公开(公告)号：CN115824272A

公开(公告)日：2023-03-21

申请号：CN202211083952.5

申请日：2022-09-06

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 田中骏丞 ,  加藤庆显 ,  水谷都

IPC: G01D5/245

Abstract: 一种角度检测器包括：具有刻度图案的旋转标尺，其中多个图案沿所述旋转标尺的圆周方向布置；以及多个检测头，每个检测头均从所述刻度图案中检测所述多个图案。所述多个检测头在所述旋转标尺的所述圆周方向上相互偏移，并在所述旋转标尺的径向方向上相互偏移。

公开(公告)号：CN110657826B

公开(公告)日：2022-06-28

申请号：CN201910572670.3

申请日：2019-06-28

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： T.S.库克 ,  J.A.希契曼 ,  加藤庆显

IPC: G01D5/14

Abstract: 一种感应类型位置编码器包括标尺、检测器部分和信号处理器。标尺沿测量轴线布置的信号调制元件(SME)的周期性图案，具有空间波长W1。图案中的一类SME包括相似的导电板或环路。检测器部分包括传感元件且磁场产生线圈产生变化磁通量。传感元件可以包括沿测量轴线布置的导电环路部分且配置为提供检测器信号，该检测器信号对通过邻近SME提供的变化磁通量上的局部效应做出响应。在各种实施方式中，第一类型的SME具有沿测量轴线方向的平均尺寸DSME，其大于DSEN且至少为0.55×W1且最大为0.8×W1，其提供有利的检测器信号特性。

公开(公告)号：CN110470325B

公开(公告)日：2022-06-14

申请号：CN201910374383.1

申请日：2019-05-07

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 加藤庆显

IPC: G01D5/245

Abstract: 提供了一种电磁感应编码器，其允许减小标尺上的轨道的数目，以减小标尺的尺寸。电磁感应编码器包括具有标尺图案的标尺、头部和计算单元。头部包括发送单元和接收单元，发送单元包括发送线圈，接收单元包括接收线圈。标尺图案具有第一图案和第二图案，第一图案使得接收线圈接收正电流，第二图案使得接收线圈接收负电流。计算单元包括：确定单元，其当检测到正电流时确定电流与第一图案相关联，并且当检测到负电流时确定电流与第二图案相关联；信号生成单元，其基于确定的结果生成由表示第一图案的“1”和表示第二图案的“0”形成的信号；以及位置计算单元，其基于由信号生成单元生成的信号计算头部的位置。

公开(公告)号：CN106248124B

公开(公告)日：2020-11-13

申请号：CN201610405937.6

申请日：2016-06-08

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 加藤庆显

IPC: G01D5/36

Abstract: 本发明提供一种光学编码器，其中，标尺(140)包括以周期P形成的标尺光栅。光源光栅(120)包括以周期2P形成的光栅，该光源光栅(120)配置在光源(110)和标尺(140)之间。干涉条纹检测部件(150)被配置为能够以周期P来检测干涉条纹的明部，其中该干涉条纹是通过光源光栅(120)和标尺(140)所生成的。干涉条纹检测部件(150)检测由来自标尺(140)的光所形成的第一干涉条纹和由来自标尺(140)的光所形成的第二干涉条纹，其中第二干涉条纹的明部的位置相对于第一干涉条纹的明部的位置偏移了周期P的一半(即，P/2)。

公开(公告)号：CN105651162B

公开(公告)日：2019-10-11

申请号：CN201510857276.6

申请日：2015-11-30

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 加藤庆显

IPC: G01B11/00

Abstract: 本发明涉及一种光学编码器。该光学编码器包括：原点检测标尺，其具有原点检测图案和与原点检测图案相逆的逆原点检测图案；对原点检测标尺发射光的光源；插在原点检测标尺的光源侧的光源栅格，其中该光源栅格具有分别与原点检测图案和逆原点检测图案相对应的两个第一光源栅格图案；从穿过原点检测标尺的光来检测信号的光接收器；以及插在原点检测标尺的光接收器侧的光接收栅格，其中该光接收栅格具有作为与第一光源栅格图案相同或相逆的图案的两个第一光接收栅格图案。

公开(公告)号：CN104748774B

公开(公告)日：2019-01-15

申请号：CN201410822638.3

申请日：2014-12-25

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 加藤庆显

IPC: G01D5/36

Abstract: 本发明涉及一种根据本发明的光学编码器，包括：发光的光源；标尺，包括各具有预定的栅距的标尺光栅；光源光栅，设置在所述光源与所述标尺之间并且具有预定的栅距；以及干涉条纹检测部件，检测由所述光源光栅和所述标尺产生的干涉条纹。所述标尺光栅并排设置，并且相邻的标尺光栅彼此移位1/2周期。

公开(公告)号：CN104422469B

公开(公告)日：2018-02-13

申请号：CN201410605327.1

申请日：2014-09-03

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 夜久亨 ,  加藤庆显

IPC: G01D5/34

CPC classification number: G01D5/34784 ,  G01D5/34715 ,  G01D5/34723 ,  G01D5/34746

Abstract: 一种光电编码器包括：具有基于伪随机数据的绝对图案的绝对标尺、和探测头，该探测头包括向绝对标尺的绝对图案发射光的光源和从绝对图案接收光的光接收单元，并且其检测探测头相对于绝对标尺的绝对位置。在光电编码器中，绝对图案由以重复方式布置的光栅部和暗部组成。光电编码器进一步包括：干涉图案生成装置，其与光栅部组合起来产生干涉图案；以及包括干涉图案信号处理单元，其基于光接收单元接收的干涉图案来检测绝对图案的伪随机数据。

公开(公告)号：CN104422469A

公开(公告)日：2015-03-18

申请号：CN201410605327.1

申请日：2014-09-03

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 夜久亨 ,  加藤庆显

IPC: G01D5/34

CPC classification number: G01D5/34784 ,  G01D5/34715 ,  G01D5/34723 ,  G01D5/34746

Abstract: 一种光电编码器包括：具有基于伪随机数据的绝对图案的绝对标尺、和探测头，该探测头包括向绝对标尺的绝对图案发射光的光源和从绝对图案接收光的光接收单元，并且其检测探测头相对于绝对标尺的绝对位置。在光电编码器中，绝对图案由以重复方式布置的光栅部和暗部组成。光电编码器进一步包括：干涉图案生成装置，其与光栅部组合起来产生干涉图案；以及包括干涉图案信号处理单元，其基于光接收单元接收的干涉图案来检测绝对图案的伪随机数据。

公开(公告)号：CN102168996B

公开(公告)日：2015-01-28

申请号：CN201110000209.4

申请日：2011-01-04

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 加藤庆显

IPC: G01D5/347

CPC classification number: G01D5/24476

Abstract: 在包括了形成规定周期Ps的光栅(12)的标尺(13)、以及可对该标尺(13)相对位移并且包括了光源(14)和光接收器(30)的检测头(20)的光电式编码器中，所述光接收器(30)的光接收元件(34)输出N相(N为3以上的整数)的明暗信号，并且对该N相明暗信号分别数字化所得的N相的数字信号，通过最小二乘法拟合周期固定的正弦波函数，从而在检测所述N相明暗信号的相位时，该N相明暗信号的周期P为所述N相数字信号的数据点间隔w的整数倍，光接收元件总长度M为该N相明暗信号的周期P的整数倍。由此，以简单的计算，降低因标尺的脏污和光栅的缺陷产生的位置检测误差。

公开(公告)号：CN103090799A

公开(公告)日：2013-05-08

申请号：CN201210419049.1

申请日：2012-10-26

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 加藤庆显

IPC: G01B11/02 ,  G01D5/26

CPC classification number: G01D5/38

Abstract: 本发明涉及一种位移检测装置、位移检测方法和计算机可读介质。光电式编码器包括发光元件、刻度尺、透镜、PDA和信号处理电路。该信号处理电路包括失真表、失真补偿电路和位置分析电路。该失真表是预先基于通过使用诸如透镜等的光学系统的设计值进行失真模拟所获得的失真信息计算得到的。该失真补偿电路基于该失真表和PDA的各PD的位置信息，通过虚拟地改变各PD的位置以消除因光学系统所引起的失真，从而对PDA的明/暗信号进行校正。该位置分析电路基于校正后的明/暗信号来分析刻度尺的位置。