Abstract:
Es wird ein strahlungsemittierendes Halbleiterbauelement (1) angegeben, das einen Halbleiterkörper mit einer Halbleiterschichtenfolge (2) aufweist, wobei die Halbleiterschichtenfolge einen zur Erzeugung von Strahlung mit einer Peak-Wellenlänge im nahen infraroten Spektralbereich vorgesehenen aktiven Bereich (20) und einen Absorptionsbereich (3) aufweist, wobei der Absorptionsbereich einen kurzwelligen Strahlungsanteil mit einer Grenzwellenlänge, die kleiner ist als die Peak-Wellenlänge, zumindest teilweise absorbiert.
Abstract:
Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip (1) mit einem Halbleiterkörper, der eine Halbleiterschichtenfolge (2) mit einem zum Erzeugen und/oder Empfangen von Strahlung vorgesehenen aktiven Bereich (20), einem ersten Halbleiterbereich (21) eines ersten Leitungstyps, einem zweiten Halbleiterbereich (22) eines zweiten Leitungstyps und einer Deckschicht (25) aufweist, angegeben. Der aktive Bereich (20) ist zwischen dem ersten Halbleiterbereich (21) und dem zweiten Halbleiterbereich (22) angeordnet und weist auf der dem aktiven Bereich abgewandten Seite eine Kontaktschicht (210) auf. Die Deckschicht (25) ist auf der dem aktiven Bereich (20) abgewandten Seite des ersten Halbleiterbereichs (21) angeordnet und weist zumindest eine Aussparung (27) auf, in der die Kontaktschicht (210) an die erste Anschlussschicht (3) angrenzt. Die Deckschicht ist vom zweiten Leitungstyp. Weiterhin wird ein Verfahren zur Herstellung von optoelektronischen Halbleiterchips angegeben.
Abstract:
A method of treating a semiconductor wafer (10) comprising a set of Aluminum Gallium Indium Phosphide light emitting diodes or AlGaInP-LEDs to increase the light generating efficiency of the AlGaInP-LEDs, wherein each ALGaInP-LED includes a core active layer for light generation sandwiched between two outer layers, the core active layer having a central light generating area (20) and a peripheral edge (22) surrounding the central light generating area, the method comprising the step of treating the peripheral edge (22) of the core active layer of each AlGaInP-LED with a laser beam (L), thus increasing the minimum band gap in each peripheral edge (22) to such an extent that, during later operation of the AlGaInP-LED, the electron-hole recombination is essentially confined to the central light generating area.
Abstract:
A method for manufacturing a semiconductor device, particularly an optoelectronic device, proposes to provide a growth substrate (10); to deposit an n-doped first layer (20) and an active region (30) on the n-doped first layer (20); then a second layer (50) is deposited onto the active region (30); the second layer is doped with Mg in the second layer (50); Subsequently to depositing Mg, Zn is deposited in the second layer (50) such that a concentration of Zn in the second layer is decreasing from a first value to a second value in a first area of the second layer adjacent to the active region, said first area in the range of 5 nm to 200 nm, in particularly less than 50nm.
Abstract:
A light-emitting diode chip comprising a semiconductor layer sequence (5) comprising a phosphide compound semiconductor material is specified, wherein the semiconductor layer sequence (5) contains a p-type semiconductor region (2), an n-type semiconductor region (4) and an active layer (3) arranged between the p-type semiconductor region (2) and the n-type semiconductor region (4) and serving for emitting electromagnetic radiation. The n-type semiconductor region (4) faces a radiation exit area (6) of the light-emitting diode chip, and the p‑type semiconductor region (2) faces a carrier (7) of the light-emitting diode chip. A current spreading layer (1) having a thickness of less than 500 nm is arranged between the carrier (7) and the p‑type semiconductor region (2), said current spreading layer having one or a plurality of p‑doped Al x Ga 1-x As layers where 0.5
Abstract:
In at least one embodiment, the semiconductor layer sequence (10) has an n-conducting n side (11), a p-conducting p side (13) and an active zone (2) lying in between. The active zone (2) has at least one radiation-active layer (21) with a first material composition for generating a first radiation (L1). The at least one radiation-active layer (21) is oriented perpendicularly to a direction of growth (z) of the semiconductor layer sequence. Furthermore, the active zone (2) has a multiplicity of radiation-active tubes (22) with a second material composition or a different crystal structure for generating a second radiation (L2), wherein the second material composition is different from the first material composition. The radiation-active tubes (22) are oriented parallel to the direction of growth (z).