一种杆天线支架
    21.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110931936B

    公开(公告)日:2021-01-08

    申请号:CN201911216394.3

    申请日:2019-12-02

    Abstract: 本申请公开了一种杆天线支架,其底座的下面安装有脚轮,底座上安装有套筒支座,套筒的下部伸入到套筒支座内,套筒支座的侧壁上有套筒锁紧螺钉,套筒的下部有插销,套筒的上端与杆天线下托板连接,杆天线下托板的上方有杆天线上托板,杆天线下托板和杆天线上托板之间连接有搭接板支撑固定角块和杆天线托板支撑柱,搭接板支撑固定角块的外侧分别通过搭接锁紧螺钉与搭接支撑板连接,搭接支撑板上有左下四分之一圆弧通孔结构的滑槽,搭接锁紧螺钉在滑槽内,搭接支撑板上部的右端有台阶段,其脚轮能方便整体移动,其高度调节方便快捷,操作简便,适用于新旧标准的高度,便于测试过程中搭接带的布置,具有收放功能,减小支架的占地空间,提高安全性。

    一种电源滤波器差损时域测量系统及方法

    公开(公告)号:CN110988490A

    公开(公告)日:2020-04-10

    申请号:CN201911324935.4

    申请日:2019-12-20

    Abstract: 本申请提供了一种电源滤波器插入损耗的时域脉冲测量方法,可以解决目前电源滤波器插入损耗测量中,测量信号与实际工作信号类型相差较大,测量结果不能客观反映实际情况以及测量工作量庞大等问题。该方法使用脉冲信号而不是连续波信号作为测量信号,并通过时域-频域转换得到频率信息,一次测量即可完成全频段测量。本方法不仅从原理上更加贴近实际使用情况,测量结果更加客观真实;而且与原有方法相比,本测量方法的操作步骤更加简便,测量效率更高。

    一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置

    公开(公告)号:CN110967562A

    公开(公告)日:2020-04-07

    申请号:CN201911182877.6

    申请日:2019-11-27

    Abstract: 本申请公开了一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置。所述方法包括以下步骤:将电场传感器布置在第1个测试点;向所述电场传感器输入测试信号,直到所述电场传感器显示场强等于指定场强;保持所述信号频率不变,依次将所述电场传感器布置在第1个测试点四周的第2至N个测试点;计算所述电场传感器在所述第2至N个测试点显示的场强与所述指定场强的差值;调整所述第2至N个测试点与所述第1个测试点的间距,重复前述步骤,直到所述差值小于或等于指定差值。所述装置包括信号源、功率放大器、天线、电场感应单元、金属接地平板。本申请实现准确测量和确定符合均匀域要求的辐射敏感度试验场。

    一种测量吸波材料反射率的方法

    公开(公告)号:CN110954567A

    公开(公告)日:2020-04-03

    申请号:CN201911310125.3

    申请日:2019-12-18

    Abstract: 本发明公开了一种测量吸波材料反射率的方法,该方法包括在不同反射测试条件下,分别对待测吸波材料和参照材料进行反射测试,获得第一信号总量的差值和第二信号总量的差值;基于第一信号总量的差值和第二信号总量的差值,计算得到所述待测材料的反射率。本发明中采用的测量方法可有效地解决以上不足,该方法在不需要分离吸波材料或参考金属板反射信号的同时,通过改变测量距离,选择合理的测量方法,来计算获得平板吸波材料反射率。通过使用该方法,不仅可以减小信号时频域转换过程中的截断误差,还可以有效降低收发天线直接耦合信号与空间杂散信号对反射信号的影响,进而提高反射率测量准确度,减小测量误差。

    一种用于校准电磁兼容测量用单极天线的T型网络装置

    公开(公告)号:CN103618141B

    公开(公告)日:2015-08-12

    申请号:CN201310646488.0

    申请日:2013-12-04

    Abstract: 本发明公开了一种用于校准电磁兼容测量用单极天线的T型网络装置,包括屏蔽盒主体,所述屏蔽盒主体内设有阶梯结构,所述阶梯结构上固定设置有T型网络电路板,所述T型网络电路板上设有信号源接口,频谱仪接口和被测天线接口,所述屏蔽盒主体的顶部固定设置有屏蔽盒顶盖,所述屏蔽盒主体的前侧面上和后侧面上分别固定设置有同轴SMA接头,所述屏蔽盒主体的左侧面上固定设置有绝缘隔离支撑,所述绝缘隔离支撑设有开口,天线基座连接头的连接端穿过绝缘隔离支撑的开口与T型网络电路板电连接;两个SMA接头中的一个SMA接头与所述信号源接口电连接,另一个SMA接头与所述频谱仪接口电连接;所述天线基座连接头的连接端与被测天线接口电连接。

    一种超宽带双定向耦合器
    26.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119852672A

    公开(公告)日:2025-04-18

    申请号:CN202411965411.4

    申请日:2024-12-30

    Abstract: 本说明书公开了一种超宽带双定向耦合器,旨在解决难以同时优化频率范围、损耗特性、带宽、功率处理能力、结构复杂性、制造成本及抗干扰性能的问题,包括:外壳的两端分别安装有输入端口和输出端口,输入端口和输出端口分别与耦合单元的输入和输出连接,至少两个耦合单元设置在外壳内部,其中一个耦合单元与耦合端口连接,另一个耦合单元与隔离端口连接,耦合端口与隔离端口均安装在外壳上;其中,耦合单元的输入和输出之间通过同轴导体连接至输入端口和输出端口。本发明实现了增强的隔离度与噪声抑制、灵活的耦合度调节、宽广的工作频率范围、简化结构低成本制造以及大功率处理能力,从而在各种应用环境中提供卓越性能和可靠性。

    一种RS103高频测试装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN119667305A

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202411725338.3

    申请日:2024-11-28

    Abstract: 本申请公开了一种RS103高频测试装置及其使用方法,装置包括:安放在暗室的RS103高频试验装置和与RS103高频试验装置相对设置的EUT设备;RS103高频试验装置包括机柜、行走机构、天线安装组件、手持控制器、连接板和斜拉筋,行走机构通过螺钉固定到机柜底部,天线安装组件通过连接板、连接板与机柜进行连接,天线安装组件上安装天线,手持控制器控制天线沿X轴、Y轴和Z轴的移动,以及转化极化。该装置中天线的移动、升降、转化极化均可自动完成,可在暗室操作天线的运动,也可在控制室操作,结构紧凑,自动化程度高、运动精度高、适应性强,解决目前实验室RS103高频测试装置存在空间尺寸大、测试效率低的问题。

    一种ns级电磁脉冲场探头校准系统、方法及装置

    公开(公告)号:CN118425860A

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202311852234.4

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本说明书公开了一种ns级电磁脉冲场探头校准系统、方法及装置,涉及脉冲场探头校准领域,旨在解决现有的校准系统对脉冲场探头的校准准确度较低的问题。本发明系统包括:脉冲源、定向耦合器、TEM室、衰减器、示波器、计算机;脉冲源产生脉冲电压信号;定向耦合器将脉冲电压信号耦合,产生第一直通信号、第二直通信号,第二直通信号馈入示波器的第三输入通道;第一直通信号经TEM室、衰减器后进入示波器的第一输入通道;设置在TEM室中的被校脉冲场探头获得电压信号进入示波器的第二输入通道;计算机根据U1、U2、U3,计算被校脉冲场探头的校准系数,对被校脉冲场探头进行校准。本发明提高脉冲场探头性能校准结果的准确度。

    一种紧缩场静区平面波幅相特性自动化校准系统和方法

    公开(公告)号:CN116559753A

    公开(公告)日:2023-08-08

    申请号:CN202310665915.3

    申请日:2023-06-06

    Abstract: 本发明公开一种紧缩场静区平面波幅相特性自动化校准系统和方法,所述系统包括:微波幅相单元、扫描设备单元和中心控制单元;微波幅相单元,用于接收信号并对所述信号进行幅度和相位测量;扫描设备单元,用于控制检测探头的接收位置和姿态;中心控制单元,用于对微波幅相单元和扫描设备单元远程控制,实时分析幅度和相位数据,自动化计算静区特性。根据扫描数据完成静区场幅度不平度、静区场相位不平度和静区场交叉极化三个指标量化,根据结果来评判紧缩场测试系统的性能,对于紧缩场初检和复检具有参考意,本发明还可帮助用户初检及后续复检紧缩场测试系统的性能。

    一种RE102辐射发射测试校验方法及系统

    公开(公告)号:CN114397613A

    公开(公告)日:2022-04-26

    申请号:CN202111659868.9

    申请日:2021-12-30

    Abstract: 本发明实施例提供一种RE102辐射发射测试校验方法及系统。所述方法包括:向第一测试设备发送测试辐射信号;所述测试辐射信号为性能参数稳定的辐射信号;将第一测试设备接收到的第一辐射信号与所述测试辐射信号进行对比,获得第一辐射信号校验值;所述第一辐射信号为所述第一测试设备在接收到所述测试辐射信号后获得的辐射信号;根据所述第一辐射信号校验值,对所述第一测试设备对应的RE102辐射发射测试结果进行校验。所述系统用于执行上述方法。本发明提供的方法及系统提高了GJB151B中RE102辐射发射测试结果的一致性和可靠性。

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