公开(公告)号：CN107843343A

公开(公告)日：2018-03-27

申请号：CN201711177778.X

申请日：2017-11-23

Applicant: 长光卫星技术有限公司

Inventor： 钟兴 ,  苏志强 ,  李艳杰 ,  孟遥 ,  刘江

IPC: G01J3/447 ,  G01J3/28 ,  G01J4/04 ,  G01J4/00 ,  G02B13/06

CPC classification number: G01J3/447 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01J4/00 ,  G01J4/04 ,  G01J2003/2813 ,  G01J2003/2816 ,  G01J2003/2826 ,  G01J2004/001 ,  G02B13/06

Abstract: 本发明涉及一种基于单片面阵CMOS探测器的偏振多光谱航摄仪，由左至右依次包括：大视场光学成像系统、带通滤光片、偏振分光膜、面阵CMOS探测器以及电子学处理电路；其中：大视场光学系统，其由依次排列的15个球面透镜组成；面阵CMOS探测器，其用作焦平面阵列，通过CMOS探测器的开窗功能实现面阵器件代替线阵器件，进而提高焦平面组件的安装集成精度。本发明的基于单片面阵CMOS探测器的偏振多光谱航摄仪的系统视场可达到83.7°，同时有效地消除了畸变、色差，同时光路达到准像方远心，具有较高的成像质量。

公开(公告)号：CN107748009A

公开(公告)日：2018-03-02

申请号：CN201711012750.0

申请日：2017-10-26

Applicant: 邱卓然

Inventor： 邱卓然 ,  邱守义

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/45

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/45 ,  G01J2003/451

Abstract: 本发明公开了一种基于矩形光栅色散剪切的干涉成像光谱装置及其探测方法，包括沿光路依次放置的前端光学系统、滤光片、双矩形光栅剪切器、后端成像物镜、面阵探测器和信号处理系统。探测目标各点的光束进入前端光学系统，形成准直光束；准直光束经过滤光片，探测波段内光束随后进入双矩形光栅剪切器，准直光束被横向色散剪切；随后剪切光束经过后端成像物镜成像在面阵探测器的靶面上，获取携带有干涉条纹的目标场景的二维图像；通过旋转双矩形光栅剪切器或者整个系统获取目标场景中各点的干涉条纹，信号处理系统通过傅里叶变换等数学运算处理得到特定谱段内高分辨率的光谱信号。本发明结构简单、紧凑、体积小。

公开(公告)号：CN104748845B

公开(公告)日：2018-02-09

申请号：CN201410818324.6

申请日：2014-12-24

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 赵丹俊 ,  多津田哲男 ,  荒崎真一

IPC: G01J3/00

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/027 ,  G01J3/26 ,  G01J3/42

Abstract: 本发明涉及光学模块、电子设备及光学模块的驱动方法。分光测量装置具备：波长可变干涉滤波器，从入射光选择规定的波长的光，且能变更出射的出射光的波长；滚动快门方式的摄像元件，具有利用曝光存储电荷的像素，并按每个由多个所述像素构成的像素块延迟规定时间地实施受光处理而构成一帧，所述受光处理在受光期间向所述像素存储电荷，在所述受光期间后的非受光期间输出与存储的所述电荷相对应的检测信号；和分光控制单元(滤波器驱动部、最长驱动时间获取部及定时获取部)，控制波长可变干涉滤波器的出射光的波长变更驱动，分光控制单元在一帧中的最后实施受光处理的最终像素块的受光期间的结束定时开始波长变更驱动。

公开(公告)号：CN104813184B

公开(公告)日：2018-02-02

申请号：CN201380061353.6

申请日：2013-11-22

Applicant: 福瑞托-雷北美有限公司

Inventor： 里克·温德尔·巴耶玛 ,  威尔弗雷德·马塞尔林·鲍瑞格 ,  斯科特·费根 ,  桑蔡·兰格 ,  克尔温·布兰得利 ,  大卫·雷·沃伦

IPC: G01R33/58

CPC classification number: H04N17/002 ,  B07C5/3422 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/50 ,  G01J3/524 ,  G01N21/93

Abstract: 一种用于动态数字成像系统的校准系统和方法，该动态数字成像系统用于检测运动的产品流中的缺陷。该校准系统有一个位于输送单元上方的高架平台，用于接纳具有参考颜色的瓷砖。高架平台可使在下方输送单元表面上的待检验产品通过，以使得在图像获取期间可连续进行校准和再校准过程，而无需中断产品流。

公开(公告)号：CN104749765B

公开(公告)日：2018-01-12

申请号：CN201410815698.2

申请日：2014-12-24

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 赵丹俊 ,  多津田哲男 ,  荒崎真一

IPC: G02B26/00 ,  G01J3/00

CPC classification number: G01J3/027 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/26 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/32 ,  G01J2003/2826

Abstract: 本发明涉及光学模块、电子设备及光学模块的驱动方法。分光测量装置(1)具备：波长可变干涉滤波器(5)，从入射光选择规定的波长的光，且能变更出射的出射光的波长；摄像元件(11)，以全局快门方式利用出射光的曝光存储电荷，并输出与存储的电荷对应的检测信号；摄像元件控制单元(受光控制部(22))，设定使电荷存储到摄像元件(11)的受光期间、以及重置被存储的电荷的待机期间；以及分光控制单元(滤波器驱动部(21))，在波长可变干涉滤波器(5)中控制出射光的波长变更驱动，摄像元件控制单元将待机期间的长度设定为波长变更所需的驱动时间以上，分光控制单元在待机期间的开始时开始波长变更驱动。

公开(公告)号：CN107462329A

公开(公告)日：2017-12-12

申请号：CN201710631928.3

申请日：2017-07-28

Applicant: 合肥美亚光电技术股份有限公司

Inventor： 赵猛 ,  胡修稳 ,  刘宝莹 ,  张锋 ,  戚丽 ,  徐春风 ,  朱志祥

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01J3/02 ,  G02B27/10 ,  G02B27/12 ,  H04N5/372

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/027 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/2813 ,  G01J2003/2826 ,  G01J2003/425 ,  G02B27/1006 ,  G02B27/1086 ,  G02B27/126 ,  H04N5/372

Abstract: 本发明公开了一种多光谱相机、多光谱成像装置及控制方法。其中，多光谱成像装置包括：光学镜头，用于收集物料的反射光；入口狭缝，所述入口狭缝位于光学镜头的焦点处，以便所述反射光聚焦至入口狭缝；分光系统，用于将由入口狭缝入射的反射光分为多束单色光；面阵传感器，用于接收多束单色光；传感器读出电路，用于控制面阵传感器的曝光时间、并通过调节面阵传感器的控制时序以实现面阵传感器的波段合并以及波段选择。本发明的多光谱成像装置具有波段任意分隔，多波段同时曝光，且扫描速度快的优点，尤其适合用于在线物质的分类。

公开(公告)号：CN107250742A

公开(公告)日：2017-10-13

申请号：CN201580075811.0

申请日：2015-02-09

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 军司昌秀 ,  野田阳 ,  大竹健介

IPC: G01J3/36

CPC classification number: G01J3/36 ,  G01J3/12 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/42

Abstract: 本发明的课题在于，在用多个受光元件接收各波长的光的情况下减轻入射到各受光元件的杂散光的影响。本发明所涉及的多通道分光光度计将来自试样的光导入分光元件(16)，对通过由该分光元件(16)进行波长色散所得到的波长色散光进行同时检测，该多通道分光光度计具备：多通道型检测器(17)，其具备沿所述分光元件(16)的波长色散方向一维状地配置的多个受光元件(PD)；光量计算部(221)，其根据多个受光元件(PD)的检测信号来计算波长色散光的光量；光谱制作部(222)，其根据由该光量计算部(221)计算出的光量来制作表示波长与光量的关系的光谱；以及运算部(224)，其根据光谱估计入射到各受光元件(PD)的杂散光的光量，从入射到各受光元件的波长色散光的光量减去该杂散光的光量来校正所述光谱。

公开(公告)号：CN107005664A

公开(公告)日：2017-08-01

申请号：CN201580063631.0

申请日：2015-07-08

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 广濑龙太 ,  柄泽朋宏 ,  富永秀树

IPC: H04N5/369 ,  G01J1/42 ,  G01J1/46 ,  H04N5/357 ,  H04N5/374

CPC classification number: G01J1/46 ,  G01J3/2803 ,  G01J2001/446 ,  H04N5/3575 ,  H04N5/3741 ,  H04N5/37457 ,  H04N5/378

Abstract: 本发明提供一种光检测器(10)，其特征在于，包括：光电转换元件(101)，其在构成1像素的像素区域(11)内配置有多个；所述多个检测电路(14)，它们对应于所述多个光电转换元件(101)中的各方而各设置有1个，且分别具有电容器(102)；以及信号处理部(19)，其将来自所述多个检测电路(14)的输出信号相加。

公开(公告)号：CN106932097A

公开(公告)日：2017-07-07

申请号：CN201710080092.2

申请日：2017-02-15

Applicant: 南京华图信息技术有限公司

Inventor： 张天序

IPC: G01J3/28

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01V8/10

Abstract: 本发明公开了一种双波段成像关联全光谱测谱的弱目标探测装置与方法，其装置包括紫外可见光及红外光学窗口、大视场二维扫描转镜、共口径主光学系统、红外成像成谱光学子系统模块、可见及近红外成像成谱光学子系统模块、紫外成谱光学子系统模块、中波红外大视场探测器、中波红外中视场探测器、红外非成像宽光谱测谱单元、可见近红外大视场探测器、可见近红外中视场探测器、可见近红外光谱测谱单元，紫外测谱单元、多模态协同信息处理与控制模块、控制模块及伺服系统；其方法通过滤除目标背景光场，对畸变目标辐射场多维度信息进行多尺度耦合匹配，将不同尺度的目标探测信息综合利用，达到精确目标检测、识别和信息反演的目的，解决了常规遥感探测不能探测弱目标的难题。

公开(公告)号：CN104296661B

公开(公告)日：2017-04-05

申请号：CN201410617422.3

申请日：2014-10-31

Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

Inventor： 刘阳 ,  许家林 ,  乔栋 ,  杨帆 ,  吴宏圣 ,  曾琪峰 ,  孙强 ,  尤佳

IPC: G01B11/00

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01D5/24476 ,  G01D5/34746 ,  G01J3/2803 ,  G01J2003/282

Abstract: 绝对式光栅尺绝对信号一致性校正方法，属于绝对式光栅尺测量领域，为克服光照强度不均匀、绝对编码刻线质量不高以及光电二极管阵列光电响应不均匀等导致最终输出的具有绝对位置的电信号不一致问题，该方法包括上位机通过存储器给绝对式光栅尺的光电二极管阵列的一致性校正结构的增益校正电路和偏置校正电路分别输入两组初始值；将n个光电二极管在m档光源偏置电流下经过一致性校正结构后输出的电压响应曲线进行直线性拟合；选取一条作为目标直线，并将剩余其他n‑1条响应直线向该目标响应直线拟合；全部直线取平均值；全部直线向该平均值移动；输出电压的响应直线的离散度满足要求为止及进行线性范围扩展，直到离散度和线性范围满足要求为止。