公开(公告)号：US20160135679A1

公开(公告)日：2016-05-19

申请号：US14899559

申请日：2014-06-20

Applicant: Cylite Pty Ltd

Inventor： Steven James Frisken ,  Grant Andrew Frisken

IPC: A61B3/10 ,  A61B3/117 ,  A61B3/107 ,  G01B9/02 ,  A61B3/00

CPC classification number: A61B3/1015 ,  A61B3/0025 ,  A61B3/1025 ,  A61B3/107 ,  A61B3/117 ,  A61B3/14 ,  G01B9/02027 ,  G01B9/02039 ,  G01B9/02041 ,  G01B9/02044 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/70 ,  G01J9/02 ,  G01J2009/0219 ,  G01J2009/0238 ,  G02B27/1013 ,  G02B27/283 ,  G02C7/027 ,  G02C2202/24

Abstract: Method and systems are presented for analysing a wavefront using a spectral wavefront analyser to extract optical phase and spectral information at a two dimensional array of sampling points across the wavefront, wherein the relative phase information between the sampling points is maintained. Methods and systems are also presented for measuring an eye by reflecting a wavefront of an eye and measuring the wavefront at a plurality of angles to provide a map of the off-axis relative wavefront curvature and aberration of the eye. The phase accuracy between wavelengths and sample points over a beam aperture offered by these methods and systems have a number of ocular applications including corneal and anterior eye tomography, high resolution retinal imaging, and wavefront analysis as a function of probe beam incident angle for determining myopia progression and for designing and testing lenses for correcting myopia.

Abstract translation: 提出了一种方法和系统，用于使用光谱波前分析器分析波前，以在波阵面上的采样点的二维阵列提取光学相位和光谱信息，其中保持采样点之间的相对相位信息。 还提出了用于通过反射眼睛的波前并以多个角度测量波前来测量眼睛的方法和系统，以提供离轴相对波前曲率和眼睛的像差的图。 这些方法和系统提供的光束孔径之间的波长和采样点之间的相位精度具有许多眼睛应用，包括角膜和前眼层析成像，高分辨率视网膜成像和波前分析作为用于确定近视的探针束入射角的函数 进展和设计和测试矫正近视眼镜。

公开(公告)号：US20100091146A1

公开(公告)日：2010-04-15

申请号：US12161362

申请日：2007-01-18

Applicant: José Manuel Rodriguez Ramos ,  Fernando Rosa González ,  José Gil Marichal-Hernández

Inventor： José Manuel Rodriguez Ramos ,  Fernando Rosa González ,  José Gil Marichal-Hernández

IPC: H04N5/225 ,  G06K9/36

CPC classification number: G01J9/00 ,  G01J2009/0238 ,  G01S11/12 ,  G02B26/06

Abstract: A system consisting of a phase camera with microlenses placed in the focal point of a converging lens, wherein the camera data, processed using a combined Fourier “Slice” and fast Fourier transform edge detection technique, provide both a three-dimensional wavefront map and a real scene depth map within a broad range of volumes. The invention is suitable for use in any field where wavefronts need to be known such as earth-based astronomical observation, ophthalmology, etc., as well as in fields requiring metrology, e.g. real scenes, CCD polishing, automobile mechanics, etc. The invention is applied to the particular case of atmospheric tomography using ELTs (large-diameter telescopes: 50 or 100 meters).

Abstract translation: 一种由放置在会聚透镜的焦点中的具有微透镜的相位相机组成的系统，其中使用组合傅立叶“切片”和快速傅立叶变换边缘检测技术处理的相机数据同时提供三维波前图和 真实场景深度图范围广泛。 本发明适用于需要知道波前的任何领域，例如基于地球的天文观测，眼科学等，以及需要测量的领域，例如， 实际场景，CCD抛光，汽车力学等。本发明应用于使用ELT（大直径望远镜：50或100米）的大气层析成像的具体情况。

公开(公告)号：US07102755B1

公开(公告)日：2006-09-05

申请号：US10080845

申请日：2002-02-22

Applicant: David M Braun ,  Misty J Mesel

Inventor： David M Braun ,  Misty J Mesel

IPC: G01B9/02 ,  H04J1/16

CPC classification number: G01J1/4257 ,  G01J9/0246 ,  G01J2009/0238

Abstract: A method determines power of a modulated signal that is applied to a wavelength meter by summing bin values within a designated bin range of a frequency transformed interferogram representing the modulated signal and provided by the wavelength meter. In a first embodiment of the method, the bin range within which the bin values are summed is designated by mapping a series of signal characteristics indicative of the types of the modulated signals applied to the wavelength meter, to a series of bin spans within the frequency transformed interferograms that represent the modulated signals. The method then enables a selection of a signal characteristic from the series of signal characteristics to identify the modulated signal that is applied to the wavelength meter. In response to a selection, the bin values are summed within a bin range that is consistent with the mapping of the series of signal characteristics to the series of bin spans and that is positioned about a center bin of the frequency transformed interferogram. In a second embodiment of the method, the bin range within which bin values are summed is designated automatically based on attributes of the frequency transformed interferogram.

Abstract translation: 一种方法通过对表示调制​​信号并由波长计提供的频率变换干涉图的指定仓范围内的二进制数进行求和来确定施加到波长计的调制信号的功率。 在该方法的第一实施例中，通过将表示施加到波长计的调制信号的类型的一系列信号特性映射到频率范围内的一系列箱体间距来指定其中二进制值相加的仓范围 表示调制信号的变换干涉图。 该方法然后使得能够从一系列信号特征中选择信号特征来识别施加到波长计的调制信号。 响应于选择，bin值在与一系列信号特征与一系列仓跨距的映射一致的仓范围内相加，并且位于频率变换干涉图的中心仓周围。 在该方法的第二实施例中，基于频率变换干涉图的属性自动指定bin值相加的仓范围。

公开(公告)号：JP2018010304A

公开(公告)日：2018-01-18

申请号：JP2017153141

申请日：2017-08-08

Applicant: 株式会社ニコン

Inventor： 大滝 桂 ,  杉崎 克己 ,  玄間 隆志

IPC: G01M11/02 ,  G01J9/02 ,  G03F7/20

CPC classification number: G01J9/0215 ,  G01J2009/0238 ,  G01M11/0264 ,  G02B27/50 ,  G03F7/706

Abstract: 【課題】回折格子を用いて得られる干渉縞に基づいて、投影光学系の波面情報を高精度に計測する波面計測方法を提供する。 【解決手段】計測用レチクル4のピンホールアレー6から射出された光束を投影光学系POに照射することと、投影光学系POを通過した光束をX方向及びY方向に周期性を持ちX方向及びY方向の透過率分布が正弦波状の分布を有する回折格子10に入射させることと、回折格子10から発生する複数の光束による干渉縞に基づいて投影光学系POの波面情報を求めることと、を含む。 【選択図】図2

公开(公告)号：JPWO2013180187A1

公开(公告)日：2016-01-21

申请号：JP2014518708

申请日：2013-05-29

Applicant: 株式会社ニコン

Inventor： 桂 大滝 ,  桂 大滝 ,  杉崎　克己 ,  克己 杉崎 ,  隆志 玄間 ,  隆志 玄間

IPC: G01M11/02 ,  G03F7/20 ,  H01L21/027

CPC classification number: G01J9/0215 ,  G01J2009/0238 ,  G01M11/0264 ,  G02B27/50 ,  G03F7/706

Abstract: 投影光学系の波面情報を求める波面計測方法であって、計測用レチクルのピンホールアレーから射出された光束を投影光学系に照射することと、投影光学系を通過した光束をX方向及びY方向に周期性を持ちX方向及びY方向の透過率分布が正弦波状の分布を有する回折格子に入射させることと、回折格子から発生する複数の光束による干渉縞に基づいて投影光学系POの波面情報を求めることと、を含む。回折格子を用いて得られる干渉縞に基づいて、被検光学系の波面情報を高精度に計測できる。

Abstract translation: 波前的测量方法，用于确定在投影光学系统的波前信息，所述方法包括照射从测量分划板的针孔阵列的投影光学系统中，X方向和Y方向上已经通过投影光学系统的光束射出的光束 通过生成的多个光束，并X和Y方向的透射率分布基于所述干涉条纹投影光学系统PO的波前信息具有周期性，以入射到衍射光栅具有正弦分布，从衍射光栅 所述包括与确定的。 基于通过使用衍射光栅得到的干涉条纹，它可以测量的光学系统的波前信息，以高精度地测量。

公开(公告)号：JP6191921B2

公开(公告)日：2017-09-06

申请号：JP2014518708

申请日：2013-05-29

Applicant: 株式会社ニコン

Inventor： 大滝 桂 ,  杉崎 克己 ,  玄間 隆志

IPC: H01L21/027 ,  G03F7/20 ,  G02B21/02 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01J9/0215 ,  G01M11/0264 ,  G02B27/50 ,  G03F7/706 ,  G01J2009/0238

公开(公告)号：JP2009524037A

公开(公告)日：2009-06-25

申请号：JP2008550784

申请日：2007-01-18

Applicant: ウニベルシダッド、デ、ラ、ラグナUniversidad De La Laguna

Inventor： フェルナンド、ロサ、ゴンサレス ,  ホセ、ヒル、マリカル‐エルナンデス ,  ホセ、マヌエル、ロドリゲス、ラモス

IPC: G01J9/00 ,  A61B3/10

CPC classification number: G01J9/00 ,  G01J2009/0238 ,  G01S11/12 ,  G02B26/06

Abstract: 収束レンズの焦点に配置されるマイクロレンズを有し、カメラデータが複合フーリエ“スライス”・高速フーリエ変換エッジ検出技術を使用して処理される位相カメラからなるシステムは、３次元波面マップおよび広範囲のボリューム内の実シーン深度マップの両方を与える。
本発明は、地球ベースの望遠鏡天文観測、眼科などの波面が知られる必要がある任意の分野、および、例えば実シーン、ＣＣＤポリッシング、自動車力学などの計測を要する分野での使用に適している。 本発明は、ＥＬＴ（大径望遠鏡：５０メートルまたは１００メートル）を使用する大気トモグラフィの特定の場合に適用される。

公开(公告)号：WO2014201503A1

公开(公告)日：2014-12-24

申请号：PCT/AU2014/000637

申请日：2014-06-20

Applicant: CYLITE PTY LTD

Inventor： FRISKEN, Steven James ,  FRISKEN, Grant Andrew

IPC: G01J9/00 ,  G01J3/00 ,  G01J11/00 ,  G01B9/02 ,  A61B3/10

CPC classification number: A61B3/1015 ,  A61B3/0025 ,  A61B3/1025 ,  A61B3/107 ,  A61B3/117 ,  A61B3/14 ,  G01B9/02027 ,  G01B9/02039 ,  G01B9/02041 ,  G01B9/02044 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/70 ,  G01J9/02 ,  G01J2009/0219 ,  G01J2009/0238 ,  G02B27/1013 ,  G02B27/283 ,  G02C7/027 ,  G02C2202/24

Abstract: Method and systems are presented for analysing a wavefront using a spectral wavefront analyser to extract optical phase and spectral information at a two dimensional array of sampling points across the wavefront, wherein the relative phase information between the sampling points is maintained. Methods and systems are also presented for measuring an eye by reflecting a wavefront of an eye and measuring the wavefront at a plurality of angles to provide a map of the off-axis relative wavefront curvature and aberration of the eye. The phase accuracy between wavelengths and sample points over a beam aperture offered by these methods and systems have a number of ocular applications including corneal and anterior eye tomography, high resolution retinal imaging, and wavefront analysis as a function of probe beam incident angle for determining myopia progression and for designing and testing lenses for correcting myopia.

Abstract translation: 提出了一种方法和系统，用于使用光谱波前分析器分析波前，以在波阵面上的采样点的二维阵列提取光学相位和光谱信息，其中保持采样点之间的相对相位信息。 还提出了用于通过反射眼睛的波前并以多个角度测量波前来测量眼睛的方法和系统，以提供离轴相对波前曲率和眼睛的像差的图。 这些方法和系统提供的光束孔径之间的波长和采样点之间的相位精度具有许多眼睛应用，包括角膜和前眼层析成像，高分辨率视网膜成像和波前分析作为用于确定近视的探针束入射角的函数 进展和设计和测试矫正近视眼镜。

公开(公告)号：WO2013180187A1

公开(公告)日：2013-12-05

申请号：PCT/JP2013/064949

申请日：2013-05-29

Applicant: 株式会社ニコン

Inventor： 大滝　桂 ,  杉崎　克己 ,  玄間　隆志

IPC: G01M11/02 ,  G02B21/02 ,  G03F7/20 ,  H01L21/027

CPC classification number: G01J9/0215 ,  G01J2009/0238 ,  G01M11/0264 ,  G02B27/50 ,  G03F7/706

Abstract: 　投影光学系の波面情報を求める波面計測方法であって、計測用レチクルのピンホールアレーから射出された光束を投影光学系に照射することと、投影光学系を通過した光束をＸ方向及びＹ方向に周期性を持ちＸ方向及びＹ方向の透過率分布が正弦波状の分布を有する回折格子に入射させることと、回折格子から発生する複数の光束による干渉縞に基づいて投影光学系ＰＯの波面情報を求めることと、を含む。回折格子を用いて得られる干渉縞に基づいて、被検光学系の波面情報を高精度に計測できる。

Abstract translation: 一种用于测量在投影光学系统中获得波前信息的波前的方法，所述方法包括：将测量掩模版中的针孔阵列发射的光束照射到投影光学系统中; 使通过投影光学系统的光束入射到X方向和Y方向上具有周期性的X方向和Y方向的透射率分布为正弦形状的衍射光栅; 并且基于由衍射光栅产生的多个光束产生的干涉条纹，获得投影光学系统（PO）的波前信息。 可以基于使用衍射光栅获得的干涉条纹，以高精度测量测试光学系统的波前信息。

公开(公告)号：KR1020030040875A

公开(公告)日：2003-05-23

申请号：KR1020010071466

申请日：2001-11-16

Applicant: 광주과학기술원

Inventor： 김덕영 ,  박용우 ,  성낙현 ,  이지용 ,  윤기성

IPC: G01J9/02

CPC classification number: G01J9/0215 ,  G01B9/02004 ,  G01B11/06 ,  G01J2009/0238

Abstract: PURPOSE: An apparatus for simultaneously measuring a refractive index and an absorption coefficient of material is provided to simply measure the refractive index and the absorption coefficient of material by using Fourier transform analysis. CONSTITUTION: A beam splitter(110) is provided to divide beam generated from a light source(100) into first and second beam paths having the same beam intensity. Beam passing through a material(120) positioned in the first beam path is reflected into a moving path by a first reflection mirror(130a). A second reflection mirror(130b) is provided to reflect beam into the moving path based on the second beam path. Beam reflected from the first and second reflection mirrors(130a,130b) is detected by a beam detector(140). A scan motor(150) is driven to scan a distance of an interferometer from the second reflection mirror(130b). A computer(160) analyzes a refractive index and an absorption coefficient of material to be measured.

Abstract translation: 目的：提供一种用于同时测量材料的折射率和吸收系数的装置，以便通过使用傅里叶变换分析简单地测量材料的折射率和吸收系数。 构成：提供分束器（110）以将从光源（100）产生的光束分成具有相同光束强度的第一和第二光束路径。 穿过位于第一光束路径中的材料（120）的光束通过第一反射镜（130a）被反射到移动路径中。 提供第二反射镜（130b）以基于第二光束路径将光束反射到移动路径中。 从第一和第二反射镜（130a，130b）反射的光束由光束检测器（140）检测。 扫描电机（150）被驱动以扫描来自第二反射镜（130b）的干涉仪的距离。 计算机（160）分析要测量的材料的折射率和吸收系数。