公开(公告)号：CN104838262A

公开(公告)日：2015-08-12

申请号：CN201380064345.7

申请日：2013-11-19

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 横井祐介

IPC: G01N30/86 ,  G01N21/27 ,  G01N30/74

CPC classification number: G01N21/274 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/4257 ,  G01J2001/086 ,  G01J2001/444 ,  G01N30/8641

Abstract: 本发明提供能够使用更小容量的缓存来高精度地计算出漂移的漂移计算装置以及具有该漂移计算装置的光检测装置。每当测定强度以规定周期被输入时，就基于当时的测定强度以及测定时间中的至少一方更新多个总和用缓存(321～324)的数据。各总和用缓存(321～324)被分配给构成用于使用最小二乘法来计算漂移的计算式所包含的系数的多个总和函数。通过将被更新后的多个总和用缓存(321～324)的数据代入到上述计算式中计算出漂移。由此，由于不需要对以规定周期输入的测定强度全部进行存储，因此能够使用更小容量的缓存来高精度地计算出漂移。

公开(公告)号：CN104463824A

公开(公告)日：2015-03-25

申请号：CN201310418622.1

申请日：2013-09-13

Applicant: 北京京东方光电科技有限公司

Inventor： 林子锦 ,  赵海生 ,  裴晓光 ,  邓朝阳 ,  马海涛

IPC: G06T7/00

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J2001/444 ,  G01N21/9501 ,  G06T5/001 ,  G06T7/30 ,  G06T2207/30148 ,  G06T7/0004 ,  G02F1/1309 ,  G06K9/3275 ,  G06T2207/30121

Abstract: 本发明公开了一种薄膜晶体管型（TFT）基板检测设备的图像校正方法及装置，其中方法包括：利用TFT基板检测设备获取的指定目标的图像中各个像素点的坐标信息，计算所述图像的偏移值；判断所述偏移值是否小于预设的门限值，若不小于，则采集所述指定目标的图像，利用所述偏移值调整所述图像，利用调整后的图像中各个像素的坐标信息，重新计算偏移值；若小于，则将所述偏移值作为校正结果对TFT基板检测设备获取的图像进行校正。采用本发明能够提高对TFT基板检测设备的校正效率，并且提高校正的精确度。

公开(公告)号：CN100423279C

公开(公告)日：2008-10-01

申请号：CN200510075902.2

申请日：2005-06-03

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 小泽德郎

IPC: H01L27/146 ,  H04N1/028 ,  H04N5/335

CPC classification number: G01J1/4228 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/1626 ,  G01J1/46 ,  G01J2001/444 ,  H01L31/145

Abstract: 本发明提供一种光学传感器电路，具有：输出与像框开口部的受光光量对应的脉宽的信号(Q)的第1光学传感器(10)；设于第1光学传感器(10)的附近、以与第1光学传感器(10)相同的时序进行检测动作、同时输出与被像框遮光的受光面的受光光量对应的脉宽的信号(Qref)的第2光学传感器(20)；以及，输出信号(Q)和信号(Qref)的异或信号(Diff)的EX-OR电路(32)。因此可取得更准确反映受光光量的值。

公开(公告)号：CN101266349A

公开(公告)日：2008-09-17

申请号：CN200810083626.8

申请日：2008-03-12

Applicant: 爱普生映像元器件有限公司

Inventor： 国森隆志 ,  山崎泰志 ,  安森正宪

IPC: G02F1/133 ,  G02F1/1362 ,  G09G3/36 ,  H01L27/12

CPC classification number: G01J1/18 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0219 ,  G01J1/4204 ,  G01J1/46 ,  G01J2001/444 ,  G02F2001/13312 ,  G09G3/3406 ,  G09G2330/06 ,  G09G2360/144

Abstract: 本发明提供一种显示装置，具备：显示面板；驱动显示面板的驱动电路；对显示面板进行照明的照明单元；具有对外部光线的明暗进行检测的光传感器Ts以及通过第一开关单元S1以规定的基准电压充电的电容器Cw的光检测部Ls；读取该光检测部的检测值的光传感器读取部Re1；和根据所述光传感器读取部的输出对照明单元进行控制的控制单元，其中，光传感器读取部，设置有避免由在驱动电路的操作时产生的干扰所诱发的光检测部的错误检测的干扰避免单元。由于具备这样的构成，从而能够提供一种能够不受在光传感器与显示面板的电极、布线之间所形成的寄生电容所产生的干扰的影响地检测外部光线的明暗的显示装置。

公开(公告)号：CN1705134A

公开(公告)日：2005-12-07

申请号：CN200510075902.2

申请日：2005-06-03

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 小泽德郎

IPC: H01L27/146 ,  H04N1/028 ,  H04N5/335

CPC classification number: G01J1/4228 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/1626 ,  G01J1/46 ,  G01J2001/444 ,  H01L31/145

Abstract: 本发明提供一种光学传感器电路，具有：输出与像框开口部的受光光量对应的脉宽的信号(Q)的第1光学传感器(10)；设于第1光学传感器(10)的附近、以与第1光学传感器(10)相同的时序进行检测动作、同时输出与被像框遮光的受光面的受光光量对应的脉宽的信号(Qref)的第2光学传感器(20)；以及，输出信号(Q)和信号(Qref)的异或信号(Diff)的EX－OR电路(32)。因此可取得更准确反映受光光量的值。

公开(公告)号：CN108780113A

公开(公告)日：2018-11-09

申请号：CN201780015714.1

申请日：2017-01-30

Applicant: 奥斯特公司

Inventor： A·珀卡拉 ,  M·弗里奇利

IPC: G01Q40/00 ,  G01N21/01 ,  G01N21/17 ,  G11B7/125

CPC classification number: G01J1/0295 ,  G01B11/026 ,  G01B11/24 ,  G01J1/0252 ,  G01J1/08 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/086 ,  G01J2001/442 ,  G01J2001/444 ,  G01S7/481 ,  G01S7/4815 ,  G01S7/497 ,  G01S17/42 ,  G01S17/89 ,  H01L27/146

Abstract: 本公开提供了一种校准系统，该校准系统包括孔层、透镜层、滤光器、像素层和调节器。孔层限定校准孔。透镜层包括基本上与校准孔轴向对准的校准透镜。滤光器与透镜层相邻并且与孔层相对。像素层与滤光器相邻并且与透镜层相对，并且包括基本上与校准透镜轴向对准的校准像素。校准像素检测照明源的光功率，该照明源输出随参数变化的波长带的光。调节器基于校准像素检测的光功率来更改照明源的参数。

公开(公告)号：CN105910632B

公开(公告)日：2018-10-26

申请号：CN201610259663.4

申请日：2016-04-21

Applicant: 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司

Inventor： 邵丽丽 ,  何惠森 ,  张宝玉 ,  张艳倪

IPC: G01D5/34 ,  A61B5/024

CPC classification number: H01L27/14643 ,  A61B5/0044 ,  A61B5/02416 ,  G01J1/16 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/4247 ,  G01J2001/444 ,  G01J2001/446 ,  H01L27/14609 ,  H01L31/02024

Abstract: 公开了一种光电检测设备和集成电路，所述光电检测设备包括发光部件，用于发出光信号；驱动电路，用于驱动所述发光部件发光；光电转换电路，用于根据接收到的光信号生成光电流信号；隔离电路，用于以隔离的方式传输所述光电流信号；环境光滤除电路，用于滤除所述光电流信号中环境光对应的电流分量输出净光电流信号；电流放大单元，用于将所述净光电流信号放大输出经放大的光电流信号；模数转换器，用于将经放大的光电流信号转换为数字信号；以及控制电路，用于根据所述数字信号输出光电检测信号。本发明的光电检测设备的电路结构适于集成，可以减小设备电路尺寸，同时，能以较小的功率运行，并具有较高的检测精度。

公开(公告)号：CN108088560A

公开(公告)日：2018-05-29

申请号：CN201711133632.5

申请日：2017-11-15

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 徐润宰 ,  金成浩 ,  金俊奭 ,  柳贤锡

IPC: G01J1/44

CPC classification number: H04N5/361 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/446 ,  H01L27/14605 ,  H01L27/14609 ,  H01L27/14643 ,  H04N5/35518 ,  H04N5/374 ,  G01J2001/444

Abstract: 一种基于事件的传感器包括：伪像素，产生暗电流；电流镜，使用暗电流产生镜像电流；以及感测像素，基于入射光的强度产生感测电流，并且基于通过从感测电流中减去镜像电流而获得的光电流，输出指示是否感测到入射光的变化的激活信号。

公开(公告)号：CN107532939A

公开(公告)日：2018-01-02

申请号：CN201680027627.3

申请日：2016-04-27

Applicant: 霍尼韦尔国际公司

Inventor： B.扎贝尔 ,  C.卡蒂 ,  B.E.柯尔

IPC: G01J1/02 ,  G01J1/42 ,  G01J1/44 ,  G01J5/00

CPC classification number: G01J1/429 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/4228 ,  G01J1/44 ,  G01J5/0018 ,  G01J2001/444 ,  G01J2001/4446

Abstract: 本文描述了利用淬灭时间对紫外（UV）传感器管去离子化。一种方法包括监测UV传感器管内的点火事件，其中特定点火事件开始装备UV传感器管，开始淬灭时间以便对UV传感器管去离子化，其中淬灭时间包括使UV传感器管解除装备以便防止点火事件。

公开(公告)号：CN104770067B

公开(公告)日：2017-11-14

申请号：CN201380053221.9

申请日：2013-09-12

Applicant: 飞利浦灯具控股公司

Inventor： A.V.潘德哈里潘德 ,  D.R.蔡塞多弗兰德兹 ,  M.A.克洛彭豪维

IPC: H05B37/02

CPC classification number: H05B33/0848 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/444 ,  H05B37/0218 ,  H05B37/0227 ,  Y02B20/46

Abstract: 一种校准用在控制包括至少一个照明设备的照明系统中的光传感器的输出的方法。该方法包括：将照明系统置于多种离散模式中的每一种下，每种模式被配置成输出不同的对应光配置，其中在操作中，每种模式将响应于被照射的环境中的变化的光水平基于光传感器的输出自动地改变对应配置的输出光照水平。该方法进一步包括通过确定每种模式下用于校准光传感器的输出的对应校准设置而执行多个校准，以及将每种模式设置为基于如通过对应校准设置校准的光传感器的输出改变输出光照水平。