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公开(公告)号：CN109324227A
公开(公告)日：2019-02-12
申请号：CN201811380134.5
申请日：2018-11-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R23/165
Abstract: 本发明公开了一种畸变频谱测量装置和方法，解决现有装置和方法设备复杂、实时处理能力差的问题。一种畸变频谱测量装置，包含：隔直网络模块、频谱分析仪；所述隔直网络模块用于滤除机载直流供电信号中的直流分量，输出畸变谐波信号；所述频谱分析仪用于接收所述畸变谐波信号，测量畸变参数，所述畸变参数包含畸变幅度、畸变频率。一种畸变频谱测量方法，包含：对所述机载直流供电信号滤除直流分量；对所述畸变谐波信号进行测量，得到畸变参数。本发明对畸变信号的幅度和频谱具有较好的适应性和完整性。
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公开(公告)号：CN105527598A
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：CN201510956142.X
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提出一种场传感器校准系统和方法，解决校准区域小、场传感器对场分布影响大的问题。本发明的场传感器校准系统包含单锥体和平面体，构成一单锥体天线。所述单锥体从顶面至底面逐渐变细，侧面的旋转曲线形状为指数曲线。本发明的场传感器校准方法首先设置一单锥体天线，从顶面至底面逐渐变细，使得场传感器校准可使用的空间区域变大；在单锥体天线辐射的范围内定义一立方体校准区域，在该立方体的顶点及各边中点设置参考点，分别计算并比较有、无场传感器的情况下各参考点电场强度，得到场传感器对校准区域内部场分布的影响。本发明单锥体天线阻抗变换方法是指数变换形式，提高了场传感器的校准精度。
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公开(公告)号：CN105425185A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201510822733.8
申请日：2015-11-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种平面波幅性能直角坐标扫描校准系统，该系统包括接收天线、平面波输入模块、直角坐标扫描架、采集及处理模块；平面波输入模块，用于输入能够均匀照射在静区内的平面波信号；直角坐标扫描架，用于在静区中心截面十字线上进行水平极化和垂直极化方向移动；接收天线，安装在与平面波所在辐射场信号传播方向正交的直角坐标扫描架上，用于对静区内的平面波信号进行探测；采集及处理模块，用于采集来自所述接收天线测得的平面波信号，并计算得到所示平面波的幅度和相位信息。本发明所述技术方案，可计算得出测试频点或频段上在静区内的幅度和相位分布，实现对紧缩场静区平面波幅相特性测量校准的目的。
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公开(公告)号：CN104569960A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410800283.8
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S13/06
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明公开一种双站雷达目标特性测量同步散射点区域确定方法，包括在暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定发射天线和接收天线所在位置；以发射天线和接收天线所在位置作为焦点，分别以测试区中任意一点离发射天线和接收天线的距离之和的最大及最小值作为椭圆的长轴长度，在暗室中构建两个椭球面；两个椭球面及两椭球面之间的空间即为同步散射点区域。该方法可快速找到暗室内发射天线到同步散射点部位的距离与该部位到接收天线的距离之和与发射天线到待测目标的距离与待测目标到接收天线的距离之和相等的同步散射点最大区域。
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公开(公告)号：CN104569940A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410796710.X
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/41
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明公开一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点区域确定方法，在紧缩场暗室内建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置为圆心，分别以紧缩场馈源发射波经紧缩场反射面反射再直达处于测试区的待测目标的最远和最近的距离为半径在紧缩场暗室中构建两个圆球面；两个圆球面及两个圆球面之间的空间即为同步散射点区域。通过本发明方法可快速找到紧缩场内与待测目标散射信号同时到达紧缩场馈源的存在干扰作用的散射信号的同步散射点最大区域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104535858A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201410796746.8
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点区域确定方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和待测天线所在测试区内的离紧缩场反射面水平方向最近和最远的位置点作为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到测试区的距离的最小和最大值为长轴长度，在紧缩场暗室中构建两个椭球面；两个椭球面及两椭球面之间的空间即为同步反射点区域。通过对这些区域添加高性能的吸波材料或移去这些干扰反射源，减小这些区域反射对待测目标反射信号测量精度的影响。
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公开(公告)号：CN117538810A
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202311416251.3
申请日：2023-10-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/02
Abstract: 本申请公开了一种电磁兼容低频功率放大器校准装置，包括：信号发生器，用于按校准频率输出电压；音频耦合变压器，设置在被测功率放大器的输出端，用于连接负载电阻；数字电压表，用于获得所述负载电阻两端的电压值。本申请实施例还提出一种电磁兼容低频功率放大器校准方法，使用所述校准装置。本申请解决大功率低阻抗环境下不容易实现低频功率放大器性能评估的问题，特别是涉及一种用于电磁兼容CS101试验专用低频功率放大器的校准。
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公开(公告)号：CN116148531A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202211737334.8
申请日：2022-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明属于脉冲调制开关比的测量领域，具体涉及了一种CS114连续波模拟器的脉冲调制开关比测量方法、系统及设备，旨在解决现有技术测量不足，无法实现脉冲调制开关快速反复开启和关断时开关比测量的问题。本发明包括：设定CS114连续波模拟器参数，并通过示波器通道1和通道2分别获取CS114连续波模拟器脉冲调制输出高电平有效值和低电平有效值；基于所述高电平有效值和低电平有效值，计算CS114连续波模拟器的脉冲调制开关比，完成CS114连续波模拟器所有频率点的脉冲调制开关比测量。本发明可实现对CS114连续波模拟器快速开启和关断的脉冲调制开关比测量。
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公开(公告)号：CN116047389A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202211741065.2
申请日：2022-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本说明书公开了一种沉积静电放电电压脉冲校准装置、方法、电子设备，涉及电磁兼容领域，旨在为了解决常规静电放电模拟器校准方法无法适用于沉积静电试验设备的问题。本发明装置包括高压分压器、数字电压表；高压分压器包括串行连接的高压臂、低压臂；高压臂的输入端与放电棒尖锥结构的尖端电连接，低压臂的输出端接地；构成高压臂、低压臂的电阻外部均裹覆有屏蔽层；高压分压器的输入电阻大于沉积静电模拟器的最大放电电压与预设灵敏度电流的比值；数字电压表连接于低压臂的设定部位，用于获取沉积静电放电电压脉冲分压后的电压值。本发明可以准确有效的获取沉积静电模拟器在放电棒尖锥结构尖端的电压，从而得到准确有效的电压校准量。
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公开(公告)号：CN114384330A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202111662781.7
申请日：2021-12-31
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明涉及一种时域脉冲电连接器屏蔽效能测试系统及测试方法,所述测试系统包括：时域脉冲发生器、三同轴装置、第一隔离衰减器、第二隔离衰减器和示波器；所述时域脉冲发生器用于产生一个脉冲信号；所述时域脉冲发生器、所述第一隔离衰减器、所述第二隔离衰减器和所述示波器依次顺序连接；所述三同轴装置可拆卸的连接在所述第一隔离衰减器和所述第二隔离衰减器之间，所述三同轴装置用于测量所述第一隔离衰减器和所述第二隔离衰减器之间的被测电连接器的屏蔽效能，本发明解决了通过使用脉冲信号进行电连接器屏蔽效能的测量，通过一次脉冲发射即可完成全频段的测量，本方案不仅测量条件和测量结果更加贴近实际使用情况，而且操作简便，工作效率高。
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