一种超高灰阶的智能高光谱成像方法及装置

    公开(公告)号:CN119595106A

    公开(公告)日:2025-03-11

    申请号:CN202411790387.5

    申请日:2024-12-06

    Inventor: 蔡青 潘明忠 马强

    Abstract: 本发明涉及光谱测量技术领域,具体涉及一种超高灰阶的智能高光谱成像方法及装置,其中一种超高灰阶的智能高光谱成像方法,包括以下步骤:S1:智能高光谱成像装置初始化;S2:将拍摄的光信号图像在聚焦前按照预设的光强分配比例分束成至少两束,并分别聚焦在不同的狭缝上以进行整形后,对每束分束后的光束进行预处理;S3:分别对若干束光束进行多项曝光采集以获取每束光束的高光谱图像数据;S4:对若干幅高光谱图像数据根据锚点进行融合,完成超高灰阶的高光谱图像融合成像。本发明通过分光的方式实现共用取像窗口的多波段高光谱图像成像,极大地扩展了高光谱波段范围,同时采用多项曝光并融合的方式能够获取超高灰阶的高光谱图像。

    化妆产品颜色分类方法和辅助化妆产品颜色开发的工具

    公开(公告)号:CN119487368A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202280097369.1

    申请日:2022-06-21

    Applicant: 欧莱雅

    Abstract: 计算机实施的工具,旨在由用户控制,用于辅助化妆产品颜色开发,该工具包括:绘图模式,其适于该用户从化妆产品颜色库中选择一组化妆产品颜色,该绘图模式被配置为使用根据对化妆颜色的主观感知设计的标签对化妆产品的颜色进行分类的方法对所选择的一组颜色中的每种颜色进行分类。该绘图模式被配置为显示根据分别指派的标签排列在表格中的所选颜色的图,该表格按代表每个色系标签的主行和代表每个色调子系标签的主列组成,每个主行包括代表每个亮度子系标签的子行,每个主列包括代表每个色度子系标签的子列。

    基于渐变光子晶体色散的宽光谱集成光谱仪

    公开(公告)号:CN119309673A

    公开(公告)日:2025-01-14

    申请号:CN202411456915.3

    申请日:2024-10-18

    Applicant: 东南大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于渐变光子晶体色散的宽光谱集成光谱仪,光芯片包括分束器、光波导、渐变光子晶体,所述光波导包括输入光波导,输出光波导,所述分束器的输入端连接有输入光波导,所述分束器的多个输出端分别与输出光波导一端相连接,每个输出光波导另一端分别与渐变光子晶体相连接。所述CMOS探测器用于对从渐变光子晶体泄露的散射光强空间分布进行重建,得到输入光谱。本发明提供的基于渐变光子晶体色散的宽光谱集成光谱仪,通过在波导侧边设计散射孔啁啾阵列组成光子晶体,利用光子晶体灵敏的角色散和渐变结构在空间上的波长引导,在很小的体积内实现高精度的光谱分辨。

    一种基于KM模型及智能优化的光谱配色方法

    公开(公告)号:CN119092006A

    公开(公告)日:2024-12-06

    申请号:CN202411196436.2

    申请日:2024-08-29

    Abstract: 发明提出了一种基于KM模型及智能优化的光谱配色方法。针对传统KM配色方法在油墨配色时精度不高的问题,改进了KM单常数配色模型,将基色K/S值与浓度的积作为整体进行计算处理,以综合考虑K/S值与浓度的非线性关系。同时,通过少量配色实验,采用网格搜索算法寻优得到光谱反射率修正参数,对目标色样的光谱反射率准确校正,以提高KM配色模型的精度。在此基础上,构建非线性约束优化问题,并利用遗传算法求解,获得最优油墨配方。本发明对油墨自动配色系统的开发和应用具有较强的指导意义;只需进行少量的配色实验、使用较少的配色样张数据,即可得到泛化能力较强的配色模型。本方法显著提高了配色精度,降低了油墨配色的难度。

    用于通过波长分析检查表面的设备和方法

    公开(公告)号:CN117916576A

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202280059729.9

    申请日:2022-08-11

    Inventor: U·斯佩林

    Abstract: 本发明涉及一种用于检测涂漆表面,特别是机动车的表面性能的设备(1),具有:以第一照射角度(a1)照射待检测表面(10)的第一照射装置(2);以第二照射角度(a2)照射该表面(10)的第二照射装置(12);第一传感器装置(4),其以第一记录角度记录从由第二照射装置(2)照射的表面反射和/或散射的辐射,并输出至少一个值,该值是从该表面到达该传感器装置(4)的辐射的特征;其中该设备(1)具有辐射分析装置(4),其就波长分析由该表面散射和/或反射的辐射。

Patent Agency Ranking