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    MINIATURSPEKTROMETER UND VERFAHREN ZUM SCHALTEN EINES MINIATURSPEKTROMETERS ZWISCHEN ABBILDUNGSMODUS UND SPEKTROMETERMODUS
    272.
    发明公开
    MINIATURSPEKTROMETER UND VERFAHREN ZUM SCHALTEN EINES MINIATURSPEKTROMETERS ZWISCHEN ABBILDUNGSMODUS UND SPEKTROMETERMODUS 审中-公开

    公开(公告)号：EP3411680A1

    公开(公告)日：2018-12-12

    申请号：EP16805831.1

    申请日：2016-12-05

    Applicant: Robert Bosch GmbH

    Inventor： HERRMANN, Ingo ,  HUSNIK, Martin ,  BAUMGART, Eugen ,  HUBER, Christian ,  STEIN, Benedikt

    IPC: G01J3/08 ,  G01J3/447 ,  G01J3/02

    CPC classification number: G01J3/447 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/027 ,  G01J3/08

    Abstract: The invention relates to a miniature spectrometer (10) for spectrometry and for image capture, comprising a detection unit (7) for detecting an optical parameter and an optical unit, comprising a polarizer (2), a Savart element (40), which comprises a first birefrigent element (4a) and a second birefrigent element (4b), and an analyzer (5), characterized in that a first liquid crystal element (3a) is arranged between the polarizer (2) and the Savart element (40), which is designed to adjust a fourth polarization axis (203) from a radiation (103) emitted from the first liquid crystal element such that, in an imaging mode of the miniature spectrometer (10), the radiation (103) emitted from the first liquid crystal element passes through the first birefrigent element (4a) without splitting and, in a spectrometer mode of the miniature spectrometer (10), the radiation (103) emitted from the first liquid crystal element is split in the first birefringent element (4a) into a first ordinary beam (500b) and a first extraordinary beam (500a) and wherein the analyzer (5) is arranged in the beam path behind the Savart element (40) and the detection unit (7) is arranged in the beam path behind the analyzer (5).

    MESSLICHTQUELLE UND MESSANORDNUNG ZUM ERFASSEN EINES REFLEXIONSSPEKTRUMS
    274.
    发明公开
    MESSLICHTQUELLE UND MESSANORDNUNG ZUM ERFASSEN EINES REFLEXIONSSPEKTRUMS 审中-公开
    测量光源和测量布置检测反射光谱

    公开(公告)号：EP3290904A2

    公开(公告)日：2018-03-07

    申请号：EP17185054.8

    申请日：2017-08-07

    Applicant: Carl Zeiss Spectroscopy GmbH

    Inventor： MARGRAF, Jörg ,  KEUNE, Thomas

    IPC: G01N21/25 ,  F21V7/04 ,  G01J3/02 ,  G01J3/08 ,  G01N21/47

    CPC classification number: G01J3/10 ,  F21V7/04 ,  F21V7/043 ,  G01J3/021 ,  G01J3/08 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/102 ,  G01J2003/425 ,  G01N21/255 ,  G01N21/4738 ,  G01N21/474 ,  G01N21/4785 ,  G01N21/55 ,  G01N21/57 ,  G01N2021/8411 ,  G01N2201/061

    Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft eine Messlichtquelle zum Erzeugen von Messlicht mit einer gleichmäßigen räumlichen Beleuchtungsstärkeverteilung. Die Messlichtquelle umfasst einen Hohlkörper (01) mit einer diffus reflektierenden Innenfläche. Im Hohlkörper (01) sind ein konkaver, hohlspiegelförmiger Beleuchtungsraum (04), ein rohrartiger Lichtformungsraum (06) und ein konkaver, hohlspiegelförmiger Lichtaustrittsraum (07) ausgebildet, die eine gemeinsame Achse (03) aufweisen. Im Beleuchtungsraum (04) ist eine Lichtquelle (08) zum Erzeugen von Licht zumindest teilweise angeordnet. Der Lichtaustrittsraum (07) weist einen Lichtaustritt (14) auf. Der Beleuchtungsraum (04) und der Lichtaustrittsraum (07) stehen sich mit ihren Hohlspiegelformen gegenüber und sind durch den rohrartigen Lichtformungsraum (06) verbunden. Erfindungsgemäß ist im Hohlkörper (01) eine diffus reflektierende Reflexionsscheibe (11) zum Reflektieren des von der im Lichtaustrittsraum (07) angeordneten Innenfläche des Hohlkörpers (01) reflektierten Lichtes durch den Lichtaustritt (14) nach außerhalb des Hohlkörpers (01) angeordnet. Im Weiteren betrifft die Erfindung eine Messanordnung zum Erfassen eines absoluten Reflexionsspektrums einer Probe und zum Durchführen einer Referenzmessung.

    Abstract translation: 本发明涉及用于产生具有均匀空间照度分布的测量光的测量光源。 测量光源包括具有漫反射内表面的空心体（01）。 在中空体（01）形成，凹，凹面镜状照明区域（04），管状光整形空间（06）和一个凹面，凹面反射镜形状的光出射空间（07），其具有一个共同的轴线（03）。 用于产生光的光源（08）至少部分地布置在照明空间（04）中。 光出射空间（07）具有光出口（14）。 所述照明腔室（04）和光出射面（07）彼此面对，它们的凹面镜形式和由管状的光成形空间（06）相连接。 漫反射反射板（11），用于通过在光出射空间反映排序（07）由光出射（14）与中空体（01）的外部反射的中空体（01）的光根据布置在所述中空体（01）本发明的内表面上。 此外，本发明涉及用于检测样品的绝对反射光谱并用于执行参考测量的测量装置。

    MESSANORDNUNG ZUR ORTSVERTEILTEN ERFASSUNG VON SPEKTREN
    275.
    发明公开
    MESSANORDNUNG ZUR ORTSVERTEILTEN ERFASSUNG VON SPEKTREN 审中-公开
    测量SPEKTREN检测的安排

    公开(公告)号：EP3239668A1

    公开(公告)日：2017-11-01

    申请号：EP17162710.2

    申请日：2017-03-24

    Applicant: NIR-Online GmbH

    Inventor： Qvarfort, Tomas ,  Eckert, Michael

    IPC: G01J3/02 ,  G01J3/08 ,  G08C15/06

    CPC classification number: G01J3/08 ,  G01J3/0275

    Abstract: Bekannte Messanordnungen zur ortsverteilten Erfassung von Spektren sehen ein zentral angeordnetes Spektrometer vor, mit welchem an verschiedenen Orten aufgestellte Messköpfe über Lichtwellenleiter kommunizieren. Hierbei stellen bei größeren Anlagen die Kosten der hierfür benötigten Lichtwellenleiter, die jeweils von einem Messkopf direkt zum Spektrometer verlegt werden müssen, eine große Investition dar. Die vorliegende Erfindung soll eine Möglichkeit vorstellen, diese Kosten erheblich zu reduzieren.
    Dies gelingt durch einen Messkopf mit einem Multiplexer, der eine Reihenschaltung mehrerer Messköpfe ermöglicht. Hierdurch kann eine parallele Führung von teueren Lichtwellenleitern vermieden werden und es wird vielmehr nur eine Verbindung von einem zum nächsten Messkopf von den Lichtwellenleitern zu überbrücken sein.

    Abstract translation: 用于空间分布式采集光谱的已知的测量安排提供一个居中布置的分光计，其传送与在各个位置通过光纤电缆测量头立起。 这里，对于较大的系统，这些要求，光纤电缆，其必须安装在每个测量头直接向光谱仪的成本，一个很大的投资表示。本发明的目的是提出一种方法来显著降低这些成本。 这是通过一个带多路复用器的测量头实现的，它可以串联多个测量头。 这能够避免昂贵的光学纤维的平行导向和它是相当只有一个链路是从一个桥接到光波导的下一个测量头。

    Optical-path-difference compensation mechanism for acquiring wave form signal of time-domain pulsed spectroscopy apparatus
    276.
    发明公开
    Optical-path-difference compensation mechanism for acquiring wave form signal of time-domain pulsed spectroscopy apparatus 审中-公开
    机制，用于检测光谱装置zeitbereichsgepulsten的波形信号补偿光程差

    公开(公告)号：EP2442093A3

    公开(公告)日：2017-03-15

    申请号：EP11192255.5

    申请日：2004-08-19

    Applicant: Japan Science and Technology Agency ,  IHI Corporation

    Inventor： Nishizawa, Seizi ,  Iwamoto, Toshiyuki

    IPC: G01N21/35 ,  G01J3/08 ,  G01N21/3586

    CPC classification number: G01J3/08 ,  G01N21/3586 ,  G01N2201/0696 ,  G01N2201/0698

    Abstract: It is an object to provide a time-domain pulsed spectroscopy apparatus in which time-domain pulsed spectroscopy of multiple samples, states thereof, and so on can be carried out easily and in a short period of time. A time-domain pulsed spectroscopy apparatus of the present invention comprises a pulsed laser light source; a splitting unit configured to split pulsed laser light from the pulsed laser light source into excitation pulsed laser light and detection pulsed laser light; a pulsed-light emitting unit; a detector; a sample holder configured to hold the sample; and sample-unit entrance and exit optical systems configured to guide the pulsed light from the pulsed-light emitting unit to the sample and to guide to the detector pulsed light reflected from or transmitted through the sample due to the irradiation; wherein the time-domain pulsed spectroscopy apparatus further comprises: at least one optical-path-length varying unit for setting a photometric range, disposed in an incident-side optical path from the splitting unit to the pulsed-light emitting unit and/or in a detection-side optical path from the splitting unit to the detector; and at least one optical delay unit for the wave form signal measurement, disposed in the incident-side optical path from the splitting unit to the pulsed-light emitting unit and/or in the detection-side optical path from the splitting unit to the detector.

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