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公开(公告)号：CN104466345B
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201410710494.2
申请日：2014-11-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种天线、低噪放及混频器连接机构，所述连接机构包括天线、波导、低噪放、混频器以及支撑系统，所述天线、低噪放和混频器通过波导依次连接；所述支撑系统的第一前档板和第二前档板通过前挡板支撑梁固接在一起，所述第二前档板和连接法兰通过支撑梁固接在一起；压板卡环固装在支撑梁上，压板卡环的径向设有卡槽，混频器压板卡套在压板卡环的卡槽中；混频器托板与混频器固装在一起，混频器托板的一端与混频器压板垂直固定；第一前挡板和第二前挡板均设有对应的中心孔，转盘穿过第一前挡板的中心孔和第二前挡板的中心孔；所述天线设于第一前挡板的前端，所述波导穿过转盘与低噪放连接，所述波导穿过混频器压板与混频器连接。
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公开(公告)号：CN104597331A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201410800313.5
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点位置识别方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和处于测试区内的待测天线所在位置为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到到处于测试区任意位置的待测天线的传播路径长为长轴长度，在紧缩场暗室中构建一个椭球面；椭球面与紧缩场暗室各面及紧缩场暗室内部空间物体的交汇处即为同步反射点位置。该方法快速的找到紧缩场内反射信号与直射波信号同时到达接收天线的同步反射点位置。
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公开(公告)号：CN104569588A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410796709.7
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R25/00
Abstract: 本发明公开一种在待检紧缩场暗室中，建立三维直角坐标系；根据馈源位置、反射面位置和测试区的位置关系，确定扫描架的初始位置；对扫描架的垂直和水平姿态角进行调整，使其相位检测趋势满足平面波性能要求；在扫描架的探头天线上设置激光靶标，并在扫描架与反射面间设置一激光跟踪仪，通过激光跟踪仪实时捕捉激光靶标位置，获得扫描架的位置信息和位置偏差△x；根据光速、工作频率及相位关系，获得平面波的相位偏差结果，并将该偏差结果实时的补偿到相位检测结果中，能够满足高频时紧缩场平面波相位检测要求，提高紧缩场平面波相位检测精度。
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公开(公告)号：CN104567764A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410828069.3
申请日：2014-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01B21/00
CPC classification number: G01B21/00
Abstract: 本发明公开一种天线测量暗室的主反射点区域确定方法，该方法包括以暗室中的发射天线作为点源，暗室中的每个面分别作为镜面，将点源与各镜面进行几何镜像得到每个面的镜像点；将暗室测试区域的每一位置分别与每个面的镜像点连线，在每个面上得到连线与该面的交汇区域；将每个面上的交汇区域作为该暗室测试区域在暗室该面的主反射点区域。本发明所述技术方案，能够准确地确定测试区在各墙壁的主反射点区域，进行减少吸波材料的浪费。
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公开(公告)号：CN104567672A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410827936.1
申请日：2014-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种大型紧缩场扫描架系统，它包括激光平面准直仪、高精度平台和大型紧缩场扫描架；一种大型紧缩场扫描架系统空间几何量的调整方法，其步骤如下：步骤一、调整高精度平台至水平；步骤二、测量得到标尺的位置线与理论参考线的夹角；步骤三、调整标尺位置线与理论参考线重合；步骤四、产生参考激光平面；步骤五、使光学接收靶标可以接收到激光平面发生器发射出的激光信号；步骤六、设置直线运动模块达到要求的水平度；步骤七、测量得到直线运动模块的位置线与理论参考线的夹角；步骤八、使得直线运动模块的位置线与理论参考线重合；步骤九、调整光学接收靶标处于参考激光平面内；本发明可以保证扫描平面具有很高的平面度精度，为紧缩场静区测量提供关键技术支撑。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114371324B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202111468554.0
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明的实施例公开了一种测量尖峰信号发生器源阻抗的方法，包括：S10、连接第一测量回路，其包括尖峰信号发生器、第一无感电阻、电压探头和示波器；S20、调节尖峰信号发生器的电压值为预设电压值；S30、示波器测量第一无感电阻上产生的第一电压值；S40、连接第二测量回路，第二测量回路包括尖峰信号发生器、第一无感电阻、第二无感电阻、电压探头和示波器，其中，第一无感电阻和第二无感电阻并联连接形成无感电阻组件；S50、示波器测量无感电阻组件上产生的第二电压值；S60、计算尖峰信号发生器的源阻抗，其中，#imgabs0#式中，Z为尖峰信号发生器的源阻抗；U1为第一电压值；U2为第二电压值，单位为V；R1为第一无感电阻的电阻值；R2为第二无感电阻的电阻值。
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公开(公告)号：CN114371324A
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202111468554.0
申请日：2021-12-03
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明的实施例公开了一种测量尖峰信号发生器源阻抗的方法，包括：S10、连接第一测量回路，其包括尖峰信号发生器、第一无感电阻、电压探头和示波器；S20、调节尖峰信号发生器的电压值为预设电压值；S30、示波器测量第一无感电阻上产生的第一电压值；S40、连接第二测量回路，第二测量回路包括尖峰信号发生器、第一无感电阻、第二无感电阻、电压探头和示波器，其中，第一无感电阻和第二无感电阻并联连接形成无感电阻组件；S50、示波器测量无感电阻组件上产生的第二电压值；S60、计算尖峰信号发生器的源阻抗，其中，式中，Z为尖峰信号发生器的源阻抗；U1为第一电压值；U2为第二电压值，单位为V；R1为第一无感电阻的电阻值；R2为第二无感电阻的电阻值。
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公开(公告)号：CN108663572B
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN201810155661.X
申请日：2018-02-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R25/00
Abstract: 本发明公开了一种平面波相位多段测量拼接方法，解决现有方法无法在不同尺寸紧缩场测试，且造价昂贵，存储、保管、运输、安装复杂的问题。所述方法，包含以下步骤：在紧缩场静区边缘外固定放置激光发射设备，使激光准直仪发出的激光平面与紧缩场来波方向垂直；通过激光跟踪仪对扫描架初始位置进行定位，并保持所述激光发射设备固定不动；在激光平面内，移动探头测量得到紧缩场第一截面的平面波特性；在激光平面内平行移动所述扫描架的位置至待检测位置；在激光平面内，移动探头测量得到所述紧缩场第二截面的平面波特性；将第一截面、第二截面的平面波特性进行拼接，得到所述紧缩场平面波的相位特性。本发明实现了对大静区紧缩场平面波特性的检测。
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公开(公告)号：CN104569588B
公开(公告)日：2018-02-02
申请号：CN201410796709.7
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R25/00
Abstract: 本发明公开一种在待检紧缩场暗室中，建立三维直角坐标系；根据馈源位置、反射面位置和测试区的位置关系，确定扫描架的初始位置；对扫描架的垂直和水平姿态角进行调整，使其相位检测趋势满足平面波性能要求；在扫描架的探头天线上设置激光靶标，并在扫描架与反射面间设置一激光跟踪仪，通过激光跟踪仪实时捕捉激光靶标位置，获得扫描架的位置信息和位置偏差△x；根据光速、工作频率及相位关系，获得平面波的相位偏差结果，并将该偏差结果实时的补偿到相位检测结果中，能够满足高频时紧缩场平面波相位检测要求，提高紧缩场平面波相位检测精度。
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公开(公告)号：CN104600430B
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201410812459.1
申请日：2014-12-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H01Q3/02
Abstract: 本发明涉及一种普适性天线法兰盘，它包括带有中心凸轴的盘体，所述盘体周向外缘延设有至少一个天线接口板，所述天线接口板所处的平面与盘体平面之间呈钝角结构，所述每个天线接口板的天线极化轴线与盘体中心轴线相交于同一焦点，所述盘体的中心凸轴外缘周向对应每个天线接口板设有一个定位孔，该定位孔的中心位于对应的天线接口板的天线极化轴线在盘体的投影线上；一种普适性天线转换装置，包括普适性天线法兰盘和扫描架，法兰盘可转动连接于扫描架的斜坡面上；本发明解决了紧缩场静区测试中多种被测探头天线简捷切换的问题，同时，提高静区检测的工作效率和可靠性。
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