辐射固化型切割用粘合带
    24.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110582839B

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN201880028427.9

    申请日:2018-12-25

    Inventor: 大田乡史

    Abstract: 本发明提供一种辐射固化型切割用粘合带,其即使对于设置有贯通电极的半导体芯片等也能够在拾取工序中容易地进行拾取而不产生残胶。本发明的辐射固化型切割用粘合带1是在基材片2上设置有辐射固化型粘合剂层3的辐射固化型粘合带1,其特征在于,辐射固化后的拉伸弹性模量与辐射固化前的拉伸弹性模量之比小于1.0。

    辐射固化型切割用粘合带
    25.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110582839A

    公开(公告)日:2019-12-17

    申请号:CN201880028427.9

    申请日:2018-12-25

    Inventor: 大田乡史

    Abstract: 本发明提供一种辐射固化型切割用粘合带,其即使对于设置有贯通电极的半导体芯片等也能够在拾取工序中容易地进行拾取而不产生残胶。本发明的辐射固化型切割用粘合带1是在基材片2上设置有辐射固化型粘合剂层3的辐射固化型粘合带1,其特征在于,辐射固化后的拉伸弹性模量与辐射固化前的拉伸弹性模量之比小于1.0。

    晶片加工用带
    26.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105694748B

    公开(公告)日:2019-07-30

    申请号:CN201510870713.8

    申请日:2015-12-02

    Abstract: 本发明提供一种晶片加工用带,所述晶片加工用带能够降低标签痕迹的产生,且能够降低粘接剂层与粘合膜之间的空气(air)的卷入。其特征在于,具有:长的脱模膜(11);粘接剂层(12),其设置在脱模膜(11)的第1面上、且具有规定的平面形状;粘合膜(13),其具有标签部(13a)和包围标签部(13a)的外侧的周边部(13b),标签部(13a)以覆盖粘接剂层(12)、且在粘接剂层(12)的周围与上述脱模膜(11)接触的方式设置,并且具有规定的平面形状;以及支承构件(14),其设置在脱模膜(11)的与第1面相反的第2面上、且为脱模膜(12)的短边方向的两端部,并且以达到所述脱模膜(11)的短边方向中的与粘接剂层(12)的端部对应的区域的方式设置。

    半导体加工用粘合带
    27.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105684131B

    公开(公告)日:2018-09-25

    申请号:CN201480057866.4

    申请日:2014-03-03

    Abstract: 本发明提供一种半导体加工用粘合带,其在使用支撑构件的半导体元件制造工序中,即使在用于清洗将支撑构件贴合于半导体晶片的粘接剂的残渣的清洗液淋到粘合剂的情况下,粘合剂亦不会溶解并污染半导体元件,且具备支撑构件的物理性、机械性剥离时所需的牢固的粘接性。本发明的半导体加工用粘合带为于基材树脂薄膜的至少一个面上形成有辐射线固化性的粘合剂层的半导体加工用粘合带,其特征在于,所述粘合剂层的紫外线照射前的凝胶百分数为65%以上且100%以下,且所述粘合剂层的紫外线照射前的探针粘性试验(probe tack test)的峰值为100~600kPa。

    晶片加工用带
    28.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105694744B

    公开(公告)日:2018-08-28

    申请号:CN201510870170.X

    申请日:2015-12-02

    Abstract: 本发明的课题在于提供可以减少标签痕迹的产生且可以减少在胶粘剂层与粘合膜之间卷绕空气(air)的晶片加工用带。其特征在于,具有:长的脱模膜(11);胶粘剂层(12),设置在脱模膜(11)的第1面上、且具有规定的平面形状;粘合膜(13),具有标签部(13a)和包围标签部(13a)的外侧的周边部(13b),标签部(13a)以覆盖胶粘剂层(12)、且在胶粘剂层(12)的周围与脱模膜(11)接触的方式设置,并且具有规定的平面形状;以及支承构件(14),设置在脱模膜(11)的与第1面相反的第2面上,且在比胶粘剂层(12)的在脱模膜(11)的短边方向上的端部更靠外侧的一个区域中、沿脱模膜(11)的短边方向设置有多个。

    晶片加工用带
    30.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105694746A

    公开(公告)日:2016-06-22

    申请号:CN201510870410.6

    申请日:2015-12-02

    Abstract: 本发明的课题在于提供一种晶片加工用带,其可以减少标签痕迹的产生、且可以减少在胶粘剂层与粘合膜之间卷入空气。其特征在于,具有:长的脱模膜(11);胶粘剂层(12),设置在脱模膜(11)的第1面上、且具有规定的平面形状;粘合膜(13),具有标签部(13a)和包围标签部(13a)的外侧的周边部(13b),标签部(13a)以覆盖胶粘剂层(12)、且在胶粘剂层(12)的周围与脱模膜(11)接触的方式设置,并且具有规定的平面形状;以及支承构件(14),设置在脱模膜(11)的与第1面相反的第2面上,且设置于脱模膜(12)的短边方向的任意一个端部、并且设置在与第1面中的标签部(13a)的接触于脱模膜(12)的区域所达到的区域对应的区域。

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