公开(公告)号：CN105652368A

公开(公告)日：2016-06-08

申请号：CN201610201637.6

申请日：2016-04-01

Applicant: 深圳市创鑫激光股份有限公司

Inventor： 袁强 ,  马立霜 ,  蒋峰

IPC: G02B6/02 ,  G01J3/42 ,  G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G02B6/02114 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/425 ,  G02B6/02128 ,  G02B2006/02157

Abstract: 本发明公开了一种光纤刻写监测光路及光纤刻写系统，包括：光源，用于发射检测光；光环形器，设置有第一环形端口、第二环形端口和第三环形端口，第一环形端口与光源连接，第二环形端口用于连接第一待刻写光纤的一端；第一光开关，设置有第一开关端口、第二开关端口和第三开关端口，第一开关端口与第三环形端口连接，第二开关端口用于与第一待刻写光纤的另一端连接；光谱仪，与第三开关端口连接；当第三开关端口与第一开关端口连通时，光谱仪检测待刻写光纤的反射谱，当第三开关端口与第二开关端口连通时，光谱仪检测待刻写光纤的透射谱。通过上述方式，本发明能够实现监测第一待刻写光纤的透射谱和反射谱的光路共用光源和光谱仪，节省成本。

公开(公告)号：CN105579832A

公开(公告)日：2016-05-11

申请号：CN201480052937.1

申请日：2014-09-19

Applicant: 松下知识产权经营株式会社

Inventor： 松浪弘贵 ,  渡部祥文 ,  辻幸司 ,  永谷吉祥

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/3504 ,  H05B3/10 ,  H05B3/46

CPC classification number: H05B3/46 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/021 ,  G01J3/108 ,  G01J3/42 ,  G01J5/024 ,  G01N21/3504 ,  H05B3/12 ,  H05B2203/013

Abstract: 提供一种能防止由于热引起的电极劣化的红外线放射装置及制造方法。红外线放射装置包括基板(11)、绝缘层(12)、发热层(13)、电极(15)、基底部(17)和电导体(16)。基板(11)具有暴露绝缘层(12)的背面的一部分的腔室(110)。腔室(110)的在基板(11)的表面上的开口边缘的垂直投影区域(其投影方向沿着绝缘层(12)的厚度方向)的内侧和外侧上均存在基底部(17)。电导体(16)布置在基底部(17)的表面上。发热层(13)的端部设置成覆盖电导体(16)的覆盖部(18)。电极(15)与覆盖部(18)在垂直投影区域外侧的表面接触。导体(16)具有比电极(15)高的熔点和比基底部(17)和层(13)小的电阻。

公开(公告)号：CN103776547B

公开(公告)日：2016-04-13

申请号：CN201410066672.2

申请日：2014-02-26

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 谭智勇 ,  曹俊诚 ,  顾立 ,  朱永浩

IPC: G01J5/20

CPC classification number: G01J1/4257 ,  G01J1/08 ,  G01J1/4228 ,  G01J3/42 ,  G01J2001/083

Abstract: 本发明提供一种太赫兹量子阱探测器绝对响应率的标定方法及装置，所述装置至少包括：驱动电源、单频激光源、光学镜、太赫兹阵列探测器、太赫兹功率计、电流放大器及示波器。所述标定方法采用功率可测定的单频激光源作为标定光源，得到探测器在该激光频率处的绝对响应率参数，利用探测器的归一化光电流谱可进一步计算得到探测器在其任意可探测频率处的绝对响应率参数。本发明直接采用周期输出的单频激光源作为标定光源，采用太赫兹阵列探测器和功率计直接测量来获得被标定探测器的入射功率，极大地减小了传统标定方法中背景光、水汽吸收的影响，避免了各种谱积分的复杂计算，整个标定过程简单，引入误差小，具有广泛适用性。

公开(公告)号：CN103884679B

公开(公告)日：2016-01-20

申请号：CN201410156271.6

申请日：2014-04-18

Applicant: 山西大学

Inventor： 赵刚 ,  马维光 ,  李志新 ,  谭巍 ,  尹王保 ,  贾锁堂

IPC: G01N21/39

CPC classification number: G01N21/39 ,  G01J3/1256 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01N2021/391 ,  G01N2021/399

Abstract: 本发明属于气体检测领域，具体是一种结合卡尔曼滤波器的腔衰荡光谱技术气体浓度监测方法。一种结合卡尔曼滤波器的腔衰荡光谱技术气体浓度监测方法，由采用基于腔衰荡光谱技术的气体浓度监测装置采集数据的方法以及对采集到的数据采用卡尔曼滤波器进行分析的方法组成；所述基于腔衰荡光谱技术的气体浓度监测装置包括一个激光发射装置，激光发射装置的出射端通过光纤连接有一个声光调制器，声光调制器的出射光路上顺次设有耦合透镜以及腔体上设有进气口与出气口的光学腔，光学腔的出射光路上设有第一光电探测器。本发明结合了卡尔曼滤波器，对腔衰荡信号进行后续处理，从而减小了系统误差，提高了腔衰荡光谱的准确度。

公开(公告)号：CN105122038A

公开(公告)日：2015-12-02

申请号：CN201480005289.4

申请日：2014-01-10

Applicant: 探测器电子公司

Inventor： L.卢 ,  J.金

IPC: G01N21/3504 ,  G01J3/36 ,  G01J3/42 ,  G01N33/00 ,  G01N21/359 ,  G01N21/39

CPC classification number: G01J3/36 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/423 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/359 ,  G01N21/39 ,  G01N33/0031 ,  G01N2021/3513

Abstract: 在实施方式中，公开了一种开路式气体检测器，其可包括成像或非成像光学组件。所述检测器可包括组件，其允许大约1的由所述检测器接收的辐射的对准误差而不引起假警报。在实施方式中，所述检测器可包括分束器或波分多路复用滤波器，其允许由所述检测器接收的所述辐射的更多由传感器来检测。

公开(公告)号：CN103547215B

公开(公告)日：2015-12-02

申请号：CN201280024565.2

申请日：2012-04-13

Applicant: 休姆迪奇有限责任公司

Inventor： 卡斯滕·海涅 ,  梅尔廷·施托克曼 ,  汤姆·鲁宾

IPC: A61B5/097 ,  A61B5/083

CPC classification number: A61B5/0836 ,  A61B5/0813 ,  A61B5/087 ,  A61B5/097 ,  A61B5/72 ,  G01J3/42 ,  G01R33/465 ,  G01T1/2985 ,  H01J49/26

Abstract: 本发明涉及用于测定至少一种酶之代谢能力的方法。所述方法包括以下步骤：对个体呼出空气中产物的浓度进行时间分辨测定，其中所述产物通过个体的至少一种酶对预先施用于个体之底物的代谢而产生，并且其中测定产物浓度至少直至达到所述个体呼出空气中的最大产物浓度；使模型函数拟合所述产物浓度的测量值，所述产物浓度的测量值通过开始时间与终止时间之间产物浓度的时间分辨测定而获得；以及基于说明所述模型函数的模型函数之参数来测定酶的代谢能力。本方法的特征在于：基于所述模型函数的至少两个参数进行测定所述酶的代谢能力，前提是在模型函数为单指数函数的范围内，模型函数的最大值和模型函数的时间常数不被同时选作参数，以及另一个前提是起始时间和/或终止时间不被选作参数。

公开(公告)号：CN103827643B

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201280041972.4

申请日：2012-06-12

Applicant: 迪亚菲尔公司

Inventor： 于格·塔里埃尔

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/42 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/552 ,  G01N21/85

CPC classification number: G01N21/8507 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/42 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/552 ,  G01N2021/8528

Abstract: 本发明涉及用于传感器的头部（500），其中传感器包括两段光纤，该两段光纤使红外光在至少一个红外波长传播并向外侧生成用于检测外部媒介的红外特征的倏逝波，所述头部（500）包括：-形成弯曲部分（15）的光纤，该弯曲部分（15）用于连接两段光纤，并用于与外部媒介接触，以检测与沿光纤传播的倏逝波的传播相干扰的红外特征；以及-用于保护弯曲部分（15）免受外部机械应力并且保证位于外部媒介与所述弯曲部（15）之间的接触区域（30）的装置（504、506）。

公开(公告)号：CN103620394B

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201280028979.2

申请日：2012-04-13

Applicant: 原子能和代替能源委员会

Inventor： J.维尔曼 ,  S.杜博伊斯 ,  N.恩加尔波特

IPC: G01N25/00 ,  G01N27/04 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01N27/041 ,  G01J3/42 ,  G01N27/125 ,  H01L21/3225 ,  H01L22/12

Abstract: 本发明涉及一种用于确定由p掺杂的半导体材料制造的样品的填隙氧浓度的方法，该方法包括：样品的为了形成热施体的热处理步骤(F1)，确定获得补偿的半导体材料所需的热处理时间(t)(F1)，从电荷载流子浓度(p0)确定补偿的半导体材料制成的样品中的热施体浓度(NTDD)(F2)，以及从热施体浓度(NTDD)和热处理的时间(t)确定氧浓度(Co)(F3)。

公开(公告)号：CN104956202A

公开(公告)日：2015-09-30

申请号：CN201380059334.X

申请日：2013-10-30

Applicant: 宾夕法尼亚州研究基金会

Inventor： 本杰明·霍尔 ,  乔纳森·林奇 ,  爱德华·W·鲁特泽尔 ,  盖伦·林奇 ,  布莱恩·T·莱因哈特

IPC: G01N1/44 ,  G01J3/00

CPC classification number: G01N21/718 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/42 ,  G01J3/44 ,  G01N2001/045

Abstract: 一种激光消融层析成像系统包括用于支承样品的样品台。样品轴线被界定以使大致安置在所述轴线上的样品可进行成像。激光系统可操作以用于在与样品轴线相交并总体垂直的平面内产生激光片光。成像系统可操作以用于对激光片光与样品轴线相交处的区域进行成像。

公开(公告)号：CN102866120B

公开(公告)日：2015-09-30

申请号：CN201210236292.X

申请日：2012-07-06

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 大久保章男 ,  中村勤

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01N21/274 ,  G01J3/0267 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/32 ,  G01J3/42 ,  G01N21/31 ,  G01N21/78

Abstract: 按照分光测定用具进行计测时，以光通过被检查物质的光路长度来校正吸光度。发光部（11）将多个波长的光向由分光测定用具（2）保持的被检查物质（3）照射。受光部（13）接受通过了被检查物质（3）的多个波长的光。检测部（14）根据由受光部（13）接受到的光来检测波长成分吸光度。光路长度计算部（16）将由检测部（14）检测到的波长成分吸光度中的对被检查物质（3）所包含的分析对象物质吸收的光的波长以外的波长的光进行吸收的色素所吸收的光的波长成分吸光度与该波长成分吸光度的确定了的值进行比较，算出通过被检查物质（3）的光路长度。校正部（17）以由光路长度计算部（16）算出的光路长度来校正色素吸收的光的波长以外的由检测部（14）检测到的波长成分吸光度，算出基准的光路长度的校正波长成分吸光度。