Abstract:
A pixel cell, an image sensor adopting the same, and an image processing system including the image sensor are provided to minimize a dark level by not forming a metal contact on a photodiode. An image sensor adopting a pixel cell includes a first semiconductor pattern(111), a second semiconductor pattern(113), a photoelectric converting device(115), and at least one of transistors. An isolation layer is located between the first and second semiconductor pattern(111,113) so that the first and the second semiconductor patterns(111,113) face each other. The photoelectric converting device(115) is formed on the second semiconductor pattern(113). The transistor is formed on the first semiconductor pattern. The transistor is coupled with the photoelectric converting device(115) for detecting a signal charge generated at the photoelectric converting device(115). The photoelectric converting device(115) includes a first conductive region(113n) and a second conductive region(113p).
Abstract:
A high-sensitivity image sensor is provided to separate light without causing a loss by using three micro lenses, a prism and three inner lenses. Three unit pixels(211,212,213) receive R(red), G(green) and B(blue) color signals. A prism(23) refracts rays of radiant light according to its wavelength and obtain the R, G and B color signals, formed on the three unit pixels. Three inner lenses(221,222,223) focuses the R, G and B color signals separated by the prism on the three unit pixels, positioned between the three unit pixels and the prism. A micro lens(24) controls the incident light through the prism by vertical light, formed on the prism. The three unit pixels can be arranged in a straight line, having square structures, respectively.
Abstract:
A circuit and a method for detecting a saturation level of an image sensor, and an image sensor with the circuit are provided to accurately detect the saturation level of the image sensor by comparing a voltage signal of a reset level and a voltage signal of the saturation level. A pixel part(345) includes a floating diffusion node(FDN) electrically connected/disconnected to a photo-diode(PD) and outputs a voltage signal corresponding to a voltage of the floating diffusion node. A rest node(RN) is electrically connected or disconnected to the floating diffusion node. A detection control part(343) applies a power supply voltage(VDD) or a reference voltage(GND) to the reset node. The detection control part includes the first rest switch(RTr1) for electrically connecting or disconnecting the rest node and the floating diffusion node, the second rest switch(RTr2) for applying the power supply voltage to the reset node, and a reference voltage switch for applying the reference voltage to the reset node.
Abstract:
An image sensor having pixels that include two patterned semiconductor layers. The top patterned semiconductor layer contains the photoelectric elements of pixels having substantially 100% fill-factor. The bottom patterned semiconductor layer contains transistors for detecting, resetting, amplifying and transmitting signals charges received from the photoelectric elements. The top and bottom patterned semiconductor layers may be separated from each other by an interlayer insulating layer that may include metal interconnections for conducting signals between devices formed in the patterned semiconductor layers and from external devices.
Abstract:
베리드 채널 MOS 트랜지스터를 사용한 CMOS 이미지 센서가 개시되어 있다. CMOS 이미지 센서는 광변환 소자, 및 소스 폴로워 트랜지스터를 구비한다. 광변환 소자는 입사하는 빛 에너지에 응답하여 전류 신호를 발생시키고 플로팅 노드의 전압을 변화시킨다. 소스 폴로워 트랜지스터는 제 1 도전형의 물질이 도핑된 소스 영역 및 드레인 영역, 제 1 도전형과 반대인 제 2 도전형의 물질이 도핑된 게이트 영역, 게이트 영역 아래 상기 소스 영역과 드레인 영역 사이에 위치하는 제 1 도전형의 베리드 채널을 구비한다. 또한, 소스 폴로워 트랜지스터는 플로팅 노드의 전압신호를 증폭하고 제 1 신호를 출력한다. 따라서, CMOS 이미지 센서는 감소된 노이즈를 갖고, 이미지 데이터를 정확하고 안전하게 출력할 수 있다.
Abstract:
이미지 센서의 수광부를 확장하여 크로스토그(crosstalk) 현상 또는 차광 현상을 감소시키고 광을 효과적으로 집중시킴으로써 광감도를 높일 수 있는 이미지 센서가 개시된다. 광축상에 렌즈, 복수의 마이크로 렌즈들이 소정의 패턴으로 형성되는 마이크로 렌즈 어레이, 소정의 패턴으로 형성되는 컬러필터 어레이, 소정의 패턴으로 형성되는 메탈 어레이 및 복수의 수광소자들이 소정의 패턴으로 형성되는 수광소자 어레이 순으로 배열되는 이미지 센서에 있어서, 마이크로 렌즈 어레이는 중심에 위치한 마이크로 렌즈로부터 멀어질수록 입사각에 반비례하여 간격이 좁아지고, 수광소자 어레이는 중심에 위치한 수광소자로부터 멀어질수록 입사각에 비례하여 간격이 넓어지는 것을 특징으로 한다.
Abstract:
서브 샘플링 모드에서 디스플레이 품질을 개선한 고체 촬상 소자 및 그 구동 방법이 개시된다. 상기 고체 촬상 소자는, 서브 샘플링 모드 시에, APS 어레이에서, 홀수번째 행들 또는 짝수번째 행들의 광소자로부터 광전 변환된 영상신호를 열단위로 합하여 출력한다. 이에 따라, 아날로그 합성 회로가 상기 합해진 영상신호들을 홀수번째끼리 및 짝수번째끼리 재차 합하여 출력함으로써, 수직 해상도를 낮출 수 있다. 또는, 상기 합해진 영상신호들을 디지털 신호로 변환한 후, 디지털 합성 회로에서 홀수번째끼리 및 짝수번째끼리 재차 합하여 출력함으로써, 수직 해상도를 낮출 수 있다.