中科微点-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

1539 records (took 0.026 seconds)

    Method for measurement of object and ophthalmic apparatus using the method
    191.
    发明专利
    Method for measurement of object and ophthalmic apparatus using the method 审中-公开
    使用该方法测量对象和眼睛装置的方法

    公开(公告)号：JP2006122649A

    公开(公告)日：2006-05-18

    申请号：JP2005194454

    申请日：2005-07-01

    Applicant: Nidek Co Ltd ,  株式会社ニデック

    Inventor： HANEBUCHI MASAAKI

    IPC: A61B3/10 ,  A61B3/12 ,  G01B11/24 ,  G01N21/17

    CPC classification number: A61B3/0041 ,  A61B3/102 ,  A61B3/11 ,  G01J3/453

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for measurement of an object capable of removing noise signals keeping speedy measurement using spectral interference, and to provide an ophthalmic apparatus using the method. SOLUTION: A part of light with short coherent length is projected onto an object to make the reflection light the object light and part of light with short coherent light is made the reference light. The object light and the reference light are synthesized and interfered. The obtained interference light is spectralized into prescribed frequency components and photo-received as photo-reception light signals. Fourier or inverse Fourier transformation is performed on the photo-reception signals for tomographic imaging of a phase object or measurement of optical surface profile. Fourier or inverse Fourier transformation is performed on the information calculated by subtracting signal components of sums of respective autocorrelation signals of the object light and the reference light included in the photo-receiving signals to obtain image information on the object. COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够消除噪声信号的对象的测量方法，其使用频谱干扰保持快速测量，并提供使用该方法的眼科装置。 解决方案：将相干长度短的光的一部分投射到物体上，使反射光成为物体光，并将具有短相干光的部分光作为参考光。 物体光和参考光被合成和干扰。 所获得的干涉光被分光为规定的频率分量，并作为光接收光信号进行光接收。 对相位对象的断层成像的光接收信号或光学表面轮廓的测量执行傅里叶或傅立叶逆变换。 对通过减去对象光的各个自相关信号和包含在光接收信号中的参考光的和的和的信号分量而计算的信息执行傅立叶变换或逆傅里叶变换，以获得关于对象的图像信息。 版权所有（C）2006，JPO＆NCIPI

    Fourier transform infrared spectrophotometer
    194.
    发明专利
    Fourier transform infrared spectrophotometer 有权
    FOURIER变换红外分光光度计

    公开(公告)号：JP2003014543A

    公开(公告)日：2003-01-15

    申请号：JP2001202935

    申请日：2001-07-04

    Applicant: Shimadzu Corp ,  株式会社島津製作所

    Inventor： OTA HIROSHI

    IPC: G01J3/45 ,  G01J3/42 ,  G01J3/453 ,  G01N21/35

    CPC classification number: G01J3/453

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate the influence to an absorption spectrum even if interference waveform is distorted by the mixture of noise and the unstable factors of a light source and a detector. SOLUTION: Two measurement interference waveform data that are continuous in time are held in a memory onec (S12), the amount of noise and the degree of similarity are calculated from the data at an end section and at a center section, respectively (S14, S15), and an index value E for judging whether interference waves are conforming or not is obtained from them (S16). When the index value E is equal to or less than a threshold Et that is determined by measurement in advance, it is judged that the interference waves are appropriate and the waveform is integrated (S17, S18). In the case of the mixture of noise due to turbulence or the like, and the unstable state until a light source and a detector reach a stable state, the index value E increases, so that it is judged to be-nonconforming waveform and is excluded from integration, thus preventing the integral waveform from being distorted and increasing the accuracy also in absorption spectrum obtained from Fourier transform from it.

    Abstract translation: 要解决的问题：即使干扰波形被噪声的混合和光源和检测器的不稳定因素扭曲，也可以消除对吸收光谱的影响。 解决方案：将时间上连续的两个测量干扰波形数据保存在存储器中（S12），分别根据端部和中心部分的数据计算噪声量和相似度（S14， S15），以及用于判断干扰波是否一致的指标值E（S16）。 当索引值E等于或小于预先通过测量确定的阈值Et时，判断干扰波是适当的并且波形被积分（S17，S18）。 在由湍流等引起的噪声混合的情况下，以及在光源和检测器达到稳定状态之前的不稳定状态，指标值E增加，从而判定为不符合波形并被排除 从而整合，从而防止积分波形失真，并且在从其傅里叶变换获得的吸收光谱中也提高精度。

    Fourier transform multiwavelength photometer
    195.
    发明专利
    Fourier transform multiwavelength photometer 失效
    FOURIER变换多波长光电测定仪

    公开(公告)号：JPS6199825A

    公开(公告)日：1986-05-17

    申请号：JP22043884

    申请日：1984-10-22

    Applicant: Hitachi Ltd

    Inventor： INOUE KATSU

    IPC: G01J3/45 ,  G01J3/453

    CPC classification number: G01J3/453

    Abstract: PURPOSE:To obtain a final result in a short time by employing discrete Fourier transform and performing integration at every plural spectral points every time data on one point in an interference pattern is obtained. CONSTITUTION:The interference pattern 15 measured by an interferometer 10 is inputted to an A/D converter 20 in time series to obtain a digital value 42, which is inputted to a digital multiplier 40. The value of specific wavelength lambda1 stored in a wavelength storage device 60, on the other hand, is stored in a memory 61 and inputted to a cosine function generator 30, which inputs a phase corresponding to the optical path difference (x) of the interference pattern f(x) and the cosine function value 43 of frequency in inverse proportion to the wavelength lambda1 to a multiplier 40. The multiplier 40 multiplies the digital value 42 and function value 43 to obtain the product 44. A memory 51, on the other hand, is stored with spectral intensity S(lambda1) corresponding to the wavelength lambda1 and this value and product 44 are added together and stored in the memory 51 again. Thus, real-time processing is performed to obtain the final result in a short time.

    Abstract translation: 目的：通过采用离散傅立叶变换在每个多个光谱点上每次获得干涉图案中的一个点上的数据时，在短时间内获得最终结果。 构成：由干涉仪10测量的干涉图形15以时间序列输入到A / D转换器20，以获得输入到数字乘法器40的数字值42.存储在波长存储器中的特定波长λ1的值 另一方面，装置60存储在存储器61中并输入到余弦函数发生器30，余弦函数发生器30输入与干涉图案f（x）的光程差（x）和余弦函数值43相对应的相位 乘法器40将数字值42和函数值43相乘以获得乘积44.另一方面，存储器51以光谱强度S（λ1）存储， 对应于波长λ1，并将该值和乘积44相加在一起并再次存储在存储器51中。 因此，执行实时处理以在短时间内获得最终结果。

    Infrared spectrophotometer of fourier transform system
    197.
    发明专利
    Infrared spectrophotometer of fourier transform system 失效
    傅立叶变换系统的红外分光光度计

    公开(公告)号：JPS6131930A

    公开(公告)日：1986-02-14

    申请号：JP15292284

    申请日：1984-07-25

    Applicant: Hitachi Ltd

    Inventor： EGUCHI KINYA ,  ISHIKAWA MEGUMI

    IPC: G01J3/45 ,  G01J3/453 ,  G01N21/35

    CPC classification number: G01J3/453

    Abstract: PURPOSE:To cut short-wavelength components and to execute a measurement by a high-sensitivity polarization and modulation system and an infrared photo- acoustic system by installing an optical filter made of a material which hardly transmits short-wavelength light of

    Abstract translation: 目的：通过安装由几乎不发射<= 0.5mum的短波长光的材料制成的滤光片，来切割短波长分量并通过高灵敏度偏振和调制系统和红外光声系统进行测量 在光源和检测器之间的光路上。 构成：通过在例如5mm的KBr板上气相沉积锗形成的滤光器7。 如图所示，将厚度为1-10μm的厚度安装在光源1和检测器8之间的光路上。 该滤光片几乎不发射<=0.5μm的短波长分量，而是发射红外光，从而在没有傅立叶变换型红外分光光度计的任何电滤波器的情况下进行无噪声测量操作。 也就是说，短波长分量被切断，测量由高灵敏度偏振调制系统和红外光声系统进行。

    フィルタ装置および測定装置
    199.
    发明专利
    フィルタ装置および測定装置 审中-公开
    过滤器装置和所述测量装置

    公开(公告)号：JPWO2014192917A1

    公开(公告)日：2017-02-23

    申请号：JP2015519961

    申请日：2014-05-30

    Applicant: 株式会社村田製作所

    Inventor： 誠治 神波 ,  孝志 近藤 ,  弘一 瀬戸 ,  佳子 三浦

    IPC: G01N21/3586 ,  B07B1/00 ,  B07B7/06

    CPC classification number: G01N21/51 ,  C12M33/14 ,  G01J3/453 ,  G01N1/405 ,  G01N1/4077 ,  G01N21/3586 ,  G01N2001/4088

    Abstract: 目的物と該目的物よりもサイズの大きい粗大物とを含む流体を通過させることにより、前記流体中に含まれる前記目的物を選択的に捕集するためのフィルタ装置であって、前記粗大物を除去するための前処理フィルタと、前記目的物を捕集するための捕集フィルタとを備え、前記前処理フィルタおよび前記捕集フィルタは、前記流体が前記前処理フィルタを通過した後に前記捕集フィルタを通過できるように、直列に配置され、前記前処理フィルタは、互いに対向する一対の主面を有し両主面を貫通する複数の空隙部を有する空隙配置構造体を含む、フィルタ装置。

    Abstract translation: 通过使含有大量粗粒材料的流体的尺寸比所需的产物和目标产品，用于选择性地收集所述流体中所含的对象，粗产物的过滤装置 一个预处理过滤器除去，和用于收集所述对象收集过滤器，所述前处理过滤器和收集过滤器中，流体已经通过预处理滤波器通过后，所述捕获 作为能够通过捕集过滤器，串联布置中，预处理滤波器包括具有多个通过两个主表面延伸的空隙的空隙排列结构具有一对彼此相对的主表面，所述过滤器装置 。

Patent Agency Ranking