公开(公告)号：EP1019687A1

公开(公告)日：2000-07-19

申请号：EP98950088.9

申请日：1998-09-29

Applicant: EVOTEC BioSystems Aktiengesellschaft

Inventor： PALO, Kaupo

IPC: G01J3/457

CPC classification number: G01N21/6408 ,  G01J3/4406 ,  G01J3/457 ,  G01J2003/2866 ,  G01N15/14

Abstract: A method for characterizing samples having fluorescent particles, by monitoring fluctuating intensities of radiation emitted by said particles in at least one measurement volume, the monitoring being performed by at least one detection means, said method comprising the steps of: a) measuring in a repetitive mode a length of time intervals between photon counts, b) determining a function or a series of functions of the length of said time intervals, c) determining a function of at least one specific physical property of said particles on basis of said function or said series of functions of the length of time intervals, by finding a close fit between the experimentally determined and a theoretical function or series of functions of the length of said time intervals, the latter of which takes into account parameters of the spatial brightness function characteristic for the optical set-up.

公开(公告)号：EP0278976A4

公开(公告)日：1990-02-05

申请号：EP87905927

申请日：1987-08-27

Applicant: UNIV AUSTRALIAN

Inventor： STOILOVIC MILUTIN ,  WARRENER RONALD NORMAN

IPC: A61B5/1172 ,  G01J3/12 ,  G01J3/443 ,  G01N21/64 ,  G02B5/28 ,  G02B26/00 ,  G06K7/10 ,  G06K7/12 ,  G06T7/00 ,  G01J9/02 ,  A61B5/10 ,  G01J3/45 ,  G01J3/457 ,  G06K9/00

CPC classification number: G06K7/10831 ,  A61B5/1172 ,  G01J2003/1239 ,  G01J2003/1243 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/6417 ,  G01N2021/6439 ,  G06K7/10702 ,  G06K7/12

Abstract: In forensic science it may be necessary to distinguish between two photoluminescent sources which emit radiation at similar, but different, wavelengths, or to distinguish between reflected light from surface regions which reflect light at different characteristic wavelengths. Examples of such sources or surfaces are inks on documents and treated latent fingerprints. The prior art technique for distinguishing such sources or regions involves the systematic use of a large number of narrow band pass interference filters. The present invention uses a single interference filter (17, 14) which is tilted to alter the wavelength of the peak radiation transmitted by the filter. If photoluminescent sources are to be distinguished, the filter may be placed between the sources and a monitor (10) of their emitted radiation, or between an illumination lamp (13) and the sources. An angle of tilt of the filter is selected so that radiation from at least one source is rejected while the intensity of radiation from a wanted source is optimised. If a reflecting surface is to be distinguished, the tiltable filter (14) is positioned between an illumination lamp (13) and the surfaces and an angle of tilt is found so that the illuminating light has a wavelength equal to the characteristic reflecting wavelength of an unwanted surface, so that, to an observer, the unwanted surface merges with the background.

公开(公告)号：EP3992618B1

公开(公告)日：2024-09-11

申请号：EP21202516.7

申请日：2021-10-13

IPC: G01N21/65 ,  G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01N21/84 ,  G01J3/44 ,  G01J3/00 ,  G01N21/85 ,  G01N21/47 ,  B07C5/342 ,  B07C5/36 ,  G01J3/02 ,  G01J3/457

CPC classification number: G01N21/65 ,  G01N2021/859220130101 ,  G01N21/85 ,  G01J3/44 ,  G01N2021/84520130101 ,  G01N2021/473520130101 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/18 ,  B07C5/342 ,  B07C2501/001820130101 ,  B07C5/366 ,  G01J3/0218 ,  G01J2003/283620130101 ,  G01J3/457 ,  Y02W30/62

公开(公告)号：EP1616158B1

公开(公告)日：2016-04-13

申请号：EP04727848.6

申请日：2004-04-16

Applicant: Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V.

Inventor： KLINGENBERG, Hans, H. ,  FIX, Andreas ,  MAHNKE, Peter ,  LEMMERZ, Christian

IPC: G01J3/457

CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01J3/457 ,  G01N21/39 ,  G01N2021/1793 ,  G01N2021/3513 ,  G01N2021/392 ,  G01N2021/395 ,  G01N2021/399

公开(公告)号：EP2557412A4

公开(公告)日：2015-05-13

申请号：EP11766012

申请日：2011-04-08

Applicant: TOYOTA MOTOR CO LTD ,  NEC CORP

Inventor： KAWAMATA SHINYA ,  FUNAYAMA RYUJI ,  ISHI TSUTOMU ,  YOSHIKAWA YUMIKO

IPC: G01N21/27 ,  G01J1/42 ,  G01J3/457 ,  G06K9/00 ,  G08G1/16

CPC classification number: G01J3/457 ,  G01J1/4204 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/2823 ,  G06K9/00369 ,  G06K9/00791 ,  G06K9/00805 ,  G06K2009/00644 ,  G08G1/166

公开(公告)号：EP2557412A1

公开(公告)日：2013-02-13

申请号：EP11766012.6

申请日：2011-04-08

Applicant: Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha ,  NEC Corporation

Inventor： KAWAMATA, Shinya ,  FUNAYAMA, Ryuji ,  ISHI, Tsutomu ,  YOSHIKAWA, Yumiko

IPC: G01N21/27 ,  G01J3/457

CPC classification number: G01J3/457 ,  G01J1/4204 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/2823 ,  G06K9/00369 ,  G06K9/00791 ,  G06K9/00805 ,  G06K2009/00644 ,  G08G1/166

Abstract: A spectrometer (11) recognizes a measurement target on the basis of the spectral data set of observed light detected by a spectral sensor (14) capable of measuring wavelength information and light intensity information. The spectrometer is provided with a spectral data processor (16). Spectral data sets are detected at two different positions by the spectral sensor, and the processor subtracts a first spectral data set from a second spectral data set, or divides the first spectral data set by the second spectral data set to calculate one phase correlation spectral data set, which is correlated to the spectral data sets at the two different positions. The processor simultaneously identifies the measurement target corresponding to the two different positions on the basis of the correlation spectral data set.

Abstract translation: 光谱仪（11）基于能够测量波长信息和光强度信息的光谱传感器（14）检测的观察光的光谱数据集来识别测量对象。 光谱仪设有光谱数据处理器（16）。 通过光谱传感器在两个不同的位置检测光谱数据集，并且处理器从第二光谱数据集中减去第一光谱数据集，或者将第一光谱数据集除以第二光谱数据集，以计算一相位相关光谱数据 集合，其与两个不同位置处的光谱数据集相关。 处理器基于相关频谱数据集合同时识别与两个不同位置对应的测量目标。

公开(公告)号：EP2395332A1

公开(公告)日：2011-12-14

申请号：EP11169445.1

申请日：2011-06-10

Applicant: Yokogawa Electric Corporation

Inventor： Watari, Masahiro ,  Ozaki, Yukihiro

IPC: G01J3/457 ,  G01N21/35

CPC classification number: G01J3/457 ,  G01N21/359 ,  G01N21/552 ,  G01N21/8507 ,  G01N2021/3155 ,  G01N2021/3595

Abstract: A spectroscopic analyzer includes a first measurement section (40) which measures a spectrum of near-infrared region by irradiating a sample with near-infrared light, a second measurement section (30) which measures a spectrum of infrared region by irradiating the sample with infrared light, and an analysis section which analyzes characteristics of the sample using the spectra measured by the first and second measurement sections. The analysis section includes a first calculation module which acquires a integrated spectrum by combining the spectrum of near-infrared region and the spectrum of infrared region, a second calculation module which calculates a difference spectrum of a reference spectrum measured in advance and the integrated spectrum, and a third calculation module which calculates correlation between the spectrum of near-infrared region and the spectrum of infrared region by performing a two-dimensional correlation operation using the difference spectrum.

Abstract translation: 光谱分析仪包括通过用近红外光照射样品来测量近红外区域的光谱的第一测量部分（40），通过用红外线照射样品来测量红外区域的光谱的第二测量部分（30） 光和分析部分，其使用由第一和第二测量部分测量的光谱分析样品的特性。 分析部包括：第一计算模块，其通过组合近红外区域的光谱和红外区域的光谱来获取积分光谱，第二计算模块，其计算预先测量的参考光谱的差光谱和积分光谱， 以及第三计算模块，其通过使用差分光谱进行二维相关运算来计算近红外区域的光谱与红外区域的光谱之间的相关性。

公开(公告)号：EP2162709A2

公开(公告)日：2010-03-17

申请号：EP08714716.1

申请日：2008-03-03

Applicant: Synodon Inc.

Inventor： TOLTON, Boyd, T. ,  BANICA, Adrian ,  MILLER, Douglas, W. ,  TEIANU, Bogdan

IPC: G01J3/42 ,  G01J3/457 ,  G01N21/35

CPC classification number: G01J3/457 ,  G01N21/3518 ,  G01N2021/1793 ,  G01N2021/3531

Abstract: A method of detecting a target gas includes the step of traversing a target area with a gas-filter correlation radiometer having a field of view oriented towards the target area. The gas-filter correlation radiometer receives reflected radiation in a passband from the target area and produces gas-filter correlation radiometer signals from the received reflected radiation. A surface reflectivity spectral profile of the target area is determined. The presence of the target gas in the target area is then determined based upon the received reflected radiation and the surface reflectivity spectral profile of the target area.

公开(公告)号：EP1197736A3

公开(公告)日：2005-01-19

申请号：EP01250179.7

申请日：2001-05-21

Applicant: Forschungsverbund Berlin e.V.

Inventor： Grunwald, Rüdiger Dr. ,  Griebner, Uwe Dr. ,  Elsässer, Thomas Prof. Dr. ,  Kebbel, Volker ,  Jüptner, Werner Paul Otto Prof. Dr.-Ing. ,  Hartmann, Hans-Jürgen Dr.

IPC: G01J11/00 ,  G01J3/457 ,  H01S3/109 ,  G02B27/09

CPC classification number: G02B27/0977 ,  G01J11/00 ,  G02B27/09 ,  G02B27/0911 ,  H01S3/0014

Abstract: Die Erfindung betrifft Verfahren und eine Anordnung zur orts- und zeitaufgelösten Charakterisierung von ultrakurzen Laserimpulsen. Die Aufgabe der Erfindung, mit einem zugleich kompakten und einfachen Aufbau auf der Basis einer Korrelatortechnik eine zugleich orts- und zeitaufgelöste Messung der Intensität ultrakurzer Laserimpulse im Einzelschußbetrieb zu erzielen, wird dadurch gelöst, dass eine ortsaufgelöste nicht-kollineare Messung der Autokorrelationsfunktion erster oder höherer Ordnung mittels einer Matrix (2) aus strahlformenden Einzelelementen (2a) derart vorgenommen wird, dass eine örtliche Aufspaltung des Strahls (1) in eine Strahl-Matrix (3) aus konischen Teilstrahlen (3a) erfolgt, wobei jeder Teilstrahl die räumlich integrierte Information über die von ihm durchstrahlte Teilfläche der Matrix repräsentiert, die Ortsauflösung somit durch die Matrixgeometrie bestimmt wird und dass das durch jeden Teilstrahl in einer bestimmten, auf eine Matrixkamera abgebildeten Ebene im Raum erzeugte Interferenzmuster (5) eine Autokorrelationsfunktion erster Ordnung oder unter Ausnutzung nicht-linearer Wechselwirkungen in einem Kristall (6) entsprechend höherer Ordnung liefert, so dass Kohärenzzeit oder Impulsdauer von einzelnen Laserimpulsen oder Folgen mehrerer Laserimpulse als Funktion des Ortes bestimmt werden können.

公开(公告)号：EP1126257A3

公开(公告)日：2003-10-29

申请号：EP01102621.8

申请日：2001-02-07

Applicant: Leica Microsystems Heidelberg GmbH

Inventor： Engelhardt, Johann, Dr. ,  Hay, William C. ,  Hoffmann, Jürgen, Dr.

IPC: G01J3/32 ,  G02B21/00 ,  G01J3/36 ,  G01J3/457

CPC classification number: G02B21/0064 ,  G01J3/32

Abstract: Eine Vorrichtung zur Selektion und Detektion mindestens eines Spektralbereichs eines spektral aufgefächerten Lichtstrahls (1), vorzugsweise im Strahlengang eines konfokalen Rastermikroskops, wobei der aufgefächerte Lichtstrahl (1) in einer Fokallinie (2) fokussierbar ist, ist zur überlappungsfreien Detektion des spektral aufgefächerten Lichtstrahls der selektierten Spektralbereiche bei einer erhöhten Anzahl von Detektoren und einer fehlertoleranten Anordnung dadurch gekennzeichnet, dass im aufgefächerten Lichtstrahl (1) ein den Lichtstrahl zu einem Detektor (3) reflektierendes und/oder brechendes optisches Bauteil (4) angeordnet ist, dessen optisch wirksamer Bereich (4a) sich entlang der Oberfläche (4b) verkleinert oder vergrößert, so dass durch Ausrichtung des Bauteils (4) zur Fokallinie (2) und die sich daraus ergebende Überdeckung von Fokallinie (2) und Oberfläche (4b) der zum Detektor (3) gelangende Spektralbereich (5) definierbar ist.