Abstract:
PURPOSE: A contactless torque measuring device by an eddy current is provided to reduce the volume of the device by removing a slip ring, a driving motor and a controller of a contact-type torque measuring device, and maintain the linearity and resolution of a strain gauge and the precision of calibration, thereby reducing the non-linear errors in the indirect measurement. CONSTITUTION: A contactless torque measuring device by an eddy current includes a rotator(10) mounted rotatably by an object(1) to measure, a stator(20) for forming magnetic fields passing through the rotating rotator to generate a load torque contactlessly, a bending beam(30) mounted at an end of the stator to be bended by the load torque applied to the stator for maintaining an equilibrium state with a load of the object, and a strain gauge(40) mounted at an end of the bending beam for sensing the bending degree to measure the torque.
Abstract:
PURPOSE: A noncontact type eddy current brake system of automobile is provided to prevent an abrasion of a brake pad and obtain a superior brake force while generating a noncontact braking torque from an electricity. CONSTITUTION: A noncontact type eddy current brake system of automobile comprises an iron core(1) arranged at a brake disk(4) with a spacing of 90 degree and which is wound with a coil(2) to form an electromagnet, a measuring member(6) mounted to a rotation axis(5) so as to measure the rotational frequency of the wheel, a control unit(7) for calculating a direct control current or alternating control current according to the rotational frequency of the wheel and transmitting an appropriate control current value to the coil(2) of the core(1), and a current amplifier(8) for supplying the coil(2) with the control current value input from the control unit(7) and/or a current value determined by a break pedal(9).
Abstract:
실시예는 광학식 원자 현미경으로서, 샘플을 수평 방향으로 이동시키는 XY축 나노 스캐너, 상기 샘플의 표면을 켄틸레버로 스캐닝하는 Z축 나노 스캐너 헤드부, 상기 Z축 나노 스캐너 헤드부의 상대 변위를 측정하는 광센서, 상기 Z축 나노 스캐너를 지지하는 프레임 및 상기 Z축 나노 스캐너의 일측에 마련된 나노 스캐너 헤드부의 절대 변위를 측정하는 절대 변위 센서를 포함하고, 상기 Z축 나노 스캐너 헤드부의 변위 측정은 측정하고자 하는 샘플 표면 형상이 가지는 높이에 따라 상기 광센서 또는 상기 절대 변위 센서로 수행된다. 따라서, 원자현미경의 광센서 외에 추가적으로 스트레인 게이지 센서를 이용하여 Z축 나노스캐너의 절대 변위를 측정함으로써, 기존의 컨트롤 제어 출력값을 이용하여 형상 정보를 얻는 경우에 발생되는 Z축 나노 스캐너의 비선형성으로 인한 측정 에러를 제거하여, 보다 정확한 형상 정보를 얻을 수 있다.
Abstract:
PURPOSE: An optical system and an interferometer with the same are provided to obtain high signal-to-noise ratio by preventing the generation of undesired interference signals and to accurately measure vibration even though the received amount of light is low. CONSTITUTION: An optical system(1000) comprises a light source unit(1100) and a light splitting unit(1200). The light source unit irradiates beams. The light splitting unit is arranged in a beam progressing route, thereby receiving the beams. Reference beam progresses along a first optical passage(a) based on polarizing components of the beams. The light splitting unit splits irradiation beams so that the irradiation beams progress along a second optical passage(b). The light splitting unit irradiates the split irradiation beams to the object, makes measurement beams reflected by the object progress along a third optical passage(c), receives the measurement beams, and transmits the received measurement beams. The light splitting unit includes a first spectrum module(1210) and the second spectrum module(1220). [Reference numerals] (AA) Beam irradiated from a light source; (BB) Beam irradiated to an object to be measured(irradiation beam); (CC) Beam received by being reflected from the object(measurement beam); (DD) Reference beam;
Abstract:
PURPOSE: A detection signal amplitude control device and method of a phase detection method laser scanner are provided to accurately measure the distance of an object regardless of surface color of the object. CONSTITUTION: A reverse bias voltage controller(40) applies a reverse bias voltage to an optical signal detector. The optical signal detector detects reflected light of laser light which is reflected after being projected to an object from a laser light source. The optical signal detector changes the reflected light into an electric signal. A root-mean-square detector(50) detects a root-mean-square of an output signal of a signal processor. The signal processor processes the electric signal changed by the optical signal detector and detects phase difference of the reflected light and reference light. A proportional-integral controller(70) integrates the difference of the root-mean-square and a reference voltage and outputs it as a control signal of the reverse bias voltage controller.
Abstract:
본 발명은 레이저 스캐너에서 중간 주파수 신호를 이용한 복조를 통해 광신호의 위상을 계산하는 장치와 그 방법, 및 상기 장치를 구비하는 레이저 스캐너에 관한 것이다. 본 발명은 미리 정해진 복조 주파수 성분을 갖는 제1 기준 신호를 이용하여 관측 대상물로부터 반사된 반사 신호를 위상 복조시킨 제1 중간 주파수 신호를 생성하는 제1 신호 생성부; 제1 기준 신호를 위상 천이시킨 위상 천이 신호를 이용하여 제1 중간 주파수 신호를 위상 복조시킨 제2 중간 주파수 신호를 생성하는 제2 신호 생성부; 및 제1 중간 주파수 신호로부터 추출된 중간 주파수 성분을 갖는 제2 기준 신호와 제2 중간 주파수 신호를 증폭시킨 최종 중간 주파수 신호를 이용하여 반사 신호의 위상을 계산하는 위상 계산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 위상 계산 장치를 제공한다. 본 발명에 따르면, 변조/복조 신호 처리시 높은 증폭률을 얻을 수 있으며, 저주파 노이즈를 감소시킬 수 있다. 또한, 신호대잡음비를 개선시킬 수 있으며, 스캐너의 분해능을 향상시킬 수 있다. 레이저 스캐너, 위상 복조, 위상 계산, 분해능, 신호대잡음비(SNR), 스캐너 헤드