公开(公告)号：CN104390703B

公开(公告)日：2016-09-07

申请号：CN201310654165.6

申请日：2013-10-11

Applicant: 芬兰国家技术研究中心股份公司

Inventor： H·萨亚里 ,  J·梅克南 ,  C·霍姆伦德 ,  U·坎托杰维 ,  J·安蒂拉 ,  R·曼尼拉

IPC: G01J3/28

CPC classification number: H04N9/735 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/26 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/45 ,  G01J2003/2866 ,  H04N17/02

Abstract: 本发明涉及用于确定光谱仪的校准参数的方法。一种图像光谱仪包括法布里‑珀罗干涉仪和具有色彩敏感像素的图像传感器。所述干涉仪具有第一透射峰和第二透射峰。一种校准光谱仪的方法包括：提供具有窄谱峰的第一校准光；当参考谱峰在第一光谱位置附近时，通过将第一校准光耦合到光谱仪中而从图像传感器获取第一探测器信号值；当参考谱峰在第二光谱位置附近时，通过将第一校准光耦合到光谱仪中而从图像传感器获取第二探测器信号值；提供具有宽带宽的第二校准光；并且通过将第二校准光耦合到光谱仪中而从图像传感器获取第三探测器信号值。

公开(公告)号：CN105865623A

公开(公告)日：2016-08-17

申请号：CN201610234678.5

申请日：2016-04-15

Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所

Inventor： 杨成梁 ,  赵柳 ,  赵海 ,  吴尚昀 ,  兰才伦

IPC: G01J1/42 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J3/2803 ,  G01J2001/4295 ,  G01J2003/282

Abstract: 本发明公开了一种用于大功率微波空气击穿的快速检测与保护系统，包括光纤采光头、采集传输光纤、光电检测处理单元，光纤采光头安装于采集传输光纤前端，采集传输光纤安装于光电检测处理单元前端，光电检测处理单元连接至高压系统，高压系统为大功率微波源供电；本系统基于击穿光物理特性诊断，设计了针对传输链路易击穿位置的快速光电检测和处理判决，光纤采光头将采集的击穿光信号经采集传输光纤传输到光电检测处理单元，通过光电转换和处理判断，当光脉冲幅值超过比较阈值时，则送出保护光信号以及时关断高压系统，在大功率微波发生空气击穿初期实现微秒级的快速响应，提高了传统光电检测保护的有效性，最大限度地保证大功率微波系统的安全。

公开(公告)号：CN105841812A

公开(公告)日：2016-08-10

申请号：CN201610194059.8

申请日：2016-03-30

Applicant: 广西科技大学

Inventor： 粟晖 ,  姚志湘

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02 ,  G01N21/25

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/0297 ,  G01N21/25

Abstract: 一种采用光开关结合汞灯校正阵列光谱仪波长漂移的方法，涉及一种光学领域中校正波长漂移的方法，该方法是选用汞灯的发射光谱作为确定的光谱，进行实时x轴标定，将实时标定结果输出至计算机作为x轴，将阵列光谱仪的系列输出作为y轴，合成光谱图，即可消除预标定中因环境和仪器自身因素导致的波长迁移和漂移。本发明可提高仪器的准确性，满足了高精度测量要求，还可消除仪器台间差，降低模型迁移难度，而且无需进行定期的手工校准，节省了使用成本和人力成本。

公开(公告)号：CN105737979A

公开(公告)日：2016-07-06

申请号：CN201610192033.X

申请日：2016-03-30

Applicant: 广西科技大学

Inventor： 粟晖 ,  姚志湘

IPC: G01J3/08 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/08 ,  G01J3/2803

Abstract: 一种采用光开关消除阵列光谱仪暗噪声漂移的方法，涉及一种光学领域中消除暗噪声漂移的方法，该方法是将光开关设置于阵列光谱仪的光入口，通过切换光开关，分别记录光通信号和光断信号，求取光通信号和光断信号之间的差值，作为真实的光谱响应，消除了暗噪声漂移系统误差。本发明还可拓展光谱仪线性和动态响应范围，简化测量步骤，可降低随机噪声强度，可降低感光元件的疲劳程度，易于推广使用。

公开(公告)号：CN105606216A

公开(公告)日：2016-05-25

申请号：CN201610115996.X

申请日：2016-03-02

Applicant: 复旦大学

Inventor： 刘木清 ,  江磊 ,  张潇临

IPC: G01J3/10 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/10 ,  G01J3/2803 ,  G01J2003/104

Abstract: 本发明提供了一种光谱反射率检测装置及方法，其装置包括照明模块、成像模块和控制及数据处理模块。照明模块由多种单色LED光源及相应的恒流驱动电路组成，以不同主波长的LED光源分别照明目标物体；成像模块接收不同单色LED光源照射下目标物体的反射光线并成像；控制及数据处理模块的控制照明模块和成像模块的动作，处理获得的图像信息并计算目标物体的反射光谱特征。本发明无需对目标物体图像所有像素点进行光谱测量扫描，以较为简便实用的方法得到目标物体表面每一点的光谱反射率，实现了传统光谱仪器无法实现的功能。

公开(公告)号：CN104121990B

公开(公告)日：2016-05-11

申请号：CN201410348475.X

申请日：2014-07-22

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 韩申生 ,  刘震涛 ,  吴建荣 ,  李恩荣 ,  谭诗语 ,  陈喆

IPC: G01J3/28

CPC classification number: H04N5/332 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01J2003/2813 ,  G01J2003/2826 ,  G02B27/1066 ,  H04N5/2254 ,  H04N5/372

Abstract: 一种基于随机光栅的压缩感知宽波段高光谱成像系统，该系统包括前置成像部分、分光部分及两个以上的支路和计算机，各支路由相应的出瞳转换部分及压缩光谱成像部分。该系统基于压缩感知理论，利用谱之间的关联性，提高光谱维的压缩率，实现对宽波段光谱图像数据进行三维压缩采集，大大降低了数据采集量。该成像系统可以单次曝光测量宽波段上的光谱图像信息，且可以通过设计各分光路上的随机光栅获得高空间分辨率和高光谱分辨率。

公开(公告)号：CN104870954A

公开(公告)日：2015-08-26

申请号：CN201380067517.6

申请日：2013-10-22

Applicant: 哈美顿博纳图斯股份公司

Inventor： B·奥芬贝克 ,  P·阿尔坎特

IPC: G01J1/44 ,  G01J3/28 ,  G01J3/44 ,  A61B5/1455

CPC classification number: G01J3/2803 ,  A61B5/14551 ,  G01J1/44 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/44

Abstract: 本发明提供一种用于测量周期性信号的设备(1)，具有：第一控制单元(3)，用于生成周期为T的电输入信号；光源(6)，用于根据电输入信号(V1)生成定向至被测量物体(8)的光输入信号；光接收机(10)，用于记录从被测量物体反射回来的信号并将其转换成电测量信号(V2)，所述信号对应于在其相位和幅度方面变化的光输入信号；以及多个测量信道，该多个测量信道在光接收机(10)和第二控制单元(15)间并联连接，每个测量信道与开关元件(7)、滤波器元件(9)以及模拟数字转换器(13)串行连接，其中第二控制单元(15)适于对来自多个测量信道的测量信号进行评估，其特征在于：电测量信号(V2)被应用到多个测量信道中的每一个；第一控制单元(3)被连接到多个开关元件(7)并适于在每种情况下以不同的时间间隔连接开关元件(7)；以及模拟数字转换器(13)具有小于2×1/T的最大采样率。

公开(公告)号：CN104749765A

公开(公告)日：2015-07-01

申请号：CN201410815698.2

申请日：2014-12-24

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 赵丹俊 ,  多津田哲男 ,  荒崎真一

IPC: G02B26/00 ,  G01J3/00

CPC classification number: G01J3/027 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/26 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/32 ,  G01J2003/2826

Abstract: 本发明涉及光学模块、电子设备及光学模块的驱动方法。分光测量装置(1)具备：波长可变干涉滤波器(5)，从入射光选择规定的波长的光，且能变更出射的出射光的波长；摄像元件(11)，以全局快门方式利用出射光的曝光存储电荷，并输出与存储的电荷对应的检测信号；摄像元件控制单元(受光控制部(22))，设定使电荷存储到摄像元件(11)的受光期间、以及重置被存储的电荷的待机期间；以及分光控制单元(滤波器驱动部(21))，在波长可变干涉滤波器(5)中控制出射光的波长变更驱动，摄像元件控制单元将待机期间的长度设定为波长变更所需的驱动时间以上，分光控制单元在待机期间的开始时开始波长变更驱动。

公开(公告)号：CN104718440A

公开(公告)日：2015-06-17

申请号：CN201380035028.2

申请日：2013-07-03

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 田中正人 ,  平野充遥 ,  祖川伊知郎

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/36 ,  G01N21/17

CPC classification number: G01J3/0237 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/027 ,  G01J3/1804 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01N21/4795

Abstract: 调整分光成像装置的方法调整准直透镜、衍射光栅、聚光透镜和阵列型光接收部之间的相对布置关系，以在单色光输入至分光成像装置时使以下表达式(1)的值针对来自各个光接收传感器(Pn)的输出值(fn)而最大化，[表达式1](其中，α＞1，以及n为等于或大于1且等于或小于N的各整数)。

公开(公告)号：CN104704333A

公开(公告)日：2015-06-10

申请号：CN201380052250.3

申请日：2013-10-02

Applicant: 国立大学法人香川大学

Inventor： 石丸伊知郎

IPC: G01J3/45 ,  G01J3/453 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/4531 ,  G01J3/4532 ,  G01N2021/3595

Abstract: 本发明的分光特性测量装置具备：分割光学系统，其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束；成像光学系统，其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉；光程差赋予单元，其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布；检测部，其检测干涉光的光强度分布；处理部，其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图，通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱；共轭面成像光学系统，其配置在被测量物与分割光学系统之间，具有与该分割光学系统共用的共轭面；以及周期性赋予单元，其配置于共轭面，对从多个测量点发出的测量光束之间附加周期性。