量子产率测定装置
    21.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103250045B

    公开(公告)日:2015-03-18

    申请号:CN201180057392.X

    申请日:2011-08-31

    Inventor: 井口和也

    CPC classification number: G01N21/64 G01N21/645 G01N2201/065

    Abstract: 量子产率测定装置(1A)通过将激发光(L1)照射至用以容纳试料(S)的试料管(2)的试料容纳部(3),且检测自试料(S)及试料容纳部(3)的至少一者放出的被测定光(L2),从而测定试料(S)的量子产率。量子产率测定装置(1A)具有:在内部配置有试料容纳部(3)的暗箱(5);具有连接于暗箱(5)的光出射部(7),且产生激发光(L1)的光产生部(6);具有连接于暗箱(5)的光入射部(11),并检测被测定光(L2)的光检测部(9);具有使激发光(L1)入射的光入射开口(15)、及使被测定光(L2)出射的光出射开口(16)、且配置于暗箱(5)内的积分球(14);及以成为试料容纳部(3)位于积分球(14)内的第1状态、及试料容纳部(3)位于积分球(14)外的第2状态的各自的状态的方式,使试料容纳部(3)、光出射部(7)及光入射部(11)移动,并在第1状态,使光出射部(7)与光入射开口(15)相对,且使光入射部(11)与光出射开口(16)相对的移动机构(30)。

    光检测装置
    22.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102033055B

    公开(公告)日:2013-05-29

    申请号:CN201010518589.6

    申请日:2007-03-01

    Abstract: 本发明涉及一种光检测装置(1),其具备观测通过向样品照射激励光而产生的被检测光的积分球(20)、以及可装卸地安装于该积分球(20)的样品架(60);积分球(20)具有用于导入激励光的激励光导入孔(201)、以及用于导入样品架(60)所保持的单元(C)的样品导入孔(205);样品架(60)被卡止于样品导入孔(205)中并保持用于容纳样品的单元(C),并将单元配置为:激励光入射于单元(C)时的入射面相对于与激励光的光轴(L)垂直的面倾斜。

    光谱测定装置
    23.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102265132A

    公开(公告)日:2011-11-30

    申请号:CN200980152415.8

    申请日:2009-09-24

    Abstract: 本发明的光谱测定装置(1A)具备用于观测从测定对象试料(S)发出的被测定光的积分球(20)、以覆盖试料(S)的形式保持用于调节试料(S)温度的介质(R),并且以第2容器部(50b)面对积分球(20)内部的形式进行定位的杜瓦瓶(50)。通过使用以覆盖试料(S)的形式保持介质(R)的杜瓦瓶(50),从而就能够简便地将试料(S)调节至所希望的温度。通过以第2容器部(50b)面对积分球(20)内部的形式进行定位,从而就能够抑制来自于积分球(20)外部环境的对试料(S)的影响,并由介质(R)来调节试料(S)的温度。因此,就能够有效地将试料(S)调节至所希望的温度。

    光检测装置以及样品架用夹具

    公开(公告)号:CN102033055A

    公开(公告)日:2011-04-27

    申请号:CN201010518589.6

    申请日:2007-03-01

    Abstract: 一种光检测装置以及样品架用夹具。本发明涉及一种光检测装置(1),其具备观测通过向样品照射激励光而产生的被检测光的积分球(20)、以及可装卸地安装于该积分球(20)的样品架(60);积分球(20)具有用于导入激励光的激励光导入孔(201)、以及用于导入样品架(60)所保持的单元(C)的样品导入孔(205);样品架(60)被卡止于样品导入孔(205)中并保持用于容纳样品的单元(C),并将单元配置为:激励光入射于单元(C)时的入射面相对于与激励光的光轴(L)垂直的面倾斜。

    荧光测量方法和设备以及利用该方法和设备的样本评定设备

    公开(公告)号:CN1201145C

    公开(公告)日:2005-05-11

    申请号:CN01810677.3

    申请日:2001-06-07

    CPC classification number: G01N21/6408

    Abstract: 用从激励光源(1)提供的脉冲式激励光照射样本(S),借助聚光系统(3)和分光镜(4)通过光测器(5)检测该样本(S)生成的荧光,并且使荧光时间波形在控制器(6)中的数据处理单元(62)里受到数据分析,从而计算波形数据以及诸如荧光寿命等物理量。其中,相对于数据分析使用的时间轴固定地排列激励光时间波形,在把荧光时间波形和拟合范围从比激励光峰值早的初始位置向较晚的终止位置移动的同时进行多次拟合计算,并且根据一预定的选择准则选择最佳的测量波形数据。这样实现无论荧光时间波形中是否存在波动都可精确并高效计算波形数据等的荧光测量方法和设备,以及实现使用它们的样本评定设备。

    分光装置、拉曼分光测定装置及分光方法

    公开(公告)号:CN119278361A

    公开(公告)日:2025-01-07

    申请号:CN202280096490.2

    申请日:2022-12-19

    Abstract: 本发明的分光装置(5)接收通过包含分光元件的分光光学系统(4)沿规定的方向被波长分解的光(L1),并输出该光(L1)的分光光谱数据,且具备:CMOS影像传感器,其具有像素部(11),该像素部(11)具有接收被波长分解的光(L1)并转换为电信号的多个像素(21),且多个像素(21)排列于沿波长分解方向的行方向及垂直于行方向的列方向;特定部(14),其特定多个像素(21)中对光(L1)的分光光谱像(31)进行成像的像素(21)作为特定像素(21K);及产生部(15),其将属于同一列的特定像素(21K)的像素值进行积算,并产生基于积算结果的分光光谱数据。

    分光测定装置
    28.
    发明公开
    分光测定装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN119256213A

    公开(公告)日:2025-01-03

    申请号:CN202280096432.X

    申请日:2022-12-19

    Abstract: 本发明的分光测定装置具备:光入射部、反射型衍射光栅、光检测器、透镜、以及解析部。光检测器,通过在第1受光区域以第1曝光时间接收分光像,而输出被测定光的第1光谱数据,并且通过在与第1受光区域并设的第2受光区域以比第1曝光时间长的第2曝光时间接收分光像,而输出被测定光的第2光谱数据。解析部,基于第1光谱数据及第2光谱数据,生成光谱数据。光检测器配置为杂散光所聚集的杂散光区域位于第1受光区域。

    分光测定装置及分光测定方法
    29.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118129910A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202410376227.X

    申请日:2019-12-20

    Abstract: 本发明的分光测定装置(1)具备光学系统(10)、光检测器(20)及解析部(30)。光学系统(10)将来自对象物(S)的被测定光朝光检测器(20)的受光面引导,且在光检测器(20)的受光面上形成被测定光的分光像。光检测器(20)具有在多行排列有多个像素的受光面。光检测器(20)通过在受光面上的第1区域的排列于1行或多行的多个像素,而遍及第1曝光时间受光分光像并输出被测定光的第1光谱数据。光检测器(20)通过在受光面上的第2区域的排列于1行或多行的多个像素,而遍及第2曝光时间受光分光像并输出被测定光的第2光谱数据。第2曝光时间比第1曝光时间长。由此,可实现能够使用一个光检测器取得高动态范围的光光谱的分光测定装置及分光测定方法。

    光测定装置及光测定方法
    30.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111630373B

    公开(公告)日:2023-05-05

    申请号:CN201880087284.9

    申请日:2018-10-10

    Abstract: 分光测定装置(1)具备:光源(2),其输出激发光;积分器(3),其具有供长余辉发光材料(S)配置的内部空间(11),自内部空间(11)输出检测光;分光检测器(4),其取得检测光的光谱数据;解析部(21),其基于光谱数据对长余辉发光材料(S)的发光量子产率进行解析;及控制部(22),其控制激发光向内部空间(11)的输入的有无的切换及分光检测器(4)中的曝光时间;控制部(22)以在第1期间(T1)维持向内部空间(11)输入激发光且在第2期间(T2)停止向内部空间(11)输入激发光的方式控制光源(2),并以第2期间(T2)内的曝光时间(t2)长于第1期间(T1)内的曝光时间(t1)的方式控制分光检测器(4)。

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