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公开(公告)号：CN102324695A
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN201110273300.3
申请日：2009-05-13
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: H01S5/18355 , G03G15/04072 , G03G15/0435 , G03G2215/0404 , H01S5/18311 , H01S5/3202 , H01S5/423
Abstract: 本发明公开了表面发射激光器、阵列、光学扫描装置和成像设备，其中所述表面发射激光器包括衬底和堆叠在衬底上的多层半导体层。衬底的主平面的法线相对于其中一个晶体取向 朝向其中一个晶体取向 倾斜。所述半导体层包括：谐振器结构，其包括有源层；和半导体多层镜，其堆叠在谐振器结构上。半导体多层镜包括限制结构，其中电流通过区域由包括至少氧化物的氧化区域围绕，该氧化物通过氧化包含铝的选择性氧化层的一部分产生。由氧化所致的应变场存在于至少氧化区域附近的一部分中。在应变场中，在第一轴方向的应变量不同于在第二轴方向的应变量。
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公开(公告)号：CN102248806A
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：CN201110106201.6
申请日：2011-04-27
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: B41J2/473 , B41J2/455 , G02B5/005 , G02B26/124
Abstract: 本发明公开了一种光源单元、光学扫描装置和成像设备。所述光源单元包括：表面发射激光器阵列，该表面发射激光器阵列包括发光单元；以及孔径元件，该孔径元件设置在从所述表面发射激光器阵列发出的光束的光路上，且该孔径元件包括孔径，其中：在至少一个方向上，由穿过所述孔径的光束所造成的干涉图案的强度分布包括相等数量的波峰和波谷。
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公开(公告)号：CN105578968A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201480052569.0
申请日：2014-09-26
Applicant: 株式会社理光 , 株式会社国际电气通信基础技术研究所
IPC: A61B10/00 , A61B5/1455
CPC classification number: A61B5/0042 , A61B5/0033 , A61B5/0073 , A61B5/0261 , A61B5/1455 , A61B5/165 , A61B2562/0238 , A61B2562/146 , A61B2562/16 , G01N21/01
Abstract: 一种光学传感器，包括：照射系统，包括至少一个光照射器以将光照射到测试的对象上；以及检测系统，检测从照射系统所照射的并且在测试的对象中所传播的光。此外，光照射器将非平行的多个光束照射到测试的对象的相同位置上。
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公开(公告)号：CN103221803B
公开(公告)日：2015-10-14
申请号：CN201180056270.9
申请日：2011-11-25
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G01N21/4738 , G01B11/0625 , G01N21/21 , G01N21/55 , G01N21/57 , G01N33/34 , G01N2021/4792 , G01N2201/06113 , G03G15/04072 , G03G15/0409 , G03G15/0435 , G03G15/326 , G03G15/5029 , G03G15/5062
Abstract: 在光学传感器中，光发射系统将第一偏振方向上的线性偏振的辐射光从关于具有纸张形状的目标对象的表面的法线方向倾斜的入射方向向该表面发射。第一光检测系统包括在镜面反射光的第一光路上布置的第一光检测器，所述镜面反射光从光发射系统发射并且从目标对象镜面反射。第二光检测系统包括在从目标对象上的入射平面漫反射的漫反射光的第二光路上布置的第二光检测器。所述第二光检测器接收由通过与第一偏振方向垂直的第二偏振方向的线性偏振的光学元件来通过的第二光。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104007636A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410069362.6
申请日：2014-02-27
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G01N21/4738 , B41J11/009 , G01N21/474 , G01N21/55 , G01N2021/556 , G03G15/5029 , G03G2215/00616 , G03G2215/00751
Abstract: 一种传感器，包括一个光学传感器，该光学传感器包括：光源；接收光源发射的光和由物体规则反射和漫反射的光的多个光接收器；数据库，包含由多个光接收器输出的关于多个已知和不同类型的物体的输出数据，这些输出数据是在从光源发射的光的入射方向构成朝向物体的第一方向和从光源发射的光的入射方向构成垂直于第一方向的第二方向的条件下的输出数据；以及控制从光源发射的光照射未知类型的物体并通过把多个光接收器的输出数据与数据库匹配来指明物体类型的处理器。
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公开(公告)号：CN102248806B
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201110106201.6
申请日：2011-04-27
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: B41J2/473 , B41J2/455 , G02B5/005 , G02B26/124
Abstract: 本发明公开了一种光源单元、光学扫描装置和成像设备。所述光源单元包括：表面发射激光器阵列，该表面发射激光器阵列包括发光单元；以及孔径元件，该孔径元件设置在从所述表面发射激光器阵列发出的光束的光路上，且该孔径元件包括孔径，其中：在至少一个方向上，由穿过所述孔径的光束所造成的干涉图案的强度分布包括相等数量的波峰和波谷。
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公开(公告)号：CN103309194A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201310240251.2
申请日：2013-03-08
Applicant: 株式会社理光
IPC: G03G15/00
CPC classification number: G01N21/21
Abstract: 光学传感器和图像形成装置。所述光学传感器包括：光发射模块，以在相对于纸张表面的法线倾斜的入射方向上向物体表面发射具有第一偏振方向的线性偏振光；第一光检测器模块，包括在相对于在从所述光发射模块发射并且在纸张表面上规则反射的光束的光路倾斜的光路中在表面的入射平面内布置的第一光检测器；以及第二光检测器模块，包括在来自纸张表面的漫反射光束的光路中在表面的入射平面内布置的光学元件以分离具有垂直于第一偏振方向的第二偏振方向的线性偏振光束，并且包括第二光检测器以接收具有由所述光学元件分离的光束。
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公开(公告)号：CN103257543A
公开(公告)日：2013-08-21
申请号：CN201310130147.8
申请日：2013-02-17
Applicant: 株式会社理光
IPC: G03G15/00
CPC classification number: G01N21/4738 , G01N21/55 , G03G13/00 , G03G15/5029 , G03G15/6591 , G03G2215/00616
Abstract: 本发明涉及一种光学传感器。光学传感器包括：照射系统，照射线性偏振光；第一光检测系统，包括第一光检测器，设置在从所述对象被镜面反射的光的光学路径上；第二光检测系统，包括光学元件和第二光检测器，所述光学元件设置在对象的入射面内从对象被漫反射的光的光学路径上，并且分离出与第一偏振方向正交的第二偏振方向的线性偏振分量，而第二光检测器接收由光学元件分离出的光，其中第一光检测器的光接收角和第二光检测器的光接收角互相不同。
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公开(公告)号：CN101582563B
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：CN200910139387.8
申请日：2009-05-13
Applicant: 株式会社理光
IPC: H01S5/183
CPC classification number: H01S5/18355 , G03G15/04072 , G03G15/0435 , G03G2215/0404 , H01S5/18311 , H01S5/3202 , H01S5/423
Abstract: 本发明公开了一种表面发射激光器包括衬底和堆叠在衬底上的多层半导体层。衬底的主平面的法线相对于其中一个晶体取向 朝向其中一个晶体取向 倾斜。所述半导体层包括：谐振器结构，其包括有源层；和半导体多层镜，其堆叠在谐振器结构上。半导体多层镜包括限制结构，其中电流通过区域由包括至少氧化物的氧化区域围绕，该氧化物通过氧化包含铝的选择性氧化层的一部分产生。由氧化所致的应变场存在于至少氧化区域附近的一部分中。在应变场中，在第一轴方向的应变量不同于在第二轴方向的应变量。
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