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公开(公告)号：CN106289521A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201510390024.7
申请日：2015-07-06
Applicant: 创意电子股份有限公司 , 台湾积体电路制造股份有限公司
Inventor： 刘昌明
IPC: G01J3/10
CPC classification number: G01J1/0295 , G01J1/0418 , G01J1/0474 , G01J1/08 , G01J1/4228 , G01J2001/083 , G01J2001/4247 , G01N2201/0634
Abstract: 一种亮度校正方法及光学检测系统。亮度校正方法应用于光学检测系统中。光学检测系统包含单光源照射器以及探针卡。单光源照射器用以朝向探针卡照射。探针卡具有多个检测位置。亮度校正方法包含：以感测芯片透过多个扩散片其中之一依序在检测位置量测亮度；以感测芯片在检测位置其中之一依序量测扩散片的透明度；以及筛选透明度中较大者所对应的扩散片并分别设置于亮度中较小者所对应的检测位置上方，并筛选透明度中较小者所对应的扩散片并分别设置于亮度中较大者所对应的检测位置上方。借此，根据本发明的亮度校正方法所制造的光学检测系统将可有效地降低光源均匀度、扩散片偏差度与不同检测位置所造成的检测偏差。
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公开(公告)号：CN103776547A
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201410066672.2
申请日：2014-02-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01J5/20
CPC classification number: G01J1/4257 , G01J1/08 , G01J1/4228 , G01J3/42 , G01J2001/083
Abstract: 本发明提供一种太赫兹量子阱探测器绝对响应率的标定方法及装置，所述装置至少包括：驱动电源、单频激光源、光学镜、太赫兹阵列探测器、太赫兹功率计、电流放大器及示波器。所述标定方法采用功率可测定的单频激光源作为标定光源，得到探测器在该激光频率处的绝对响应率参数，利用探测器的归一化光电流谱可进一步计算得到探测器在其任意可探测频率处的绝对响应率参数。本发明直接采用周期输出的单频激光源作为标定光源，采用太赫兹阵列探测器和功率计直接测量来获得被标定探测器的入射功率，极大地减小了传统标定方法中背景光、水汽吸收的影响，避免了各种谱积分的复杂计算，整个标定过程简单，引入误差小，具有广泛适用性。
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公开(公告)号：CN107356854A
公开(公告)日：2017-11-17
申请号：CN201710605412.1
申请日：2017-07-20
Applicant: 中国科学技术大学
IPC: G01R31/26 , G01R31/265 , G01J1/08 , G01J1/04
CPC classification number: G01R31/2656 , G01J1/0418 , G01J1/08 , G01J2001/083 , G01R31/2601
Abstract: 本公开提供了一种单光子光电器件的光强标定装置和方法，光源产生激光；衰减光路衰减光源产生的激光，并将衰减后的激光转换为自由空间的光束；当单光子光电器件与衰减光路发出的光束位置对准并被光束照射时，单光子光电器件上的光子数为目标光子数。光强标定装置无需超高精度光学设备，可以达到很高的标定精度；可以对单光子光电器件进行远距离的非接触式标定；在单光子光束和强光光束之间切换无需调节衰减器，保证了很高的重复精度。
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公开(公告)号：CN105277278A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201510284644.2
申请日：2015-05-28
Applicant: 意法半导体股份有限公司
IPC: G01J1/42
CPC classification number: G01J1/429 , G01J1/0219 , G01J1/44 , G01J2001/083 , G01J2001/4266 , G01J2001/444
Abstract: 本发明的各个实施例涉及用于UV指数检测的半导体集成器件以及相关的校准系统和方法。一种用于检测UV指数的集成器件(1)被设置有：光检测器(2)，根据检测到的UV辐射，生成检测量(Ipuvd)；以及处理级(6)，耦合至光检测器(2)，并且根据检测量(Ipuvd)在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)。处理级(6)基于调节因子(Gtrim)对检测量(Ipuvd)进行处理，以在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)；并且进一步被设置有：调节级(4)，耦合至处理级(6)，用于对调节因子(Gtrim)的值进行调节。
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公开(公告)号：CN105008898A
公开(公告)日：2015-10-28
申请号：CN201380074290.8
申请日：2013-03-22
Applicant: 福斯分析股份公司
Inventor： 玛加·基斯汀·埃尔索伊 , 亨里克·V·朱尔 , 托马斯·尼古拉吉森
CPC classification number: G01N21/3563 , G01J3/28 , G01J3/443 , G01J2001/083 , G01N1/286 , G01N21/35 , G01N21/718 , G01N33/24 , G01N2201/129
Abstract: 一种用于测定样品(114)的特性的系统(102)，包含用于询问样品(114)的一个LIBS检测器(104，106)和一个红外吸收检测器(108，110)以便分别产生LIBS光谱数据和红外吸收光谱数据；以及一个被适配成用于应用至少一个化学计量预测模型的数据处理器(112)，每一个化学计量预测模型被构建成用于将LIBS和吸收光谱数据二者的特征与该样品的一个不同的特定特性、与衍生自该LIBS数据和该吸收数据二者的至少一部分的一个组合数据集相关联、优选定量地相关联，以便由此产生由那个模型关联的特定特性的测定、优选地定量测定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104919289A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201380068307.9
申请日：2013-11-25
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
CPC classification number: G01J1/08 , G01J1/4204 , G01J2001/083
Abstract: 本发明涉及一种用于感应环境光强度的光感应系统，包括具有至少一个光传感器的光感应装置和用于校准传感器的校准装置。校准装置包括至少一个发射标准强度的光的光源。本发明还涉及一种相应的用于校准光感应装置的方法，包括：使用具有标准光强度的光照射光感应装置的光传感器，将传感器的输出强度信号与对应于标准强度的期望信号相比较，且通过调整传感器的增益参数，使传感器的输出强度信号匹配预期信号。
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公开(公告)号：CN106289521B
公开(公告)日：2018-03-02
申请号：CN201510390024.7
申请日：2015-07-06
Applicant: 创意电子股份有限公司 , 台湾积体电路制造股份有限公司
Inventor： 刘昌明
IPC: G01J3/10
CPC classification number: G01J1/0295 , G01J1/0418 , G01J1/0474 , G01J1/08 , G01J1/4228 , G01J2001/083 , G01J2001/4247 , G01N2201/0634
Abstract: 一种亮度校正方法及光学检测系统。亮度校正方法应用于光学检测系统中。光学检测系统包含单光源照射器以及探针卡。单光源照射器用以朝向探针卡照射。探针卡具有多个检测位置。亮度校正方法包含：以感测芯片透过多个扩散片其中之一依序在检测位置量测亮度；以感测芯片在检测位置其中之一依序量测扩散片的透明度；以及筛选透明度中较大者所对应的扩散片并分别设置于亮度中较小者所对应的检测位置上方，并筛选透明度中较小者所对应的扩散片并分别设置于亮度中较大者所对应的检测位置上方。借此，根据本发明的亮度校正方法所制造的光学检测系统将可有效地降低光源均匀度、扩散片偏差度与不同检测位置所造成的检测偏差。
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公开(公告)号：CN106872026A
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201710195403.X
申请日：2017-03-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01J1/08
CPC classification number: G01J1/08 , G01J2001/083 , G01J2001/086
Abstract: 本发明实施例涉及一种可调微弱光发生装置，包括：光源，用于输出入射光；可调光阑，设置于所述光源的出射端，通过调整所述可调光阑，控制通过可调光阑的所述入射光的光通量；积分球，所述积分球包括入射口、出射口、档屏和光电探测器，所述光电探测器输出探测光电流；可编程光度计，与所述光电探测器相连接，接收所述探测光电流，对所述探测光电流进行前置放大、模数转换和信号处理，形成光电反馈电路，为所述光源提供高稳定度恒流电。本发明实施例提供的可调微弱光发生装置，通过可调光阑使积分球出射口具有高稳定度的可调微弱光。该装置成本低，精度高，操作简便。
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公开(公告)号：CN106768307A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611191459.X
申请日：2016-12-21
Applicant: 福建省计量科学研究院
CPC classification number: G01J1/00 , G01J1/0295 , G01J1/08 , G01J2001/0481 , G01J2001/083
Abstract: 本发明提供一种紫外辐照度计的校准装置，包括紫外光源设备、积分球、可调光阑组件、以及光阑控制器；所述积分球上设置有光源进光口、至少三个标准紫外辐照度计测试口、以及一个被检紫外辐照度计测试口；所述紫外光源设备的发射口与积分球的光源进光口位于同一水平面上，且所述可调光阑组件设置于发射口和光源进光口之间，所述光阑控制器控制所述可调光阑组件的开口大小的调节。本发明提高紫外辐射照度计的校准效率的同时降低其校准不确定度。
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公开(公告)号：CN106482830A
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201610865960.3
申请日：2016-09-29
Applicant: 清华大学
CPC classification number: G01J1/44 , G01J1/08 , G01J2001/083 , G01J2001/442 , G01J2001/444
Abstract: 本发明涉及光电探测器标定的技术领域，特别是一种基于标准光源的光子计数器的标定系统和方法，系统包括：标准光源、光纤光路、遮光筒、光子计数器、计数单元和上位机系统；光纤光路连接标准光源和遮光筒，光子计数器连接遮光筒和计数单元，计数单元通过RS232接口与上位机系统连接。利用该系统对光子计数器的本底计数、检测范围、线性计数率和检测重复性进行测试并进行标定。本发明有益效果：标准光源使用双积分衰减器和实时强度检测探测器，可获得均匀、非线性误差小的复合白光；适用波长范围大，可对工作波长在300nm至2500nm内仪器进行标定；标定方法的可行性强，对实验技巧要求低，可以直接量化检验线性度并进行校正。
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