Abstract:
제공된 분광학 시스템(500) 진공자외선 스펙트럼에서 동작한다. 보다 상세하게, 진공자외선 스펙트럼에서 반사율 측정법 기술들을 이용하는 시스템은 계측 응용물들을 위하여 준비된다. 정확하고 반복 가능한 측정을 보장하도록, 광학 경로(506,508)들의 환경은 광학 경로에서 존재할 수도 있는 가스들의 흡수 영향들을 제한하도록 제어된다. 여전히 발생할 수도 있는 흡수 영향을 설명하도록, 광 경로의 길이는 최소화된다. 흡수 영향을 추가적으로 설명하도록, 반사율 데이터가 상대 표준으로 참조된다. 반도체, 진공자외선, 심자외선, 반사율계,
Abstract:
An optic module for observing multi-wavelength light is provided to analyze a signal from an object effectively by splitting the signal using a mirror capable of varying the reflection angle at high speed and an optical signal detector. An optic module for observing multi-wavelength light comprises a mirror(110) capable of varying the reflection angle at high speed, an aperture(115) formed beneath the mirror, a first optical signal detector(120) for detecting an optical signal(125) from the signal reflected by the mirror, second optical signal detectors(130,140) for detecting optical signal in a first wavelength range and optical signal in the other wavelength ranges from the signal reflected by the mirror, a controller controlling the mirror, and a body(150) providing an optical path from the mirror to the first or second optical signal detector.
Abstract:
4밴드 이상의 다른 분광 감도 특성을 갖는 멀티 스펙트럼 화상 촬영 장치를, 결상 광학계(10)와 상기 결상 광학계에 의한 상의 광속을 복수로 분기하고, 분기된 각각의 광속을 각각의 분할 결상면(30a, 30b)에 다시 결상시키는 분기 광학계(12)와, 상기 분할 결상면에 결상 위치를 갖는 단일판 컬러 촬상 소자(16)를 포함하는 카메라부(14)에 의해 구성한다. 결상 광학계, 분할 결상면, 분기 광학계, 컬러 촬상 소자, 카메라부
Abstract:
장치 및 방법이 개시된다. 특히 적어도 하나의 제1 전자기 방사가 하나의 샘플에 제공되며, 또한 적어도 하나의 제2 전자기 방사가 비 반사 기준물에 제공될 수 있다. 제1 및/또는 제2 방사의 주파수는 시간에 따라 변한다. 상기 샘플로부터 복귀된 적어도 하나의 제3 방사와 상기 기준물로부터 복귀된 적어도 하나의 제4 방사 사이의 간섭이 검출된다. 또한 제1 전자기 방사 및/또는 제2 전자기 방사는 시간에 따라 변화하는 스펙트럼을 갖는다. 스펙트럼은 특정 시간에 다수의 주파수들을 가질 수 있다. 또한, 제1 편광 상태에서 제3 방사와 제4 방사 사이의 간섭 신호를 검출할 수 있다. 또한, 제1 편광 상태와는 다른 제2 편광 상태에서 제3 방사와 제4 방사 사이의 간섭 신호를 검출하는 것이 바람직하다. 제1 및/또는 제2 전자기 방사는 밀리 초당 100 테라 헤르츠 이상의 조정 속도에서 시간에 따라 사실상 연속적으로 변화하는 중심 주파수 스펙트럼을 가질 수 있다.
Abstract:
본 발명은 예컨대 생리적 혈액 값과 같은 측정 매체의 성분 또는 특성을 검출 및 모니터링하는 장치에 관한 것이다. 장치는 광대역 스펙트럼 측정광(2)을 발생시키고 측정 영역(3)에 대해 작용하는 광원(20)과, 측정 영역(3)에 의해 반사된 분석광(4)을 확산시키는 수단(9)을 포함한다. 장치는 확산광을 포착하는 센서 어레이(11)도 포함한다. 센서 어레이(11), 광원(20) 및 분석광(4) 확산 수단은 하우징 내에 조밀한 유닛으로서 배치된다.
Abstract:
측정 장치(2)의 수광부는, 차단 필터(26)에 의해 차단되는 단파장측의 광에 대응한 위치에 배치된 수광 소자(4a)를 포함하고, 차단 필터(26)에 의해 차단되는 단파장측의 광에 대응한 위치에 배치된 수광 소자(4a)의 출력이 암전류 출력으로서 이용된다. 연산 회로(6)에는, 차단되는 단파장측의 광보다도 장파장측의 파장의 광에 대응한 위치에 배치된 각 수광 소자(4a)로부터의 측광 출력을, 암전류 출력을 이용하여 보정하는 보정 회로(30)가 설치되어 있다.