用于气体化合物的紫外光谱分析的装置

    公开(公告)号:CN102985805A

    公开(公告)日:2013-03-20

    申请号:CN201180025480.1

    申请日:2011-03-16

    Abstract: 本发明涉及一种用于气体化合物的紫外光谱分析的装置(20),包括:容纳样本气体的气流的测量通道(5);窗口(16),所述窗口(16)布置在测量通道(5)的第一端部(5a)处并且对于紫外辐射是可透射的;辐射源(11),所述辐射源(11)生成紫外辐射并且被布置为通过窗口(16)将辐射发射到测量通道(5)中;以及光谱仪(3),所述光谱仪(3)在测量通道(5)的第二相对端部(5b)处用于测量紫外辐射。本发明的特征在于所述光谱仪(3)设置有开口(12),其中测量通道(5)的第二端部(5b)朝向光谱仪(3)开放,以使得测量通道(5)和光谱仪(3)的内部经由所述开口(12)连通。光谱仪(3)填充有保护气体,所述保护气体被允许流过所述开口(12)并流入到测量通道(5)中。

    测定用光学系统、以及使用该光学系统的色彩亮度计及色彩计

    公开(公告)号:CN102859339A

    公开(公告)日:2013-01-02

    申请号:CN201180019549.X

    申请日:2011-03-15

    Inventor: 鹤谷克敏

    Abstract: 本发明提供测定用光学系统、以及使用该光学系统的色彩亮度计及色彩计。在本发明所涉及的测定探测器(40)中,利用第一扩散板(19)使测定光散射,当经由多个干涉膜滤光器(13A、14A、15A)而在多个受光传感器(13B、14B、15B)受光时,该光束经由第二扩散板(13C、14C、15C)而向各干涉膜滤光器(13A、14A、15A)入射。进而,这些干涉膜滤光器(13A、14A、15A)形成为,根据相对于朝向该干涉膜滤光器(13A、14A、15A)的入射光的入射角度的强度分布的条件,能够获得与测定参数对应的透过率特性。因此,本发明所涉及的测定探测器(40)能够使用干涉膜滤光器(13A、14A、15A),并能够降低基于其入射角度的对透过率特性的偏差的影响。

    分光特性取得装置、图像评价装置、以及图像形成装置

    公开(公告)号:CN102193197A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN201110066239.5

    申请日:2011-03-11

    CPC classification number: G01J3/02 G01J3/0205 G01J3/0229 G01J3/2803 G01J3/502

    Abstract: 本发明涉及分光特性取得装置、图像评价装置、以及图像形成装置。其目的在于提供取入光量偏差少且接受光量大的高精度分光特性取得装置。该分光特性取得装置包括光照射装置(1-102)和(1-103)、透镜阵列(1-104)、针孔阵列(1-105)、成像装置(1-106)、衍射装置(1-107)、受光装置(1-108)、以及将多个分光传感器按照单一方向排列成一列的分光传感器阵列,该分光传感器具有按单一方向排列且接受分光特性不同的光的规定数量的像素,透镜阵列的透镜与针孔阵列的开口部一对一对应形成,而且该透镜在其排列方向上的开口值NA与成像装置的最大有效像角度θmax之间满足NA>sin(θmax)关系。

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