公开(公告)号：CN103181754A

公开(公告)日：2013-07-03

申请号：CN201310023430.0

申请日：2004-09-08

Applicant: 通用医疗公司

Inventor： 尹锡贤 ,  布雷特·尤金·鲍马 ,  吉列尔莫·J·蒂尔尼 ,  约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔

IPC: A61B5/00 ,  G02B27/48

CPC classification number: H01S5/5045 ,  A61B5/0059 ,  A61B5/0066 ,  A61B5/7257 ,  G01B9/02002 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02043 ,  G01B9/02075 ,  G01B9/02081 ,  G01B9/02083 ,  G01B9/02084 ,  G01B9/0209 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/45 ,  G01B2290/70 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/453 ,  G01J9/0215 ,  G01N21/4795 ,  G02B6/3604 ,  G02B26/12 ,  G02B27/48 ,  G02F1/093 ,  G02F1/11 ,  H01S3/0071 ,  H01S3/0078 ,  H01S3/08009 ,  H01S3/08063 ,  H01S3/105 ,  H01S3/1068 ,  H01S5/0071 ,  H01S5/0078 ,  H01S5/1025 ,  H01S5/14 ,  H01S5/141 ,  H01S5/146

Abstract: 提供了一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。具体而言，至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地，所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外，有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外，可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。

公开(公告)号：CN103124914A

公开(公告)日：2013-05-29

申请号：CN201180039490.0

申请日：2011-08-12

Applicant: 宾夕法尼亚州立大学研究基金会

Inventor： 刘志文 ,  杨川 ,  施可彬 ,  佩里·爱德华兹

IPC: G02B5/04

CPC classification number: B29D11/00769 ,  B29D11/00269 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/18 ,  G02B1/06 ,  G02B3/08 ,  G02B5/1814 ,  G02B27/4244

Abstract: 本发明的具体实现提供了一种被称为“G-Fresnel”的可同时实现线性光栅和菲涅耳透镜功能的器件。我们使用PDMS软刻蚀技术已经制成了G-Fresnel器件。该器件已用三维表面轮廓测定法检验其质量。我们也通过光学特性表征确认了本器件同时聚焦和色散的双重功能。本G-Fresnel器件可以用于开发微型光谱仪以及新兴的各种光流体应用。我们也提供了用该衍射光学器件制作小型光谱仪的具体实现设计。理论模拟结果表明，毫米级大小的G-Fresnel器件的光谱分辨率可达到约1纳米。实验已经证明一个概念验证性G-Fresnel光谱仪可以达到亚纳米级的光谱分辨率。

公开(公告)号：CN103026191A

公开(公告)日：2013-04-03

申请号：CN201180035739.0

申请日：2011-07-14

Applicant: 第一太阳能有限公司

Inventor： 马库斯·E·贝克 ,  余明伦

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28 ,  G01J3/44 ,  G01N21/65

CPC classification number: H01L22/20 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/28 ,  G01J3/44 ,  G01J3/4412 ,  G01J5/0846 ,  G01N21/65 ,  G01N2201/1211 ,  H01L31/0322 ,  H01L31/18

Abstract: 温度调整光谱仪包括光源、温度传感器和光谱分析器。光源被够造成朝着处理室内的基板位置将光沿着光路引导通过第一透镜；光谱分析器被够造成接收从处理室中的基板位置处的基板上的样品区域中的材料样品处散射的光；温度测量装置被构造成测量位于处理室中的基板位置处的基板上的材料样品的温度。另外，由校准模块通过测量的温度来校正光谱以提供温度经调整的光谱。

公开(公告)号：CN102834702A

公开(公告)日：2012-12-19

申请号：CN201180016678.3

申请日：2011-03-16

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 能野隆文 ,  柴山胜己

IPC: G01J3/24

CPC classification number: G01J3/28 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/18

Abstract: 在分光模块（1）中，因为除了分光部（4）和光检测元件（5）之外还设有分光部（8）和光检测元件（9），所以相对于宽波长范围的光和不同波长范围的光能够提高检测灵敏度。再有，因为将光通过孔（5b）以及光吸收层（12）设置于光检测部（5a）与光检测部（9a）之间，并以与该光吸收层（12）（即区域（R））相对的方式设置反射部（7），所以能够防止大型化。另外，环境光（ambient light）（La）被光吸收层（12）吸收。于是，即使使环境光（La）的一部分透过光吸收层（12）的区域（R），由于该一部分的光由以与区域（R）相对的方式设置的反射部（7）而被反射到区域（R）侧，所以也能够抑制起因于环境光（La）的入射的杂散光的发生。

公开(公告)号：CN101995399B

公开(公告)日：2012-10-17

申请号：CN201010255284.0

申请日：2010-08-13

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 军司昌秀

IPC: G01N21/64 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01J3/4406 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/6417 ,  G01N2021/6467

Abstract: 本发明涉及荧光检测器，以改善样品浓度高时浓度和荧光强度之间关系的非线性，由此提高测量的动态范围。如果已知待测样品的浓度高，则使用在激励光(Lex)的通过方向上孔径(6b)短的光束限制单元(6)，使得仅从靠近激励光入射侧的区域发出的荧光被聚光透镜(7)会聚并导入荧光侧分光仪(4)且被检测。在这种情况下，因为从通过样品溶液(S)并且被样品溶液(S)强吸收的激励光之后的区域发出的荧光不反映在测量结果中，所以尽管荧光数量有所减小，但是浓度和荧光强度之间关系的线性得到改善，因而改善了在高浓度下的量化准确性。如果样品浓度低，则使用具有长度在激励光(Lex)的通过方向上长的孔径(6a)的光束限制单元(6)来改善灵敏度。

公开(公告)号：CN101542251B

公开(公告)日：2012-09-26

申请号：CN200880000509.9

申请日：2008-06-05

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  铃木智史 ,  伊藤将师

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291

Abstract: 本发明涉及一种分光器(1)，其具备：封装体(2)，其设有导光部(7)；分光模块(3)，其收容于封装体(2)内；以及支撑构件(29)，其配置于封装体(2)的内壁面上，用于支撑分光模块(3)。分光模块(3)具有使从导光部(7)入射的光透过的本体部(11)，和在本体部(11)的规定的面侧将透过本体部(11)的光分光的分光部(13)；且在分光部(13)与内壁面离开的状态下，分光模块3在规定的面被支撑构件(29)支撑。

公开(公告)号：CN102656431A

公开(公告)日：2012-09-05

申请号：CN201080058824.4

申请日：2010-12-13

Applicant: 莱布尼茨解析科学学院

Inventor： S.弗洛雷克 ,  H.贝克-罗斯 ,  M.奥克鲁斯

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/14

CPC classification number: G01J3/1809 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0235 ,  G01J3/14 ,  G01J3/2803 ,  G01J2003/1828

Abstract: 一种光谱仪布置（10），其包含有中阶梯光栅（18；46）以用于把入射到该光谱仪布置（10）中的射线在主散射方向上进行散射，以及散射布置（16；40）以用于把由入射到该光谱仪布置中的射线所生成的平行射束在横向散射方向上进行散射，其特征在于，该散射布置（16；40）构造为反射性的，并关于该中阶梯光栅（18；46）如此来布置，使得该平行射束被反射到该中阶梯光栅的方向上。该中阶梯光栅（18；46）可以优选地如此来布置，使得被分散的射线被反射返回到该散射布置（16；40）的方向上。

公开(公告)号：CN102650668A

公开(公告)日：2012-08-29

申请号：CN201210149305.X

申请日：2012-05-15

Applicant: 孙临秋

Inventor： 孙临秋

IPC: G01R31/00

CPC classification number: G01J3/506 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0218

Abstract: 一种利用光纤作为传输介质的LED状态在线监测方法，先采用多根光纤直接分别采集和传输被监控设备的各个状态指示灯LED发出的光；再分析各根光纤传输来的光的光谱，得到各根光纤传来的相应LED发光颜色；然后把LED发光颜色和是否发光闪烁的状态信息与预置的被监控设备状态信息码进行比较，通过比较结果获知被监控设备的工作状态。实现该方法的装置包括，多根光纤、光颜色识别器和计算机；所述各根光纤的光信号输出端连接光颜色识别器的光信号输入端；光颜色识别器的电信号输出端连接计算机的信号输入端。本发明的技术先进性主要在于：首次利用光纤感应设备状态指示灯LED发出的光，对设备运行状态在线非介入式的监测，主动上报给监控软件。

公开(公告)号：CN102308199A

公开(公告)日：2012-01-04

申请号：CN201080006474.7

申请日：2010-01-07

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 横山一成

IPC: G01N21/27 ,  G01J3/18

CPC classification number: G01N21/31 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/1804 ,  G01J3/42 ,  G01N2021/0357

Abstract: 本发明提供一种可以得到高精度的测定结果的样品分析装置，该样品分析装置包括：样品池部(2)，构成多个池空间(S1)、(S2)；光源部(31)、(32)，向各池空间(S1)、(S2)照射相互不同波长范围的光；多个准直镜(61)、(62)，与各池空间(S1)、(S2)的每一个对应设置，使透射过池空间(S1)、(S2)的透射光成为平行光；衍射光栅(7)，对通过准直镜(61)、(62)成为了平行光的反射光进行分光；聚光镜(9)，对通过衍射光栅(7)分光后的光进行聚光；以及光检测器(10)，对通过聚光镜(9)聚集后的光进行检测。

公开(公告)号：CN102297721A

公开(公告)日：2011-12-28

申请号：CN201110133214.2

申请日：2011-05-23

Applicant: 北京智朗芯光科技有限公司

Inventor： 李国光 ,  刘涛 ,  艾迪格·基尼欧 ,  马铁中 ,  严晓浪

IPC: G01J3/44 ,  G01J3/02 ,  G01N21/55 ,  G02B27/28

CPC classification number: G01N21/211 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0224 ,  G01N21/21

Abstract: 本发明提供了一种易于调节聚焦的、可实现无色差的、可保持偏振特性的且结构简单的斜入射宽带光谱仪。该斜入射宽带光谱仪包含至少一个偏振器、至少一个曲面反射元件和至少两个平面反射元件。该斜入射宽带光谱仪利用平面反射元件改变光束传播方向，并且可补偿因反射聚光单元引起的偏振变化，使得光束经偏振器后的偏振特性在斜入射并会聚于样品表面时保持不变。本发明的斜入射宽带光谱仪能够高精确度地测量样品材料的光学常数、薄膜厚度和/或用于分析周期性结构的样品的临界尺度(CD)或三维形貌。