公开(公告)号：CN105473511B

公开(公告)日：2017-08-15

申请号：CN201480044546.5

申请日：2014-03-12

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 小林伸次 ,  阿部法光 ,  出健志 ,  城田昭彦 ,  竹内贤治

IPC: C02F1/32

CPC classification number: C02F1/325 ,  C02F1/52 ,  C02F1/76 ,  C02F2001/007 ,  C02F2201/005 ,  C02F2201/322 ,  C02F2201/3225 ,  C02F2201/3227 ,  C02F2201/326 ,  C02F2209/42 ,  C02F2303/04 ,  G01J1/0295 ,  G01J1/429

Abstract: 实施方式的紫外线照射装置具备处理槽、紫外线照射部件、紫外线传感器、以及空气排出部。处理槽包括用于供给处理对象的处理水的供水口和用于排出处理水的排水口。紫外线照射部件设于处理槽的内部，对经过处理槽的内部的处理水照射紫外线。紫外线传感器设于处理槽的内部，并且测量来自紫外线照射部件的紫外线照射量。空气排出部与空气排出孔连接，该空气排出孔设于比通过紫外线传感器的水平面高的位置，上述空气排出部被设为用于使处理水经过处理槽的内部时积存于处理槽的内部的空气经由空气排出孔向处理槽的外部逸出。

公开(公告)号：CN106895908A

公开(公告)日：2017-06-27

申请号：CN201710197774.1

申请日：2017-03-29

Applicant: 中国汽车技术研究中心

Inventor： 赵斌 ,  朱瑛 ,  柳沛 ,  张大垒

IPC: G01J1/02

CPC classification number: G01J1/0228 ,  G01J1/0295

Abstract: 本发明提供了一种高稳定度激光定位光度探头期间核查装置，包括定位滑调装置、灯光控制装置及控制框架；所述定位滑调装置固设在所述控制框架上，所述定位滑调装置上设有照准激光，所述定位滑调装置能够准确定位照准激光并在灯光控制装置的光束与照准激光重合后将照准激光撤开。本发明所述的高稳定度激光定位光度探头期间核查装置采用了定位滑调装置调节照准激光对需要核查的光度计进行照准，并采用了长寿命高功率精密灯泡，解决了长期以来汽车行业光度试验室对光度计核查装置的光度稳定度和照准定位精度的问题。

公开(公告)号：CN106605130A

公开(公告)日：2017-04-26

申请号：CN201580039107.X

申请日：2015-05-19

Applicant: IDT欧洲有限责任公司

Inventor： T·雷谢尔 ,  L·西弗纳 ,  M·加尔扎罗利 ,  M·桑迪格 ,  L·格普费特

IPC: G01J1/02 ,  G01J5/02 ,  G01J5/04 ,  H01L31/0203 ,  H01L31/0216

CPC classification number: G01J1/0214 ,  G01J1/0295 ,  G01J1/429 ,  G01J1/44 ,  G01J5/0285 ,  G01J5/045 ,  G01J2001/0276 ,  G01J2001/446 ,  H01L27/1462 ,  H01L27/14623 ,  H01L27/14636 ,  H01L27/14643 ,  H01L31/0203 ,  H01L31/02164 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/49175 ,  H01L2924/00014

Abstract: 本发明涉及在CMOS方法中产生的紫外光传感器，包括带有表面的基底，设计在上述基底中并检测射线的一个或多个传感器元件，至少一个置于上述基底表面上方的钝化层，以及置于上述钝化层上方并以至少一个滤光层形式设计的功能层。根据配置，通过直接设计在平坦钝化层上的滤光层，以及上述至少一个传感器元件周围和/或所述紫外光传感器周围的杂散光抑制装置，解决了通过本发明提供专门在紫外线波长范围内灵敏的紫外光传感器所处理的问题。根据上述方法，通过测量来自至少两个适用不同滤光层的光敏二极管的两个输出信号，并通过确定上述两个输出信号之间的数学关系，解决了上述问题。

公开(公告)号：CN106546325A

公开(公告)日：2017-03-29

申请号：CN201610937841.4

申请日：2016-10-25

Applicant: 复旦大学

Inventor： 张潇临 ,  刘木清 ,  李默楠 ,  胡晓剑

IPC: G01J1/02

CPC classification number: G01J1/0295

Abstract: 本发明涉及一种光度学测试的光谱校正方法，该方法通过光谱校正装置实现，所述装置包括主探头测试模块，附属探头校正模块，标准光源，计算处理模块和外接显示模块。主探头测试模块和附属探头校正模块直接接受待测光照射，由主探头将接收到的光信号转化为电信号，输出给计算处理模块，与标准光源照射下的信号对比，得到经过标准光源校准但未经光谱校正的光度学参数测量值；附属探头校正模块接受光信号后，由多探头对可见光范围内的光谱进行分段光电积分，输出电信号给计算处理模块，得到一个新的校正系数，对未经光谱校正的测量值进行校正，从而得到一个更准确的光度学测量结果，由外接显示模块显示。该方法大大提高了LED等离散光谱光源光度测量的准确性。

公开(公告)号：CN106030362A

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201480076116.1

申请日：2014-11-12

Applicant: 株式会社藤仓

Inventor： 柏木正浩

IPC: G02B6/42 ,  H01S3/067

CPC classification number: H01S3/0014 ,  G01J1/0295 ,  G01J1/0425 ,  G01J1/4257 ,  G02B6/264 ,  G02B6/4286 ,  G02B6/4287 ,  G02B6/4291 ,  H01S3/06704 ,  H01S3/0675 ,  H01S3/094007

Abstract: 本发明提供光功率监控装置、光纤激光器以及光功率监控方法。光功率监控装置(1)具备：低折射率树脂层(20)，覆盖光纤(F1、F2)的连接部、以及从连接部起的光纤(F1)的规定区域；高折射率树脂层(21)，覆盖光纤(F2)的未由低折射率树脂层(20)覆盖的区域；以及输出光检测器(16)，配置于低折射率树脂层(20)的前向光的输出侧的端部、或者从端部朝前向光的输出侧分离的位置。

公开(公告)号：CN103367378A

公开(公告)日：2013-10-23

申请号：CN201310109422.8

申请日：2013-03-29

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 冈田聪 ,  猿田尚志郎

IPC: H01L27/146 ,  G01T1/20

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/0295 ,  G01J1/58 ,  G01J2001/086 ,  G01T1/24

Abstract: 本发明涉及一种放射线检测设备和放射线检测系统。该放射线检测设备包括：基板；像素区域，其在所述基板上由一个或多个包括传感器元件的像素所构成；以及光源，其中，所述光源设置在所述基板的设置了所述像素区域的一侧并且位于所述像素区域外，以及来自所述光源的光入射到所述传感器元件上。

公开(公告)号：CN101803458A

公开(公告)日：2010-08-11

申请号：CN200880108103.2

申请日：2008-09-16

Applicant: 欧陆汽车有限责任公司

Inventor： S·贾诺多利 ,  S·霍尔津格

IPC: H05B33/08 ,  G01J1/02 ,  G01J1/44 ,  B60Q11/00 ,  G01J1/42

CPC classification number: G01J1/4257 ,  B60Q11/005 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0214 ,  G01J1/0295 ,  G01J1/4204 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/4242 ,  G01J2001/4252 ,  H05B33/0818 ,  H05B33/0848

Abstract: 本发明涉及用于检测由LED光源发射的光功率的方法和装置。利用相应于二进制代码来进行对所述LED光源的控制。借助传感装置检测由所述LED光源发射的光。在控制和调节单元中分析所述传感装置的测量信号。利用具有不规则位序列的二进制代码来控制LED光源。

公开(公告)号：CN108780113A

公开(公告)日：2018-11-09

申请号：CN201780015714.1

申请日：2017-01-30

Applicant: 奥斯特公司

Inventor： A·珀卡拉 ,  M·弗里奇利

IPC: G01Q40/00 ,  G01N21/01 ,  G01N21/17 ,  G11B7/125

CPC classification number: G01J1/0295 ,  G01B11/026 ,  G01B11/24 ,  G01J1/0252 ,  G01J1/08 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/086 ,  G01J2001/442 ,  G01J2001/444 ,  G01S7/481 ,  G01S7/4815 ,  G01S7/497 ,  G01S17/42 ,  G01S17/89 ,  H01L27/146

Abstract: 本公开提供了一种校准系统，该校准系统包括孔层、透镜层、滤光器、像素层和调节器。孔层限定校准孔。透镜层包括基本上与校准孔轴向对准的校准透镜。滤光器与透镜层相邻并且与孔层相对。像素层与滤光器相邻并且与透镜层相对，并且包括基本上与校准透镜轴向对准的校准像素。校准像素检测照明源的光功率，该照明源输出随参数变化的波长带的光。调节器基于校准像素检测的光功率来更改照明源的参数。

公开(公告)号：CN106289521B

公开(公告)日：2018-03-02

申请号：CN201510390024.7

申请日：2015-07-06

Applicant: 创意电子股份有限公司 ,  台湾积体电路制造股份有限公司

Inventor： 刘昌明

IPC: G01J3/10

CPC classification number: G01J1/0295 ,  G01J1/0418 ,  G01J1/0474 ,  G01J1/08 ,  G01J1/4228 ,  G01J2001/083 ,  G01J2001/4247 ,  G01N2201/0634

Abstract: 一种亮度校正方法及光学检测系统。亮度校正方法应用于光学检测系统中。光学检测系统包含单光源照射器以及探针卡。单光源照射器用以朝向探针卡照射。探针卡具有多个检测位置。亮度校正方法包含：以感测芯片透过多个扩散片其中之一依序在检测位置量测亮度；以感测芯片在检测位置其中之一依序量测扩散片的透明度；以及筛选透明度中较大者所对应的扩散片并分别设置于亮度中较小者所对应的检测位置上方，并筛选透明度中较小者所对应的扩散片并分别设置于亮度中较大者所对应的检测位置上方。借此，根据本发明的亮度校正方法所制造的光学检测系统将可有效地降低光源均匀度、扩散片偏差度与不同检测位置所造成的检测偏差。

公开(公告)号：CN105035926B

公开(公告)日：2017-11-21

申请号：CN201510216560.5

申请日：2015-04-30

Applicant: 英盛达(广州)光电科技有限公司

Inventor： 彼得·柯林斯 ,  约翰·寇松

IPC: B66B13/26

CPC classification number: B66B13/26 ,  E05F15/73 ,  E05F15/78 ,  E05Y2400/458 ,  E05Y2400/50 ,  E05Y2900/104 ,  G01J1/0295 ,  G01V8/10

Abstract: 公开了一种光学门传感器100的测试方法，该光学门传感器100具有用于发射光信号104的发射器102和用于检测光信号104的接收器106，该光学门传感器100具有至少一个传感器操作参数并且还具有基线状态，在该基线状态下，接收器102可以检测到来自发射器106的光信号。该方法包括：设置光学门传感器处于偏移状态204，304，在该偏移状态下，传感器操作参数偏移基线设置一偏移量，基线设置对应于光学门传感器的基线状态；使用处于偏移状态的光学门传感器进行信号测试206；以及，当用于偏移状态的信号测试结果为负并且偏移量小于或等于极限裕度时，产生警报216。信号测试包括：发射器发射光信号208并且确定光信号是否被接收器210检测到。如果光信号被接收器检测到，则信号测试结果为正，如果光信号没有被接收器检测到，则信号测试结果为负。