集光ユニット、集光方法及び光検出システム
    283.
    发明专利
    集光ユニット、集光方法及び光検出システム 有权
    冷凝单元,冷凝的方法和光学检测系统

    公开(公告)号:JPWO2014065039A1

    公开(公告)日:2016-09-08

    申请号:JP2014543189

    申请日:2013-09-13

    Abstract: 【課題】より効率的に光を受光レンズに集光することを可能とする。【解決手段】頂部から底部に向かって側壁が広がるように湾曲する中空のドーム形状を有し、内面が鏡面である反射部材と、前記反射部材の外壁の周囲に配設され、前記外壁に設けられる第1の開口部を経て、前記頂部の照射領域に光を照射する、複数の光照射部材と、を備え、前記反射部材は、前記頂部の前記照射領域に形成される第2の開口部と、前記底部に、受光した光に対して所定の処理を施す受光ユニットの受光レンズと対向して形成される第3の開口部と、を有し、前記反射部材は、前記照射領域からの光の前記内面における反射光を、前記受光レンズに導光する、集光ユニットを提供する。【選択図】図2

    Abstract translation: 一种更有效的使人们有可能将光聚焦到光接收透镜。 A具有中空圆顶形弯曲到侧壁从顶部向底部变宽,反射部件的内表面是镜面,设置成围绕反射器部件的外壁上,在所述外壁提供 通过即,用于将光照射到所述顶部的照射区域中的第一开口部,多个所述光照射部件,其中,所述反射部件包括形成在第二开口的所述顶部的照射区域 如果,在底部,并形成为面对光接收单元的光接收透镜,用于将接收的光进行预定处理的第三开口,有一个,反射部件,从照射区域 反射的光在光引导到光接收透镜的内表面,提供一个光收集单元。 .The

    分光特性測定装置
    284.
    发明专利
    分光特性測定装置 有权
    分光特性测量装置

    公开(公告)号:JPWO2014054708A1

    公开(公告)日:2016-08-25

    申请号:JP2014539798

    申请日:2013-10-02

    Abstract: 本発明の分光特性測定装置は、被測定物の測定領域内に位置する複数の測定点からそれぞれ発せられた測定光束を第1の測定光束及び第2の測定光束に分割する分割光学系と、第1の測定光束及び第2の測定光束を干渉させる結像光学系と、第1の測定光束及び第2の測定光束の間に連続的な光路長差分布を与える光路長差付与手段と、干渉光の光強度分布を検出する検出部と、検出部で検出される干渉光の光強度分布に基づき、被測定物の測定点のインターフェログラムを求め、このインターフェログラムをフーリエ変換することによりスペクトルを取得する処理部と、被測定物と分割光学系の間に配置された、該分割光学系と共通の共役面を有する共役面結像光学系と、共役面に配置され複数の測定点から発せられた測定光束の間に周期性を付与する周期性付与手段と、を備える。

    Abstract translation: 本发明的分光特性测量装置包括用于分离从多个位于所述测量对象的测量区中的第一测量光束和第二测量光束的测量点发射的测量光束分裂光学系统, 用于使所述第一测量光束的干涉和第二测量光束,第一测量光束和所述光路长度差赋予手段赋予的第二测量光束束的连续光路长度差分布,干涉的成像光学系统 用于检测的光的光强度分布,基于由所述检测单元检测到的干涉光的光强度分布的检测器,获得所述物体的测量点的干涉,通过傅里叶变换干涉 用于获取光谱的处理单元,设置在所述分光光学系统与物体之间进行测量时,所述分束光学系统和具有共同共轭面的共轭面的成像光学系统中,多个测量点被布置在共轭的平面 赋予周期性从发射的测量光束 包括周期性分配意味着,在。

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