公开(公告)号：CN102680094B

公开(公告)日：2015-12-16

申请号：CN201210071529.3

申请日：2012-03-16

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 中村纪元

IPC: G01J3/04 ,  G01J3/26

CPC classification number: G02B5/20 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/28 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/1226 ,  H01L27/1462 ,  H01L27/14623

Abstract: 本发明涉及分光传感器以及角度限制滤光器，所述角度限制滤光器包括：第一遮光层，其包含第一遮光性材料，且设置有第一开口部；第二遮光层，其包含第二遮光性材料，且位于至少部分包围第一遮光层的区域内；第三遮光层，其包含第一遮光性材料，且设置有至少部分与第一开口部重合的第二开口部，并且位于第一遮光层的上方；第四遮光层，其包含第二遮光性材料，并且位于至少部分包围第三遮光层的区域内且第二遮光层的上方。

公开(公告)号：CN105103027A

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201480016953.5

申请日：2014-02-18

Applicant: 赫普塔冈微光有限公司

Inventor： 马蒂亚斯·马卢克 ,  彼得·伦琴

IPC: G02B7/04 ,  G02B7/02 ,  G02B7/28 ,  G01J3/28 ,  G02C3/02 ,  G01N21/00

CPC classification number: G01M11/0235 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/28 ,  G01M11/0207 ,  G02B7/02 ,  G02B7/04 ,  G02B7/28 ,  G02B21/0064

Abstract: 本发明公开了识别光学系统的焦点的位置，在一些实施方案中，所述识别光学系统的焦点的位置包括使用传感器系统来检测通过所述光学系统的光，并且基于所述传感器系统的焦点的位置，确定所述光学系统的焦点的位置，所述传感器系统的所述焦点的所述位置基本匹配所述光学系统的所述焦点的所述位置。

公开(公告)号：CN105026902A

公开(公告)日：2015-11-04

申请号：CN201480012740.5

申请日：2014-02-13

Applicant: 西门子公司

Inventor： P.张 ,  L.蓝 ,  A.查克拉博尔蒂 ,  C.袁 ,  H.哈克施泰因

IPC: G01J3/28 ,  G01N33/24 ,  G01N21/35 ,  G01N33/22

CPC classification number: G01N33/222 ,  G01J3/28 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/359 ,  G01N2201/129

Abstract: 从由近红外光谱学（NIR）设备处理的样本而确定煤的性质，所述近红外光谱学设备生成依赖于波长的光谱。性质的目标值通过基于核的回归模型而与NIR光谱相关联，所述基于核的回归模型基于通过将核参数定义为在与光谱相关联的波长上的光滑函数而被扩展的各向异性核函数而从训练数据生成。像各向异性情况，每个波长相关的维度具有其自己的核参数。相邻维度被限制成具有类似的核参数。通过应用基于具有扩展数目的特征的光谱的训练数据的回归模型而重构具有有限数目的特征的测量的光谱。基于回归模型、通过移除离群值来修剪训练数据。

公开(公告)号：CN105008897A

公开(公告)日：2015-10-28

申请号：CN201480008675.9

申请日：2014-01-20

Applicant: 亚历山大·阿纳托利耶维奇·斯特罗加诺夫 ,  S·E·霍卢波夫 ,  P·V·皮迪里莫夫

Inventor： 亚历山大·阿纳托利耶维奇·斯特罗加诺夫 ,  S·E·霍卢波夫 ,  P·V·皮迪里莫夫

IPC: G01N21/31

CPC classification number: G01N21/0332 ,  G01J3/28 ,  G01N21/11 ,  G01N21/15 ,  G01N21/3103 ,  G01N21/714 ,  G01N21/74 ,  G01N33/0045

Abstract: 一种汞监控器，所述汞监控器包含样品输入单元、热雾化器、能够被加热的分析容器、气体收集器单元和排流激励器。所述容器可选地连接到原子吸收光谱仪，并且包含至少两个输出气体端口以及位于其中央部分的至少一个输入气体端口。排流激励器连接到所述样品输入单元，使得被分析的样品可以被引入所述热雾化器中，并且可以经由其馈送气体的孔设置在所述分析容器的主体的两侧上，位于开口和离所述开口最近的输出气体端口之间。

公开(公告)号：CN102297856B

公开(公告)日：2015-09-30

申请号：CN201010219542.X

申请日：2010-06-25

Applicant: 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

Inventor： 陈志强 ,  张丽 ,  李元景 ,  刘以农 ,  赵自然 ,  王红球 ,  俞冬梅 ,  盖洪峰 ,  李明亮

IPC: G01N21/65

CPC classification number: G01N21/65 ,  G01J3/28 ,  G01J3/44 ,  G01J3/4412 ,  G01N21/274 ,  G01N21/276

Abstract: 本发明涉及一种拉曼光谱检测系统，包括光源，用于发射激发被检物发出拉曼光的激发光；外光路系统，用于将光源发射的光照射到被检物上并收集被检物发出的拉曼光；光检测装置，用于接收外光路系统收集的拉曼光，并检测该拉曼光以获得该拉曼光的光谱数据；控制装置，用于控制所述激发光源提供所述激发光，控制光检测装置对拉曼光的检测，接收从光检测装置输出的光谱数据并对该光谱数据进行分析以识别所述被检物；以及自动校准装置，用于放置标准样品以用于自动校准该系统。本发明还涉及利用拉曼光谱检测系统对物体进行检测的方法，以及对拉曼光谱检测系统进行自动校准的方法。

公开(公告)号：CN104884935A

公开(公告)日：2015-09-02

申请号：CN201480003887.8

申请日：2014-06-19

Applicant: 罗斯蒙特分析公司

Inventor： 彼得·沙辛格

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/39 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/0202 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/28 ,  G01N21/15 ,  G01N21/39 ,  G02B7/1824 ,  G02B7/1825

Abstract: 提供了一种用于激光光谱系统(100)中的光学装置(212)的可调节座架(300)。可调节座架(300)包括被构造成用于安装到过程和反射器座架(230)的主体(232)，该座架具有被构造成用于安装光学装置(212)的特征。主体(232)和反射器座架(230)之间的界面(234)允许主体(232)和反射器座架(230)之间的相对运动。至少一个对准装置(220)被构造成用于接合反射器座架(230)与主体(232)，以相对于主体(232)固定反射器座架(230)的位置。光学装置(212)独立于对准装置(220)而被可移除地安装到反射器座架(230)，并且被密封到反射器座架(230)。

公开(公告)号：CN103217396B

公开(公告)日：2015-08-19

申请号：CN201310009169.9

申请日：2013-01-10

Applicant: 瓦克化学股份公司

Inventor： 汉斯·沃赫纳 ,  罗伯特·鲍曼

IPC: G01N21/3563 ,  G01N21/63 ,  C01B33/035

CPC classification number: G01J3/28 ,  C01B33/02 ,  C01B33/021 ,  C01B33/035 ,  C23C16/24 ,  C30B13/00 ,  G01N21/6489

Abstract: 本发明提供了用于测定多晶硅的表面污染的方法，包括以下步骤：a）在西门子反应器中，通过沉积作用提供两个多晶硅杆；b）在沉积作用之后立即测定所述两个杆中第一个的污染物；c）使第二杆通过一个或多个系统，其中进一步加工多晶硅杆从而给出杆片段或多晶硅片段，可选地进行清洁、存储或包装；d）然后测定第二个杆中的污染物；其中在第一和第二个杆中测定的污染物的差异给出由系统和系统环境产生的多晶硅的表面污染。

公开(公告)号：CN104819775A

公开(公告)日：2015-08-05

申请号：CN201510053734.0

申请日：2015-02-02

Applicant: 比尔克特韦尔克有限公司

Inventor： 马丁·嘉宝 ,  克里斯托夫·肖勒

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/18 ,  G01J3/04 ,  G01N21/31

CPC classification number: G01J3/28 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/04 ,  G01J3/18 ,  G01J2003/2866 ,  G01N21/255 ,  G01N21/85 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/068

Abstract: 一种分光计，特别用于构建在流体-分析系统的传感器模块(18)中，包括辐射源以及下述的限定光程或沿着光程布置的组件：用于待检查的流体的样品空间(26)，第一透镜(44)，衍射件(48)，第二透镜(50)，以及探测器(52)。在样品空间(26)与衍射件(48)之间设置限制孔径(46)，用于限制撞击到衍射件(48)上的射线束的有效直径。

公开(公告)号：CN104769418A

公开(公告)日：2015-07-08

申请号：CN201380043374.5

申请日：2013-06-19

Applicant: 克莱因医学有限公司

Inventor： R·A·辛普金 ,  D·P·克劳塞 ,  B·J·史密斯

IPC: G01N21/62 ,  G01N21/17

CPC classification number: G01J3/108 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/28 ,  G01N21/274 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/359 ,  G01N2201/0691

Abstract: 一种用于识别或验证或以其它方式表征样本的方法和分析仪，所述方法和分析仪包括：使用或具有在样本发射至少一个光束中的电磁辐射的电磁辐射源，所述电磁辐射包括至少两个不同的波长；使用或具有检测因受所述样本影响的发射的电磁辐射导致的受影响电磁辐射并且提供代表检测的受影响辐射的输出的样本检测器；使用或具有用所述输出确定样本系数，并且使用所述样本系数和从训练样本确定的训练系数来识别或验证或以其它方式表征所述样本，其中所述系数降低了对样本保持器变化的敏感度和/或与浓度无关。

公开(公告)号：CN102834702B

公开(公告)日：2015-04-08

申请号：CN201180016678.3

申请日：2011-03-16

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 能野隆文 ,  柴山胜己

IPC: G01J3/24

CPC classification number: G01J3/28 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/18

Abstract: 在分光模块（1）中，因为除了分光部（4）和光检测元件（5）之外还设有分光部（8）和光检测元件（9），所以相对于宽波长范围的光和不同波长范围的光能够提高检测灵敏度。再有，因为将光通过孔（5b）以及光吸收层（12）设置于光检测部（5a）与光检测部（9a）之间，并以与该光吸收层（12）（即区域（R））相对的方式设置反射部（7），所以能够防止大型化。另外，环境光（ambient light）（La）被光吸收层（12）吸收。于是，即使使环境光（La）的一部分透过光吸收层（12）的区域（R），由于该一部分的光由以与区域（R）相对的方式设置的反射部（7）而被反射到区域（R）侧，所以也能够抑制起因于环境光（La）的入射的杂散光的发生。