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公开(公告)号：CN102879103B
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201210396106.9
申请日：2012-10-17
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01J4/04
Abstract: 一种偏振检测装置器件误差的校正方法，所述的偏振检测装置包括沿装置系统光轴依次设置的相位延迟器、检偏器和光电探测器，该光电探测器的输出接信号处理系统，斯托克斯参数为(1,1,0,0)的线偏振光入射至所述的偏振检测装置，设定检偏器透光轴角度为0度并进行第一次测量，得到归一化斯托克斯参数的第一次测量误差；设置检偏器透光轴角度为45度并进行第二次测量，得到归一化斯托克斯参数的第二次测量误差；求解偏振检测装置中相位延迟器的相位延迟量误差、快轴角度误差和检偏器的透光轴角度误差，从而实现误差校正。本发明在无需拆卸偏振检测装置器件的情况下，可测量偏振检测装置中的器件误差，进而实现器件误差的校正。
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公开(公告)号：CN102809431A
公开(公告)日：2012-12-05
申请号：CN201210249281.5
申请日：2012-07-18
Applicant: 西北工业大学
Abstract: 本发明涉及一种小型自动滤光片转轮多波段偏振成像系统，其特征在于包括双层滤光片转轮、三个CCD相机、电机系统、激光测距仪和计算机；三个CCD相机的前置设有偏振片，偏振片与被摄场景之间设有双层滤光片转轮，双层滤光片转轮受控于电机系统；三个CCD相机将摄取的图像输出至计算机进行处理，同时激光测距仪将测得的距离信号输出至计算机，计算机根据激光测距仪的信息，对图像几何校正和偏振图像计算得到的偏振多波段后，再发送信号给电机系统控制双层滤光片转轮的转动。通过控制电机转动快速获得图像，且系统还具有图像预处理、存储及通信功能，因此能达到稳定可靠工作、节省人力和财力的目的。
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公开(公告)号：CN101832819B
公开(公告)日：2011-08-10
申请号：CN201010157626.5
申请日：2010-04-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J4/04
Abstract: 双频激光的偏振非正交化角与偏振椭圆化角同步测量方法属于激光应用技术领域，该方法将被测双频激光通过偏振器形成光学拍频，并由光电探测电路转换为交流电信号，其幅度值由交流有效值转换电路和AD采集电路进行测量；旋转偏振器，通过测量拍频振幅的极大值和极小值，即可同时求解被测双频激光的偏振非正交化角和偏振椭圆化角。本方法基于完善的理论模型，综合考虑了双频激光的偏振非正交化和偏振椭圆化特性，对二者的测量是同步完成的，不存在理论上的测量误差；在技术上不需要对偏振器透光轴方位角度进行测量，避免了角度测量引入的测量误差，更容易实现高精度的测量。
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公开(公告)号：CN101995294A
公开(公告)日：2011-03-30
申请号：CN200910091918.0
申请日：2009-08-31
Applicant: 中国科学院电子学研究所 , 东莞市千安检测技术有限公司
IPC: G01J4/04
Abstract: 一种集成式选偏光探测器，包括：一电路板，该电路板上固定有光敏元件；一孔径光阑，设置在光敏元件的正前端，孔径光阑的窗口直径小于光敏元件窗口直径；电路板、光敏元件和孔径光阑呈叠压状地安装在屏蔽腔内；一偏振调节盖，位于孔径光阑前端并与屏蔽腔转动连接；偏振调节盖的中心处开设有通光窗口，通光窗口直径大于孔径光阑的直径；一偏振片，固定在偏振调节盖上的通光窗口位置；用于传输光敏元件产生的电信号的屏蔽导线通过屏蔽腔壁上开设的导线孔与电路板相连接。本发明的优点在于：集光敏元件、孔径光阑、偏振器于一体，使探测器体积小，功能多，抗干扰，操作方便，重复性好，测试精度高。
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公开(公告)号：CN101852614A
公开(公告)日：2010-10-06
申请号：CN201010203062.4
申请日：2010-06-10
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 本发明导航传感器的微型偏振光检测装置属于传感器设计领域，特别涉及了一种仿照昆虫复眼结构设计的导航传感器的微型偏振光检测装置。检测装置有三个通道，每个通道由两个单元组，共六个单元。每个单元都具有一个微型光栅和一个光电薄膜来模拟昆虫复眼的一种神经感杆。装置的底层为绝缘体上硅晶片有三层：基地硅、二氧化硅埋层和N型掺杂硅基底，六个单元建立在N型掺杂硅基底上。本发明具有结构简单，体积小，精度高等特点。通过这种方法得到的导航角度信息可靠性高，对环境的鲁棒性高，精度高，实时性高，可以用于要求较高的导航系统中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1811383A
公开(公告)日：2006-08-02
申请号：CN200510107399.4
申请日：2005-12-29
Applicant: 霍尼韦尔国际公司
Inventor： S·蒂克西尔
CPC classification number: G01B11/0641
Abstract: 提供一种分析薄膜特性的系统和方法，由此通过采用非偏振光和沿着MD和CD方向的线性偏振的光来测量透射或反射光谱中的干涉条纹以确定薄膜的共面双折射率。三种光谱可同时或顺序测量。当在生产线上连续制备膜时，该共面双折射率数据可用于描述透明聚合物膜的特性，该聚合物膜主要由双轴定位聚合物构成。
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公开(公告)号：CN1104640C
公开(公告)日：2003-04-02
申请号：CN97191902.X
申请日：1997-01-27
Applicant: 加里W·亚尼克
Inventor： 加里W·亚尼克
Abstract: 一种用于对样品溶液中旋光性分子化合物进行检测的改进型旋光度检测器包括：一激光二极管(12)并且利用一根光纤或透镜(14)来提高激光光束的质量，一频率为f的参考振荡器(18)，一第一偏振器(16)，一特制的流槽(20)，它可使其光学窗中的机械二次折射和泄漏达到最小，一第二偏振器(80)以及一经改进的检测装置(84)。该检测装置包括一个用于读出第一和第二信号的第一及第二光检测器，其中第一信号与通过第二偏振器的光相关，而第二信号则与第二偏振器的反射光相关。一补偿电路可对两信号进行低通滤波处理，它能将其中一个信号反相，并将此反相信号与另一个信号相加，然后它将对不需要的信号元素进行陷波处理以产生经补偿后的信号。该经补偿后的信号将与参考振荡器一起驱动锁相放大器，以读出频率为f的幅度调制信号。这个经补偿后的信号可以说明了样品的旋光度，并且还不受激光功率波动的影响。
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公开(公告)号：CN1099031C
公开(公告)日：2003-01-15
申请号：CN95102598.8
申请日：1995-10-27
Applicant: 日本钢管株式会社
Abstract: 本发明的表面缺陷检查方法是：使偏振光照射在被检查表面上，求其反射光的椭圆偏振光参数(ψ、Δ)；使光照射在与偏振光照射的同一部位，求其反射光强(I)；根据上述参数(ψ、Δ)和光强(I)，判定缺陷等级和种类。本发明的表面缺陷检测装置包括：使偏振光照射被检查表面，测定上述参数(ψ、Δ)的装置；使光照射与偏振光照射的同一部位，测定上述光强(I)的装置；特上述反射光的ψ、Δ、I的三维坐标位置划分成预定的范围并输出的装置。
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公开(公告)号：CN1219236A
公开(公告)日：1999-06-09
申请号：CN97194713.9
申请日：1997-03-19
Applicant: 利奥泰克有限公司
Inventor： J·M·密苏拉
CPC classification number: G01B11/065 , G01N21/211
Abstract: 利用光束偏振状态变化监视固体表面的等离子体反应(在刻蚀或淀积期间)。在等离子体处理期间衬底的物理参数将发生变化。所监视的光束表征了衬底表面组分的变化和与等离子体处理相关的组分变化。表面反射的光束通过采用椭偏仪测量术但是采用新计算方法的系统分析。光偏振状态的周期被用作参照点以实时监视表面情况。本发明还可以用于表面的定量和定性化学分析。
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公开(公告)号：CN119636217B
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202510163100.4
申请日：2025-02-14
Applicant: 南开大学
Abstract: 本发明涉及电致发光的光电器件技术领域，尤其涉及一种基于单个手性稀土配合物分子电致圆偏振发光的光电器件及其制备方法，该光电器件的自旋霍尔效应检测层包括铂薄膜和非磁性金属检测电极，非磁性金属检测电极设置于铂薄膜长度方向的侧缘；石墨烯点电极设置于绝缘层的上表面宽度方向的侧缘，分子异质结的两端分别通过酰胺键与石墨烯点电极连接形成石墨烯点电极‑分子异质结阵列，磁性金属电极设置于石墨烯点电极上表面宽度方向的外侧缘，该光电器件将稀土配合物优异的光电性能与分子电子学技术相结合，提高了光电器件在单分子层面的检测灵敏度，该制备方法反应条件温和、操作简单，有利于该光电器件的推广使用。
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