SPECTROSCOPY APPARATUS AND METHODS
    212.
    发明申请
    SPECTROSCOPY APPARATUS AND METHODS 审中-公开
    光谱仪器和方法

    公开(公告)号:WO2015049494A1

    公开(公告)日:2015-04-09

    申请号:PCT/GB2014/052937

    申请日:2014-09-30

    Applicant: RENISHAW PLC

    Abstract: This invention concerns spectroscopy apparatus comprising a light source (101) arranged to generate a light profile (110) on a sample, a photodetector (103) having at least one photodetector element (104) for detecting characteristic light generated from interaction of the sample with light from the light source (101), a support (109) for supporting the sample, the support (109) movable relative to the light profile (110), and a processing unit (121). The processing unit (121) is arranged to associate a spectral value recorded by the photodetector element (104) at a particular time with a point on the sample predicted to have generated the characteristic light recorded by the photodetector element (104) at the particular time based on relative motion anticipated to have occurred between the support (109) and the light profile (110).

    Abstract translation: 本发明涉及光谱设备,其包括被布置成在样品上产生光谱(110)的光源(101),具有至少一个光电检测器元件(104)的光电检测器(103),用于检测由样品与 来自光源(101)的光,用于支撑样品的支撑件(109),可相对于光轮廓(110)移动的支撑件(109)和处理单元(121)。 处理单元(121)被布置为将由特定时间的光电检测器元件(104)记录的光谱值与预测在特定时间产生由光电检测器元件(104)记录的特征光的样品上的点相关联 基于预期在支撑件(109)和光轮廓(110)之间发生的相对运动。

    照明装置および反射特性測定装置
    213.
    发明申请
    照明装置および反射特性測定装置 审中-公开
    照明装置和反射特性测量装置

    公开(公告)号:WO2014192523A1

    公开(公告)日:2014-12-04

    申请号:PCT/JP2014/062633

    申请日:2014-05-12

    Inventor: 河野 利夫

    CPC classification number: G01J3/10 G01J3/021 G01J3/0237 G01J3/0289 G01J3/50

    Abstract:  本発明にかかる照明装置および反射特性測定装置は、任意の配光特性および任意のジオメトリに対応した次式(1);を用い、光源から放射された照明光のうち、この式(1)で表される仮想照明面の照度Eの照明角度変動αに対する偏微分∂E/∂αがα=0の場合に0となる条件を満たす放射角度φの放射光束を、仮想照明面に導光するように構成される。

    Abstract translation: 本发明的照明装置和反射特性测量装置被配置为使用对应于任何配光特性和任何几何形状的公式(1),并且将从光源照射的照明光中的辐射通量引导到 一个虚拟照明表面,所述辐射通量具有辐射角(&phgr),满足条件,当α= 0时部分微分(∂E/∂α)为0,所述偏微分相对于照射角波动(α) 由公式(1)表示的虚拟照明面的照明强度(E)。

    OPTICAL SPECTROMETER
    214.
    发明申请
    OPTICAL SPECTROMETER 审中-公开
    光学光谱仪

    公开(公告)号:WO2014083461A1

    公开(公告)日:2014-06-05

    申请号:PCT/IB2013/060010

    申请日:2013-11-08

    Abstract: An optical spectrometer 1 comprises a photodiode 2 and a straining mechanism 4 for imposing adjustable strain on the photodiode. The spectrometer 1 includes measurement apparatus 7 for measuring variation of photocurrent with strain at different values of the adjustable strain imposed by the straining mechanism 4. Adjusting the strain allows adjustment of the band gap E g of the photosensitive region of the photodiode 1, and this determines the cut-off energy for absorption of photons. Measuring variation of photocurrent with strain at different values of the adjustable strain imposed by the straining mechanism allows study of photons within a desired energy range of the band gap energy corresponding to each strain value.

    Abstract translation: 光谱仪1包括用于在光电二极管上施加可调应变的光电二极管2和应变机构4。 光谱仪1包括用于测量由应变机构4施加的可变应变的不同值的光电流变化的测量装置7.调节应变允许调节光电二极管1的感光区域的带隙E g,并且这 确定吸收光子的截止能量。 在应变机构施加的可调应变的不同值下测量光电流与应变的变化允许在对应于每个应变值的带隙能量的期望能量范围内研究光子。

    METHOD AND SYSTEM FOR SPECTRAL IMAGING
    215.
    发明申请
    METHOD AND SYSTEM FOR SPECTRAL IMAGING 审中-公开
    用于光谱成像的方法和系统

    公开(公告)号:WO2014064701A1

    公开(公告)日:2014-05-01

    申请号:PCT/IL2013050868

    申请日:2013-10-24

    Inventor: KATZIR NIR

    Abstract: A method of calibrating a spectral imaging system is disclosed. The spectral imaging system comprises an interferometer having a beam splitter and at least a first reflector and a second reflector. The method comprises: obtaining data pertaining to an interference pattern model, operating the spectral imaging system to provide an interference pattern of a received light beam, and varying a relative orientation between at least two of: the beam splitter, the first reflector and the second reflector, until the interference pattern of the input light beam substantially matches the interference pattern model.

    Abstract translation: 公开了一种校准光谱成像系统的方法。 光谱成像系统包括具有分束器和至少第一反射器和第二反射器的干涉仪。 该方法包括:获得与干涉图案模型相关的数据,操作光谱成像系统以提供接收光束的干涉图案,以及改变以下中的至少两个之间的相对取向:分束器,第一反射器和第二反射器 反射器,直到输入光束的干涉图案基本上与干涉图案模型相匹配。

    分光器及び顕微分光システム
    216.
    发明申请
    分光器及び顕微分光システム 审中-公开
    光谱和微观系统

    公开(公告)号:WO2013118666A1

    公开(公告)日:2013-08-15

    申请号:PCT/JP2013/052443

    申请日:2013-02-04

    Abstract:  角度依存素子である分光素子に対する蛍光の入射角度を変化させてこの分光素子の波長特性を変化させることにより、分光して検出する光の波長領域を変化させることができる分光器及び顕微分光システムを提供する。 顕微分光システム1に用いられる分光器40は、信号光を略平行光とするコリメート光学系41と、信号光の入射角度により分光する波長帯域が変化する分光素子42a,43aを少なくとも1枚含む分光光学系42,43と、分光光学系42,43で分光された信号光を検出する少なくとも1つの受光器44~46と、分光素子42a,43aに対する信号光の入射角度を変化させる機構(駆動ユニット54a~54d)と、信号光を分光する波長帯域に応じて、分光素子42a,43aに対する信号光の入射角度を決定し、当該入射角度になるように機構を制御する制御部50と、を有する。

    Abstract translation: 提供了一种能够通过改变相对于角度依赖的光谱元件的荧光入射角来改变光谱元件的波长特性来改变光谱分离和检测光的波长区域的分光镜和显微光谱系统。 在微观光谱系统(1)中使用的分光镜(40)具有:用于将信号光转换成基本上平行的光的准直光学系统(41) 分光光学系统(42,43),包括至少一个光谱元件(42a,43a),用于根据信号光的入射角度改变光谱分割的波长带; 至少一个光接收器(44-46),用于检测由分光光学系统(42,43)光谱分离的信号光; 用于改变信号光入射到光谱元件(42a,43a)上的角度的机构(驱动单元(54a-54d)); 以及控制器(50),用于根据信号光被光谱分离的波长带确定信号光入射到光谱元件(42a,43a)上的角度,并且控制该机构使得入射角 由此确定。

    一种低杂散光多色仪
    217.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2013107064A1

    公开(公告)日:2013-07-25

    申请号:PCT/CN2012/071093

    申请日:2012-02-14

    Inventor: 潘建根

    Abstract: 一种低杂散光多色仪,包括光学腔、入射狭缝(1)、色散系统(2)和阵列探测器(3),色散系统(2)的色散元件为光栅(2-2),阵列探测器(3)的光敏面与光栅(2-2)的主截面倾斜相交。通过改变多色仪内光学器件的相对位置,使阵列探测器(3)的光敏面上因发生非期望反射而产生的杂散光刚好被反射出期望光路,并在光学腔内壁,反射光斑投影的平面上安装消光的小光阑(4),从而大幅降低了杂散光。

    MIKROSKOP, INSBESONDERE LASER SCANNING MIKROSKOP
    219.
    发明申请
    MIKROSKOP, INSBESONDERE LASER SCANNING MIKROSKOP 审中-公开
    显微镜,尤其是激光扫描显微镜

    公开(公告)号:WO2010102767A1

    公开(公告)日:2010-09-16

    申请号:PCT/EP2010/001417

    申请日:2010-03-06

    Abstract: Mikroskop, insbesondere Laser Scannung Mikroskop, zur optischen Erfassung von in einer Probe angeregter Lichtstrahlung, mit einem Detektionsstrahlengang zur Detektion von Spektralanteilen der Lichtstrahlung in mehreren Detektionskanälen, wobei die Lichtstrahlung auf einen variablen Lang- oder Kurzpassfilter gelangt von dem reflektierte und / oder transmittierte Anteile mit einem Parallelversatz rückgespiegelt werden und diese nach mindestens einer solchen Rückreflektion auf einen Detektor gelangen.

    Abstract translation: 显微镜,特别是激光扫描显微镜激发在一个样本光辐射的光学检测,以用于在多个检测通道的检测的光辐射的光谱分量的检测光束路径,其中,所述光辐射到可变长或短通滤波器从反射和/或传送股经过与 平行偏移被复位,得到由该至少一个这样的反射回检测器反射。

    WAVELENGTH-TUNABLE SPECTROMETER AND WAVELENGTH TUNING METHOD THEREOF
    220.
    发明申请
    WAVELENGTH-TUNABLE SPECTROMETER AND WAVELENGTH TUNING METHOD THEREOF 审中-公开
    波长光谱仪和波长调谐方法

    公开(公告)号:WO2010027140A3

    公开(公告)日:2010-04-29

    申请号:PCT/KR2009003062

    申请日:2009-06-08

    Abstract: The present invention relates to a wavelength-tunable spectrometer for achieving optimum efficiency for the wavelength of applied light even without replacing a diffracting grating or operating an observation part, and to a wavelength tuning method thereof. To this end, a transmission-type diffracting plate is arranged to be rotatable to provide an incident light for achieving optimum efficiency for the light wavelength of an external source to be observed, and a mirror is arranged to provide light in the same output path irrespective of the rotation of the diffracting plate and the wavelength variation of the incident light, the diffraction angle of which might otherwise vary in accordance with the rotation of the transmission-type diffracting plate and the incident light wavelength. Whereby, the present invention acquires a spectrum of incident light at optimum diffraction efficiency according to the wavelength of the incident light even without moving a camera for observation or replacing a diffracting plate, thus reducing the size of the spectrometer, the cost thereof, and the possibility of the spectrometer breaking down.

    Abstract translation: 本发明涉及一种即使不替代衍射光栅或操作观察部分也能实现对所施加光的波长的最佳效率的波长可调光谱仪及其波长调谐方法。 为此,透射型衍射板被布置成可旋转以提供入射光,以实现待观察的外部光源的光波长的最佳效率,并且布置反射镜以在相同的输出路径中提供光 衍射板的旋转和入射光的波长变化的衍射角可以根据透射型衍射板的旋转和入射光波长而变化。 由此,本发明即使不移动用于观察或替换衍射板的照相机,也可以根据入射光的波长来获得最佳衍射效率的入射光谱,从而减小光谱仪的尺寸,成本和 光谱仪崩溃的可能性。

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