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    晶圓級分光計
    291.
    发明专利
    晶圓級分光計 审中-公开
    晶圆级分光计

    公开(公告)号：TW201732986A

    公开(公告)日：2017-09-16

    申请号：TW106117786

    申请日：2012-06-15

    Applicant: 克萊譚克公司 ,  KLA-TENCOR CORPORATION

    Inventor： 珍森伊爾 ,  JENSEN,EARL ,  森玫 ,  SUN,MEI ,  歐布里恩凱文 ,  O'BRIEN,KEVIN

    IPC: H01L21/67 ,  G01J3/00 ,  H01J37/32

    CPC classification number: G01J3/0259 ,  G01J1/58 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/1213

    Abstract: 本發明揭示一種用於量測光學輻射之特性之感測器裝置，該感測器裝置具有一基板及位於該基板內一或多個空間上分離之位置處之一低輪廓光譜選擇性偵測系統。該光譜選擇性偵測系統包含以光學方式耦合至一對應光學偵測器陣列之一大體層疊波長選擇器陣列。強調，提供本摘要以符合需要將允許一搜尋者或其他讀者快速斷定技術性發明之標的物之一摘要的規則。提交本摘要係基於以下理解：其將不用於解釋或限定申請專利範圍之範疇或含義。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明揭示一种用于量测光学辐射之特性之传感器设备，该传感器设备具有一基板及位于该基板内一或多个空间上分离之位置处之一低轮廓光谱选择性侦测系统。该光谱选择性侦测系统包含以光学方式耦合至一对应光学侦测器数组之一大体层叠波长选择器数组。强调，提供本摘要以符合需要将允许一搜索者或其他读者快速断定技术性发明之标的物之一摘要的守则。提交本摘要系基于以下理解：其将不用于解释或限定申请专利范围之范畴或含义。

    光譜系統以及基於梳的光譜法的方法
    293.
    发明专利
    光譜系統以及基於梳的光譜法的方法 审中-公开
    光谱系统以及基于梳的光谱法的方法

    公开(公告)号：TW201518696A

    公开(公告)日：2015-05-16

    申请号：TW103131201

    申请日：2014-09-10

    Applicant: 泰格視覺股份有限公司 ,  TIGER OPTICS, LLC

    Inventor： 阿德勒 福絡黎安 ,  ADLER, FLORIAN

    IPC: G01J3/02 ,  G01J3/42 ,  G01N21/31

    CPC classification number: G01J3/42 ,  G01J3/021 ,  G01J3/10 ,  G01J3/4338

    Abstract: 本發明提供光譜系統以及基於梳的光譜法的方法。光源產生對應於頻梳的光。稜鏡腔室光學耦合至光源。稜鏡腔室接收產生的光且產生第一以及第二輸出光。第一輸出光與接收的光在稜鏡腔室內的反射相關聯。第二輸出光與接收的光穿過稜鏡腔室的稜鏡的透射相關聯。耦合系統耦合至光源以及稜鏡腔室。耦合系統基於第一輸出光以及第二輸出光中的至少一者來調整光源或稜鏡腔室中的至少一者的特性。特性經調整以增加光源與稜鏡腔室之間的光學耦合，且補償稜鏡腔室的色散。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明提供光谱系统以及基于梳的光谱法的方法。光源产生对应于频梳的光。棱镜腔室光学耦合至光源。棱镜腔室接收产生的光且产生第一以及第二输出光。第一输出光与接收的光在棱镜腔室内的反射相关联。第二输出光与接收的光穿过棱镜腔室的棱镜的透射相关联。耦合系统耦合至光源以及棱镜腔室。耦合系统基于第一输出光以及第二输出光中的至少一者来调整光源或棱镜腔室中的至少一者的特性。特性经调整以增加光源与棱镜腔室之间的光学耦合，且补偿棱镜腔室的色散。

    光譜儀 SPECTROMETER
    294.
    发明专利
    光譜儀 SPECTROMETER 失效
    光谱仪 SPECTROMETER

    公开(公告)号：TWI377337B

    公开(公告)日：2012-11-21

    申请号：TW097134718

    申请日：2008-09-10

    Applicant: 塞米西斯科股份有限公司

    Inventor： 李淳鍾 ,  禹奉周

    IPC: G01J

    CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/06

    Abstract: 一種光譜儀。此光譜儀配置成使得作為光譜儀元件的偵測器與印刷電路板(printed circuit board，PCB)可進行角度調節以及來回往復移動，並且光纖分支成若干條線且設置於檢測目標之光學埠的前透明窗上。結果，可以廣泛地收集特定空間內產生之光學發射(optical emission)的光譜。因此，可以檢查未知材質的化學成分並且更精確地偵測已知材質或目標的結構、操作或環境特徵(內部溫度、壓力、磁強度(magnetic magnitude)等等)的詳情。

    Abstract in simplified Chinese: 一种光谱仪。此光谱仪配置成使得作为光谱仪组件的侦测器与印刷电路板(printed circuit board，PCB)可进行角度调节以及来回往复移动，并且光纤分支成若干条线且设置于检测目标之光学端口的前透明窗上。结果，可以广泛地收集特定空间内产生之光学发射(optical emission)的光谱。因此，可以检查未知材质的化学成分并且更精确地侦测已知材质或目标的结构、操作或环境特征(内部温度、压力、磁强度(magnetic magnitude)等等)的详情。

    回射輥微陣列結構及其應用 MICRO ARRAYED RETRO-REFLECTOR AND ITS APPLICATIONS
    295.
    发明专利
    回射輥微陣列結構及其應用 MICRO ARRAYED RETRO-REFLECTOR AND ITS APPLICATIONS 审中-公开
    回射辊微数组结构及其应用 MICRO ARRAYED RETRO-REFLECTOR AND ITS APPLICATIONS

    公开(公告)号：TW201224531A

    公开(公告)日：2012-06-16

    申请号：TW099142559

    申请日：2010-12-07

    Applicant: 國立陽明大學

    Inventor： 高甫仁 ,  林世浩 ,  林伯彥 ,  郭永恩

    IPC: G02B ,  G01N

    CPC classification number: G01J3/021 ,  G01N21/645 ,  G01N21/65 ,  G01N2021/6463 ,  G02B5/124

    Abstract: 一種回射輥微陣列結構及其應用,包括:複數個微型(micro)回射輥在一共有平面上配置成一微陣列結構;該每一回射輥包括三個反射面垂直相交成一立方隅凹角;該立方隅凹角為該微陣列結構之主反射元件;該主反射元件使反射光線與入射光線呈平行。該回射輥微陣列結構可應用於一光學檢測儀器中,做為遠距掃描樣本螢光訊號的輔助物件。

    Abstract in simplified Chinese: 一种回射辊微数组结构及其应用,包括:复数个微型(micro)回射辊在一共有平面上配置成一微数组结构;该每一回射辊包括三个反射面垂直相交成一立方隅凹角;该立方隅凹角为该微数组结构之主反射组件;该主反射组件使反射光线与入射光线呈平行。该回射辊微数组结构可应用于一光学检测仪器中,做为远距扫描样本萤光信号的辅助对象。

    物體的卡路里測定方法及物體的卡路里測定裝置
    296.
    发明专利
    物體的卡路里測定方法及物體的卡路里測定裝置 有权
    物体的卡路里测定方法及物体的卡路里测定设备

    公开(公告)号：TWI358535B

    公开(公告)日：2012-02-21

    申请号：TW094107553

    申请日：2005-03-11

    Applicant: 娛樂世界太平洋股份有限公司

    Inventor： 花松憲光 ,  小野浩之 ,  小田桐英夫 ,  澤隆裕 ,  三浦克之

    IPC: G01K ,  A61B

    CPC classification number: G01N21/4738 ,  G01G19/4146 ,  G01J3/02 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/108 ,  G01J3/1256 ,  G01J3/42 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/359 ,  G01N33/02 ,  G01N2021/151 ,  G01N2201/0618 ,  G01N2201/067 ,  G01N2201/0696 ,  G01N2201/1293

    Abstract: 使可以利用近紅外線而測定卡路里，藉由非破壞性方法以短時間且簡易實現物體之卡路里測定。
    具備有：擁有載置被檢對象之物體M之台2的物體保持部1；和照射近紅外區域之光至被載置在台2上之被檢對象物體M上的光源部20；接受來自該物體M之反射光或是透過光的受光部30；和根據受光部30所接受到之光的吸光度算出物體M之卡路里的控制部40，在控制部40中，藉由被照射到事先已知卡路里之樣品物體M，且自樣品物體M被反射或是透過之近紅外線之吸光度中的二次微分光譜之複迴歸分析所算出的迴歸式，和受光部30所接受到之光的吸光度，運算物體M之卡路里。

    Abstract in simplified Chinese: 使可以利用近红外线而测定卡路里，借由非破坏性方法以短时间且简易实现物体之卡路里测定。 具备有：拥有载置被检对象之物体M之台2的物体保持部1；和照射近红外区域之光至被载置在台2上之被检对象物体M上的光源部20；接受来自该物体M之反射光或是透过光的受光部30；和根据受光部30所接受到之光的吸光度算出物体M之卡路里的控制部40，在控制部40中，借由被照射到事先已知卡路里之样品物体M，且自样品物体M被反射或是透过之近红外线之吸光度中的二次微分光谱之复回归分析所算出的回归式，和受光部30所接受到之光的吸光度，运算物体M之卡路里。

    分光模組及其製造方法
    297.
    发明专利
    分光模組及其製造方法 审中-公开
    分光模块及其制造方法

    公开(公告)号：TW201129829A

    公开(公告)日：2011-09-01

    申请号：TW099127477

    申请日：2010-08-17

    Applicant: 濱松赫德尼古斯股份有限公司

    Inventor： 柴山勝己 ,  能野隆文

    IPC: G02B ,  G01J

    CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/2803 ,  G02B5/1814 ,  G02B5/1852 ,  G02B5/1861

    Abstract: 本發明之分光模組1中，邊緣部7係以比繞射層6厚之方式沿著繞射層6之周緣6a一體地形成。藉此，使用主模形成繞射層6及邊緣部7時之脫模時，可防止以沿著透鏡部3之凸狀曲面3a之方式形成之繞射層6維持於主模上而從曲面3a剝離。又，以相對繞射層6之中心偏向特定側之方式形成有繞射光柵圖案9。藉此，以相對繞射層6之特定側使其相反側先行之方式進行脫模，從而可防止繞射層6剝離、或繞射光柵圖案9損壞。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明之分光模块1中，边缘部7系以比绕射层6厚之方式沿着绕射层6之周缘6a一体地形成。借此，使用主模形成绕射层6及边缘部7时之脱模时，可防止以沿着透镜部3之凸状曲面3a之方式形成之绕射层6维持于主模上而从曲面3a剥离。又，以相对绕射层6之中心偏向特定侧之方式形成有绕射光栅图案9。借此，以相对绕射层6之特定侧使其相反侧先行之方式进行脱模，从而可防止绕射层6剥离、或绕射光栅图案9损坏。

    使用空間光調變器之分光計
    298.
    发明专利
    使用空間光調變器之分光計 失效
    使用空间光调制器之分光计

    公开(公告)号：TW236008B

    公开(公告)日：1994-12-11

    申请号：TW082104266

    申请日：1993-05-29

    Applicant: 德州儀器公司

    Inventor： 史納德

    IPC: G02F

    CPC classification number: G01J3/28 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0229 ,  G01J2003/2866 ,  G01N2201/0675

    Abstract: 本發明提供一種ＳＬＭ分光計，其採用一入射狹縫(40)或一準直器(42)，以提供平行輻射光線至一將入射之輻射彌散為關聯波長光譜之稜鏡(44)。自稜鏡(44)所獲得之光譜入射於一空間光調變器(spatial lighe modulator ，簡稱ＳＬＭ)，諸如一種可變形鏡裝置(de- formable mirror device,簡稱(DMD)。將ＳＬＭ表面之一小部份，亦即SLM上之一元件選擇性激勵（或去激勵），便可將入射於LSM之光譜之一部份選擇性反射或透射至一聚焦裝置，諸如一拋物柱面聚焦鏡(48)。聚焦裝置復將SLM上之選定元件所反射之光譜部份聚焦至一感測器(50)。所選擇之光譜為SLM中被激勵（或去激勵）之無論那一行元件之函數。本發明之SLM分光計可用以分析可見光及接近可見之光，諸如近紅外線或紫外線區。感測器或檢測器之輸出可予以適當放大，並且在適當校準後，用以確定在一特定波長或波長帶之能量。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种ＳＬＭ分光计，其采用一入射狭缝(40)或一准直器(42)，以提供平行辐射光线至一将入射之辐射弥散为关联波长光谱之棱镜(44)。自棱镜(44)所获得之光谱入射于一空间光调制器(spatial lighe modulator ，简称ＳＬＭ)，诸如一种可变形镜设备(de- formable mirror device,简称(DMD)。将ＳＬＭ表面之一小部份，亦即SLM上之一组件选择性激励（或去激励），便可将入射于LSM之光谱之一部份选择性反射或透射至一聚焦设备，诸如一抛物柱面聚焦镜(48)。聚焦设备复将SLM上之选定组件所反射之光谱部份聚焦至一传感器(50)。所选择之光谱为SLM中被激励（或去激励）之无论那一行组件之函数。本发明之SLM分光计可用以分析可见光及接近可见之光，诸如近红外线或紫外线区。传感器或检测器之输出可予以适当放大，并且在适当校准后，用以确定在一特定波长或波长带之能量。

    光譜儀及其製作方法
    299.
    发明专利
    光譜儀及其製作方法 审中-公开
    光谱仪及其制作方法

    公开(公告)号：TW201802439A

    公开(公告)日：2018-01-16

    申请号：TW105121861

    申请日：2016-07-12

    Applicant: 台灣超微光學股份有限公司 ,  OTO PHOTONICS INC.

    Inventor： 洪健翔 ,  HUNG, CHIEN-HSIANG

    IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28

    CPC classification number: G01J3/1895 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/20 ,  G01J3/28 ,  G01J2003/1842

    Abstract: 一種光譜儀，包括一輸入部、一繞射光柵、一影像感測器及一波導裝置。輸入部用以接收一光學訊號。繞射光柵用以將光學訊號分離成多個光譜分量。影像感測器配置於至少部分的這些光譜分量的傳遞路徑上。波導裝置包括一第一反射面及一第二反射面。第一反射面與第二反射面之間形成一波導空間，光學訊號從輸入部經由波導空間傳遞至繞射光柵。至少部分的這些光譜分量從波導空間傳遞至影像感測器。波導裝置上形成有至少一開口，開口實質上平行於第一反射面與第二反射面的至少其中之一。一種光譜儀的製作方法亦被提出。

    Abstract in simplified Chinese: 一种光谱仪，包括一输入部、一绕射光栅、一影像传感器及一波导设备。输入部用以接收一光学信号。绕射光栅用以将光学信号分离成多个光谱分量。影像传感器配置于至少部分的这些光谱分量的传递路径上。波导设备包括一第一反射面及一第二反射面。第一反射面与第二反射面之间形成一波导空间，光学信号从输入部经由波导空间传递至绕射光栅。至少部分的这些光谱分量从波导空间传递至影像传感器。波导设备上形成有至少一开口，开口实质上平行于第一反射面与第二反射面的至少其中之一。一种光谱仪的制作方法亦被提出。

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