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    MIKROSKOP
    232.
    发明申请
    MIKROSKOP 审中-公开
    显微镜

    公开(公告)号：WO2014009080A1

    公开(公告)日：2014-01-16

    申请号：PCT/EP2013/061999

    申请日：2013-06-11

    Applicant: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH

    Inventor： LIPPERT, Helmut ,  KALKBRENNER, Thomas ,  KLEPPE, Ingo ,  WOLLESCHENSKY, Ralf

    IPC: G02B21/06 ,  G02B21/16 ,  G02B21/36

    CPC classification number: G01N21/6458 ,  G01N2021/6463 ,  G01N2201/02 ,  G01N2201/06113 ,  G02B21/0032 ,  G02B21/0048 ,  G02B21/0076 ,  G02B21/008 ,  G02B21/06 ,  G02B21/16 ,  G02B21/26 ,  G02B21/367

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, welches einen Probentisch mit einer Tischfläche in einer Tischebene in einem von Null verschiedenen Winkel zu einer optischen Achse (Z) umfasst, wobei auf dem Probentisch auf einem Probenträger (3) eine Probe (1) gelagert ist. Das Mikroskop umfasst einen Anregungsstrahlengang (4), über den die Probe (1) mit Anregungslicht beleuchtet wird, sowie einen Detektionsstrahlengang (5), über den von der Probe (1) kommendes Detektionslicht auf Detektionsmittel gelenkt wird. Entlang der optischen Achse (Z) ist ein Objektiv (7) angeordnet, durch welches Anregungslicht in Richtung des Probenträgers (3) und von der Probe (1) kommendes Detektionslicht in Richtung der Detektionsmittel geleitet wird. Das Mikroskop umfasst weiter Strahlteilungsmittel zur Trennung von Anregungslicht und Detektionslicht, Mittel zur Erzeugung eines Lichtblatts aus Anregungslicht sowie Mittel zur Beleuchtung der Probe (1) mit diesem Lichtblatt, wobei das Lichtblatt in einer Ebene liegt, die mit der optischen Achse (Z) einen von Null verschiedenen Winkel einschließt. Bei einem solchen Mikroskop umfassen die Mittel zur Beleuchtung der Probe (1) mindestens ein optisches Umlenkmittel, welches auf oder am Probenträger (3) angeordnet ist und vom Objektiv (7) kommendes Anregungslicht mittels mindestens einer optisch wirksamen Fläche in die Ebene des Lichtblatts umlenkend ausgestaltet ist.

    Abstract translation: 本发明涉及一种包括具有在一个非零角度表中的一个平面上的表面与光轴（Z）的样品台的显微镜，安装在试样台上，所述样品载体（3）上的样品（1）。 该显微镜包括激发光束路径（4），通过该样品（1）与激发光照射，和（5），通过该样品（1）来检测光引导至检测单元的检测光束路径装置。 沿光轴（Z），透镜（7）被布置，通过它在样品载体的方向上的激励光（3）和所述样品的（1）来检测光被引向检测装置。 该显微镜还包括束分离装置，用于分离激发光和检测光的装置，用于产生激励光的光片，以及用于与该光片照射所述样品（1），所述光片位于一个平面与光轴（Z）中的一个 包括非零角度。 在这样的显微镜，用于照射所述样品的装置（1）包括至少一个光学偏转装置，其被布置在或在样品载体（3）和透镜（7）来通过至少一个光学有效表面的光片的平面配置激发光umlenkend 是。

    MÉTHODE ET DISPOSITIF DE MESURE DE PLANÉITÉ D'UN PRODUIT MÉTALLIQUE
    233.
    发明申请
    MÉTHODE ET DISPOSITIF DE MESURE DE PLANÉITÉ D'UN PRODUIT MÉTALLIQUE 审中-公开
    用于测量金属产品的平面度的方法和装置

    公开(公告)号：WO2013150075A1

    公开(公告)日：2013-10-10

    申请号：PCT/EP2013/057035

    申请日：2013-04-03

    Applicant: SIEMENS VAI METALS TECHNOLOGIES GMBH

    Inventor： DOREL, Laurent

    IPC: G01B11/30 ,  G01N21/89

    CPC classification number: G01B11/303 ,  G01B11/2522 ,  G01B11/306 ,  G01N21/86 ,  G01N21/8901 ,  G01N21/8914 ,  G01N21/892 ,  G01N2021/8918 ,  G01N2201/02 ,  G01N2201/06113

    Abstract: Une méthode de mesure de planéité d'un produit métallique et un dispositif associé sont présentés. Ladite méthode s'applique à un produit métallique, sous forme soit d'une bande soit d'une plaque d'une ligne de traitement métallurgique, ledit produit à mesurer étant par défaut libre de traction externe, et comprend principalement les étapes suivantes : a) illuminer sous intensité uniforme une portion d'au moins une face dudit produit; b) réaliser une capture d'image d'une ligne lumineuse de la portion illuminée, c) déplacer relativement la portion illuminée et la ligne lumineuse par rapport au produit selon une direction définie; d) réitérer les étapes a), b), c); e) collecter les images de lignes sous une répartition bidimensionnelle d'intensités et sélectionner une direction de brin du produit sous laquelle si au moins une onde des intensités est détectée, une variation d'amplitude locale de ladite onde délivre une valeur de défaut local de planéité du brin.

    Abstract translation: 提出了一种用于测量金属产品和相关装置的平坦度的方法。 所述方法适用于冶金加工生产线上的带状或板状的金属制品，所述待测产品默认为无外部牵引力，主要包括以下步骤：a）照明 所述产品的至少一个面的一部分在均匀的强度下; b）拍摄照明部分的光线的图像，c）相对于产品沿着确定的方向相对地移动被照亮部分和光线; d）重复步骤a），b）和c）; e）以强度的二维分布收集线的图像并选择产品的股线方向，其中如果检测到至少一个波强，则所述波的局部幅度变化传递局部股线平坦度缺陷值。

    太陽電池セルの検査装置および太陽電池セルの処理装置
    234.
    发明申请
    太陽電池セルの検査装置および太陽電池セルの処理装置 审中-公开
    太阳能电池检测装置和太阳能电池处理装置

    公开(公告)号：WO2013118296A1

    公开(公告)日：2013-08-15

    申请号：PCT/JP2012/053128

    申请日：2012-02-10

    Applicant: 株式会社島津製作所 ,  高見 芳夫

    Inventor： 高見　芳夫

    IPC: G01N21/88 ,  G01M11/00 ,  G01N21/894 ,  H01L31/04

    CPC classification number: G01N21/8803 ,  G01M11/00 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/894 ,  G01N21/9501 ,  G01N21/9505 ,  G01N2201/02 ,  G01N2201/04 ,  G01N2201/061 ,  H01L31/18 ,  H02S50/10

    Abstract: 　太陽電池セル１００の検査装置１は、可視光を照射する可視光源１１と、太陽電池セル１００の反射防止膜において反射した反射画像を測定するＣＣＤカメラ１５と、太陽電池セル１００に赤外光を照射する赤外光源１３と、太陽電池セル１００を透過した透過画像を測定するＣＣＤカメラ１６とを備える。この検査装置１においては、反射画像と透過画像とを比較し、反射画像において明点となった領域のうち、透過画像において暗点となった領域をパーティクルを含む領域である判定するとともに、反射画像において明点となった領域のうち、パーティクルを含む領域と判定された領域以外のピンホールを含む領域であると判定する。

    Abstract translation: 一种太阳能电池（100）检查装置（1），具备：用于发出可见光的可见光源（11） 用于测量由太阳能电池（100）的抗反射膜反射的反射图像的CCD照相机（15）; 用于将红外光发射到太阳能电池（100）上的红外光源（13）; 以及用于测量通过太阳能电池（100）传输的透射图像的CCD照相机（16）。 在该检查装置（1）中，比较反射图像和透射图像，并且从表示反射图像中的亮点的区域中的表示发送图像中的暗点的区域被确定为包括粒子的区域，并且 从代表反射图像中的亮点的区域之外的区域被确定为包括针孔的区域。

    PUCE MICROSTRUCTURÉE POUR ANALYSE PAR RÉSONANCE DES PLASMONS DE SURFACE, DISPOSITIF D'ANALYSE COMPRENANT LADITE PUCE MICROSTRUCTURÉE ET UTILISATION DUDIT DISPOSITIF
    235.
    发明申请
    PUCE MICROSTRUCTURÉE POUR ANALYSE PAR RÉSONANCE DES PLASMONS DE SURFACE, DISPOSITIF D'ANALYSE COMPRENANT LADITE PUCE MICROSTRUCTURÉE ET UTILISATION DUDIT DISPOSITIF 审中-公开
    用于表面等离子体共振分析的微结构芯片，包含微结构芯片的分析装置和使用装置

    公开(公告)号：WO2013060988A1

    公开(公告)日：2013-05-02

    申请号：PCT/FR2012/052451

    申请日：2012-10-25

    Applicant: MERCEY, Thibaut

    Inventor： MERCEY, Thibaut

    IPC: G01N21/55 ,  C12Q1/68 ,  G01N33/543 ,  G01N21/64

    CPC classification number: G01N33/54373 ,  G01N21/253 ,  G01N21/553 ,  G01N2201/02 ,  G01N2201/08 ,  G01N2469/00

    Abstract: La présente invention concerne une puce microstructurée pour analyse par résonance des plasmons de surface (SPR) se présentant sous la forme d'un solide constitué d'une base, d'une face supérieure dont au moins une partie est recouverte d'une couche métallique, et d'au moins une face latérale, caractérisée en ce que : la dite face supérieure (4; 44) est dotée d'au moins deux zones de taille micrométrique destinées à recevoir des espèces à analyser, parmi au moins une cavité et/ou au moins une protubérance (1; 11; 41; 51; 61); lesdites zones étant séparées les unes des autres par des surfaces planes; et au moins une desdites zones est différente des autres.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于表面等离子体共振（SPR）分析的微结构化芯片，其形式为：基体; 上表面，其至少一部分被金属层覆盖; 和至少一个侧表面。 该芯片的特征在于：上述上表面（4; 44）设置有至少两个微测距区域，用于从至少一个空腔和/或至少一个突起（1; 11; 41; 51; 61），所述区域通过平面表面彼此分离; 并且所述区域中的至少一个与其他区域不同。

    GASZELLE ZUR OPTISCHEN ANALYSE VON GASEN
    236.
    发明申请
    GASZELLE ZUR OPTISCHEN ANALYSE VON GASEN 审中-公开
    气室用于气体的光学分析

    公开(公告)号：WO2012066123A1

    公开(公告)日：2012-05-24

    申请号：PCT/EP2011/070462

    申请日：2011-11-18

    Applicant: KRAUSE, Sven ,  WANG, Yifei ,  SCHOMANN, Lars ,  MATZ, Gerhard ,  HARIG, Roland ,  EICHMANN, Jens

    Inventor： KRAUSE, Sven ,  WANG, Yifei ,  SCHOMANN, Lars ,  MATZ, Gerhard ,  HARIG, Roland ,  EICHMANN, Jens

    IPC: G01N21/03 ,  G01N21/11

    CPC classification number: G01J3/0267 ,  G01J3/021 ,  G01N21/031 ,  G01N21/11 ,  G01N2201/02

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine Messzelle für ein Gasanalyse-Spektrometer mit einem Innenraum (23) für ein zu analysierendes Gas (Probegas) und einem damit verbundenen Einlass (21) sowie Auslass (22). In deren Innenraum (23) ist ein durchquerender optischer Pfad für einen Messstrahl (14) gebildet. Erfindungsgemäß ist die Messzelle rohrförmig ausgebildet mit dem Einlass (21) und Auslass (22) an gegenüberliegenden Enden, und ihr Innenraum (23) weist eine sich über die Rohrlänge monoton verlaufende Querschnittsform auf mit einer Ovalität am Anfang, welche zum Ende hin verschwindet. Mit dieser speziellen Form kann ein schneller Gasaustausch und so eine hohe Dynamik erreicht werden, und zwar auch bei größeren Messzellen, die dank ihres langen optischen Wegs eine hohe Empfindlichkeit aufweisen. Die Erfindung kann damit zwei bisher gegensätzlich erscheinende Charakteristiken miteinander verknüpfen.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于具有内部空间（23），用于将待分析的气体（样品气体）的气体分析光谱仪和相关联的入口（21）和出口（22）的测量池。 在其内部（23）是通过对一个测量光束（14）的光路的交叉处形成。 根据本发明的测量池是管状的，具有在相对端上的入口（21）和出口（22），并且它们的内部空间（23）具有一个比单调延伸的横截面形状与在开始时的圆度，其消失在端部的管的长度。 用快速气体交换的这种特殊的形式，因此具有高的动态范围，可以实现，即使在具有高灵敏度由于其长的光路大测量细胞。 因此，本发明可以链接两个先前相反的特性一起出现。

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