다중 데이터의 배칭 처리 방법 및 장치
    21.
    发明公开
    다중 데이터의 배칭 처리 방법 및 장치 审中-实审
    多数据量化方法与装置

    公开(公告)号:KR1020160100147A

    公开(公告)日:2016-08-23

    申请号:KR1020150022732

    申请日:2015-02-13

    CPC classification number: G06F9/5038 G06F9/4843 G06F1/329 G06F9/44

    Abstract: 본발명은다중데이터의배칭처리방법및 장치에관한것이다. 이러한발명은제1 프로세서의다중데이터의배칭처리방법에있어서, 적어도하나의어플리케이션의배칭옵션정보에따라배칭데이터구성정보를제2 프로세서로전송하는과정과, 상기배칭데이터구성정보에기초하여획득된적어도하나의데이터를포함하는배칭데이터를상기제2 프로세서로부터수신하는과정과, 상기수신된배칭데이터를상기배칭옵션정보에따라상기적어도하나의어플리케이션에배칭처리하는과정을포함할수 있다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于多个数据的批量处理的方法和装置。 根据本发明,用于第一处理器的多个数据的批量处理的方法包括以下步骤:根据至少一个应用的批处理选项信息向第二处理器发送批量数据合成信息; 接收包括基于来自第二处理器的批量数据合成信息获得的至少一个数据的批量数据; 以及根据所述批处理选项信息,在所述至少一个应用程序上批量处理所接收的批处理数据。

    제스처를 인식하는 방법 및 장치
    23.
    发明公开
    제스처를 인식하는 방법 및 장치 审中-实审
    识别手法的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020150121949A

    公开(公告)日:2015-10-30

    申请号:KR1020140048216

    申请日:2014-04-22

    Abstract: 본개시는제스처를인식하는방법및 장치에관한것으로, 본개시의다양한실시예에따른제스처를인식하는방법은상기제스처에대한적어도하나의벡터값을추출하는동작과상기벡터값에기반하여벡터의패턴을생성하는동작과기 저장된적어도하나의벡터의패턴과상기생성된벡터의패턴을비교하는동작및 상기비교동작에기반하여제스처의유형을결정하는동작을포함할수 있다. 또한본 개시의다양한실시예에따른제스처를인식하는방법은적어도둘 이상의멀티근접입력을감지시, 상기멀티근접입력에대한적어도하나의제1벡터값을추출하는동작과상기멀티근접입력이감지된상태에서움직임이발생하면, 상기움직임에대한적어도하나의제2벡터값을추출하는동작과상기제1벡터값과상기제2벡터값의이동궤적을분석하여핀치제스처인지여부를결정하고는동작및 핀치제스처이면, 상기핀치제스처에대응하는기능을수행하는동작을포함할수 있다. 이밖에도다양한실시예가가능하다.

    Abstract translation: 本发明涉及用于识别手势的方法和装置。 根据本发明的各种实施例,用于识别手势的方法包括以下步骤:提取手势的至少一个矢量值; 基于向量值生成向量模式; 将至少一个预存储向量的模式与生成的向量模式进行比较; 以及基于所述比较结果确定所述手势的类型。 此外,根据本发明的各种实施例的用于识别手势的方法包括以下步骤:当检测到至少两个多接近输入时,提取用于多邻近输入的至少一个第一向量值; 当在检测到多接近输入的状态下发生移动时,提取用于移动的至少一个第二向量值; 分析第一矢量值和第二矢量值的轨迹,并且确定手势是否是捏合手势; 并且如果手势是捏捏手势,则执行对应于捏捏手势的功能。 此外,可以实现其他各种实施例。

    사용자의 활동량 측정 방법 및 장치
    24.
    发明公开
    사용자의 활동량 측정 방법 및 장치 有权
    测量用户体力活动的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020150115478A

    公开(公告)日:2015-10-14

    申请号:KR1020140040606

    申请日:2014-04-04

    Abstract: 본발명의실시예에따라전자장치는활동량을카운트하고, 제1카운트시작시각과, 제2카운트종료시각과, 상기제1카운트시작시각에서상기제2카운트종료시각사이에카운트된제1활동량을포함하는카운트정보를저장하고, 근거리통신을통해적어도하나의다른장치와연결되면, 상기다른장치로부터제2카운트정보를수신하고, 상기제2카운트정보에포함된제2카운트시작시각과, 제2카운트종료시각과, 제2활동량및 상기제1 카운트정보를이용하여, 통합활동량을결정하고, 상기전자장치에대응하는전체활동량을상기통합활동량으로변경하고, 상기통합활동량을상기다른장치로전송하여, 활동량을동기화할수 있다.

    Abstract translation: 根据本发明的实施例的电子设备计数活动量; 存储包括第一计数开始定时,第一计数结束定时和在第一计数开始定时和第一计数结束定时之间计数的第一活动量的计数信息; 当通过近距离通信连接至少一个其他设备时,从另一设备接收第二计数信息; 使用包括第二计数开始定时,第二计数结束定时和第二活动量的第二计数信息和第一计数信息来确定积分量的量; 并且通过将与电子设备相对应的整个活动量改变为综合活动量来执行活动量的同步,以及向其他设备发送积分活动量。

    지문 인식 방법 및 그 전자 장치
    25.
    发明公开
    지문 인식 방법 및 그 전자 장치 审中-实审
    指纹识别方法及其电子设备

    公开(公告)号:KR1020150111632A

    公开(公告)日:2015-10-06

    申请号:KR1020140035205

    申请日:2014-03-26

    Abstract: 본발명의다양한실시예에따르면, 전자장치의동작방법은, 지문문지름을감지하는동작, 및상기지문문지름에의해획득되는이미지에기반하여지문을인식하는동작을포함할수 있다. 또한, 다른실시예가가능하다.

    Abstract translation: 根据本发明,可以提高识别指纹率的指纹识别方法及其电子装置。 根据本发明的各种实施例,一种用于操作电子设备的方法包括以下操作:感测手指的摩擦; 并且基于通过摩擦手指获得的图像来识别指纹。 此外,其它实施例也是可能的。

    반도체 집적 회로 장치 및 그 제조 방법
    27.
    发明授权
    반도체 집적 회로 장치 및 그 제조 방법 有权
    半导体集成电路器件和fabficating方法相同

    公开(公告)号:KR101526182B1

    公开(公告)日:2015-06-05

    申请号:KR1020090012509

    申请日:2009-02-16

    CPC classification number: H01L28/40 H01L28/56 H01L28/65

    Abstract: 반도체집적회로장치가제공된다. 반도체집적회로장치는기판상에형성된하부전극, 상기하부전극상에금속질화막및 금속질산화막을포함하는그룹에서선택된하나또는그 조합으로형성된제1 유전막, 상기제1 유전막상에형성되어지르코늄산화막을포함하는제2 유전막및 상기제2 유전막상에형성된상부전극을포함한다.

    지르코늄 산화막과 지르코늄 산질화막 형성방법 및 이를이용하는 반도체 장치 및 그 제조방법
    28.
    发明授权
    지르코늄 산화막과 지르코늄 산질화막 형성방법 및 이를이용하는 반도체 장치 및 그 제조방법 有权
    形成氧化锆膜和氧氮化锆膜的方法,使用其的半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:KR101515471B1

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:KR1020080028510

    申请日:2008-03-27

    Abstract: 고유전율을 가지는 지르코늄 산화막 형성 방법 및 이를 이용하는 반도체 장치의 형성 방법 및 이에 의해 형성되는 반도체 장치를 이용하는 시스템 장치를 제공한다. 유전율이 높은 지르코늄 산화막과 지르코늄 산질화막 2중 구조로 형성되거나, 지르코늄 산화막과 지르코늄 산질화막 및 지르코늄 산화막 3중 구조를 이용한 반도체 디바이스는 리키지가 없는 고유전막 구조로 넓은 면적의 전극막을 형성할 필요가 없어 단위 면적당 소자의 용량을 증가시킬 수 있다.

    Abstract translation: 它提供了一种具有高介电常数和用于使用相同的系统中形成的半导体装置的形成方法的方法,以及使用由形成的半导体器件本装置的氧化锆膜。 或介电常数与高氧化锆和氮氧化锆双层结构,氧化锆和氧氮化锆层和氧化锆层3使用双结构的半导体器件形成的是没有必要的由一个唯一的导体膜结构以形成一个大面积的膜电极不是土地瑞奇 设备的单位面积容量可以增加。

    저전력으로 위치 변화를 측정하는 전자 장치 및 방법
    29.
    发明公开
    저전력으로 위치 변화를 측정하는 전자 장치 및 방법 审中-实审
    用于测量电子设备中低功耗方式的位置电荷的装置和方法

    公开(公告)号:KR1020150025609A

    公开(公告)日:2015-03-11

    申请号:KR1020130103371

    申请日:2013-08-29

    CPC classification number: G06F1/3206 G06F1/3293 Y02D10/122

    Abstract: 본 발명은 전자 장치의 동작 방법에 있어서, 제1 프로세서에서 구비된 적어도 하나의 센서를 이용하여 상태 변화가 있는지 여부를 판단하는 과정; 상기 상태 변화가 있다고 판단한 경우 상기 제1 프로세서에서 제2 프로세서로 상태 정보를 전송할지 여부를 결정하는 과정; 및 상기 상태 정보를 수신하였는지 여부에 따라 상기 제2 프로세서에서 구비된 측위 모듈을 이용하여 설정된 주기마다 변화된 위치를 측정할지 여부를 결정하는 과정을 그 구성상의 특징으로 하는 저전력으로 위치 변화를 측정하는 전자 장치 및 방법에 관한 것이다.

    Abstract translation: 本发明的目的是提供一种能够通过仅在连接到多个传感器的第一处理器检测到第二处理器时测量第二处理器的位置的变化而有效地减少电子设备的电流消耗的装置和方法 改变电子设备的状态。 一种用于操作电子设备的方法包括:通过使用设置在第一处理器中的至少一个传感器来确定电子设备的状态是否改变; 当确定存在电子设备的状态改变时,确定是否将状态信息从第一处理器发送到第二处理器; 以及根据所述状态信息是否被接收,通过使用设置在所述第二处理器中的定位模块来确定是否测量每个设置周期中的改变的位置。

    전자장치의 환경 값 검출방법 및 전자장치
    30.
    发明公开
    전자장치의 환경 값 검출방법 및 전자장치 审中-实审
    用于检测电子设备和电子设备中的环境因素的方法

    公开(公告)号:KR1020140113351A

    公开(公告)日:2014-09-24

    申请号:KR1020140024128

    申请日:2014-02-28

    Abstract: A method of detecting an environmental value of an electronic device according to various embodiments of the present invention may include identifying at least one device state measurement value related to the electronic device; determining an operation state of the electronic device according to the device state measurement value; and generating an approximated environmental value according to the operation state. Further, other various embodiments are available.

    Abstract translation: 根据本发明的各种实施例的检测电子设备的环境值的方法可以包括识别与电子设备相关的至少一个设备状态测量值; 根据设备状态测量值确定电子设备的操作状态; 并根据操作状态产生近似的环境值。 此外,其他各种实施例是可用的。

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