Plastic determination device
    204.
    发明专利
    Plastic determination device 审中-公开
    塑料测定装置

    公开(公告)号:JP2014106116A

    公开(公告)日:2014-06-09

    申请号:JP2012259243

    申请日:2012-11-28

    CPC classification number: G01N21/3563 G01J3/453

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a plastic determination device achieving the improvement of accuracy of performing the determination of the kind of plastic on determined plastic having a deformed shape at a place which light is made enter.SOLUTION: In a Fourier transform infrared spectrophotometer 3, the light from a light source 7 is made enter determined plastic 33 via an incident optical system 29, and a detector 27 detects the light from the determined plastic 33 via a light-receiving optical system 31. A plastic determination device 1 determines the kind of the determined plastic 33 on the basis of a detection result of the Fourier transform infrared spectrophotometer 3. A focal distance of the incident optical system 29 is shorter than that of the light-receiving optical system 31.

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种塑料测定装置,其在进入光的地方具有在具有变形形状的确定的塑料上进行塑料种类的确定的精度的提高。解决方案:在傅里叶变换红外分光光度计3 来自光源7的光通过入射光学系统29被制成确定的塑料33,并且检测器27经由光接收光学系统31检测来自确定的塑料33的光。塑料确定装置1确定种类 基于傅里叶变换红外分光光度计3的检测结果确定的塑料33。入射光学系统29的焦距比光接收光学系统31的焦距短。

    Compact spectrometer for two-dimensional sampling
    209.
    发明专利
    Compact spectrometer for two-dimensional sampling 审中-公开
    空值

    公开(公告)号:JP2011516847A

    公开(公告)日:2011-05-26

    申请号:JP2011502412

    申请日:2009-03-17

    Abstract: 本発明においては、ジオプタ(11)と、前記ジオプタ(11)において記録する記録手段(15,18)と、2つの干渉ビーム(F1,F2)から形成され、ジオプタ(11)の平面(x0y)においてインタフェログラム(12)の横断軸(0x)に沿って干渉ライン(13)を形成するインタフェログラムと、を有する分光器に関し、前記記録手段(15,18)は、前記インタフェログラム(12)の空間的分配を検出ように備えられた検出要素(19)のネットワークを有する分光器であって、検出要素(19)の前記ネットワーク(18)は二次元であり、前記記録手段(15,18)及び前記インタフェログラム(12)の少なくとも一部は、インタフェログラム(12)の横断軸(0x)に沿って互いに角度が付けられている、分光器について開示されている。 本発明はまた、2つの干渉ビーム(F1,F2)を出射する手段を有する分光イメージング装置と、分光器とに関する。

    Abstract translation: 本发明涉及一种包括屈光度(11)的光谱仪; 在来自两个干涉光束(F1,F2)的干涉图(12)的所述屈光度(11)的所述屈光度计(11)处的捕获装置(15,18),并沿着干涉图(12)的横轴(Ox)形成干涉线 屈光度计(11)的平面(xOy),所述捕获装置(15,18)包括检测元件(19)的网络(18),以便检测所述干涉图(12)的空间分布,其特征在于所述 检测元件(19)的网络(18)是二维的,并且所述捕获装置(15,18)和所述干涉图(12)的至少一部分相对于彼此沿着横向轴线(Ox)倾斜, 的干涉图(12)。 本发明还涉及一种分光成像装置,包括用于发射两个干涉光束(F1,F2)的装置以及这种光谱仪。

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