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公开(公告)号：CN1077288C
公开(公告)日：2002-01-02
申请号：CN92102131.3
申请日：1992-03-21
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: G01N21/67 , G01J3/30 , G01J3/443 , G01N21/718
Abstract: 一种利用光谱分析，对样品中依组分状态而分类的各组分进行定量分析，其步骤如下，多次激励样品，使之辐射，检测每次辐射中样品的组分元素和非组分元素的谱线光强度数据，存储谱线的光强度数据，依据存储的数据，认定组分元素和非组分元素含量在预定含量之上的辐射，确定在样品上对应于认定的辐射的区域中存在组分元素和非组分元素的复合物。
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公开(公告)号：CN106030289B
公开(公告)日：2019-07-05
申请号：CN201480068347.8
申请日：2014-10-15
Applicant: TSI公司
IPC: G01N21/71
CPC classification number: G01N21/718 , G01J3/0221 , G01J3/0272 , G01J3/0291 , G01J3/18 , G01J3/443 , G01J2003/1861 , G01N2201/0221 , G01N2201/0697
Abstract: 公开了一种管理手持式结构中的LIBS激光器部件和光谱仪的散热问题的新型装置、方法和系统，以及使用包括裸光纤的简化的光信号收集装置收集测试材料附近（或接触测试材料）的发射光。在手持式LIBS装置的一个示例实施例中，使用频率为4 kHz的突发脉冲，产生脉冲之间的时间约250µs，这是现有技术中其他装置中的10倍以上的因数。在相关实施例中，主动调Q OPO激光器模块与使用透射光栅的紧凑型光谱仪模块一起使用，以改进LIBS测量，同时大幅减小手持式分析仪的尺寸。
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公开(公告)号：CN105829843B
公开(公告)日：2018-06-01
申请号：CN201480054413.6
申请日：2014-07-31
Applicant: TSI公司
CPC classification number: G01J3/0275 , B07C5/342 , G01D5/26 , G01D5/48 , G01J3/0248 , G01J3/0289 , G01J3/12 , G01J3/443 , G01N21/718 , G01N21/85
Abstract: 基于激光的光谱系统，其包括距离/接近度/间隔传感器，高重复率激光光谱系统，以及嵌入在处理单元内的决策制定软件，这些结合地在目标对象位于询问区域内时执行九龙岗的选择性发射。在类似的实施例中，系统基于来自间隔信号的消息和包含在光谱信号本身内的消息来提供光谱信号的选择性分选。该激光发射可在保持激光发射的同时进行主动控制，以此保持热稳定性以及因此的激光能量，可将间隔传感器消息和光谱消息结合来确定合适的相对加权或每个光谱消息的重要性。
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公开(公告)号：CN107371377A
公开(公告)日：2017-11-21
申请号：CN201580060604.8
申请日：2015-11-06
Applicant: 塞莫费雪科学(埃居布朗)有限公司
IPC: G01N21/67
Abstract: 一种用于建立原子发射光谱仪(AES)的安全操作以分析布置在所述AES的样品固持器(102)上的样品(100)的控制器(316)和方法。所述控制器(316)经配置以接收指示所述样品(100)在所述样品固持器(102)上的布置的至少一个测试参数的测量值。接着比较所述至少一个测试参数与所述测试参数的目标值范围以确定所述样品(100)是否正确地布置在所述样品固持器(102)上。所述测试参数可以包含取决于所述样品固持器(102)处的第一端子与第二端子之间的电流的电参数、容纳所述AES的电极的气室中的气体压力，或所述样品固持器的一部分的位移。
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公开(公告)号：CN107101723A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201710442950.3
申请日：2017-06-13
Applicant: 钢研纳克检测技术有限公司
IPC: G01J3/443
CPC classification number: G01J3/443
Abstract: 本发明属于光谱技术领域，特别涉及的一种高分辨率中阶梯光栅光谱仪二维偏差谱图的分析与校正方法。该方法包括如下步骤：步骤一，获得中阶梯光栅光谱仪的二维谱图；步骤二，对获得的二维谱图进行判读；步骤三，反演棱镜参数的偏差量和/或中阶梯光栅参数的偏差量；步骤四，对中阶梯光栅光谱仪的二维偏差谱图进行校正。本发明方法能够实现二维偏差谱图的定性分析及定量计算，同时能够实现二维偏差谱图的校正工作，对二维偏差谱图进行分析并校正后，能够充分发挥中阶梯光栅光谱仪高光谱分辨率、高灵敏度、低检出限等优势，同时该校正方法仅需对装调工装做微小改变，具有操作简单、易于实现等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107076612A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201480082674.9
申请日：2014-10-14
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 小林央祐
Abstract: 在具有波长色散元件(123)、光检测器(124a～124c)、以及收纳它们的腔室(121)的分光器中，设置有：排气管(128)，其用于将腔室(121)内部的气体排出；气体供给源(150)，其填充有被压缩至大气压以上的惰性气体；冷却单元(151b、152b、153b)，其通过将惰性气体从气体供给源(150)导入至腔室(121)内并使该惰性气体膨胀来使腔室(121)内的温度降低；温度传感器(127)，其检测腔室(121)内的温度；以及制御手段(140)，其控制冷却单元(151b、152b、153b)，以使由温度传感器(127)检测到的温度成为目标温度。由此，能够以低于现有技术的温度对分光器进行温调，并能够减轻由光检测器的暗电流导致的背景的影响。
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公开(公告)号：CN106768340A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611222202.6
申请日：2016-12-27
Applicant: 天津西北虎科技有限公司
Inventor： 冯素纯
CPC classification number: G01J3/443 , G01J3/0262 , G01N21/01 , G01N21/6402 , G01N2021/0106
Abstract: 本发明提供了一种光栅光谱仪，包括光路机箱、入射狭缝、LED灯、LED控制开关和照相机，所述入射狭缝在光路机箱侧面的一端，所述LED灯安装在入射狭缝所在的侧面上，所述LED控制开关在光路机箱表面上并通过信号线与LED灯相连接，所述照相机固定在光路机箱内部。本发明所述一种光栅光谱仪具有以下优势：所述LED灯为实验人员在黑暗环境下进行样品调换提供方便快捷的操作，所述照相机记录光路设备的调节和样品调换并由USB将信息传递到计算机中存储，减小了实验人员的工作强度，提高了工作效率。
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公开(公告)号：CN103080732B
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201180042440.8
申请日：2011-08-22
Applicant: 赛默飞世尔科技(埃居布朗)有限公司
IPC: G01N21/67
Abstract: 一种用于光学发射分析器的火花室(110)包括：定位在该火花室(110)的一个第一侧上的一个进气口(125)，该进气口用于将一种气体供应到该火花室(110)中；以及定位在该火花室(110)的一个第二侧上的一个出气口(135)，该出气口被安排成从该火花室(110)运输该气体；其中一个狭长电极(140)被定位在该火花室(110)内，该电极具有总体上沿狭长方向的一个电极轴线(142)；并且其中：该火花室(110)的该第一侧和该第二侧在总体上垂直于该电极轴线(142)的方向上位于该狭长电极(140)的两侧；在该进气口与该出气口之间存在穿过该火花室(110)的一个气流轴线(159)；并且在沿从该进气口(125)到该出气口(135)的气流轴线(159)而过时，该火花室(110)的垂直于该气流轴线的无阻碍的内部截面积在一个因数A内保持恒定，其中A位于1.0与2.0之间。
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公开(公告)号：CN105829843A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201480054413.6
申请日：2014-07-31
Applicant: TSI公司
CPC classification number: G01J3/0275 , B07C5/342 , G01D5/26 , G01D5/48 , G01J3/0248 , G01J3/0289 , G01J3/12 , G01J3/443 , G01N21/718 , G01N21/85
Abstract: 基于激光的光谱系统，其包括距离/接近度/间隔传感器，高重复率激光光谱系统，以及嵌入在处理单元内的决策制定软件，这些结合地在目标对象位于询问区域内时执行九龙岗的选择性发射。在类似的实施例中，系统基于来自间隔信号的消息和包含在光谱信号本身内的消息来提供光谱信号的选择性分选。该激光发射可在保持激光发射的同时进行主动控制，以此保持热稳定性以及因此的激光能量，可将间隔传感器消息和光谱消息结合来确定合适的相对加权或每个光谱消息的重要性。
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公开(公告)号：CN105556291A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201480041306.X
申请日：2014-05-29
Applicant: 激光测距光谱有限公司
CPC classification number: G01N21/718 , G01J3/4412 , G01J3/443 , G01N2201/06113
Abstract: 本发明公开一种利用通过双重脉冲激光诱导击穿光谱仪进行分子发光来侦测在一样品内的一元素的方法。所述方法包含观察来自包含欲侦测的所述元素的多个分子的多个发光。所述方法特别有用于侦测：卤素，其多个元素发光是难以侦测的；多个稀土元素；及硼。
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