半导体存储器件、半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN1574366A

    公开(公告)日:2005-02-02

    申请号:CN200410044696.4

    申请日:2004-05-20

    CPC classification number: H01L29/66833 H01L21/28282 H01L27/115 H01L29/7923

    Abstract: 一种包括存储单元的半导体存储器件,各个存储单元包括:形成在半导体衬底上的栅绝缘膜;形成在栅绝缘膜上的栅电极;位于栅电极下方的沟道区;分别排列在沟道区相对侧上的成对的源区和漏区,此源区和漏区具有与沟道区相反的导电类型;以及分别位于栅电极的相对侧上的存储功能单元,各个存储功能单元包括电荷保持部分和抗耗散绝缘体,此电荷保持部分由用来储存电荷的材料组成,抗耗散绝缘体用来通过使电荷保持部分分隔于栅电极和衬底二者而防止储存的电荷被损耗,其中,栅电极侧壁和与其彼此面对的电荷保持部分侧面之间的距离(T2)适应于和电荷保持部分底部与衬底表面之间的距离(T1)不同。

    电源装置及电源单元
    22.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110313122A

    公开(公告)日:2019-10-08

    申请号:CN201880010788.0

    申请日:2018-01-29

    Abstract: 电源装置(4)包括:具有初级绕组和多个次级绕组的变压器(TR4);与初级绕组连接的初级侧电路(10);以及分别与多个次级绕组连接的多个次级侧电路(20、25)。次级侧电路(20)进行向初级侧电路(10)或次级侧电路(25)传输电能的电能再生动作。次级侧电路(20)包含对从变压器(TR4)的初级侧传输的电能进行整流的MOSFET(Q5、Q6)和蓄积整流后的电能的电容器(C1),并进行使电容器(C1)放电而使电流流入变压器(TR4)的次级绕组的放电动作。由此能够提供稳定地输出多个电压并具有高电能转换效率的电源装置。

    半导体存储装置及便携式电子设备

    公开(公告)号:CN100481516C

    公开(公告)日:2009-04-22

    申请号:CN200380107812.6

    申请日:2003-12-19

    Abstract: 半导体存储装置具有存储功能体(261,262),存储功能体具有以下功能:将电荷保持在经由栅绝缘膜(214)而形成在半导体层(211)上的单一的栅电极(217)的两侧;存储功能体分别含有具有电荷存储区(250)的电荷保持膜(242);电荷存储区(250)横跨沟道区(273)的一部分和配置在沟道区的两侧的扩散区(212,213)的一部分而存在;由于存储功能体独立于栅绝缘膜而形成在栅电极的两侧,因此可以进行2位的动作;进一步,由于各存储功能体由栅电极被分离,因此可有效地抑制改写时的干扰,并且可以使栅绝缘膜薄膜化,并抑制短沟道效果;因而存储元件易于实现微型化。

    半导体存储器件和便携式电子装置

    公开(公告)号:CN100382322C

    公开(公告)日:2008-04-16

    申请号:CN200410044742.0

    申请日:2004-05-17

    CPC classification number: H01L29/66833 H01L21/28282 H01L29/6684

    Abstract: 一种半导体存储器件,它包含:经由栅绝缘膜形成在半导体层上的栅电极;排列在栅电极下方的沟道区;排列在沟道区二侧上且导电类型与沟道区相反的扩散区;以及形成在栅电极二侧上且具有保持电荷的功能的存储功能单元,其中,各个扩散区具有:排列成偏移于栅电极的高浓度杂质区;以及排列成与高浓度杂质区相接触以便与栅电极重叠的低浓度杂质区,且当电压被施加到栅电极时,从一个扩散区流到另一个扩散区的电流量,根据保持在存储功能单元中的电荷量而被改变。

Patent Agency Ranking