号：CN202011310975.6

申请日：2020-11-20

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 黑木涉 ,  则武弘一郎

IPC: G01N25/20 ,  F27B17/02 ,  F27D19/00

Abstract: 一种热分析装置和电炉的控制方法，其不会强迫用户进行用于修正的事前的作业，以使实际的试样的温度变化迅速地到达预先设定的目标速率且追随该目标速率的方式控制电炉。具备修正部(20)，该修正部(20)基于相对于试样(S1)的温度变化的目标速率和相对于试样(S1)的实际的温度变化的实际速率的差量对设定在温度程序中的程序温度进行修正。